JPS63282889A - 画像処理方法 - Google Patents

画像処理方法

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JPS63282889A
JPS63282889A JP11934187A JP11934187A JPS63282889A JP S63282889 A JPS63282889 A JP S63282889A JP 11934187 A JP11934187 A JP 11934187A JP 11934187 A JP11934187 A JP 11934187A JP S63282889 A JPS63282889 A JP S63282889A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
circuit
correlation
coordinate
inspected
Prior art date
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Pending
Application number
JP11934187A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoharu Honda
本多 素春
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Canon Machinery Inc
Original Assignee
Nichiden Machinery Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nichiden Machinery Ltd filed Critical Nichiden Machinery Ltd
Priority to JP11934187A priority Critical patent/JPS63282889A/ja
Publication of JPS63282889A publication Critical patent/JPS63282889A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 −の1 本発明は2次元的な被検査画像パターンをn+に触で自
動的に処理する方法に関するものである。
支皮悲皮1 被検査画像内の部分画像と予め設定され比較対象となる
標準パターンの対応する画素の一致を計数することによ
って近似度を計算し最もよく似た部分画像の位置を捜す
処理をテンプレートマツチング処理と言い、例えば特開
昭GO−H;9986号公報等に記されている。
第2図はこの概略説明図である。m行×n列の被検査画
像1内のm゛行xn1列(m’≦+n、n’≦n)の部
分画像2と同一画素サイズの標準パターン3の対応する
位置の画素を比較し一致した画素数を計数する。ある座
標での部分画像2と標準パターン3との比較計数個数は
m’ xnIであり入力データ数は2×(■′×n“)
個となる。これだけの処理量を1座標における近似度と
して演算しなければならない。被検査画像1内で部分画
像2は(l−m’+l ) X (n−n’+1 )個
たけ存在し、そのおのおのについてmlxnl回の比較
をしなければならないので総計H1’ XH’ X (
m−m’+I )X(n−n’+1)回の比較を必要と
する。
−日 )1t よ°  1ir1 したがって、ソフトウェアによる処理は可能であるが画
素数m、nが多い場合処理時間が非常に長くなるという
問題があった。
一方、ハードウェアによる処理は水平方向−次元のライ
ンたけの比較計数の場合、第3図のようなブロックダイ
アグラムとなり、n列の同時比較なので入力データは2
×n゛個である。m’ Xn”画素のエリアで同時処理
する必要から2Xm’ xn゛個の入力データを扱う必
要がある。画素数m。
nが少ない場合一致検出の硅度にそのまま影響を及ぼす
ため多くする必要があるが、以上の様な理由から比較お
よび計数のための回路ブロフク数が膨大となり実用化が
困難であった。
本発明は上記欠点に鑑みテンプレートマツチング処理を
高速且つ簡素化して被検査画像を処理する方法を得るこ
とにある。
111Ij−−めの一 本発明は、被検査画像を2値化した画像について、あら
かじめ与えられた標準画像のm行×n列の2次元画像中
の任意のm′行x n1列エリアにおいて、k行おきに
1行の各水平−次元画像(水平分割標準パターンと呼称
する)および1列おきに1列の各垂直一次元画像(垂直
分割標準パターンと呼称する)として予め記憶しておき
、はじめに水平分割標準パターンと被検査画像の対応す
る画素の値を比較し、一致する画素の数を計数すること
により、水平方向の位置を検出し、つぎに検出された水
平位置においてのみ、垂直分割標準パターンと、被検査
画像の対応する画素の値を比較することで、上記任意エ
リアのパターン位置認識を行うことを特徴とする画像処
理方法である。
1皿 本発明によれば、標準画像のパターンを小さくすること
なく、水平分割標準パターンと垂直分割標準パターンと
の情報を用いることにより、入力情報か著しく少な(な
り、画像処理回路のブロック数低減、処理速度向上を実
現できる。
又意外 以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明す
る。第1図は本発明の一実施例に関し、画像処理、つま
り被検査画像位置検出方法の構成を示すブロックダイア
グラムである。このブロックダイアグラム゛は第1図の
ように、被検査画像を2次元走査しながら撮像した映像
データを電気信号とし出力する撮像装置4、撮像装置4
から出力されるアナログ映像信号を任意のスレッシュホ
ルトレベルで2値化し量子化する2値化回路5.2値化
回路5から出力される2値データを記憶するビデオメモ
リー6.2値化回路5より出力される2値化データを被
検企画@!1の一水平走査ライン512画素分のデータ
5本分を記憶し順次シフトしたり、水平走査ライン30
画素分のデータを記憶し順次シフトすることで水平及び
垂直方向の標準パターンとの相関が双方とも同峙且つ並
列的に出力されるシフトレジスタ回路7.490行×5
12列の2次元エリアからなる被検査画像の特徴ある部
分を標準゛パターンとし被検査画像1内の部分画像を第
5図の23の点線で囲んだエリアとする時、上記部分画
像23の30行おきに1行をリファレンス・パターンと
して記憶する水平分割標準パターン記憶回路9、同じく
部分画像23の30行おきに1列をリファレンス・パタ
ーンとして記憶する垂直分割標Qパターン記憶回路l0
93段のリファレンス・パターンと被検査画像1内の対
応する部分画像とを比較し一致の度合を検出する相関回
路11.相関回路11の出力を加算することでその位置
での相聞値を得る積算回路12.上記相関値に対して過
去において入力された相関値と比較し値が大きい時記憶
する内容を更新し記憶する最大値検出回路13.最大値
検出回路13に記憶される相関値が被検出画像1のどの
座標位置であるか記憶する座標検出回路14、水平及び
垂直同期信号より座標位置を発生させる座標発生回路1
5.水平会垂直カーソル及びキャラクタを発生させるメ
ソセージ発生回路11E、入力されたアナログ映像信号
・2値化映像データ及び前記メツセージ発生回路16か
らの映像信号をモニターTVにビデオ出力する映像出力
回路17.認識処理を制御するマイクロプロセッサ−1
8,認識装置システムを管理するシステムプロセッサー
19の各部より構成される。
以上のように構成された位置検出方法を説明するブロッ
クダイアダラムについて以下その動作を説明する。第4
図のような水平分割標準パターン19を用いて第5図の
ように撮像されている被検査画像20内でパターン位置
を検出するものとする。
相関回路11で被検査画像20の画面上のすべての点で
一致度の算出を行ない積算回路12で各相関回路11か
らの出力を合計し、事前に記憶されている基準値以上の
出力値を相関値として最大値検出回路13で各水平走査
ラインごとにその最大値を1点記憶すると同時に、座標
検出回路14でその時の座標位置記憶する。これまでの
動作で水平走査方向の座標は決定され、垂直方向の座標
は一致の候補点としてその範囲が決まる。
次に垂直分割標準パターン21を各相関回路11内にリ
ファレンス・パターンとして入力し、確定した水平方向
の座標と垂直方向の候補座標の範囲内で再び被検査画像
20との相関を行ない、最大値検出回路13にて相関値
を座標検出回路14にてその垂直方向座標を検出する。
以上の操作を行なうことにより効果的に位置検出をする
ことができる。
i匪些簸装 以上のように本発明は+5準パターンの寸法サイズを小
さくすることなく縦横方向に分割簡素化された2つの標
準パターンを用いることで、入力情報量を少なくするこ
とができ、画像処理のための回路を比較的に小さくする
こと及び処理速度向上が図れ、画像処理回路の負担軽減
が実現するので、画像認識技術向上に大きく貢献し、ま
た画像認識作業の自動化にも福音となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に関し、被検査画像の位置検
出方法の構成を示すブロックダイアダラム、第2図は被
検査画像と標準パターンとの相関を示した概略説明図、
第3図は一次元の相関を示した回路図、第4図は実施例
で用いた水平分割された標準パターン例、第5図は実施
例で用いた被検査画像の画像例、第6図は実施例で用い
た垂直分割された標準パターン例を示す。 4・・・撮像装置、5・・・2値化回路、6・・・ビデ
オメモリー、 7・・・ンフトレジスタ回路、 9・・・水平分割標準パターン記憶回路、10・・・垂
直分割標準パターン記憶回路、II・・・相関回路、 12・・・積算回路、13・・・最大値検出回路、14
・・・座標検出回路、15・・・座標発生回路、16・
・・メンセージ発生回路、 17・・・映像出力回路、 18・・・マイクロプロセッサ−, 22・・・ゲート回路。 特許出願人 二チデン機械株式会社・  □第 4 図 第 5 図 36 図 ミ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 画像の中からある特定パターンを自動抽出する画像認識
    方法において、2値化画像よりなるm行×n列の2次元
    画像の任意の(m′行×n′列)エリア中のk行おきに
    1行の各水平一次元画像としての水平分割標準パターン
    、およびl列おきに1列の各垂直一次元画像としての垂
    直分割標準パターンを、おのおのあらかじめ記憶してお
    き、最初に水平分割標準パターンと被検査画像の対応す
    る画素の値を比較し一致する画素の数を計数することに
    より水平方向の位置を検出し、次に検出された水平位置
    においてのみ垂直分割標準パターンと被検査画像の対応
    する画素の値を比較することで特定パターンの位置を検
    出することを特徴とする画像処理方法。
JP11934187A 1987-05-15 1987-05-15 画像処理方法 Pending JPS63282889A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11934187A JPS63282889A (ja) 1987-05-15 1987-05-15 画像処理方法

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JP11934187A JPS63282889A (ja) 1987-05-15 1987-05-15 画像処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63282889A true JPS63282889A (ja) 1988-11-18

Family

ID=14759086

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11934187A Pending JPS63282889A (ja) 1987-05-15 1987-05-15 画像処理方法

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JP (1) JPS63282889A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01279379A (ja) * 1988-04-30 1989-11-09 Omron Tateisi Electron Co パターン照合装置
JPH03184188A (ja) * 1989-12-13 1991-08-12 Seikosha Co Ltd 画像認識装置
JPH04233671A (ja) * 1990-12-28 1992-08-21 Kaijo Corp パターン認識装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01279379A (ja) * 1988-04-30 1989-11-09 Omron Tateisi Electron Co パターン照合装置
JPH03184188A (ja) * 1989-12-13 1991-08-12 Seikosha Co Ltd 画像認識装置
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