CN110108909A - 一种ict测试治具 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种ICT测试治具，包括：上治具及下治具；所述上治具包括上治具载板、牛角架、牛角转接板、第一牛角、第二牛角、缓冲模组、连接器pogo pin针模组、转接排线、底板针模组、底板针模组连接线及上治具安装板；下治具包括下治具载板及定位销；本发明使用时，先将上治具安装在设备旋转测试机构的测试机械手的下方，多个下治具分别安装在设备旋转测试机构的工位旋转平台上方，将产品依次放置在各下治具上，工位旋转平台将已上料的下治具旋转到测试机械手下方，测试机械手带动上治具下压测试，测试完成后，测试机械手归位，工位旋转平台再次旋转，如此多旋转测试，通过本T测试治具，设备实现自动完成ICT测试。

Description

一种ICT测试治具

技术领域

本发明涉及柔性电路板的生产治具，特别是指一种ICT测试治具。

背景技术

柔性电路板的生产工艺制程中有一道ICT测试工序，ICT测试即在线测试，测试柔性电路板SMT后所有零件的焊接情况，原有ICT测试治具为手动式压合测试，无法放入设备内自动测试，随着推动智能制造设备替代人工作业的发展趋势，针对ICT全自动测试设备需开发配套的ICT测试治具，使柔性电路板的ICT测试工序实现全自动作业。

有鉴于此，本设计人针对手动式压合式ICT测试治具的结构设计上未臻完善所导致的诸多缺失与不便深入构思，且积极研究改良试做而开发设计出本发明。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足而提供一种适用于自动测试设备的ICT测试治具。

为了达成上述目的，本发明的解决方案是：

一种ICT测试治具，其包括：上治具及下治具；所述上治具包括上治具载板、牛角架、牛角转接板、第一牛角、第二牛角、缓冲模组、连接器pogo pin针模组、转接排线、底板针模组、底板针模组连接线及上治具安装板；牛角架设置在上治具载板的上方，牛角转接板设置在牛角架上，第一牛角设置在牛角转接板上并与牛角转接板电性连接，第二牛角悬空的设置在牛角架上方的另一侧上，缓冲模组悬空贯穿的设置在上治具载板上、且位置与产品的产品连接器相对应，连接器pogo pin针模组设置在缓冲模组的下方，转接排线的一端连接在连接器pogo pin针模组上，另一端连接在牛角转接板上，通过转接排线将牛角转接板和连接器pogo pin针模组电性连接在一起，底板针模组设置在上治具载板下方、且位置与产品的产品OLB端手指端相对应，底板针模组连接线的一端连接在底板针模组上，另一端连接在第二牛角的下方，通过底板针模组连接线将底板针模组和第二牛角电性连接在一起，上治具安装板设置在上治具载板的一侧；所述下治具包括下治具载板及定位销，多个定位销设置在下治具载板上方、且围绕产品的外形周边设置，在下治具载板上与产品的产品连接器端左右两侧各至少开设有一导向pin孔，用于与连接器pogo pin针模组的导向pin相对应套置定位，在下治具载板内与产品的放置区域下方开设有真空槽，在真空槽上方与产品的放置区域相应处开设有多个真空吸附孔，真空接头设置在下治具载板的一侧并与真空槽真空连接。

进一步，所述缓冲模组包括上缓冲块、下缓冲块、微动块、导柱、弹簧及缓冲限位螺丝；上缓冲块悬空设置在上治具载板上、且位置与产品的产品连接器相对应，上缓冲块的左右两侧活动贯穿套置有缓冲限位螺丝，上缓冲块的另两侧活动贯穿套置有导柱，下缓冲块设置在缓冲限位螺丝和导柱的末端，缓冲限位螺丝用于确定缓冲行程，其长度依缓冲模组的缓冲行程设置，至少两个弹簧设置在上缓冲块和下缓冲块之间，用于缓冲作用，下缓冲块可以在上治具载板内及其下方上下活动，微动块设置在下缓冲块的下方。

进一步，所述微动块通过四个微动限位螺丝将其四角可微动的安装在下缓冲块的下方，即微动块和下缓冲块有一微动距离，使微动块可单边浮动距离。

进一步，所述单边浮动的微动距离H设置为0.3mm。

进一步，所述连接器pogo pin针模组包括针底板、针模框、浮动板、双头探针、所述导向pin及压缩弹簧；针底板包括底板及针模块，针模块设置在底板的中间区域上方，针模块内开设有多个探针孔，多个探针孔的位置依产品连接器的连接角位置而定，导向pin设置在底板的两侧上方，至少2个压缩弹簧设置在底板上、且位于针模块的周边，浮动板上设置有浮动板凸块，在浮动板凸块的中间区域开设有连接器沉槽，在浮动板凸块上、且位于连接器沉槽内开设有多个探针让位孔，多个探针让位孔的位置与探针孔相对应，浮动板放置在针模块和压缩弹簧的上方，多个双头探针依次通过探针让位孔和探针孔贯穿套置在浮动板和针底板上，针模框的中间区域开设有浮动块让位槽，针模框通过导向pin套置在针底板上、且针模框的浮动让位槽套置在浮动板的浮动板凸块上，转接排线的一端连接在针底板的下方并与多个双头探针的末端电性连接，连接器pogo pin针模组的底面向上的安装在缓冲模组的下方。

进一步，所述浮动板还设置有舌头凸块，舌头凸块设置在连接器沉槽的内中间区域，舌头凸块与产品连接器中间镂空区域相配套设计。

进一步，所述连接器沉槽的内壁两侧形成曲面倒角。

进一步，所述浮动板的浮动板凸块上开设有多个定位销孔、且位置与下治具的产品连接器端的定位销相对应。

进一步，所述底板针模组包括底板、金手指假压转接板、针组底板、固定针板及探针；金手指假压转接板的一端设有一排转接板金手指、另一端设有与转接板金手指相对应的多个探针探点，该转接板金手指与产品的产品OLB端手指相对应设计，金手指假压转接板设置在底板上方，在针组底板上相对于探针探点的一侧开设有针组沉槽，在针组底板上、且位于针组沉槽内开设有多个底板探针孔，多个底板探针孔的位置与金手指假压转接板的多个探针探点相应对设计，针组底板设置在金手指假压转接板上，在固定针板上开设有多个针板探针孔，多个针板探针孔的位置与多个底板探针孔相对应设置，固定针板设置在针组底板上、且固定针板的下方套置在针组底板的针组沉槽内，多个探针依次贯穿通过固定针板和针组底板与金手指假压转接板的多个探针探点接触，多个探针的顶端与多根底板针模组连接线连接，底板针模组的底面向上的安装在上治具载板的相对于产品OLB端手指一侧的下方。

进一步，所述底板针模组还包括保护盖和/或硅胶垫，保护盖设置在固定针板上，硅胶垫内嵌设置在底板上、且位于金手指假压转接板的转接板金手指端的下方。

采用上述结构后，本发明ICT测试治具使用时，先将上治具安装在设备旋转测试机构的测试机械手的下方，通过上治具的第一牛角和第二牛角与测试设备电性连接，多个下治具分别安装在设备旋转测试机构的工位旋转平台上方，将产品依次放置在各下治具上，工位旋转平台将已上料的下治具旋转到测试机械手下方，测试机械手带动上治具下压测试，测试完成后，测试机械手归位，工位旋转平台再次旋转，如此多旋转测试，通过本ICT测试治具，设备实现自动完成ICT测试。

因产品的产品OLB端手指的pitch值小于0.2mm，无法种针测试，本发明ICT测试治具采用金手指转接底板与产品OLB端手指柔性接触式假压以实现电性连接引出信号测试；本发明ICT测试治具采用缓冲模组的缓冲设计，缓冲模组通过弹簧及缓冲限位螺丝设计有一缓冲行程，以及连接器pogo pin针模组的浮动板和压缩弹簧的设计，当上治具下压到下治具时，避免因产品连接器的高度差异而压伤产品连接器；缓冲模组的微动块和下缓冲块有一微动距离，使微动块可单边浮动距离，当缓冲模组下方的连接器pogo pin针模组与产品连接器通过导向pin下压接触的过程中，防止因连接器SMT单边约0.1mm的打件偏差而导致压坏连接器；

浮动板的舌头凸块设计，在浮动板与产品连接器接触时，舌头凸块设计可以保护双头探针，浮动板的连接器沉槽的内壁两侧各做曲面倒角设计，方便与连接器相切入槽，起到准确定位作用；底板针模组的硅胶垫设计，使产品的产品OLB端手指与金手指假压转接板的转接板金手指柔性假压，防止损伤产品；下治具采用真空吸附设计，使产品完成吸附于下治具上，使测试更准确；下治具载板的材质选用透明材质，优选透明压克力材质，方便设备上的下部CCD相机观察检测产品的产品OLB端手指与金手指转接底板的转接板金手指假接对位准确性；通过本ICT测试治具，设备可实现自动完成ICT测试。

附图说明

图1为本发明ICT测试治具的立体图；

图2为本发明上治具的立体图；

图3为本发明上治具的俯视图；

图4为本发明上治具的右侧图；

图5为本发明下治具的立体图；

图6为本发明下治具的俯视图；

图7为本发明下治具的右侧图；

图8为本发明缓冲模组的立体图；

图9为本发明缓冲模组的分解图；

图10为本发明缓冲模组的前视图；

图11为本发明缓冲模组的俯视图；

图12为本发明连接器pogo pin针模的立体图；

图13为本发明连接器pogo pin针模的分解图；

图14为本发明连接器pogo pin针模的前视图；

图15为本发明连接器pogo pin针模的俯视图；

图16为本发明底板针模组的立体图；

图17为本发明底板针模组的分解图；

图18为本发明底板针组的俯视图；

图19为本发明底板针组的左侧图；

图20为本发明的使用示意图。

具体实施方式

为了进一步解释本发明的技术方案，下面通过具体实施例来对本发明进行详细阐述。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

如图1所示，本发明是一种ICT测试治具1，包括上治具10及下治具20。

如图2到图4所示，上治具10包括上治具载板11、牛角架12、牛角转接板13、第一牛角14、第二牛角15、缓冲模组16、连接器pogo pin针模组17、转接排线18、底板针模组19、底板针模组连接线110及上治具安装板111；牛角架12设置在上治具载板11的一角上方，牛角转接板13设置在牛角架12上方外侧，第一牛角14设置在牛角转接板13上并与牛角转接板13电性连接，第二牛角15悬空的设置在牛角架12上方的另一侧上，缓冲模组16悬空贯穿的设置在上治具载板11上、且位置与产品2的产品连接器2B相对应，连接器pogo pin针模组17设置在缓冲模组16的下方，转接排线18的一端连接在连接器pogo pin针模组17上，转接排线18的另一端连接在牛角转接板13上，通过转接排线18将牛角转接板13和连接器pogo pin针模组17电性连接在一起，底板针模组19设置在上治具载板11下方、且位置与产品2的产品OLB端手指2A端相对应，底板针模组连接线110的一端连接在底板针模组19上，底板针模组连接线110的另一端连接在第二牛角15下方，通过底板针模组连接线110将底板针模组19和第二牛角15电性连接在一起，上治具安装板111设置在上治具载板11的上方一侧。

如图8到图11所示，缓冲模组16包括上缓冲块161、下缓冲块162、微动块163、导柱164、弹簧165及缓冲限位螺丝166；上缓冲块161悬空设置在上治具载板11上、且位置与产品2的产品连接器2B相对应，上缓冲块161的左右两侧活动贯穿套置有缓冲限位螺丝166，上缓冲块161的另两侧活动贯穿套置有导柱164，下缓冲块162设置在缓冲限位螺丝166和导柱164的末端，缓冲限位螺丝166用于确定缓冲行程，其长度依缓冲模组16的缓冲行程设置，至少两个弹簧165设置在上缓冲块161和下缓冲块162之间，用于缓冲作用，下缓冲块162可以在上治具载板11内及其下方上下活动，微动块163设置在下缓冲块162的下方。

如图10所示，微动块163通过四个微动限位螺丝167将其四角可以微动的安装在下缓冲块162的下方，即微动块163和下缓冲块162有一微动距离H，使微动块163可单边浮动距离H，当缓冲模组16下方的连接器pogo pin针模组17与产品连接器2B通过导向pin下压接触的过程中，防止因连接器SMT单边约0.1mm的打件偏差而导致压坏连接器。优选地，单边浮动的微动距离H设置为0.3mm。

如图12到图15所示，连接器pogo pin针模组17包括针底板171、针模框172、浮动板173、双头探针174、导向pin 175及压缩弹簧176；针底板171包括底板1711及针模块1712，针模块1712设置在底板1711的中间区域上方，针模块1712内开设有多个探针孔17121，多个探针孔17121的位置依产品连接器2B的连接角位置而定，导向pin 175设置在底板1711的两侧上方，至少2个压缩弹簧176设置在底板1711上、且位于针模块1712的周边，浮动板173上设置有浮动板凸块1731，在浮动板凸块1731的中间区域开设有连接器沉槽1732，在浮动板凸块1731上、且位于连接器沉槽1732内开设有多个探针让位孔1734，多个探针让位孔1734的位置与探针孔17121相对应，浮动板173放置在针模块1712和压缩弹簧176的上方，多个双头探针174依次通过探针让位孔1734和探针孔17121贯穿套置在浮动板173和针底板171上，针模框172的中间区域开设有浮动块让位槽1721，针模框172通过导向pin 175套置在针底板171上、且针模框172的浮动让位槽1721套置在浮动板173的浮动板凸块1731上，转接排线18的一端连接在针底板171的下方并与多个双头探针174的末端电性连接，连接器pogo pin针模组17的底面向上的安装在缓冲模组16的下方。

浮动板173还设置有舌头凸块1733，舌头凸块1733设置在连接器沉槽1732的内中间区域，舌头凸块1733与产品连接器2B中间镂空区域相配套设计，在浮动板173与产品连接器2B接触时，舌头凸块1733设计主要为了保护双头探针174。

如图13所示，在连接器沉槽1732的内壁两侧各做曲面倒角1735设计，方便与连接器相切入槽，起到准确定位作用。

如图13所示，浮动板173的浮动板凸块1731上开设有多个定位销孔1736、且位置与下治具20的产品连接器2B端的定位销22相对应，在浮动板173与产品连接器2B接触时，产品连接器2B端的定位销22套置在定位销孔1736内，起到定位作用。

如图16到图19所示，底板针模组19包括底板191、金手指假压转接板192、针组底板193、固定针板194及探针195；金手指假压转接板192一端设计有一排转接板金手指1921、另一端设计有与转接板金手指1921相对应的多个探针探点1922，该转接板金手指1921与产品2的产品OLB端手指2A相对应设计，金手指假压转接板192设置在底板191上方，在针组底板193上相对于探针探点1922的一侧开设有针组沉槽1931，在针组底板193上、且位于针组沉槽1931内开设有多个底板探针孔1932，多个底板探针孔1932的位置与金手指假压转接板192的多个探针探点1922相应对设计，针组底板193设置在金手指假压转接板192上，在固定针板194上开设有多个针板探针孔1941，多个针板探针孔1941的位置与多个底板探针孔1932相对应设计，固定针板194设置在针组底板193上、且固定针板194的下方套置在针组底板193的针组沉槽1931内，多个探针195依次贯穿通过固定针板194和针组底板193与金手指假压转接板192的多个探针探点1922接触，多个探针195的顶端与多根底板针模组连接线110连接，底板针模组19的底面向上的安装在上治具载板11的相对于产品OLB端手指2A一侧的下方。

底板针模组19还包括保护盖196，保护盖196设置在固定针板194上，以保护探针195和底板针模组连接线110及防止其脱离。

底板针模组19还包括硅胶垫1911，硅胶垫1911内嵌设置在底板191上、且位于金手指假压转接板192的转接板金手指1921端的下方，使产品2的产品OLB端手指2A与金手指假压转接板192的转接板金手指1921柔性假压，防止损伤产品。

如图5到图7所示，下治具20包括下治具载板21及定位销22，多个定位销22设置在下治具载板21上方、且围绕产品2的外形周边设置，主要用产品2的精确定位放置在下治具载板21上。

在下治具载板21上与产品2的产品连接器2B端左右两侧各至少开设有一导向pin孔211，用于与连接器pogo pin针模组17的导向pin 175相对应套置定位，在下治具载板21内与产品2的放置区域下方开设有真空槽(图中未视出)，在真空槽上方与产品2的放置区域相应处开设有多个真空吸附孔(图中未视出)，真空接头23设置在下治具载板21的一侧并与真空槽真空连接，真空接头23用于与外界真空源连接，通过吸真空进一步确保使产品2牢牢的吸附在下治具20上，防止在测试过程中，产品位置偏移误测试。

在下治具载板21上，还开设有手拉位槽212，手拉位槽212位于产品2的一侧，方便取放产品。

下治具载板21的材质选用透明材质，优选透明压克力材质，方便设备上的下部CCD相机观察检测产品2的产品OLB端手指2A与金手指转接底板192的转接板金手指1921假接对位准确性。

如图20所示，使用时，先将上治具10安装在设备旋转测试机构3的测试机械手32的下方，通过上治具10的第一牛角14和第二牛角15与测试设备电性连接，多个下治具20分别安装在设备旋转测试机构3的工位旋转平台31上方，将产品依次放置在各下治具20上，工位旋转平台31将已上料的下治具20旋转到测试机械手32下方，测试机械手32带动上治具10下压测试，测试完成后，测试机械手32归位，工位旋转平台31再次旋转，如此多旋转测试，通过本ICT测试治具，设备实现自动完成ICT测试。

采用上述方案后，因产品2的产品OLB端手指2A的pitch值小于0.2mm，无法种针测试，本发明ICT测试治具采用金手指转接底板192与产品OLB端手指2A柔性接触式假压以实现电性连接引出信号测试；本发明ICT测试治具采用缓冲模组的缓冲设计，缓冲模组16通过弹簧165及缓冲限位螺丝166设计有一缓冲行程，以及连接器pogo pin针模组17的浮动板173和压缩弹簧176的设计，当上治具下压到下治具时，避免因产品连接器2B的高度差异而压伤产品连接器2B；缓冲模组16的微动块163和下缓冲块162有一微动距离H，使微动块163可单边浮动距离H，当缓冲模组16下方的连接器pogo pin针模组17与产品连接器2B通过导向pin下压接触的过程中，防止因连接器SMT单边约0.1mm的打件偏差而导致压坏连接器；

浮动板173的舌头凸块1733设计，在浮动板173与产品连接器2B接触时，舌头凸块1733设计可以保护双头探针174，浮动板173的连接器沉槽1732的内壁两侧各做曲面倒角1735设计，方便与连接器相切入槽，起到准确定位作用；底板针模组19的硅胶垫1911设计，使产品2的产品OLB端手指2A与金手指假压转接板192的转接板金手指1921柔性假压，防止损伤产品；下治具20采用真空吸附设计，使产品完成吸附于下治具上，使测试更准确；下治具载板21的材质选用透明材质，优选透明压克力材质，方便设备上的下部CCD相机观察检测产品2的产品OLB端手指2A与金手指转接底板192的转接板金手指1921假接对位准确性；通过本ICT测试治具，设备可实现自动完成ICT测试。

上述实施例和图式并非限定本发明的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本发明的专利范畴。

Claims (10)

1.一种ICT测试治具，其特征在于，包括：上治具及下治具；

所述上治具包括上治具载板、牛角架、牛角转接板、第一牛角、第二牛角、缓冲模组、连接器pogo pin针模组、转接排线、底板针模组、底板针模组连接线及上治具安装板；牛角架设置在上治具载板的上方，牛角转接板设置在牛角架上，第一牛角设置在牛角转接板上并与牛角转接板电性连接，第二牛角悬空的设置在牛角架上方的另一侧上，缓冲模组悬空贯穿的设置在上治具载板上、且位置与产品的产品连接器相对应，连接器pogo pin针模组设置在缓冲模组的下方，转接排线的一端连接在连接器pogo pin针模组上，另一端连接在牛角转接板上，通过转接排线将牛角转接板和连接器pogo pin针模组电性连接在一起，底板针模组设置在上治具载板下方、且位置与产品的产品OLB端手指端相对应，底板针模组连接线的一端连接在底板针模组上，另一端连接在第二牛角的下方，通过底板针模组连接线将底板针模组和第二牛角电性连接在一起，上治具安装板设置在上治具载板的一侧；

所述下治具包括下治具载板及定位销，多个定位销设置在下治具载板上方、且围绕产品的外形周边设置，在下治具载板上与产品的产品连接器端左右两侧各至少开设有一导向pin孔，用于与连接器pogo pin针模组的导向pin相对应套置定位，在下治具载板内与产品的放置区域下方开设有真空槽，在真空槽上方与产品的放置区域相应处开设有多个真空吸附孔，真空接头设置在下治具载板的一侧并与真空槽真空连接。

2.如权利要求1所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述缓冲模组包括上缓冲块、下缓冲块、微动块、导柱、弹簧及缓冲限位螺丝；上缓冲块悬空设置在上治具载板上、且位置与产品的产品连接器相对应，上缓冲块的左右两侧活动贯穿套置有缓冲限位螺丝，上缓冲块的另两侧活动贯穿套置有导柱，下缓冲块设置在缓冲限位螺丝和导柱的末端，缓冲限位螺丝用于确定缓冲行程，其长度依缓冲模组的缓冲行程设置，至少两个弹簧设置在上缓冲块和下缓冲块之间，用于缓冲作用，下缓冲块可以在上治具载板内及其下方上下活动，微动块设置在下缓冲块的下方。

3.如权利要求3所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述微动块通过四个微动限位螺丝将其四角可微动的安装在下缓冲块的下方，即微动块和下缓冲块有一微动距离，使微动块可单边浮动距离。

4.如权利要求3所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述单边浮动的微动距离H设置为0.3mm。

5.如权利要求1所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述连接器pogo pin针模组包括针底板、针模框、浮动板、双头探针、所述导向pin及压缩弹簧；针底板包括底板及针模块，针模块设置在底板的中间区域上方，针模块内开设有多个探针孔，多个探针孔的位置依产品连接器的连接角位置而定，导向pin设置在底板的两侧上方，至少2个压缩弹簧设置在底板上、且位于针模块的周边，浮动板上设置有浮动板凸块，在浮动板凸块的中间区域开设有连接器沉槽，在浮动板凸块上、且位于连接器沉槽内开设有多个探针让位孔，多个探针让位孔的位置与探针孔相对应，浮动板放置在针模块和压缩弹簧的上方，多个双头探针依次通过探针让位孔和探针孔贯穿套置在浮动板和针底板上，针模框的中间区域开设有浮动块让位槽，针模框通过导向pin套置在针底板上、且针模框的浮动让位槽套置在浮动板的浮动板凸块上，转接排线的一端连接在针底板的下方并与多个双头探针的末端电性连接，连接器pogo pin针模组的底面向上的安装在缓冲模组的下方。

6.如权利要求5所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述浮动板还设置有舌头凸块，舌头凸块设置在连接器沉槽的内中间区域，舌头凸块与产品连接器中间镂空区域相配套设计。

7.如权利要求5所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述连接器沉槽的内壁两侧形成曲面倒角。

8.如权利要求5所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述浮动板的浮动板凸块上开设有多个定位销孔、且位置与下治具的产品连接器端的定位销相对应。

9.如权利要求1所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述底板针模组包括底板、金手指假压转接板、针组底板、固定针板及探针；金手指假压转接板的一端设有一排转接板金手指、另一端设有与转接板金手指相对应的多个探针探点，该转接板金手指与产品的产品OLB端手指相对应设计，金手指假压转接板设置在底板上方，在针组底板上相对于探针探点的一侧开设有针组沉槽，在针组底板上、且位于针组沉槽内开设有多个底板探针孔，多个底板探针孔的位置与金手指假压转接板的多个探针探点相应对设计，针组底板设置在金手指假压转接板上，在固定针板上开设有多个针板探针孔，多个针板探针孔的位置与多个底板探针孔相对应设置，固定针板设置在针组底板上、且固定针板的下方套置在针组底板的针组沉槽内，多个探针依次贯穿通过固定针板和针组底板与手指假压转接板的多个探针探点接触，多个探针的顶端与多根底板针模组连接线连接，底板针模组的底面向上的安装在上治具载板的相对于产品OLB端手指一侧的下方。

10.如权利要求9所述的一种ICT测试治具，其特征在于：所述底板针模组还包括保护盖和/或硅胶垫，保护盖设置在固定针板上，硅胶垫内嵌设置在底板上、且位于金手指假压转接板的转接板金手指端的下方。