CN101246659A - 可自检故障点的显示屏及自检故障点的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种可自检故障点的显示屏及其自检故障点的方法，该显示屏包括微处理器和相连的CPLD或FPGA控制系统、LED二极管，其包括LED二极管点阵总体电源前串连的电阻，以及放大器和A/D转换器。显示屏内部的微处理器MCU控制CPLD或FPGA扫描方法，通过译码电路控制行列驱动，控制LED发光二极管逐个分别发光和不发光。本发明可自检故障点的显示屏结构简单、成本低，该自检故障点的方法检测效果准确，速度快，可以有效解决大量公共场合LED显示器等密集发光设备的检测问题。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种显示装置，尤指一种具有检测故障功能的显示装置及其自检故障点的方法。
【背景技术】
目前大量户外部署的LED显示屏的发光二极管以及控制电路是否正常工作的检测没有很好的办法，通常采用人工目测的方法，发光二极管是否受控制的检测判断方法是目测该发光体是否按照控制发光或者不发光来判断。效率低下，不能及时准确的发现问题，在使用种产生很多困扰。例如在公共场合使用的LED显示屏，常用的Φ5mm显示屏，每个平方米有17200个发光二极管，我们经常看到有显示不全，或者部分常亮的故障不能及时被发现的情况，非常影响城市景观和形象，成千上万个显示屏，发光的故障依靠人工目测检测无法有效及时并准确的完成。
因此，对现有技术进行改进，提供一种简单方便、效率高、成本低、准确发现问题的可自检故障点的显示屏及自检故障点的方法实为必要。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种成本低、准确度高、结构简单、性能好的可自检故障点的显示屏及自检故障点的方法。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
提供一种可自检故障点的显示屏，其包括微处理器和相连的CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂的可编程逻辑器)或FPGA(FieldProgrammable Gates Array，现场可编程门阵列器)控制系统、LED二极管，其包括LED二极管点阵总体电源前串连的电阻，以及放大器和A/D转换器。
该放大器采用线性放大器。且该微处理器连接无线数传单元，如GPRS或CDMA，把检测数据实时传回，可以有效解决大量公共场合LED显示器等密集发光设备的检测问题。
显示屏内部的微处理器MCU控制CPLD(FPGA)扫描方法，通过译码电路控制行列驱动，控制LED发光二极管逐个分别发光和不发光，通过对LED发光二极管总体电源前串连的小阻值电阻，采样该小阻值电阻的电压降，并通过线性放大电路对该电压进行放大并A/D转换，获得电压数值，并换算出是否有电流通过以及采样计算电流大小，来判断每个二极管是否受控发光和不发光。
该显示屏自检故障点的判断方法如下：
1.若发光状态有正常范围电流，不发光状态没有电流，则LED控制显示正常；
2.若发光状态电流超过正常范围，则二极管可能短路损坏；
3.若发光状态没有电流，则二极管可能断路损坏或者控制电路失效；
4.若不发光状态有电流，则二极管可能短路损坏或者控制电路失效。
与现有技术相比，本发明的有如下有益效果：
本发明结构简单、成本低，在原有的微处理器MCU和CPLD(FPGA)控制系统上，增加串连电阻和线性放大器，通过微处理器MCU自带的A/D转换实现。检测效果准确，速度快，也可以通过无线数传单元(GPRS/CDMA)，把检测数据实时传回，可以有效解决大量公共场合LED显示器等密集发光设备的检测问题。
【附图说明】
图1是本发明可自检故障点的显示屏的示意图。
【具体实施方式】
如图1所示的一种可自检故障点的显示屏，其包括微处理器，该微处理器连接有译码器、行驱动和列驱动，并通过行驱动、列驱动连接到LED显示屏，并且该LED显示器连接有电压采样线性放大器及A/D转换器，微处理器将采样电压除以电阻值后换算为电流。该放大器采用线性放大器。
该微处理器连接有CPLD或FPGA控制系统，LED二极管总体电源前串连有小值电阻。
该微处理器控制CPLD或FPGA扫描方法，通过译码电路控制行列驱动，控制LED发光二极管逐个分别发光和不发光，通过对LED发光二极管总体电源前串连的小电阻，采样该小阻值电阻的电压降，并通过线性放大电路对该电压进行放大并A/D转换，获得电压数值，并换算出是否有电流通过以及采样计算电流大小，来判断每个二极管是否受控发光和不发光。
具体判断方法如下：
1.若发光状态有正常范围电流，不发光状态没有电流，则LED控制显示正常；
2.若发光状态电流超过正常范围，则二极管可能短路损坏；
3.若发光状态没有电流，则二极管可能断路损坏或者控制电路失效；
4.若不发光状态有电流，则二极管可能短路损坏或者控制电路失效。
且该微处理器连接无线数传单元，如GPRS或CDMA，把检测数据实时传回，可以有效解决大量公共场合LED显示器等密集发光设备的检测问题。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，本发明的保护范围并不局限于此，本领域中的技术人员任何基于本发明技术方案上非实质性变更均包括在本发明保护范围之内。
Claims (7)
1. 一种可自检故障点的显示屏，其包括微处理器MCU和相连的CPLD或FPGA控制系统、二极管，其特征在于，其包括LED二极管点阵总体电源前串连的电阻，以及放大器和A/D转换器。
2. 如权利要求1所述的可自检故障点的显示屏，其特征在于，该放大器为线性放大器。
3. 如权利要求2所述的可自检故障点的显示屏，其特征在于，该微处理器连接无线数传单元。
4. 如权利要求3所述的可自检故障点的显示屏，其特征在于，该无线数传单元采用GPRS或CDMA传输。
5. 一种用于如权利要求1～4中任意一项所述显示屏的自检故障点的方法，其特征在于，显示屏内部的微处理器MCU控制CPLD或FPGA扫描方法，通过译码电路控制行列驱动，控制LED发光二极管逐个分别发光和不发光。
6. 如权利要求5所述的自检故障点的方法，其特征在于，该方法是通过采样该发光二极管总体电源前串连的小阻值电阻的电压降，并经线性放大电路对该电压进行放大并A/D转换，获得电压数值，并换算出是否有电流通过以及采样计算电流大小，来判断每个二极管是否受控发光和不发光。
7. 如权利要求6所述的自检故障点的方法，其特征在于，该显示屏自检故障点方法的判断如下：
a.若发光二极管在发光状态有正常范围电流，不发光状态没有电流，则LED控制显示正常；
b.若发光二极管在发光状态电流超过正常范围，则二极管可能短路损坏；
c.若发光二极管在发光状态没有电流，则二极管可能断路损坏或者控制电路失效；
d.若发光二极管在不发光状态有电流，则二极管可能短路损坏或者控制电路失效。
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| PB01 | Publication | ||
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Open date: 20080820 |