CN109994147B - 一种固态硬盘的测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种固态硬盘的测试装置及方法，涉及固态硬盘测试领域，该测试装置包括：主板，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接。本发明采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

Description

一种固态硬盘的测试装置及方法

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试领域，尤其涉及一种固态硬盘的测试装置及方法。

背景技术

随着技术的发展，固态硬盘(Solid State Disk，SSD)可配置成单端口(SinglePort)模式，也可配置成双端口(Dual Port)模式，在制造出具有这两种模式的SSD后，就需要对其进行这两种模式的测试。

SSD配置成双端口模式时需要两个独立的PCIE x2(总线数为2的PCIE总线，PCIE的中文含义是外围组件互联表达)通道(lane)，配置成单端口模式时需要一个独立的PCIE x4(总线数为4的PCIE总线)通道。目前通用的X86(英特尔公司生产的一种处理器)或ARM CPU/SOC(精简指令集微处理器/系统级芯片)原生的PCIE(Peripheral ComponentInterconnect Express，外围组件互联表达)根节点最小可配置单元为x4通道，也就是说，测试单端口模式时使用的独立的PCIE x4通道不可以配置为两个独立的PCIE x2通道来支持双端口模式。

针对这种方式，当前SSD专业测试设备制造商都是采用开发专用FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)的方式来实现，即此FPGA使用不同的配置文件，使PCIE根节点最小可配置单元在x2和x4之间切换。

这些测试方案的主要弊端是开发成本太高，测试过程中切换SSD模式(即，从测试单端口模式切换至测试双端口模式，或从测试双端口模式切换至测试单端口模式)时需要重新更新FPGA的配置文件，整个耗费的切换时间会比较长，影响测试效率，且测试设备是专门定制，成本高昂。

发明内容

本发明的目的是提供一种固态硬盘的测试装置及方法，无需专门定制测试设备，采用通用的零件组成测试装置，降低成本，且测试固态硬盘的不同模式时，无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高测试效率。

本发明提供的技术方案如下：

一种固态硬盘的测试装置，包括：主板，所述主板上具有至少两个PCIE X4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接。

在上述技术方案中，采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

进一步，当所述固态硬盘为一个时，所述固态硬盘的一端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组，所述固态硬盘的另一端口通过选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组和第二PCIE x4通道中的一个通道组。

在上述技术方案中，仅采用了一个二选一功能的选择芯片即可在常规主板上实现对固态硬盘的不同模式的测试，成本低廉，切换灵活，执行效率高。

进一步，所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；所述固态硬盘的另一端口连接至所述选择芯片的非选择端口，所述选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，所述选择芯片的第二选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

进一步，当所述固态硬盘为两个时，两个所述固态硬盘通过多个所述选择芯片分别与主板上的三个通道组连接。

在上述技术方案中，还可以实现两个固态硬盘的连接、测试，进一步提高了测试效率。

进一步，第一固态硬盘的一端口通过第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；第一固态硬盘的另一端口通过第二选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第二选择芯片和第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；第二固态硬盘的一端口通过第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；第二固态硬盘的另一端口通过第四选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第四选择芯片和第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

进一步，每个所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；第一固态硬盘的一端口连接至第一选择芯片的第一选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；第一固态硬盘的另一端口连接至第二选择芯片的非选择端口，第二选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组；第二选择芯片的第二选择端口连接至第三选择芯片的第一选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

进一步，每个所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；第二固态硬盘的一端口连接至第三选择芯片的第二选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；第二固态硬盘的另一端口连接至第四选择芯片的非选择端口，第四选择芯片的第一选择端口连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组；第四选择芯片的第二选择端口连接至第一选择芯片的第二选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

在上述技术方案中，可将两个固态硬盘直接通过四个选择芯片插到一个PCIE x8的端口(其可被配置为两个PCIE x4通道)上，同时测两个固态硬盘的单端口模式，分时测两个固态硬盘的双端口模式，大大提高了测试效率。

二选一功能的芯片为常用的芯片，方便连接，且无需特殊定制，降低了测试装置的测试成本。

本发明还提供一种应用于上述固态硬盘的测试装置的测试方法，包括：当测试固态硬盘的单端口模式时，导通选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组的端口；当测试固态硬盘的双端口模式时，导通选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组的端口。

本发明还提供一种应用于上述固态硬盘的测试装置的测试方法，包括：当测试第一固态硬盘的单端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口和第二选择芯片的第一选择端口；当测试第一固态硬盘的双端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口、第二选择芯片的第二选择端口和第三选择芯片的第一选择端口。

本发明还提供一种应用于上述固态硬盘的测试装置的测试方法，包括：当测试第二固态硬盘的单端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口和第四选择芯片的第一选择端口；当测试第二固态硬盘的双端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口、第四选择芯片的第二选择端口和第一选择芯片的第二选择端口。

与现有技术相比，本发明的固态硬盘的测试装置及方法有益效果在于：

本发明采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种固态硬盘的测试装置及方法的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

图1是本发明固态硬盘的测试装置一个实施例的结构示意图；

图2是本发明固态硬盘的测试装置另一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

目前通用的X86或ARM CPU/SOC原生的PCIE根节点最小可配置单元为x4通道，也就是说，主板上多个PCIE通道，可被配置为若干个PCIE x4通道。

在本发明的一个实施例中，一种固态硬盘的测试装置，包括：主板，主板上具有至少两个PCIE x4通道(即主板上的PCIE通道可被至少配置为两个PCIE x4通道)，每个PCIEx4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接。

具体的，对主板的要求是主板上至少要有两个PCIE x4通道，例如：PCIE x8，PCIEx16等。两个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组，如图1中，21a是一个通道组，21b是另一个通道组，21a和21b为一个PCIE x4通道，方便后续固态硬盘不同模式切换时使用。

选择芯片为通用的具有选择功能的芯片，可以为二选一功能的芯片(即其具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口)，也可以为三选二功能的芯片等，根据实际需求决定。

选择芯片的作用是将固态硬盘与三个通道组连接(其中两个通道组是位于一个独立的PCIE x4通道里，另一个通道组是位于另一个独立的PCIE x4通道里)，根据固态硬盘的测试模式需求，导通不同的连接关系，使其与不同的PCIE通道连通，实现单端口模式时使用独立的PCIE x4通道，双端口模式时使用两个独立的PCIE x2通道。

在本实施例中，采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

图1示出了本发明采用一个选择芯片对一个固态硬盘进行不同模式测试时的连接方式的实施例，本实施例中选择芯片是具有二选一功能的芯片，即该选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口。

本实施例中固态硬盘的测试装置，包括：主板(图中未示出)，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道(如图1中的，21a和21b组成了一个PCIE x4通道，22a和22b组成了另一个PCIE x4通道)，每个PCIE x4通道中前两个通道(0、1)和后两个通道(2、3)分别作为两个通道组(如图1中的21a为一个PCIE x4通道里的一个通道组，21b为此PCIE x4通道里的另一个通道组，同理为22a和22b)；当固态硬盘1为一个时，固态硬盘1的一端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组21a，固态硬盘1的另一端口通过选择芯片3连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a。

在实际测试过程中，固态硬盘和第一PCIE x4通道中的一个通道组21a一直处于连接状态，选择芯片3可根据测试需求选择导通连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b，还是导通连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a。

因此，在实际连接中，固态硬盘1的另一端口连接至选择芯片3的非选择端口A，选择芯片3的第一选择端口B连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b，选择芯片3的第二选择端口C连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a或另一个通道组22b。

具体的，选择芯片3可选择性地导通其第一选择端口B，还是第二选择端口C。

例如：当需要测试固态硬盘1的单端口模式时，导通选择芯片3中的第一选择端口B，使固态硬盘与第一PCIE x4通道中的两个通道组(21a和21b)导通，即可实现固态硬盘的单端口模式测试。当需要测试固态硬盘1的双端口模式时，导通选择芯片3中的第二选择端口C，使固态硬盘与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a导通，CPU配置时，直接将PCIE配置为第一PCIE x4通道和第二PCIE x4通道，成为两个独立的PCIE x2通道，实现固态硬盘的双端口模式测试。

需要注意的是，可根据选择芯片不同的功能，适应性地改变固态硬盘与PCIE x4通道的连接关系。例如：本实施例中，若选择三选二功能的选择芯片，可将三个选择端口分别连接至21a、22a和21b，根据测试模式选择相应的两个端口导通。

本实施例中，仅采用了一个二选一功能的选择芯片即可在常规主板上实现对固态硬盘的不同模式的测试，成本低廉，切换灵活，执行效率高。

图2示出了本发明采用四个选择芯片对两个固态硬盘分别进行不同模式测试时的连接方式的实施例。

本实施例中固态硬盘的测试装置，包括：主板(图中未示出)，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道(如图2中的，21a和21b组成了一个PCIE x4通道，22a和22b组成了另一个PCIE x4通道)，每个PCIE X4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组(如图2中的21a和21b、22a和22b)

当固态硬盘为两个时，两个固态硬盘通过多个所述选择芯片分别与主板上的三个通道组连接。根据选择芯片的选择功能确定需要使用的选择芯片的数量。

本实施例中选择芯片是具有二选一功能的芯片，即每个选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口。采用的选择芯片的数量为四个。

第一固态硬盘1a的一端口通过第一选择芯片3a连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组21a；第一固态硬盘1a的另一端口通过第二选择芯片3b连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b，以及，依次通过第二选择芯片3b和第三选择芯片3c连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a；第二固态硬盘1b的一端口通过第三选择芯片3c连接至第二PCIEx4通道中的一个通道组22a；第二固态硬盘1b的另一端口通过第四选择芯片3d连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组22b，以及，依次通过第四选择芯片3d和第一选择芯片3a连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组21a。

需要注意的是，在实际测试过程中，基于PCIE x4通道的限制，两个固态硬盘可同时测单端口模式，但不可以同时测双端口模式，仅能分时测双端口模式，但是测试人员可在主板上同时插上两个固态硬盘，提高测试效率。

优选地，在本实施例的实际连接关系为：第一固态硬盘1a的一端口连接至第一选择芯片3a的第一选择端口Ba，第一选择芯片3a的非选择端口Aa连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组21a；第一固态硬盘1a的另一端口连接至第二选择芯片3b的非选择端口Ab，第二选择芯片3b的第一选择端口Bb连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b；第二选择芯片3b的第二选择端口Cb连接至第三选择芯片3c的第一选择端口Bc，第三选择芯片3c的非选择端口Ac连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a。

第二固态硬盘1b的一端口连接至第三选择芯片3c的第二选择端口Cc，第三选择芯片3c的非选择端口Ac连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a；第二固态硬盘1b的另一端口连接至第四选择芯片3d的非选择端口Ad，第四选择芯片3d的第一选择端口Bd连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组22b；第四选择芯片3d的第二选择端口Cd连接至第一选择芯片3a的第二选择端口Ca，第一选择芯片3a的非选择端口Aa连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组21a。

具体的，根据测试的固态硬盘及其需要测试的模式，可选择性地导通相应的选择芯片及其选择端口。

例如：当需要测试第一固态硬盘1a的单端口模式时，导通第一选择芯片3a的第一选择端口Ba和第二选择芯片3b的第一选择端口Bb，使第一固态硬盘1a与第一PCIE x4通道中的两个通道组(21a和21b)导通，使用一个独立的PCIE x4通道，实现第一固态硬盘1a的单端口模式测试。

当测试第一固态硬盘1a的双端口模式时，导通第一选择芯片3a的第一选择端口Ba、第二选择芯片3b的第二选择端口Cb和第三选择芯片3c的第一选择端口Bc，使第一固态硬盘1a与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a导通，成为两个独立的PCIE x2通道，实现第一固态硬盘1a的双端口模式测试。

同理，当测试第二固态硬盘1b的单端口模式时，导通第三选择芯片3c的第二选择端口Cc和第四选择芯片3d的第一选择端口Bd，使第二固态硬盘1b与第二PCIE x4通道中的两个通道组(22a和22b)导通，使用一个独立的PCIE x4通道，即可实现第二固态硬盘1b的单端口模式测试。

当测试第二固态硬盘1b的双端口模式时，导通第三选择芯片3c的第二选择端口Cc、第四选择芯片3d的第二选择端口Cd和第一选择芯片3a的第二选择端口Ca，使第二固态硬盘1b与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a导通，成为两个独立的PCIE x2通道，实现第二固态硬盘1b的双端口模式测试。

需要注意的是，选择芯片与PCIE x4通道及固态硬盘的连接关系可根据实际情况(例如：选择芯片本身的功能，三选二、三选一等)适应性变化，只要保证固态硬盘可连接至主板上三个通道组，实现灵活切换即可。

本实施例中，可将两个固态硬盘直接通过四个选择芯片插到一个PCIE x8的端口上，同时测两个固态硬盘的单端口模式，分时测两个固态硬盘的双端口模式，大大提高了测试效率。

在本发明的一个方法实施例中，应用于第二个实施例的测试装置，参考图1，一种固态硬盘的测试方法，包括：

当测试固态硬盘1的单端口模式时，导通选择芯片3连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组21b的端口B；使固态硬盘与第一PCIE x4通道中的两个通道组(21a和21b)导通，使用一个独立的PCIE X4通道，实现固态硬盘的单端口模式测试。

当测试固态硬盘1的双端口模式时，导通选择芯片3连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组22a的端口C；使固态硬盘1与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIEx4通道中的一个通道组22a导通，成为两个独立的PCIE x2通道，实现固态硬盘1的双端口模式测试。

本实施例中，仅采用了一个二选一功能的选择芯片即可在常规主板上实现对固态硬盘的不同模式的测试，成本低廉，切换灵活，执行效率高。

在本发明的另一个方法实施例中，应用于第三个实施例的测试装置，参考图2，一种固态硬盘的测试方法，包括：

当测试第一固态硬盘1a的单端口模式时，导通第一选择芯片3a的第一选择端口Ba和第二选择芯片3b的第一选择端口Bb；使第一固态硬盘1a与第一PCIE x4通道中的两个通道组(21a和21b)导通，使用一个独立的PCIE X4通道，实现第一固态硬盘1a的单端口模式测试。

当测试第一固态硬盘1a的双端口模式时，导通第一选择芯片3a的第一选择端口Ba、第二选择芯片3b的第二选择端口Cb和第三选择芯片3c的第一选择端口Bc；使第一固态硬盘1a与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a导通，成为两个独立的PCIE x2通道，实现第一固态硬盘1a的双端口模式测试。

当测试第二固态硬盘1b的单端口模式时，导通第三选择芯片3c的第二选择端口Cc和第四选择芯片3d的第一选择端口Bd；使第二固态硬盘1b与第二PCIE x4通道中的两个通道组(22a和22b)导通，使用一个独立的PCIE x4通道，实现第二固态硬盘1b的单端口模式测试。

当测试第二固态硬盘1b的双端口模式时，导通第三选择芯片3c的第二选择端口Cc、第四选择芯片3d的第二选择端口Cd和第一选择芯片3a的第二选择端口Ca；使第二固态硬盘1b与第一PCIE x4通道中的一个通道组21a和第二PCIE x4通道中的一个通道组22a导通，成为两个独立的通道组，实现第二固态硬盘1b的双端口模式测试。

需要注意的是，选择芯片与PCIE x4通道及固态硬盘的连接关系可根据实际情况(例如：选择芯片本身的功能，三选二、三选一等)适应性变化，只要保证固态硬盘可连接至主板上三个通道组，实现灵活切换即可。

本实施例中，可将两个固态硬盘直接通过四个选择芯片插到一个PCIE x8的端口上，同时测两个固态硬盘的单端口模式，分时测两个固态硬盘的双端口模式，大大提高了测试效率。

应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种固态硬盘的测试装置，其特征在于，包括：

主板，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；

固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接；

所述固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接包括：

所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；

当所述固态硬盘为一个时，所述固态硬盘的一端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组，所述固态硬盘的另一端口连接至所述选择芯片的非选择端口，所述选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，所述选择芯片的第二选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

2.如权利要求1所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，当所述固态硬盘为两个时，两个所述固态硬盘通过多个所述选择芯片分别与主板上的三个通道组连接。

3.如权利要求2所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第一固态硬盘的一端口通过第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；第一固态硬盘的另一端口通过第二选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第二选择芯片和第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；

第二固态硬盘的一端口通过第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；第二固态硬盘的另一端口通过第四选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第四选择芯片和第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

4.如权利要求3所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第一固态硬盘的一端口连接至第一选择芯片的第一选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；

第一固态硬盘的另一端口连接至第二选择芯片的非选择端口，第二选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组；第二选择芯片的第二选择端口连接至第三选择芯片的第一选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

5.如权利要求3所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第二固态硬盘的一端口连接至第三选择芯片的第二选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；

第二固态硬盘的另一端口连接至第四选择芯片的非选择端口，第四选择芯片的第一选择端口连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组；第四选择芯片的第二选择端口连接至第一选择芯片的第二选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

6.一种应用于权利要求1所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试固态硬盘的单端口模式时，导通选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组的端口；

当测试固态硬盘的双端口模式时，导通选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组的端口。

7.一种应用于权利要求4所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试第一固态硬盘的单端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口和第二选择芯片的第一选择端口；

当测试第一固态硬盘的双端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口、第二选择芯片的第二选择端口和第三选择芯片的第一选择端口。

8.一种应用于权利要求5所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试第二固态硬盘的单端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口和第四选择芯片的第一选择端口；

当测试第二固态硬盘的双端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口、第四选择芯片的第二选择端口和第一选择芯片的第二选择端口。

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