CN216926921U - 一种连接器的多pin双针测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及自动检测领域，公开了一种连接器的多PIN双针测试装置，包括压板机构、测试机构和顶块机构。压板机构将待测连接器夹持固定，然后压板机构将待测连接器压合在测试机构上，顶块机构驱动测试机构向上移动，带动其上的四组测试针组与待测连接器的PIN针接触，构成开尔文四线检测，通过使用单独的对载电流和电压检测电极，实现对待测连接器PIN针阻抗的测试。相比于传统的两端子测试，本实用新型消除了布线和接触电阻的阻抗，测试结果更精确，同时将人工测试替代为机器自动测试，测试速度更快，可靠性更高。
Description
技术领域
本实用新型涉及自动检测领域，尤其涉及一种连接器的多PIN双针测试装置。
背景技术
电子设备为实现自动控制或传输互动等目的，需要通过连接器作为信号传递的媒介，其中最常见的为PIN针连接器，PIN针一端连接线束，另一端插在对应的电子设备通讯接口上。
PIN针连接器在出厂前，需要进行严格的质量测试，包括测试PIN针之间的阻抗以及通断。
现有技术中，对PIN针的通断测试和阻抗测试是通过人工来完成的，工人需要将PIN针连接器放入特制的测试工装内，将测试工装上的导电探针与PIN 针连接器接触，通过检测是否有电流通过PIN针，从而来判断PIN针是否能通电，再通过计算测得PIN针阻抗值的大小。这种测试方式不仅无法准确测试PIN 针之间的阻抗，而且效率低下，还容易因工人的疏忽而出现测试失误。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种连接器的多PIN双针测试装置，以解决现有技术中无法准确、高效测试PIN针之间阻抗的问题。
为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种连接器的多PIN双针测试装置，包括压板机构、测试机构和顶块机构；
所述压板机构被配置为固定连接在基座上，所述压板机构位于所述测试机构的上方，用于夹持待测连接器，并将所述待测连接器压合在所述测试机构上；
所述测试机构与所述基座连接，所述测试机构包括左平头测试针组、左尖头测试针组、右平头测试针组和右尖头测试针组，所述左平头测试针组和所述左尖头测试针组设置在所述测试机构的左侧，所述右平头测试针组和所述右尖头测试针组设置在所述测试机构右侧；
所述顶块机构被配置为固定连接在基座上，所述顶块机构位于所述测试机构的下方，用于将所述测试机构向上顶起，使所述测试机构与所述待测连接器的PIN脚接触。
优选地，所述测试机构还包括测试台、导向柱、弹簧和测试针固定块；
所述测试台固定连接在基座上；
所述导向柱可移动连接在所述测试台的下方；
所述弹簧套设在所述导向柱的外圈，并位于所述测试台和所述测试针固定块之间；
所述测试针固定块位于所述导向柱的下方，且与所述导向柱及所述弹簧固定连接，所述左平头测试针组、所述左尖头测试针组、所述右平头测试针组和所述右尖头测试针组分别固定于所述测试针固定块上。
优选地，所述左平头测试针组位于所述左尖头测试针组的外侧；所述右平头测试针组位于所述右尖头测试针组的外侧。
优选地，所述左尖头测试针组和所述右尖头测试针组等高，所述左平头测试针组和所述右平头测试针组等高，并且所述左尖头测试针组和所述右尖头测试针组的高度均不低于所述左平头测试针组和所述右平头测试针组的高度。
优选地，连接器的多PIN双针测试装置还包括微调滑台，所述微调滑台固定连接在所述测试机构下方，用于微调所述压板机构相对所述测试机构的压合位置。
优选地，一种连接器的多PIN双针测试装置包括至少两个工位，每个所述工位均包括所述压板机构、所述测试机构、所述顶块机构和所述微调滑台。
优选地，所述压板机构包括压板、夹具和压板驱动机构，所述压板可移动连接在基座上；所述夹具固定连接在所述压板上，用于夹持所述待测连接器；所述压板驱动机构与基座固定连接，用于驱动所述压板上升或下降。
优选地，所述顶块机构包括顶块和顶块驱动机构，所述顶块驱动机构与基座固定连接，用于驱动所述顶块上升或下降。
优选地，所述测试台上开有定位孔，所述测试台通过紧固件及所述定位孔固定连接在所述基座上。
优选地，所述测试机构的材料经隔磁处理。
本实用新型的有益效果为：
本实用新型提供一种连接器的多PIN双针测试装置，压板机构将待测连接器夹紧并压合在测试机构上，顶块机构驱动测试机构中的四组测试针组与待测连接器的PIN针接触，构成开尔文四线检测，也称四端子检测，通过使用单独的对载电流和电压检测电极，实现对待测连接器PIN针阻抗的测试。相比于传统的两端测试，本实用新型消除了布线和接触电阻的阻抗，测试结果更精确，同时将人工测试替代为机器自动测试，测试速度更快，可靠性更高。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种连接器的多PIN双针测试装置的整体结构示意图；
图2是本实用新型提供的一种连接器的多PIN双针测试装置的单工位结构示意图；
图3是本实用新型所涉及的测试针组与待测连接器的局部结构示意图一；
图4是本实用新型所涉及的测试针组与待测连接器的局部结构示意图二。
图中：1-压板机构；11-压板；12-夹具；13-压板驱动机构；2-测试机构； 21-左平头测试针组；22-左尖头测试针组；23-右平头测试针组；24-右尖头测试针组；25-测试台；26-导向柱；27-测试针固定块；3-顶块机构；31-顶块； 32-顶块驱动机构；4-微调滑台；100-待测连接器。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
如图1-图4所示，本实用新型实施例提供一种连接器的多PIN双针测试装置，包括压板机构1、测试机构2和顶块机构3。压板机构1被配置为固定连接在基座上，压板机构1位于测试机构2的上方，用于夹持待测连接器100，并将待测连接器100压合在测试机构2上。测试机构2包括左平头测试针组21、左尖头测试针组22、右平头测试针组23和右尖头测试针组24，左平头测试针组 21和左尖头测试针组22设置在测试机构2的左侧，右平头测试针组23和右尖头测试针组24设置在测试机构2右侧。顶块机构3被配置为固定连接在基座上，顶块机构3位于测试机构2的下方，用于将测试机构2向上顶起，使测试机构2 与待测连接器100的PIN脚接触。
本实用新型提供的连接器的多PIN双针测试装置，压板机构上1将待测连接器夹持固定好，然后压板机构1将待测连接器100压合在测试机构2上，顶块机构3驱动测试机构2向上移动，带动其上的四组测试针组与待测连接器100 的PIN针接触，构成开尔文四线检测，也称四端子检测，使用单独的对载电流和电压检测电极，实现对待测连接器100的PIN针阻抗的测试。相比于传统的两端测试，本实用新型消除了布线和接触电阻的阻抗，测试结果更精确，同时将人工测试替代为机器自动测试，测试速度更快，可靠性更高。
优选地，左平头测试针组21位于左尖头测试针组22的外侧；右平头测试针组23位于右尖头测试针组24的外侧。通过在待测连接器100的PIN脚处植平头针，内部植尖头针形成开尔文四线检测，解决了低阻值测试准确性的问题。此外，待测连接器100的PIN脚为尖状，所以与PIN脚相连的测试针组采用平头可以有效增加接触面积；PIN针的主体结构(非PIN脚)为薄片，本身接触面积较大，所以与PIN针的主体结构(非PIN脚)相连的测试针组采用尖头即可保证接触，减小了测试针组的体积，降低了设备成本。
优选地，测试机构2还包括测试台25、导向柱26、弹簧和测试针固定块27。测试台25固定连接在基座上。导向柱26可移动连接在测试台25的下方。弹簧套设在导向柱26的外圈，并位于测试台25和测试针固定块27之间。测试针固定块27位于导向柱26的下方，且与导向柱26及弹簧固定连接，左平头测试针组21、左尖头测试针组22、右平头测试针组23和右尖头测试针组24分别固定于测试针固定块27上。
示例性地，当测试针固定块27被顶块机构3向上顶起时，弹簧被压缩，测试针固定块27沿导向柱26靠近测试台25，运动到工作位置时，左平头测试针组21、左尖头测试针组22、右平头测试针组23和右尖头测试针组24均与待测连接器100的PIN针接触。
优选地，左尖头测试针组22和右尖头测试针组24等高，左平头测试针组 21和右平头测试针组23等高，并且左尖头测试针组22和右尖头测试针组24的高度均不低于左平头测试针组21和右平头测试针组23的高度。待测连接器100 的PIN针通常为弯折结构，所以测试针组的高度相应的布置为非等高结构。
优选地，一种连接器的多PIN双针测试装置还包括微调滑台4，微调滑台4 固定连接在测试机构2下方，用于微调压板机构1相对测试机构2的压合位置。如此设置可以保证压板机构1夹持的待测连接器100与测试机构2精准接触，防止设备在重复使用后出现位置偏差造成检测误差，甚至造成检测失效。
优选地，连接器的多PIN双针测试装置包括至少两个工位，每个工位均包括压板机构1、测试机构2、顶块机构3和微调滑台4。在实际应用中，可以根据布置空间和加工需求，灵活选择工位数量，提高检测效率的同时避免设备冗余。
优选地，压板机构1包括压板11、夹具12和压板驱动机构13，压板11可移动连接在基座上；夹具12固定连接在压板11上，用于夹持待测连接器100；压板驱动机构13与基座固定连接，用于驱动压板11上升或下降。本实施例中采用气缸作为压板驱动机构13，在其他实施例中，气缸也可替换为电机、液压缸等其他动力装置，但仍在本专利的保护范围之内。
进一步地，夹具12可根据待测件的不同进行适配性的更换，增强了设备的适应性。
优选地，顶块机构3包括顶块31和顶块驱动机构32，顶块驱动机构32与基座固定连接，用于驱动顶块31上升或下降。本实施例中同样采用气缸作为顶块驱动机构32，在其他实施例中，气缸也可替换为电机、液压缸等其他动力装置。相应地，顶块31也可以是连杆机构或磁吸机构，但仍在本专利的保护范围之内。
优选地，测试台25上开有定位孔，测试台25通过紧固件及定位孔固定连接在基座上。
优选地，测试机构2的材料经隔磁处理，使磁力线偏离检测装置。阻抗检测为精密测试，本实施例中待测连接器100具有磁性，为防止待测连接器100 的磁性干扰检测结果，需要对测试机构2的材料进行隔磁处理，使磁力线偏离检测装置。
本实用新型的工作过程为：板机构1上的夹具12将待测连接器100夹持固定好，然后压板11将待测连接器100压合在测试机构2的测试台25上，顶块机构3驱动测试机构2的测试针固定块27向上移动，带动其上的4组测试针组与待测连接器100的PIN针接触，构成开尔文四线检测，也称四端子检测，使用单独的对载电流和电压检测电极，实现对待测连接器100PIN针阻抗的测量。
显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，包括压板机构(1)、测试机构(2)和顶块机构(3)；
所述压板机构(1)被配置为固定连接在基座上，所述压板机构(1)位于所述测试机构(2)的上方，用于夹持待测连接器(100)，并将所述待测连接器(100)压合在所述测试机构(2)上；
所述测试机构(2)与所述基座连接，所述测试机构(2)包括左平头测试针组(21)、左尖头测试针组(22)、右平头测试针组(23)和右尖头测试针组(24)，所述左平头测试针组(21)和所述左尖头测试针组(22)设置在所述测试机构(2)的左侧，所述右平头测试针组(23)和所述右尖头测试针组(24)设置在所述测试机构(2)右侧；
所述顶块机构(3)被配置为固定连接在基座上，所述顶块机构(3)位于所述测试机构(2)的下方，用于将所述测试机构(2)向上顶起，使所述测试机构(2)与所述待测连接器(100)的PIN脚接触。
2.根据权利要求1所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述测试机构(2)还包括测试台(25)、导向柱(26)、弹簧和测试针固定块(27)；
所述测试台(25)固定连接在基座上；
所述导向柱(26)可移动连接在所述测试台(25)的下方；
所述弹簧套设在所述导向柱(26)的外圈，并位于所述测试台(25)和所述测试针固定块(27)之间；
所述测试针固定块(27)位于所述导向柱(26)的下方，且与所述导向柱(26)及所述弹簧固定连接，所述左平头测试针组(21)、所述左尖头测试针组(22)、所述右平头测试针组(23)和所述右尖头测试针组(24)分别固定于所述测试针固定块(27)上。
3.根据权利要求2所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述左平头测试针组(21)位于所述左尖头测试针组(22)的外侧；所述右平头测试针组(23)位于所述右尖头测试针组(24)的外侧。
4.根据权利要求3所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述左尖头测试针组(22)和所述右尖头测试针组(24)等高，所述左平头测试针组(21)和所述右平头测试针组(23)等高，并且所述左尖头测试针组(22)和所述右尖头测试针组(24)的高度均不低于所述左平头测试针组(21)和所述右平头测试针组(23)的高度。
5.根据权利要求1所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，还包括微调滑台(4)，所述微调滑台(4)固定连接在所述测试机构(2)下方，用于微调所述压板机构(1)相对所述测试机构(2)的压合位置。
6.根据权利要求5所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述连接器的多PIN双针测试装置包括至少两个工位，每个所述工位均包括所述压板机构(1)、所述测试机构(2)、所述顶块机构(3)和所述微调滑台(4)。
7.根据权利要求1所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述压板机构(1)包括压板(11)、夹具(12)和压板驱动机构(13)，所述压板(11)可移动连接在基座上；所述夹具(12)固定连接在所述压板(11)上，用于夹持所述待测连接器(100)；所述压板驱动机构(13)与基座固定连接，用于驱动所述压板(11)上升或下降。
8.根据权利要求1所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述顶块机构(3)包括顶块(31)和顶块驱动机构(32)，所述顶块驱动机构(32)与基座固定连接，用于驱动所述顶块(31)上升或下降。
9.根据权利要求2所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述测试台(25)上开有定位孔，所述测试台(25)通过紧固件及所述定位孔固定连接在所述基座上。
10.根据权利要求2所述的一种连接器的多PIN双针测试装置，其特征在于，所述测试机构(2)的材料经隔磁处理。
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