JPS63282889A - 画像処理方法 - Google Patents
画像処理方法Info
- Publication number
- JPS63282889A JPS63282889A JP11934187A JP11934187A JPS63282889A JP S63282889 A JPS63282889 A JP S63282889A JP 11934187 A JP11934187 A JP 11934187A JP 11934187 A JP11934187 A JP 11934187A JP S63282889 A JPS63282889 A JP S63282889A
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- JP
- Japan
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- circuit
- correlation
- coordinate
- inspected
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 241001289717 Hypolimnas Species 0.000 description 1
- 210000000981 epithelium Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
−の1
本発明は2次元的な被検査画像パターンをn+に触で自
動的に処理する方法に関するものである。
動的に処理する方法に関するものである。
支皮悲皮1
被検査画像内の部分画像と予め設定され比較対象となる
標準パターンの対応する画素の一致を計数することによ
って近似度を計算し最もよく似た部分画像の位置を捜す
処理をテンプレートマツチング処理と言い、例えば特開
昭GO−H;9986号公報等に記されている。
標準パターンの対応する画素の一致を計数することによ
って近似度を計算し最もよく似た部分画像の位置を捜す
処理をテンプレートマツチング処理と言い、例えば特開
昭GO−H;9986号公報等に記されている。
第2図はこの概略説明図である。m行×n列の被検査画
像1内のm゛行xn1列(m’≦+n、n’≦n)の部
分画像2と同一画素サイズの標準パターン3の対応する
位置の画素を比較し一致した画素数を計数する。ある座
標での部分画像2と標準パターン3との比較計数個数は
m’ xnIであり入力データ数は2×(■′×n“)
個となる。これだけの処理量を1座標における近似度と
して演算しなければならない。被検査画像1内で部分画
像2は(l−m’+l ) X (n−n’+1 )個
たけ存在し、そのおのおのについてmlxnl回の比較
をしなければならないので総計H1’ XH’ X (
m−m’+I )X(n−n’+1)回の比較を必要と
する。
像1内のm゛行xn1列(m’≦+n、n’≦n)の部
分画像2と同一画素サイズの標準パターン3の対応する
位置の画素を比較し一致した画素数を計数する。ある座
標での部分画像2と標準パターン3との比較計数個数は
m’ xnIであり入力データ数は2×(■′×n“)
個となる。これだけの処理量を1座標における近似度と
して演算しなければならない。被検査画像1内で部分画
像2は(l−m’+l ) X (n−n’+1 )個
たけ存在し、そのおのおのについてmlxnl回の比較
をしなければならないので総計H1’ XH’ X (
m−m’+I )X(n−n’+1)回の比較を必要と
する。
−日 )1t よ° 1ir1
したがって、ソフトウェアによる処理は可能であるが画
素数m、nが多い場合処理時間が非常に長くなるという
問題があった。
素数m、nが多い場合処理時間が非常に長くなるという
問題があった。
一方、ハードウェアによる処理は水平方向−次元のライ
ンたけの比較計数の場合、第3図のようなブロックダイ
アグラムとなり、n列の同時比較なので入力データは2
×n゛個である。m’ Xn”画素のエリアで同時処理
する必要から2Xm’ xn゛個の入力データを扱う必
要がある。画素数m。
ンたけの比較計数の場合、第3図のようなブロックダイ
アグラムとなり、n列の同時比較なので入力データは2
×n゛個である。m’ Xn”画素のエリアで同時処理
する必要から2Xm’ xn゛個の入力データを扱う必
要がある。画素数m。
nが少ない場合一致検出の硅度にそのまま影響を及ぼす
ため多くする必要があるが、以上の様な理由から比較お
よび計数のための回路ブロフク数が膨大となり実用化が
困難であった。
ため多くする必要があるが、以上の様な理由から比較お
よび計数のための回路ブロフク数が膨大となり実用化が
困難であった。
本発明は上記欠点に鑑みテンプレートマツチング処理を
高速且つ簡素化して被検査画像を処理する方法を得るこ
とにある。
高速且つ簡素化して被検査画像を処理する方法を得るこ
とにある。
111Ij−−めの一
本発明は、被検査画像を2値化した画像について、あら
かじめ与えられた標準画像のm行×n列の2次元画像中
の任意のm′行x n1列エリアにおいて、k行おきに
1行の各水平−次元画像(水平分割標準パターンと呼称
する)および1列おきに1列の各垂直一次元画像(垂直
分割標準パターンと呼称する)として予め記憶しておき
、はじめに水平分割標準パターンと被検査画像の対応す
る画素の値を比較し、一致する画素の数を計数すること
により、水平方向の位置を検出し、つぎに検出された水
平位置においてのみ、垂直分割標準パターンと、被検査
画像の対応する画素の値を比較することで、上記任意エ
リアのパターン位置認識を行うことを特徴とする画像処
理方法である。
かじめ与えられた標準画像のm行×n列の2次元画像中
の任意のm′行x n1列エリアにおいて、k行おきに
1行の各水平−次元画像(水平分割標準パターンと呼称
する)および1列おきに1列の各垂直一次元画像(垂直
分割標準パターンと呼称する)として予め記憶しておき
、はじめに水平分割標準パターンと被検査画像の対応す
る画素の値を比較し、一致する画素の数を計数すること
により、水平方向の位置を検出し、つぎに検出された水
平位置においてのみ、垂直分割標準パターンと、被検査
画像の対応する画素の値を比較することで、上記任意エ
リアのパターン位置認識を行うことを特徴とする画像処
理方法である。
1皿
本発明によれば、標準画像のパターンを小さくすること
なく、水平分割標準パターンと垂直分割標準パターンと
の情報を用いることにより、入力情報か著しく少な(な
り、画像処理回路のブロック数低減、処理速度向上を実
現できる。
なく、水平分割標準パターンと垂直分割標準パターンと
の情報を用いることにより、入力情報か著しく少な(な
り、画像処理回路のブロック数低減、処理速度向上を実
現できる。
又意外
以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明す
る。第1図は本発明の一実施例に関し、画像処理、つま
り被検査画像位置検出方法の構成を示すブロックダイア
グラムである。このブロックダイアグラム゛は第1図の
ように、被検査画像を2次元走査しながら撮像した映像
データを電気信号とし出力する撮像装置4、撮像装置4
から出力されるアナログ映像信号を任意のスレッシュホ
ルトレベルで2値化し量子化する2値化回路5.2値化
回路5から出力される2値データを記憶するビデオメモ
リー6.2値化回路5より出力される2値化データを被
検企画@!1の一水平走査ライン512画素分のデータ
5本分を記憶し順次シフトしたり、水平走査ライン30
画素分のデータを記憶し順次シフトすることで水平及び
垂直方向の標準パターンとの相関が双方とも同峙且つ並
列的に出力されるシフトレジスタ回路7.490行×5
12列の2次元エリアからなる被検査画像の特徴ある部
分を標準゛パターンとし被検査画像1内の部分画像を第
5図の23の点線で囲んだエリアとする時、上記部分画
像23の30行おきに1行をリファレンス・パターンと
して記憶する水平分割標準パターン記憶回路9、同じく
部分画像23の30行おきに1列をリファレンス・パタ
ーンとして記憶する垂直分割標Qパターン記憶回路l0
93段のリファレンス・パターンと被検査画像1内の対
応する部分画像とを比較し一致の度合を検出する相関回
路11.相関回路11の出力を加算することでその位置
での相聞値を得る積算回路12.上記相関値に対して過
去において入力された相関値と比較し値が大きい時記憶
する内容を更新し記憶する最大値検出回路13.最大値
検出回路13に記憶される相関値が被検出画像1のどの
座標位置であるか記憶する座標検出回路14、水平及び
垂直同期信号より座標位置を発生させる座標発生回路1
5.水平会垂直カーソル及びキャラクタを発生させるメ
ソセージ発生回路11E、入力されたアナログ映像信号
・2値化映像データ及び前記メツセージ発生回路16か
らの映像信号をモニターTVにビデオ出力する映像出力
回路17.認識処理を制御するマイクロプロセッサ−1
8,認識装置システムを管理するシステムプロセッサー
19の各部より構成される。
る。第1図は本発明の一実施例に関し、画像処理、つま
り被検査画像位置検出方法の構成を示すブロックダイア
グラムである。このブロックダイアグラム゛は第1図の
ように、被検査画像を2次元走査しながら撮像した映像
データを電気信号とし出力する撮像装置4、撮像装置4
から出力されるアナログ映像信号を任意のスレッシュホ
ルトレベルで2値化し量子化する2値化回路5.2値化
回路5から出力される2値データを記憶するビデオメモ
リー6.2値化回路5より出力される2値化データを被
検企画@!1の一水平走査ライン512画素分のデータ
5本分を記憶し順次シフトしたり、水平走査ライン30
画素分のデータを記憶し順次シフトすることで水平及び
垂直方向の標準パターンとの相関が双方とも同峙且つ並
列的に出力されるシフトレジスタ回路7.490行×5
12列の2次元エリアからなる被検査画像の特徴ある部
分を標準゛パターンとし被検査画像1内の部分画像を第
5図の23の点線で囲んだエリアとする時、上記部分画
像23の30行おきに1行をリファレンス・パターンと
して記憶する水平分割標準パターン記憶回路9、同じく
部分画像23の30行おきに1列をリファレンス・パタ
ーンとして記憶する垂直分割標Qパターン記憶回路l0
93段のリファレンス・パターンと被検査画像1内の対
応する部分画像とを比較し一致の度合を検出する相関回
路11.相関回路11の出力を加算することでその位置
での相聞値を得る積算回路12.上記相関値に対して過
去において入力された相関値と比較し値が大きい時記憶
する内容を更新し記憶する最大値検出回路13.最大値
検出回路13に記憶される相関値が被検出画像1のどの
座標位置であるか記憶する座標検出回路14、水平及び
垂直同期信号より座標位置を発生させる座標発生回路1
5.水平会垂直カーソル及びキャラクタを発生させるメ
ソセージ発生回路11E、入力されたアナログ映像信号
・2値化映像データ及び前記メツセージ発生回路16か
らの映像信号をモニターTVにビデオ出力する映像出力
回路17.認識処理を制御するマイクロプロセッサ−1
8,認識装置システムを管理するシステムプロセッサー
19の各部より構成される。
以上のように構成された位置検出方法を説明するブロッ
クダイアダラムについて以下その動作を説明する。第4
図のような水平分割標準パターン19を用いて第5図の
ように撮像されている被検査画像20内でパターン位置
を検出するものとする。
クダイアダラムについて以下その動作を説明する。第4
図のような水平分割標準パターン19を用いて第5図の
ように撮像されている被検査画像20内でパターン位置
を検出するものとする。
相関回路11で被検査画像20の画面上のすべての点で
一致度の算出を行ない積算回路12で各相関回路11か
らの出力を合計し、事前に記憶されている基準値以上の
出力値を相関値として最大値検出回路13で各水平走査
ラインごとにその最大値を1点記憶すると同時に、座標
検出回路14でその時の座標位置記憶する。これまでの
動作で水平走査方向の座標は決定され、垂直方向の座標
は一致の候補点としてその範囲が決まる。
一致度の算出を行ない積算回路12で各相関回路11か
らの出力を合計し、事前に記憶されている基準値以上の
出力値を相関値として最大値検出回路13で各水平走査
ラインごとにその最大値を1点記憶すると同時に、座標
検出回路14でその時の座標位置記憶する。これまでの
動作で水平走査方向の座標は決定され、垂直方向の座標
は一致の候補点としてその範囲が決まる。
次に垂直分割標準パターン21を各相関回路11内にリ
ファレンス・パターンとして入力し、確定した水平方向
の座標と垂直方向の候補座標の範囲内で再び被検査画像
20との相関を行ない、最大値検出回路13にて相関値
を座標検出回路14にてその垂直方向座標を検出する。
ファレンス・パターンとして入力し、確定した水平方向
の座標と垂直方向の候補座標の範囲内で再び被検査画像
20との相関を行ない、最大値検出回路13にて相関値
を座標検出回路14にてその垂直方向座標を検出する。
以上の操作を行なうことにより効果的に位置検出をする
ことができる。
ことができる。
i匪些簸装
以上のように本発明は+5準パターンの寸法サイズを小
さくすることなく縦横方向に分割簡素化された2つの標
準パターンを用いることで、入力情報量を少なくするこ
とができ、画像処理のための回路を比較的に小さくする
こと及び処理速度向上が図れ、画像処理回路の負担軽減
が実現するので、画像認識技術向上に大きく貢献し、ま
た画像認識作業の自動化にも福音となる。
さくすることなく縦横方向に分割簡素化された2つの標
準パターンを用いることで、入力情報量を少なくするこ
とができ、画像処理のための回路を比較的に小さくする
こと及び処理速度向上が図れ、画像処理回路の負担軽減
が実現するので、画像認識技術向上に大きく貢献し、ま
た画像認識作業の自動化にも福音となる。
第1図は本発明の一実施例に関し、被検査画像の位置検
出方法の構成を示すブロックダイアダラム、第2図は被
検査画像と標準パターンとの相関を示した概略説明図、
第3図は一次元の相関を示した回路図、第4図は実施例
で用いた水平分割された標準パターン例、第5図は実施
例で用いた被検査画像の画像例、第6図は実施例で用い
た垂直分割された標準パターン例を示す。 4・・・撮像装置、5・・・2値化回路、6・・・ビデ
オメモリー、 7・・・ンフトレジスタ回路、 9・・・水平分割標準パターン記憶回路、10・・・垂
直分割標準パターン記憶回路、II・・・相関回路、 12・・・積算回路、13・・・最大値検出回路、14
・・・座標検出回路、15・・・座標発生回路、16・
・・メンセージ発生回路、 17・・・映像出力回路、 18・・・マイクロプロセッサ−, 22・・・ゲート回路。 特許出願人 二チデン機械株式会社・ □第 4 図 第 5 図 36 図 ミ
出方法の構成を示すブロックダイアダラム、第2図は被
検査画像と標準パターンとの相関を示した概略説明図、
第3図は一次元の相関を示した回路図、第4図は実施例
で用いた水平分割された標準パターン例、第5図は実施
例で用いた被検査画像の画像例、第6図は実施例で用い
た垂直分割された標準パターン例を示す。 4・・・撮像装置、5・・・2値化回路、6・・・ビデ
オメモリー、 7・・・ンフトレジスタ回路、 9・・・水平分割標準パターン記憶回路、10・・・垂
直分割標準パターン記憶回路、II・・・相関回路、 12・・・積算回路、13・・・最大値検出回路、14
・・・座標検出回路、15・・・座標発生回路、16・
・・メンセージ発生回路、 17・・・映像出力回路、 18・・・マイクロプロセッサ−, 22・・・ゲート回路。 特許出願人 二チデン機械株式会社・ □第 4 図 第 5 図 36 図 ミ
Claims (1)
- 画像の中からある特定パターンを自動抽出する画像認識
方法において、2値化画像よりなるm行×n列の2次元
画像の任意の(m′行×n′列)エリア中のk行おきに
1行の各水平一次元画像としての水平分割標準パターン
、およびl列おきに1列の各垂直一次元画像としての垂
直分割標準パターンを、おのおのあらかじめ記憶してお
き、最初に水平分割標準パターンと被検査画像の対応す
る画素の値を比較し一致する画素の数を計数することに
より水平方向の位置を検出し、次に検出された水平位置
においてのみ垂直分割標準パターンと被検査画像の対応
する画素の値を比較することで特定パターンの位置を検
出することを特徴とする画像処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11934187A JPS63282889A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11934187A JPS63282889A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 画像処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63282889A true JPS63282889A (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=14759086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11934187A Pending JPS63282889A (ja) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | 画像処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63282889A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01279379A (ja) * | 1988-04-30 | 1989-11-09 | Omron Tateisi Electron Co | パターン照合装置 |
JPH03184188A (ja) * | 1989-12-13 | 1991-08-12 | Seikosha Co Ltd | 画像認識装置 |
JPH04233671A (ja) * | 1990-12-28 | 1992-08-21 | Kaijo Corp | パターン認識装置 |
-
1987
- 1987-05-15 JP JP11934187A patent/JPS63282889A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01279379A (ja) * | 1988-04-30 | 1989-11-09 | Omron Tateisi Electron Co | パターン照合装置 |
JPH03184188A (ja) * | 1989-12-13 | 1991-08-12 | Seikosha Co Ltd | 画像認識装置 |
JPH04233671A (ja) * | 1990-12-28 | 1992-08-21 | Kaijo Corp | パターン認識装置 |
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