JPS5956176A - インサ−キツトテスト装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はインサーキットテスト装置に係り、特に被検査
ユニットの変更に対する自由度が高く、段取作業を簡略
化するに好適なインサーキットテスト装置に関する。

〔発明の技術的背景〕

従来から、インサーキットテスト装置に於いては、プロ
ーブ等を備えたテスト用治具を原則として被検査ユニッ
ト、例えば印刷ユニットの種類毎に作成し、テストの際
に印刷ユニットの種類が変わる毎に印刷ユニットに合わ
せてテスト治具の交換を行う必要があった。

これに対して、特開昭５６年６６７６８号に於いては、
印刷ユニットの種類が変わっても治具の交換を必要とし
ない所謂ユニ・々−サル化されたインサーキットテスタ
用治具が開示されてお９、従来に比較して経済的でしか
も手数の少ない構成が提案されている。

〔背景技術の問題点〕

ところが、かかるテスタ用治具を用いても、被検査ユニ
ットである印刷ユニットの種類が変更になれば回路に投
入されるプローブの配置を決めるポスト台を変換する必
要が残り、段取作業がやっかいであるという問題点を有
する。

〔発明の目的〕

従って、本発明の目的は王妃従来技術の問題点に鑑み、
披検査ユニットの種類毎に新たにテスト用治具を作成す
る必要やポスト台等の交換を行う必要をなくシ、より経
済的で簡単に、しかも手数をかけずに被検査ユニットの
変更に対処することを可能ならしめたインサーキットテ
スト装置を提供するにある。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するために、本発明は基台より上面に向
って基台を貫通する如く複数本配される長手方向に可動
な第１のプローブと、基台下側に配され第１のプローブ
と選択的に当接可能な、ｔｆバスト植設されると共にポ
ストと電気的に接続される接触子を有する脱着可能なボ
ードと、基台より下面に向って複数本配されボードの接
触子と当接可能で且づテスト部に接続される第２のプロ
ーブと、ボードを基台の下面に向って移動させポストと
第１のプローブを選択的に当接させることにより第１の
プローブを選択的に基台−上面に突出させルト共に第２
のプローブと接触子を当接させる第１の移動手段と、基
台の上面に向って被検査対象ユニットを移動させ基台上
に突出した第１のプローブと接触させる第２の移動手段
とを備えるインサーキットテスト装置を提供するもので
ある。

〔発明の実施例〕

以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。

第１図、第２図は本発明の一実施例に係るインサーキッ
トテスト装置の側面図である。第１図はテスト外の状態
、第２図はテスト中の状態をそれぞれ示すものである。

各図を通じて、被検査印刷ユニット１（以下、ＵＵＴと
称する）は電気回路部品を多数載置し、部品載置面と反
対の面には部品リ−１′またはノードの接触対象部２が
露出している。

基台３上にはコイル・々ネ１３を介してダイヤスラム板
１２が配設されており、ダイヤフラム板１２には枠体１
６と摺動自在に配される気密用ゴム１４が取付けられて
いる。気密用ツム１４上にはＵＵＴｌが載置されるが、
ＵＵＴＩの側面に当接する如く気密用ゴム１５も併せて
固定４Ｖ　置される。

一方、基台３には一定の間隔でスプリングプローブ４が
配置される。基台３の下面側には押上器具１７によって
ヒ下移動可能カバーツナライズボーｒ５が配される。バ
ーツナライズボード５上にはＵＴＪＴＩの種類に合せて
テスト中に使用されるスプリングプローブ４を選択する
べく、１？ストロが植設される。ポスト６のバーツナラ
イズボー）′５の離面側はワイヤラップピンとなってお
り、同面に配されるワイヤラップピン８と配線７にて接
続される。なお、基台３にはバーツナライズボーげ５上
のワイヤラップピン８と接触可能に配されるスプリング
プローブ９が取り付けられる。また、基台３の下面には
スペーサ１８が固定されバーツナライズボード５との間
隔を制限する。更に、基台３の下面には気密用ゴムｌＯ
が配され、ノミ−ツナライズボード５との間に出来る空
間の気密を保持する作用を有する。真空配管ｔ１は基台
３とダイヤスラム板１２の間の空間及び基台３とバーツ
ナライズボード５との間の空間から空気を抜くべく配さ
れる。

第１図、第２図の構成に於いて、押上器珪１７が下げら
れている第１図の状態では、左方又は前方より−ぞ−ツ
ナライズボード５の挿入抜去が自由にできる構造となっ
ている。バーツナライズボーｒ５を押上器具１７の上面
に乗せた第１図の状態から押上器具１７を押−ヒげると
、気密用ゴムｌＯとバーツナライズボード５が接触する
。一方、バーツナライズボード５上に植設されたポスト
６に対応するスプリングプローブ４が押し上げられる。

一方、ＵＵＴＩを気密用ゴム１４の上の気密用ゴム１５
に囲まれた部分に乗せると、ＵＵＴｌ、気密用ツム１４
、気密用ゴム１５、枠体１６、基台３、気密用ゴムｌＯ
、バーツナライズボー１５で囲まれた空間が外部から気
密になる。

しかる後、真空配管１１がら空気を抜きとると第２図の
状態となり、ノぞ−ツナライズボード５は真空圧力によ
って吸引されスペーサ１８に当接する所まで引上げられ
ると共にスプリングプローブ４がポスト６によって更に
押し上げられる。しかし、ポスト６が立っていない場所
に対応するスプリングプローブ４は押し上げられない。

一方、スプリングローブ９とノぞ−ソナラーｆズボーＦ
″５−ヒのワイヤラップビン８が接触し、更にスプリン
グが圧（・宿されて接触を完全な状態にする。

なお、ｔＪＴＪＴｌおよびダイヤフラム板１２、気密用
ゴム１４　、　＋５はコイルノ々ネ１３の反発力によっ
て持」二げられていたが、真空圧によって吸引され引下
げられて、押上げられたスプリングプローブ４と部品リ
ード棟たけノーｒ等の接触対象部２が接触１２、更にス
プリングが圧縮されて接触を完全にする。

なお、この場合、ｅ−ツナライズボード５−Ｈの対応す
る位置にポスト６が無いため押しＬけられ々かったスプ
リングプローブ４けｔＪＵＴｌが真空力により引下げら
れてもＵＵＴＩには接触しない。

上述の如き動作の結果、ＵＴＩＴＩの部品リード又はノ
ーＰ等の接触対象部２からスプリングプローブ４、ポス
ト６、配線７、ワイヤラップビン８、スプリングプロー
ブ９を介してインサーキットテスト装置本体までの電気
的接続がとれ、インサーキットテストを笑行することが
できる。

なお、笥１図、第２図の構成に於いて、・ξ−ツナライ
ズボード５は一般的に使用する１、６朋厚さのエポキシ
板で良い。また、ＵＴＪＴＩが変更され、ポスト６の配
置ｋを変更する等の段取りを行う場合、バーツナライズ
ボード５を肇換する必要があるが、この場合押上器外１
７を下げてバーツナライズボード５の交換または組み替
えを行ない、しかる後に押上器具］７によりＡ−ツナラ
イズボードを押し上げるだけで良い。更に、使用する動
力源は真空だけでよいためシステム全体がシンプルに構
成できる。一方、押上器具】７は、・ξ−ツナライズボ
ード５が気密用ゴム１０と接触するまでは／ｅ−ツナラ
イズボード５及びスプリングプローブ４の一部、っ゛ま
りポスト６の本数分の［１を持ち上げるだけでよいため
、圧縮空気や油圧等を用いた設備が不要であり、手Φ）
１で良い。

第３図は本発明の他の実施例に係るインサーキットテス
ト装置の側面図である。第３図の構成の第１図、第２図
の構成と異なる点は、ＵＵＴＩが載っていても、バーツ
ナライズボ＝１５を気ｍ　用ゴムＩｎで気密保持しなか
ら真空配管１１で空気を抜くことによりバーツナライズ
ボーＰ５を吸引【７でスプリングプローブ４をポスト６
によね押し上げ目つスプリングプローブ４、ポスト６、
配線７、ワイヤラップピン８、スプリングプローブ９の
間の電気的な接続を行なわせる串により押−ｔ−Ｆ！ｉ
：に１７を不便とした４４である。

第３図の構成に於いて、ＵＵＴＩをセットしてｙ（空配
管１１から空気を抜き取る）４１により、ＴＪＩＪＴＩ
及びダイヤフラム板１２が吸引され押し下げられてＵＵ
ＴＩの接触対象部２とスプリングプローブ４の接触をと
る事ができ、ＵＴｒＴｌがらインサーキットテスト装置
ｆｆｉ本体までの′電気的接続を行うことが出来るもの
である。

〔発明の効果〕

以上述べた如く、本発明によれば、パターンの異なる多
数の彼検査ユニットに苅（７て治！ｔを−ＩＩ；　ｌ１
ｒＩ化でき、しかも被検査ユニットの変更に伴う治ＩＮ
変史の段取りを大幅に簡略化する事がｏｊ能々、経済性
、操作性、信頼性に潰れたインサーキットテスト装置を
得ることが出来ろものである。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図は本発明の一実施例に係るインサーキッ
トテスト装置の側面図、 第３図は本発明の他の実施例に係るインサーキットテス
ト装置の側面図である。 １・・・破検査印刷ユ°ニット、３・・・基台、４，９
・・・スプリングゾロープ、５・・・ノに一ツナライズ
ボーｒ１６・・・ボス）、１０，１４．１５・・・気密
用ザム、＋１・・・真空配管、１２・・・ダイヤフラム
板、１６・・・枠体、１７・・・押上器具。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、基台より上面に向って基台を貫通する如く複数本配
   される長手方向に可動な第１のプローブと、基台下側に
   配され第１のプローブと選択か。 に当接可能なポストを植設されると共にポストと電気的
   に接続される接触子を有する脱着可能なボードと、基台
   より下面に向って複数本配され、ボーｒの接触子と当接
   可能で且つテスト部に接続される第２のプローブと、ボ
   ードを基台の下面に向って移動させポストと第１のプロ
   ーブを選択的に当接させることにより第１のプローブを
   選択的に基台上面に突出させると共に第２のプローグと
   接触子を嶋接させる第１の移動手段と、基台の上面に向
   って被検査対象ユニットを移動させ基台上に突出した第
   １のプローブと接触させる第２の移動手段とを備える事
   を特徴とするインサーキットテスト装置。 ２、第２の移動手段が真空力によって被検査対象ユニッ
   トを移動させる空圧ユニットである事を特徴とする特許
   請求の範囲第１項に記載のインサーキットテスト装置。 ３、第１の移動手段が真空力によって被検査対象ユニッ
   トを移動させる空圧ユニットである事を特徴とする特許
   請求の範囲第２項に記載のインサーキットテスト装置。 ４、ボード上の、Ｈｆストと接触子間の接続がワイヤラ
   ップによって行なわれる事を特徴とする特許請求の範囲
   第１項に記載のインサーキットテスト装置。