CN111766544A - POGO Pin连接器的测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开一种POGO Pin连接器的测试装置及方法。该测试装置的一具体实施方式包括控制器和压接治具，压接治具设置有与待测POGO Pin连接器的多个Pin针对应的多个压接触点；控制器，用于：控制与所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加标准压力并通过压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对所有Pin针进行第一次测试；在进行第一次测试后进行N次测试，N为大于等于1的整数，其中，在进行N次测试中的每一次测试时控制与上一次测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加小于上一次测试所施加压力的压力并通过压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对上一次测试结果为合格的Pin针进行测试。

Description

POGO Pin连接器的测试装置及方法

技术领域

本发明涉及产品测试技术领域。更具体地，涉及一种POGO Pin连接器的测试装置及方法。

背景技术

目前，POGO Pin连接器在使用过程中出现Pin针压接不良或其他损坏时，没有可直接对其测试的设备，判断POGO Pin连接器上Pin针是否出现损坏均靠人进行肉眼观察及人为经验分析，POGO Pin连接器无法使用时只能通过多次更换Pin针或直接全部更换Pin针来进行维修。由于目前无法在判定及维修过程中准确定位POGO Pin连接器上损坏的Pin针，造成了很大的成本浪费，包括材料成本和时间成本的浪费。

因此，需要提供一种新的POGO Pin连接器的测试装置及方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种POGO Pin连接器的测试装置及方法，以解决现有技术存在的问题中的至少一个。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明第一方面提供了一种POGO Pin连接器的测试装置，包括控制器和压接治具，所述压接治具设置有与待测POGO Pin连接器的多个Pin针对应的多个压接触点；

所述控制器，用于：控制与所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加标准压力并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对所有Pin针进行第一次测试；在进行第一次测试后进行N次测试，N为大于等于1的整数，其中，在进行所述N次测试中的每一次测试时控制与上一次测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加小于上一次测试所施加压力的压力并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送所述测试信号以对上一次测试结果为合格的Pin针进行测试。

可选地，所述控制器，用于在进行第一次测试后进行两次测试，第二次测试所施加的压力为所述标准压力的90％，第三次测试所施加的压力为所述标准压力的80％。

可选地，该测试装置还包括用于存储每一次测试结果的第一存储器。

可选地，该测试装置还包括用于存储所述N次测试中每一次测试对应的损坏风险等级的第二存储器。

可选地，所述第二存储器，还用于存储与每一损坏风险等级对应的Pin针预估剩余寿命。

可选地，该测试装置还包括用于输出每一次测试结果的输出装置。

可选地，所述输出装置包括显示器，所述显示器用于：显示所有Pin针的第一次测试结果对应的状态，所述第一次测试结果为合格对应正常状态、不合格对应损坏状态，并显示正常状态的Pin针的损坏风险等级及预估剩余寿命。

可选地，所述测试包括对Pin针的通短路测试。

可选地，所述测试装置还包括用于接收用户对所述控制器的控制及设置的输入装置。

本发明第二方面提供了一种基于本发明第一方面提供的测试装置的POGO Pin连接器的测试方法，包括：

控制与所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加标准压力，并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对所有Pin针进行第一次测试；

在进行第一次测试后进行N次测试，N为大于等于1的整数，其中，在进行所述N次测试中的每一次测试时：控制与上一次测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加小于上一次测试所施加压力的压力，并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送所述测试信号以对上一次测试结果为合格的Pin针进行测试。

本发明的有益效果如下：

本发明所述技术方案不仅可以高效、便捷、准确地测试POGO Pin连接器的多个Pin针是否损坏，还可以判断正常未损坏的Pin针是否存在损坏风险，进一步，还可以判断正常未损坏的Pin针的损坏风险等级并给出正常未损坏的Pin针的预估剩余寿命，便于用户对不同状态、损坏风险等级的Pin针进行针对性处理。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本发明实施例提供的POGO Pin连接器的测试装置的示意图。

图2示出压接治具的示意图。

图3示出本发明实施例提供的POGO Pin连接器的测试方法的流程图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。

如图1所示，本发明一个实施例提供了一种POGO Pin连接器的测试装置，包括控制器10和压接治具20，压接治具20设置有与待测POGO Pin连接器的多个Pin针对应的多个压接触点21；

控制器10，用于：

控制与待测POGO Pin连接器的所有Pin针对应的各压接触点21向与其对应的Pin针施加第一压力，并在施加第一压力时，通过各压接触点21向与其对应的Pin针发送测试信号，以对所有Pin针进行第一次测试，即，第一次测试是对待测POGO Pin连接器的所有Pin针进行测试，其中，第一压力为标准压力，标准压力即待测POGO Pin连接器在正常使用时其Pin针所受到的压力，第一次测试的目的是测试POGO Pin连接器的所有Pin针的状态是正常状态还是损坏状态；

控制与第一次测试的测试结果为合格的Pin针对应的压接触点21向与其对应的Pin针施加第二压力，并在施加第二压力时，通过压接触点21向与其对应的Pin针发送测试信号，以对第一次测试的测试结果为合格的Pin针进行第二次测试，其中，第二压力小于第一压力，第二次测试的目的是通过测试正常状态的Pin针在被施加一个相对较小的压力时是否还能处于正常状态，由此可判断正常状态的Pin针是否存在损坏风险；

控制与第二次测试的测试结果为合格的Pin针对应的压接触点21向与其对应的Pin针施加第三压力，并在施加第三压力时，通过压接触点21向与其对应的Pin针发送测试信号，以对第二次测试的测试结果为合格的Pin针进行第三次测试，其中，第三压力小于第二压力，第三次测试的目的是通过测试正常状态的Pin针在被施加一个相对更小的压力时是否还能处于正常状态，由此可判断正常状态的Pin针的损坏风险量级，以便给予用户能采取更具针对性的处理方式的指导。

在一个具体示例中，上述三次测试将待测POGO Pin连接器的所有Pin针的状态判定为四档：第一次测试结果为不合格的Pin针判定为已损坏的Pin针，用户可以对于其采用直接更换的处理方式；第一次测试结果为合格但第二次测试结果为不合格的Pin针判定为可能即将损坏的Pin针，用户可以对于其采用简单维修的处理方式；前两次测试结果为合格但第三次测试结果为不合格的Pin针判定为可能再使用一段时间后会损坏的Pin针，用户可以对于其采用观察弹性、擦拭异物、排除外接干扰等处理方式；三次测试结果均为合格的Pin针判定为无损坏风险的Pin针，用户可以不用处理。

本实施例中，进行第一次测试后，再进行的测试次数不限于两次，可以仅再进行一次，也可以再进行更多次，具体的测试次数可根据对测试效率、是否需要划分损坏风险等级及损坏风险等级的划分精度等测试需求和待测POGO Pin连接器的应用场景等多种因素的综合考虑设置。

本实施例提供的POGO Pin连接器的测试装置，不仅可以高效、便捷、准确地测试POGO Pin连接器的多个Pin针是否损坏(仅需一次测试即可定位POGO Pin连接器的多个Pin针中损坏的Pin针)，还可以判断正常未损坏的Pin针是否存在损坏风险，进一步，还可以判断正常未损坏的Pin针的损坏风险等级，有利于用户对不同状态、损坏风险等级的Pin针进行针对性处理。

在本实施例的一些可选的实现方式中，控制器10为STM32单片机。

在本实施例的一些可选的实现方式中，测试包括对Pin针的通短路测试。

在一个具体示例中，三次测试均为对Pin针的通短路测试，通短路测试的原理相同，只是对Pin针施加的压力递减。通短路测试的流程例如包括：在压接触点21向与其对应的Pin针施加压力时，STM32单片机通过引脚给对应的Pin针的压接触点21发送3.3V电压信号，在对应的压接触点21及周边压接触点21进行电压及电流的采集。如过对应压接触点21的电压为3.3V，则说明Pin针合格，同时，STM32单片机测量周边压接触点21无电压则说明Pin针无短路情况，如周边压接触点21存在电压则判定Pin针为短路引脚。另外，还可同时测量对应电流与正常的电流差异，如正常电流为1mA，但实际测量为0.8mA，则可判定Pin针为磨损Pin针，即通过电流的消耗程度判定Pin针是否出现磨损。

在本实施例的一些可选的实现方式中，第二压力为第一压力的90％，第三次压力为第一压力的80％。例如，当第一压力设定为1hPa时，先使用1hPa进行是否损坏的测试，在依次调至0.9hPa及0.8hPa分别测试，在压力为0.9hPa时某未损坏Pin针出现异常(例如测量电压波动超过10％不稳或电流偏变化波动超过10％)则判定该Pin针可能即将损坏；在压力为0.8hPa时某未损坏Pin针出现异常则判定该Pin针可能再使用一段时间后会损坏。需要说明的是，若进行第一次测试后，再进行的测试次数多于两次，例如三次、四次等，可以根据具体的测试次数及待测POGO Pin连接器的应用场景等多种因素的综合考虑设置后续测试施加的压力。例如，共进行五次测试，即进行第一次测试后再进行四次测试，则后续的四次测试施加的压力可设置为：第二次测试施加的压力为第一压力的90％，第三次测试施加的压力为第一压力的85％，第四次测试施加的压力为第一压力的80％，第五次测试施加的压力为第一压力的75％。

在本实施例的一些可选的实现方式中，本实施例提供的测试装置还包括用于存储每一次测试结果的第一存储器31和用于输出每一次测试结果的输出装置。

在本实施例的一些可选的实现方式中，本实施例提供的测试装置还包括用于存储N次测试中每一次测试对应的损坏风险等级的第二存储器32。

在本实施例的一些可选的实现方式中，第二存储器32，还用于存储与每一损坏风险等级对应的Pin针预估剩余寿命。其中，与每一损坏风险等级对应的Pin针预估剩余寿命可结合历史测试数据得到，并在测试开始前预先存储与第二存储器32中。

本实现方式可给出正常未损坏的Pin针的预估剩余寿命，更加有利于用户对不同状态、损坏风险等级的Pin针进行针对性处理。

在一个具体示例中，第一存储器31与第二存储器32可集成为一个存储器，存储所有Pin针的正常或损坏状态、正常状态的Pin针的损坏风险等级及预估剩余寿命。

在本实施例的一些可选的实现方式中，输出装置包括显示器40，显示器40用于：显示所有Pin针的第一次测试结果对应的状态，第一次测试结果为合格对应正常状态、不合格对应损坏状态，并显示正常状态的Pin针的损坏风险等级及预估剩余寿命。在一具体示例中，显示器40可显示控制器10根据各Pin针的状态、损坏风险等级或预估剩余寿命信息生成的待测POGO Pin连接器的状态分析报告，用于POGO的维修记录。另外，输出装置还可包括语音播放器等。

在本实施例的一些可选的实现方式中，本实施例提供的POGO Pin连接器的测试装置还包括用于接收用户对控制器10的控制及设置的输入装置(图中未示出)。在一具体示例中，输入装置包括用于开启/关闭测试装置的开关按键、用于设置对应待测POGO Pin连接器的所有Pin针的压接触点21的触点选择组合键(由于可能存在一个压接治具20可用于不同型号的待测POGO Pin连接器的情况，因此，在压接触点21数多于Pin针数且各Pin针与部分压接触点21位置可对应的情况下，可通过选择组合键实现测试)和用于调节各次测试施加压力值的压力调节组合键。

接续前述示例，STM32单片机、开关按键、触点选择组合键、压力调节组合键、第一存储器、第二存储器、显示器40可集成于主控板中，由一个电源模块为主控板和压接治具20供电，测试装置整体输入电压24V直流电，进过内部处理URB2412LD-20WR3生成12V电压，12V电压再经过MC7805BD2TG芯片生成5V电压供测试装置中各器件使用。主控板可提供各器件之间的连接，并负责测试装置整体的控制、测试、计算、数据处理及显示。STM32单片机的型号为STM32F103ZET6，其用于进行测试数据的采集及对压接触点21的控制，测试Pin针，进行数据的分析处理，通过例如采用LCD屏的显示器40显示待测POGO Pin连接器的Pin针数量及排列方式、测试中施加的压力值及最终的测试结果，测试结果包括已损坏的Pin针位置、未损坏的Pin针的位置及其损坏风险等级和预估剩余寿命等。

本发明的另一个实施例提供了一种基于上述测试装置的POGO Pin连接器的测试方法，包括：

控制与待测POGO Pin连接器的所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加第一压力，并在施加第一压力时，通过各压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号，以对所有Pin针进行第一次测试；

控制与第一次测试的测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加第二压力，并在施加第二压力时，通过压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号，以对第一次测试的测试结果为合格的Pin针进行第二次测试，其中，第二压力小于第一压力；

控制与第二次测试的测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加第三压力，并在施加第三压力时，通过压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号，以对第二次测试的测试结果为合格的Pin针进行第三次测试，其中，第三压力小于第二压力。

需要说明的是，本实施例提供的POGO Pin连接器的测试方法与上述POGO Pin连接器的测试装置的原理及工作流程相似，相关之处可以参照上述说明，在此不再赘述。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

还需要说明的是，在本发明的描述中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于本领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。

Claims (10)

1.一种POGO Pin连接器的测试装置，其特征在于，包括控制器和压接治具，所述压接治具设置有与待测POGO Pin连接器的多个Pin针对应的多个压接触点；

所述控制器，用于：控制与所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加标准压力并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对所有Pin针进行第一次测试；在进行第一次测试后进行N次测试，N为大于等于1的整数，其中，在进行所述N次测试中的每一次测试时控制与上一次测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加小于上一次测试所施加压力的压力并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送所述测试信号以对上一次测试结果为合格的Pin针进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述控制器，用于在进行第一次测试后进行两次测试，第二次测试所施加的压力为所述标准压力的90％，第三次测试所施加的压力为所述标准压力的80％。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括用于存储每一次测试结果的第一存储器。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括用于存储所述N次测试中每一次测试对应的损坏风险等级的第二存储器。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述第二存储器，还用于存储与每一损坏风险等级对应的Pin针预估剩余寿命。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括用于输出每一次测试结果的输出装置。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述输出装置包括显示器，所述显示器用于：显示所有Pin针的第一次测试结果对应的状态，所述第一次测试结果为合格对应正常状态、不合格对应损坏状态，并显示正常状态的Pin针的损坏风险等级及预估剩余寿命。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试包括对Pin针的通短路测试。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括用于接收用户对所述控制器的控制及设置的输入装置。

10.一种基于权利要求1-9中任一项所述测试装置的POGO Pin连接器的测试方法，其特征在于，包括：

控制与所有Pin针对应的各压接触点向与其对应的Pin针施加标准压力，并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送测试信号以对所有Pin针进行第一次测试；

在进行第一次测试后进行N次测试，N为大于等于1的整数，其中，在进行所述N次测试中的每一次测试时：控制与上一次测试结果为合格的Pin针对应的压接触点向与其对应的Pin针施加小于上一次测试所施加压力的压力，并通过所述压接触点向与其对应的Pin针发送所述测试信号以对上一次测试结果为合格的Pin针进行测试。

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