CN107741558A - 一种短pin数码管的半成品测试装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明的一种短PIN数码管的半成品测试装置和方法，包括如下步骤：步骤一，根据待测数码管的尺寸，推动变距板是使得两个排针母座的排距与待测数码管尺寸适配，然后将变距板上的限位板插入到限位槽中；步骤二，将待测数码管的PIN针插入到排针母座的排针中；步骤三，闭合夹紧开关并进行测试。本发明与原半成品直接放入固定测试夹具测试对比操作更简单，取出测试后的半成品更方便，避免了操作人员碰到铝线跟晶片而导致缺亮异常。
Description
技术领域
本发明涉及LED技术领域，特别是一种短PIN数码管的半成品测试装置和方法。
背景技术
数码管也称LED数码管，不同行业人士对数码管的称呼不一样，其实都是同样的产品。
按发光二极管单元连接方式可分为共阳极数码管和共阴极数码管。共阳数码管是指将所有发光二极管的阳极接到一起形成公共阳极(COM)的数码管，共阳数码管在应用时应将公共极COM接到+5V，当某一字段发光二极管的阴极为低电平时，相应字段就点亮，当某一字段的阴极为高电平时，相应字段就不亮。共阴数码管是指将所有发光二极管的阴极接到一起形成公共阴极(COM)的数码管，共阴数码管在应用时应将公共极COM接到地线GND上，当某一字段发光二极管的阳极为高电平时，相应字段就点亮，当某一字段的阳极为低电平时，相应字段就不亮。
数码管要正常显示，就要用驱动电路来驱动数码管的各个段码，从而显示出我们要的数字，因此根据数码管的驱动方式的不同，可以分为静态式和动态式两类。
静态驱动也称直流驱动。静态驱动是指每个数码管的每一个段码都由一个单片机的I/O端口进行驱动，或者使用如BCD码二-十进制译码器译码进行驱动。静态驱动的优点是编程简单，显示亮度高，缺点是占用I/O端口多，如驱动5个数码管静态显示则需要5×8=40根I/O端口来驱动，要知道一个89S51单片机可用的I/O端口才32个，实际应用时必须增加译码驱动器进行驱动，增加了硬件电路的复杂性。
数码管动态显示接口是单片机中应用最为广泛的一种显示方式之一，动态驱动是将所有数码管的8个显示笔划"a,b,c,d,e,f,g,dp"的同名端连在一起，另外为每个数码管的公共极COM增加位选通控制电路，位选通由各自独立的I/O线控制，当单片机输出字形码时，所有数码管都接收到相同的字形码，但究竟是哪个数码管会显示出字形，取决于单片机对位选通COM端电路的控制，所以我们只要将需要显示的数码管的选通控制打开，该位就显示出字形，没有选通的数码管就不会亮。通过分时轮流控制各个数码管的的COM端，就使各个数码管轮流受控显示，这就是动态驱动。在轮流显示过程中，每位数码管的点亮时间为1～2ms，由于人的视觉暂留现象及发光二极管的余辉效应，尽管实际上各位数码管并非同时点亮，但只要扫描的速度足够快，给人的印象就是一组稳定的显示数据，不会有闪烁感，动态显示的效果和静态显示是一样的，能够节省大量的I/O端口，而且功耗更低。
目前数码管短PIN测试起来比较困难，当PIN长度尺寸小于6.4mm时，半成品测试时由于腿短，半成品会直接贴合在固定测试夹具上，操作工不易取出半成品，容易碰到焊好的铝线与固好的晶片，造成半成品缺亮异常。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对背景技术的不足提供了一种短PIN数码管的半成品测试装置和方法，其与原半成品直接放入固定测试夹具测试对比操作更简单，取出测试后的半成品更方便，避免了操作人员碰到铝线跟晶片而导致缺亮异常。
本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案：
一种短PIN数码管的半成品测试方法，包括如下步骤：
步骤一，根据待测数码管的尺寸，推动变距板是使得两个排针母座的排距与待测数码管尺寸适配，然后将变距板上的限位板插入到限位槽中；
步骤二，将待测数码管的PIN针插入到排针母座的排针中；
步骤三，闭合夹紧开关并进行测试。
一种短PIN数码管的半成品测试装置，固定测试夹具和夹紧开关，所述固定测试夹具上滑动设置有两个排针母座，两个排针母座能够相对或相背滑动，排针母座的外侧设置有弹簧，所述弹簧使两个排针母座具有相对滑动的趋势；两个排针母座之间设置有梯形的变距板，排针母座内侧与变距板两斜边适配，变距板的端部设置有限位板，两个排针母座之间设置有限位槽。
进一步的，所述限位槽处设置有刻度线。
进一步的，所述排针母座上的排针间距为2.54mm。
进一步的，所述变距板的一端设置有推板。
进一步的，所述排针母座内侧设置有供变距板滑动的滑槽。
本发明采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：
1、本发明采用的排针母座固定测试，利用在固定测试夹具上添加一个2.54mm间距的排针母座，提升了高度，短PIN产品不会再贴合在测试夹具上，测试完后，取出很方便，且不会碰到焊好的铝线跟固好的晶片。与原半成品直接放入固定测试夹具测试对比操作更简单，取出测试后的半成品更方便，避免了操作人员碰到铝线跟晶片而导致缺亮异常；
2、通过推板滑动变距板，从而改变两个排针母座的间距，使其与待测的产品适配，便于夹持待测产品，同时在排针母座外侧设置弹簧，让其能够在需要缩小间距时被回推。而在两个排针母座之间设置有限位槽和刻度线，用于准确定位排针母座的位置和间距。
附图说明
图1为本实施例的结构示意图；
图2为本实施例中体现滑槽结构的示意图。
图中，1、固定测试夹具；11、夹具开关；12、排针母座；121、弹簧；122、排针；13、变距板；131、限位板；132、推板；14、限位槽；141、刻度线；15、滑槽。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案做进一步的详细说明：
一种短PIN数码管的半成品测试装置，如图1和2所示，包括固定测试夹具1和夹紧开关，固定测试夹具1上滑动设置有两个排针母座12，两个排针母座12能够相对或相背滑动，排针母座12的外侧设置有弹簧121，弹簧121使两个排针母座12具有相对滑动的趋势；两个排针母座12之间设置有梯形的变距板13，排针母座12内侧与变距板13两斜边适配，变距板13的端部设置有限位板131，两个排针母座12之间设置有限位槽14。
限位槽14处设置有刻度线141。排针母座12上的排针122间距为2.54mm。变距板13的一端设置有推板132。排针母座12内侧设置有供变距板13滑动的滑槽15。
一种短PIN数码管的半成品测试方法，包括如下步骤：
步骤一，根据待测数码管的尺寸，推动变距板13是使得两个排针母座12的排距与待测数码管尺寸适配，然后将变距板13上的限位板131插入到限位槽14中；
步骤二，将待测数码管的PIN针插入到排针母座12的排针122中；
步骤三，闭合夹紧开关并进行测试。
具体实施说明:
本发明采用的排针母座12固定测试，利用在固定测试夹具1上添加一个2.54mm间距的排针母座12，提升了高度，短PIN产品不会再贴合在测试夹具上，测试完后，取出很方便，且不会碰到焊好的铝线跟固好的晶片。与原半成品直接放入固定测试夹具1测试对比操作更简单，取出测试后的半成品更方便，避免了操作人员碰到铝线跟晶片而导致缺亮异常。
通过推板滑动变距板，从而改变两个排针母座的间距，使其与待测的产品适配，便于夹持待测产品，同时在排针母座外侧设置弹簧，让其能够在需要缩小间距时被回推。而在两个排针母座之间设置有限位槽和刻度线，用于准确定位排针母座的位置和间距。
本技术领域技术人员可以理解的是，除非另外定义，这里使用的所有术语（包括技术术语和科学术语）具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样定义，不会用理想化或过于正式的含义来解释。
以上实施例仅为说明本发明的技术思想，不能以此限定本发明的保护范围，凡是按照本发明提出的技术思想，在技术方案基础上所做的任何改动，均落入本发明保护范围之内。上面对本发明的实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以再不脱离本发明宗旨的前提下做出各种变化。
Claims (6)
1.一种短PIN数码管的半成品测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一，根据待测数码管的尺寸，推动变距板是使得两个排针母座的排距与待测数码管尺寸适配，然后将变距板上的限位板插入到限位槽中；
步骤二，将待测数码管的PIN针插入到排针母座的排针中；
步骤三，闭合夹紧开关并进行测试。
2.一种短PIN数码管的半成品测试装置，包括固定测试夹具和夹紧开关，其特征在于，所述固定测试夹具上滑动设置有两个排针母座，两个排针母座能够相对或相背滑动，排针母座的外侧设置有弹簧，所述弹簧使两个排针母座具有相对滑动的趋势；两个排针母座之间设置有梯形的变距板，排针母座内侧与变距板两斜边适配，变距板的端部设置有限位板，两个排针母座之间设置有限位槽。
3.根据权利要求2所述的一种短PIN数码管的半成品测试装置，其特征在于，所述限位槽处设置有刻度线。
4.根据权利要求2所述的一种短PIN数码管的半成品测试装置，其特征在于，所述排针母座上的排针间距为2.54mm。
5.根据权利要求2所述的一种短PIN数码管的半成品测试装置，其特征在于，所述变距板的一端设置有推板。
6.根据权利要求2所述的一种短PIN数码管的半成品测试装置，其特征在于，所述排针母座内侧设置有供变距板滑动的滑槽。
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- 2017-11-09 CN CN201711094836.2A patent/CN107741558A/zh active Pending
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