CN101770089B - 液晶显示模块测试机 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种液晶显示模块测试机，包括中央处理单元，其中，所述中央处理单元连接有可编程芯片；所述可编程芯片与待测液晶显示模块相连，所述可编程芯片中设置有数据接收单元、数据处理单元、数据显示单元以及总线接口。LCM测试机通过可编程芯片与中央处理单元协调作用大大增加了处理能力，从而能够满足LCM更多功能的测试需求。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示模块测试机。
背景技术
随着显示技术的迅速发展，出现了液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)技术。目前，LCD模块(LCD Module，LCM)广泛应用各种领域，如手机、电脑、各种有显示需求的设备、仪器。
为了确保LCM满足各种功能需求，需要专门的LCM功能测试仪器即LCM测试机对LCM进行功能检查。
现有技术中，LCM测试机包括一个处理芯片。LCM测试机采用单芯片如微控制单元(Micro Controller Unit，MCU)来实现对LCM功能的检测。
现有技术存在的缺陷在于，随着LCM的功能的不断增加，如背光控制功能、触摸屏控制功能、摄像功能等，需要测试的功能越来越多，大大增加了LCM测试机的控制复杂度，现有的LCM测试机的单芯片结构已无法满足这些需求。如，单使用MCU来实现图片的显示，使得图片处理速度比较慢。
发明内容
本发明实施例提出一种液晶显示模块测试机，以满足LCM更多功能的测试需求。
本发明实施例提供了一种液晶显示模块测试机，包括中央处理单元，其中，所述中央处理单元连接有可编程芯片；所述可编程芯片与待测液晶显示模块相连，所述可编程芯片中设置有数据接收单元、数据处理单元、数据显示单元以及总线接口，所述可编程芯片中集成有RGB总线、80系统总线、串行外围设备接口总线、触摸屏测试连接接口，并直接与所述待测 液晶显示模块连接；所述液晶显示模块测试机内部集成有背光驱动，所述背光驱动通过所述可编程芯片与所述中央处理单元相连，所述中央处理单元还连接有用于存储有设置参数的程序的安全数码卡。
所述中央处理单元与所述可编程芯片可设置在同一电路板上。
所述中央处理单元与所述可编程芯片可设置在不同电路板上；设置有所述中央处理单元的电路板与设置有所述可编程芯片的电路板可通过背板连接。
所述可编程芯片可为现场可编程门阵列芯片，也可为复杂可编程逻辑器件。
上述实施例中，LCM测试机通过可编程芯片与中央处理单元协调作用大大增加了处理能力，从而能够满足LCM更多功能的测试需求。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本发明液晶显示模块测试机实施例一的结构示意图；
图2为本发明液晶显示模块测试机实施例二的结构示意图。
具体实施方式
图1为本发明液晶显示模块测试机实施例一的结构示意图。LCM测试机包括中央处理单元11及可编程芯片12，中央处理单元11与可编程芯片12连接；可编程芯片12与待测LCM 13相连。可编程芯片12中可设置有数据接收单元、数据处理单元、数据显示单元以及总线接口。
本实施例中，LCM测试机通过可编程芯片与中央处理单元协调作用大大增加了处理能力，从而能够满足LCM更多功能的测试需求。
中央处理单元与可编程芯片可设置在同一电路板上，如将作为中央处理单元的MCU芯片与可编程芯片制作在一块板子上，芯片间通信不经过背板，减少了制版的数量，降低了成本。
中央处理单元与可编程芯片可设置在不同电路板上；设置有中央处理单元的电路板与设置有可编程芯片的电路板通过背板连接。以便于电路板 升级和维修。
可编程芯片可为现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)芯片；也可为复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable LogicDevice，CPLD)。
图2为本发明液晶显示模块测试机实施例二的结构示意图。本实施例中，采用MCU作为中央处理单元，可编程芯片为FPGA芯片。
如图2所示，MCU芯片与FPGA芯片分别设置在两张板卡上，成为MCU板和FPGA板。FPGA板集成了RGB总线、80系统总线、串行外围设备接口(Serial Peripheral Interface，SPI)总线、触摸屏测试(T-Pannel)连接接口，并直接与待测LCM连接，驱动待测LCM显示特定的图片。MCU板和FPGA板两张板卡通过背板联接，通过配置模块及并行通信控制模块进行数据通信。MCU板负责各种接口的驱动、数据的传送与处理，如实现安全数码(Secure Digital，SD)卡存储管理，键盘、触摸屏中断处理，电流采集、指令、数据传送；实现测试流程的控制，负责对FPGA下达控制指令。FPGA板负责图片的显示，从MCU接收显示数据，进行处理；实现与待测LCM相关的所有接口时序。
本实施例中，LCM测试机采用FPGA芯片与MCU协同测试，由于FPGA芯片包含了用于LCM测试的多种接口总线形式，因此，LCM测试机能够根据测试的液晶模块接口类型和总线特殊的时序要求指定相应的总线以及总线的时序参数，从而将需要发送的数据发送到目标模块，实现对模块的驱动。换句话说，LCM测试机只需输入本设计中所规定的与测试相关的参数就可实现模块的驱动。参数的设定可以通过人机交互接口按键输入，由MCU读取并识别后通过内部的通信机制传递给FPGA板卡。也可以将含有设置参数的程序存贮在SD卡中，通过MCU读出送到FPGA板，能够同时实现80系统总线接口、RGB接口两种模块驱动；并且，由于MCU本身的处理速度不足以满足接口速度要求，而FPGA弥补了这一缺陷。FPGA的内部包含 有锁相环(PLL)，能够对FPGA的输入时钟进行倍频，频率可以达到上百兆赫兹(Hz)，在FPGA内部可以基于这个时钟工作，达到很高的处理速度，从而较适于实现接口时序等。因此，LCM测试机增加了器件后，充分发挥了MCU强大的控制功能以及FPGA芯片的快速处理性能。如利用MCU实现了液晶模块各种参数(电流，电压)的测量和对测试流程先后顺序的控制；而FPGA逻辑运算能力强大，具有速度快、逻辑资源丰富且可编程特性等优点能够实现图片的快速显示，满足RGB接口更高的频率要求；还能够满足时钟频率为30MHz甚至更高的RGB接口要求。同时，FPGA自身可编程的特性为实现其他类型的接口提供了可扩展性，使得测试机可以兼容两种以上的接口类型，从而提高了测试机的对测试接口支持程度。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (5)
1.一种液晶显示模块测试机，包括中央处理单元，其特征在于，所述中央处理单元连接有可编程芯片；所述可编程芯片与待测液晶显示模块相连，所述可编程芯片中设置有数据接收单元、数据处理单元、数据显示单元以及总线接口，所述可编程芯片中集成有RGB总线、80系统总线、串行外围设备接口总线、触摸屏测试连接接口，并直接与所述待测液晶显示模块连接；所述液晶显示模块测试机内部集成有背光驱动，所述背光驱动通过所述可编程芯片与所述中央处理单元相连，所述中央处理单元还连接有用于存储有设置参数的程序的安全数码卡。
2.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试机，其特征在于，所述中央处理单元与所述可编程芯片设置在同一电路板上。
3.根据权利要求1所述的液晶显示模块测试机，其特征在于，所述中央处理单元与所述可编程芯片设置在不同电路板上；设置有所述中央处理单元的电路板与设置有所述可编程芯片的电路板通过背板连接。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的液晶显示模块测试机，其特征在于，所述可编程芯片为现场可编程门阵列芯片。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的液晶显示模块测试机，其特征在于，所述可编程芯片为复杂可编程逻辑器件。
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