JPS6276274A - Icソケツト - Google Patents

Icソケツト

Info

Publication number
JPS6276274A
JPS6276274A JP60218304A JP21830485A JPS6276274A JP S6276274 A JPS6276274 A JP S6276274A JP 60218304 A JP60218304 A JP 60218304A JP 21830485 A JP21830485 A JP 21830485A JP S6276274 A JPS6276274 A JP S6276274A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
floating plate
socket
pressed
cover plate
spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60218304A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0361998B2 (ja
Inventor
良次 丸山
一義 小高
田屋 健一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
I Pex Inc
Original Assignee
Dai Ichi Seiko Co Ltd
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Ichi Seiko Co Ltd, NEC Corp filed Critical Dai Ichi Seiko Co Ltd
Priority to JP60218304A priority Critical patent/JPS6276274A/ja
Publication of JPS6276274A publication Critical patent/JPS6276274A/ja
Publication of JPH0361998B2 publication Critical patent/JPH0361998B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はICの製造過程で実施するバーン・イン・テス
トの試験装置のICソケットに関する。
〔従来の技術とその問題点〕
従来ICは各種のタイプのものが製造されており、それ
ぞれのタイプに適合したバーン・イン・テスト用のIC
ソケットが実用されている。
しかし本願が対象としている一つの面に高密度に多数の
バンプを設けたICのバーン・イン・テスト用のICソ
ケットは未だ実用されていない。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上述の問題点を解決し前記多数のハンプを設け
たICのバーン・イン・テスト用のICソケットを提供
するもので、複数のスプリングプローブを設けた本体と
、この本体上に上下動可能に取付けられかつ上方へ弾圧
されているフローティングプレートと、このフローティ
ングプレート上に検査されるべきICを挟んで載置され
るカバー板とを備えたICソケットで、前記フローティ
ングプレートにはICの位置決め手段を設け、カバー板
を押圧したときに挟持されたICの複数のバンプが押圧
されて下降した前記フローティングプレートを介してそ
れぞれ対応したスプリングプローブの先端に接触する構
造としたものである。
さらに前記スプリングプローブの先端は前記カバー板を
押圧しない状態では前記ICのバンプに対応してフロー
ティングプレートに明けられた透孔内に位置するように
設けるものである。
〔作 用〕
上述のようにICをフローティングプレート上の位置決
め手段によって定位置にrf&置すれば、カバー板を押
圧したときにはICのバンプに対応した位置に明けられ
た前記透孔からスプリングプローブの先端が突出して来
るので、全ハンプが正確に位置合わせされてプローブ先
端に接触する。
また押圧しない状態のときはプローブ先端は透孔内に引
込んで居るので、プローブの先端保護の効果もある。
〔実施例〕
第1図は本発明のICソケットの縦断面図で、第2図は
フローティングプレートが上昇した状態の一部分の拡大
断面図である。
本体1には複数のスプリングプローブ2を所定の位置に
本体を貫通して垂直に植設しである。このスプリングプ
ローブ2の植設部分の上側には4本のガイドピン3で水
平方向が保持され、上下方向には摺動可能なフローティ
ングプレート4が設けられており、スプリング5で常時
はガイドピン3の上端のストッパ3aに弾圧されている
。なお、フローティングプレート4には前記スプリング
プローブ2に対応する位置に透孔4r、があけられてお
り、プローブ先端が透孔内に遊嵌されている。またフロ
ーティングプレート4の上面にはここに載置されるIC
6の外形に合った形状の四部4aが設けられてICの位
置決め機能を持たせである。この載置されたIC6の上
側にはこのIC6の上面に密着する下面を有するカバー
板7を置き、押え部材8でIC6をカバー板7とフロー
ティングプレート4との間に挟持してフローティングプ
レート4を本体1の方向に押圧する。前記カバー板7は
放熱板を兼ねることが好ましい。なお、第2図示のよう
にIC6には接続端子としてバンプ6aが設けられてい
るので、フローティングプレート4の透孔4cの上側開
口端には上記ハンプ6aと係合する窪み4bが設けられ
ていて、この部分でスプリングプローブ2の先端とハン
、プロaとが接触するようになっている。スプリングプ
ローブ2はレセプタクル2−1 とこの内部に摺動自在
に把持されているプローブ2−2及びプローブ2−2を
上方に押し出しているスプリング2−3よりなるもので
、プローブ2−2の先端は内蔵のスプリング2−3によ
り押し込まれた先端とバンプ6aとが一定の押圧力で接
触するようになっている。
〔発明の効果〕
上述のように本発明によればICをフローティングプレ
ート上面の凹部にバンプを下向きにして挿入するだけで
位置合せが出来、カバー板でICを押し込めばすべての
バンプがスプリングプローブに接触するとともにカバー
板そのものが放熱板としての機能を持っているので、過
熱によるICの破損を防ぐことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のICソケットの縦断面図、第2図はフ
ローティングプレートが上昇した状態の一部分の拡大断
面図である。 1・・・・・・本体、2・・・・・・スプリングプロー
ブ、3・・・・・・ガイドピン、4・・・・・・フロー
ティングプレート、4a・・・・・・凹部(位置決め手
段)、4C・・・・・・透孔、6・・・・・・IC26
a・・・・・・バンプ、7・・・・・・カバー板、8・
・・・・・押え部材。 ′・ 、16五≠巨q二

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のスプリングプローブを設けた本体と、この
    本体上に上下動可能に取付けられかつ上方へ弾圧されて
    いるフローティングプレートと、このフローティングプ
    レート上に検査されるべきICを挟んで載置されるカバ
    ー板とを備えたICソケットにおいて、 前記フローティングプレートにはICの位置決め手段を
    設け、前記カバー板を押圧したとき前記ICのバンプが
    、押圧されて下降した前記フローティングプレートを介
    してそれぞれ対応したスプリングプローブの先端に接触
    する構造としたことを特徴とするICソケット。
  2. (2)複数のスプリングプローブを設けた本体と、この
    本体上に上下動可能に取付けられかつ上方へ弾圧されて
    いるフローティングプレートと、このフローティングプ
    レート上に検査されるべきICを挟んで載置されるカバ
    ー板とを備えたICソケットにおいて、前記カバー板を
    押圧しない状態では前記スプリングプローブの先端は、
    前記ICのバンプに対応してフローティングプレートに
    明けられた透孔内に位置するように設けられたことを特
    徴とするICソケット。
JP60218304A 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト Granted JPS6276274A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60218304A JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60218304A JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6276274A true JPS6276274A (ja) 1987-04-08
JPH0361998B2 JPH0361998B2 (ja) 1991-09-24

Family

ID=16717738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60218304A Granted JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6276274A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63170779U (ja) * 1987-04-27 1988-11-07
JPS63291375A (ja) * 1987-05-22 1988-11-29 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH01119043A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH05209933A (ja) * 1992-01-29 1993-08-20 Nec Corp 被測定物位置出し機構付きコンタクタおよびそれを用いた自動選別装置
US5247250A (en) * 1992-03-27 1993-09-21 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket
US5647756A (en) * 1995-12-19 1997-07-15 Minnesota Mining And Manufacturing Integrated circuit test socket having toggle clamp lid
US5788526A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
US5791914A (en) * 1995-11-21 1998-08-11 Loranger International Corporation Electrical socket with floating guide plate
JP2002270321A (ja) * 2001-03-07 2002-09-20 Advanex Inc 半導体パッケージ用ソケット

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921417U (ja) * 1972-05-26 1974-02-23
JPS5830295U (ja) * 1981-08-24 1983-02-26 山一電機工業株式会社 集積回路板用ソケツト
JPS59218762A (ja) * 1983-05-26 1984-12-10 Fujitsu Ltd リ−ドレスチツプキヤリアの実装方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3108622A1 (de) * 1981-03-06 1982-09-16 Wacker-Chemie GmbH, 8000 München "verfahren zur stabilisierung waesseriger loesungen von acetoacetamiden"

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921417U (ja) * 1972-05-26 1974-02-23
JPS5830295U (ja) * 1981-08-24 1983-02-26 山一電機工業株式会社 集積回路板用ソケツト
JPS59218762A (ja) * 1983-05-26 1984-12-10 Fujitsu Ltd リ−ドレスチツプキヤリアの実装方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63170779U (ja) * 1987-04-27 1988-11-07
JPH0526543Y2 (ja) * 1987-04-27 1993-07-05
JPS63291375A (ja) * 1987-05-22 1988-11-29 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH0371746B2 (ja) * 1987-05-22 1991-11-14 Yamaichi Electric Mfg
JPH01119043A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH0463510B2 (ja) * 1987-10-31 1992-10-12 Yamaichi Denki Kk
JPH05209933A (ja) * 1992-01-29 1993-08-20 Nec Corp 被測定物位置出し機構付きコンタクタおよびそれを用いた自動選別装置
US5247250A (en) * 1992-03-27 1993-09-21 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket
US5791914A (en) * 1995-11-21 1998-08-11 Loranger International Corporation Electrical socket with floating guide plate
US5647756A (en) * 1995-12-19 1997-07-15 Minnesota Mining And Manufacturing Integrated circuit test socket having toggle clamp lid
US5788526A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
JP2002270321A (ja) * 2001-03-07 2002-09-20 Advanex Inc 半導体パッケージ用ソケット

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0361998B2 (ja) 1991-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5578870A (en) Top loading test socket for ball grid arrays
JP2854276B2 (ja) 半導体素子テスト用のトレーユニット
US5057904A (en) Socket unit for package having pins and pads
JPS6276274A (ja) Icソケツト
JPS6276273A (ja) Icソケツト
CN218956647U (zh) 一种便于芯片压合的旋盖式芯片测试座
JP2724675B2 (ja) Ic測定治具
JP2576233Y2 (ja) Ic試験装置のテストヘッドと試料との接続機構
KR100496634B1 (ko) 테스트 소켓
JPH0725722Y2 (ja) 電子部品用ソケット
KR200324778Y1 (ko) 플랫핑거 콘택터 및 비자성의 반도체 테스트소켓
JPS5824871A (ja) 半導体パッケ−ジ測定治具
US20020074640A1 (en) Semiconductor test socket having pogo-pin contacts
CN219285337U (zh) 芯片测试系统和测试平台
KR100799135B1 (ko) 소켓 장치 및 전자 패키지를 착탈 가능하게 장착하는 방법
JP3070517B2 (ja) Bga型icパッケージ用のicソケット
JP3256455B2 (ja) ソケット
KR200260959Y1 (ko) 웨이퍼 검사용 프로브 장치
KR100226499B1 (ko) 패키지 테스트 소켓
JP2606309Y2 (ja) Icソケット
JP2519116Y2 (ja) Icソケット
JPS6124244A (ja) 半導体装置のテスタ用固定カ−ド
JP2544984Y2 (ja) 半導体素子特性検査用治具
CN114624568A (zh) 失效分析装置
JPH0310274U (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees