CN201577167U - 电路板选切测试电路以及电视机测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例公开了一种电路板选切测试电路以及电视机测试电路，属于电子技术领域。解决了现有技术存在测试效率比较低的技术问题。该电路板选切测试电路，包括至少两路与电路板相连的LVDS信号输出端、信号选切转换模块以及与测试装置相连的测试信号输出端，每路LVDS信号输出端与一个电路板相连，LVDS信号输出端用于接收电路板发出的LVDS信号并将LVDS信号输入信号选切转换模块；信号选切转换模块用于将LVDS信号输出端输入的LVDS信号处理为至少两路测试装置可识别的测试信号，并从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端输入测试装置。该电视机测试电路，包括上述本实用新型所公开的电路板选切测试电路。本实用新型应用于测试电路板。
Description
技术领域
本实用新型属于电子技术领域，具体涉及一种电路板选切测试电路以及设有该电路板选切测试电路的电视机测试电路。
背景技术
随着电子技术的不断发展，电视机已经成为人们日常生活中最为常见的家用电器之一。
电视机内的电路板上的各种功能模块或功能器件组装好后，需要对电路板进行测试，测试合格之后才能出厂。如图1所示，现有的电路板测试电路，包括与电路板1相连的LVDS信号输出端4、信号转换模块6、测试信号输出端5以及测试装置3，每路LVDS信号输出端4与一个电路板1相连，其中：
信号转换模块6用于从LVDS信号输出端4接收LVDS信号并将LVDS信号转化为测试装置3可识别的格式的测试信号后通过测试信号输出端5输入测试装置3，测试装置3用于将测试信号输出端5输入的测试信号进行数据比较，判断电路板1输出的LVDS信号是否正确，从而判断电路板1的性能是否正常。
一个电路板1测试完成之后，要将LVDS信号输出端4连接到另一路测试装置3测试其他功能，整个电路板1测试完成之后，要将LVDS信号输出端4连接到另一个电路板1，然后依次对剩下的其他电路板1逐个进行测试。
本发明人在实现本实用新型的过程中发现，现有技术至少存在以下问题：
由于现有技术中测试完一块如图1所示的电路板1之后，测试其他电路板1时需要将LVDS信号输出端4重新连接电路板1或测试装置3，当需要大批量测试电路板1时，则需要频繁的改变LVDS信号输出端4所连接的电路板1或测试装置3，不仅操作麻烦而且易出现接线错误，导致测试效率比较低。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种电路板选切测试电路以及电视机测试电路，解决了现有的电路板选切测试电路测试效率比较低的技术问题。
为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：
该电路板选切测试电路，包括至少两路与电路板相连的LVDS信号输出端、信号选切转换模块以及与测试装置相连的测试信号输出端，每路所述LVDS信号输出端与一个电路板相连，其中：
所述LVDS信号输出端用于接收所述电路板发出的LVDS信号并将所述LVDS信号输入所述信号选切转换模块；
所述信号选切转换模块用于将所述LVDS信号输出端输入的LVDS信号处理为至少两路所述测试装置可识别的测试信号，并从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端输入所述测试装置。
进一步，所述信号选切转换模块包括至少两个信号转换单元、信号选择单元以及选择控制单元，每个所述信号转换单元与一路所述LVDS信号输出端相连，其中：
所述信号转换单元用于将每路所述LVDS信号输出端输入的LVDS信号均转换为数字RGB格式的测试信号，然后将所述测试信号输入所述信号选择单元；
所述信号选择单元用于接收所述选择控制单元输入的控制指令并根据所述控制指令，从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端将所述测试信号输入所述测试装置。
进一步，所述信号转换单元为DS90CF388芯片。
进一步，所述信号选择单元包括FPGA芯片、有源晶振模块以及程序存储模块，其中：
所述FPGA芯片用于接收控制指令并根据所述控制指令，从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端将所述测试信号输入所述测试装置；
所述有源晶振模块用于为所述FPGA芯片提供时钟基准；
所述程序存储模块用于存储软件程序和/或数据。
进一步，所述FPGA芯片为EP3C5F256C8芯片。
进一步，所述选择控制单元包括工控机以及与所述工控机相连的电平输出单元，其中：
所述工控机用于接收用户输入的控制命令，并根据所述控制命令对所述电平输出单元输出控制指令；
所述电平输出单元用于接收所述控制指令，并根据所述控制指令通过对所述FPGA芯片输入高电平或低电平信号的方式控制所述FPGA芯片。
进一步，所述电平输出单元为51系列单片机。
进一步，所述LVDS信号的格式为VESA、JEIDA其中的一种或两种。
进一步，所述电路板为电视机主板，所述测试装置为工控机。
该电视机测试电路，包括上述本实用新型实施例所提供的电路板选切测试电路。
与现有技术相比，本实用新型所提供上述技术方案中的任一技术方案具有如下优点：
由于本实用新型实施例电路板选切测试电路中设置有信号选切转换模块，在使用测试装置测试多个电路板之前，可以先将所有电路板通过LVDS信号输出端与信号选切转换模块相连，然后再将测试信号输出端连接于测试装置上，测试时，通过信号选切转换模块将LVDS信号输出端输入的LVDS信号处理为至少两路测试装置可识别的测试信号，并从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端输入测试装置，由测试装置进行测试；
测试完一个电路板之后，可以通过信号选切转换模块转换并选择另一个电路板通过LVDS信号输出端所输入的LVDS信号，然后再通过测试信号输出端将转换后的测试信号输入测试装置，由测试装置进行测试；
由此可见，采用本实用新型电路板选切测试电路测试完一个电路板之后，测试其他电路板时无需将LVDS信号输出端重新连接电路板或测试装置，仅需要控制信号选切转换模块对输入的LVDS信号进行转换和选择即可，进而也避免了多次接线引起接线错误的问题，不仅操作简单而且测试效率更好，所以解决了现有的电路板选切测试电路测试效率比较低的技术问题。
附图说明
图1为现有的电路板选切测试电路的示意图；
图2为本实用新型的实施例所提供的电路板选切测试电路的一种实施方式的示意图；
图3为图2所示本实用新型的实施例所提供的电路板选切测试电路中信号选切转换模块的示意图；
图4为本实用新型的实施例所提供的电路板选切测试电路的优选实施方式的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型实施例进行详细描述。
本实用新型实施例提供了一种连线比较简单且测试效率比较高的电路板选切测试电路以及设有该电路板选切测试电路的电视机测试电路。
如图2所示，本实用新型实施例所提供的电路板选切测试电路，包括至少两路与电路板1相连的LVDS信号输出端4、信号选切转换模块2以及与测试装置3相连的测试信号输出端5，每路LVDS信号输出端4与一个电路板1相连，其中：LVDS信号输出端4用于接收电路板1发出的LVDS信号并将LVDS信号输入信号选切转换模块2；信号选切转换模块2用于将LVDS信号输出端4输入的LVDS信号处理为至少两路测试装置3可识别的测试信号，并从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端5输入测试装置3。
由于本实用新型实施例电路板选切测试电路中设置有信号选切转换模块2，在使用测试装置3测试多个电路板1之前，可以先将所有电路板1通过LVDS信号输出端4与信号选切转换模块2相连，然后再将测试信号输出端5连接于测试装置3上，测试时，通过信号选切转换模块2将LVDS信号输出端4输入的LVDS信号处理为至少两路测试装置3可识别的测试信号，并从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端5输入测试装置3，由测试装置3进行测试；
测试完一个电路板1之后，可以通过信号选切转换模块2转换并选择另一个电路板1通过LVDS信号输出端4所输入的LVDS信号，然后再通过测试信号输出端5将转换后的测试信号输入测试装置3，由测试装置3进行测试；
由此可见，采用本实用新型电路板选切测试电路测试完一个电路板1之后，测试其他电路板1时无需将LVDS信号输出端4重新连接电路板1或测试装置3，仅需要控制信号选切转换模块2对输入的LVDS信号进行转换和选择即可，进而也避免了多次接线引起接线错误的问题，不仅操作简单而且测试效率更好，所以解决了现有的电路板选切测试电路测试效率比较低的技术问题。
如图3和图4所示，信号选切转换模块2包括至少两个信号转换单元21、信号选择单元22以及选择控制单元23，每个信号转换单元21如图4所示与一路LVDS信号输出端4相连，其中：信号转换单元21用于将每路LVDS信号输出端4输入的LVDS信号均转换为一路数字RGB格式的测试信号，然后将测试信号输入信号选择单元22；信号选择单元22用于接收选择控制单元23输入的控制指令并根据控制指令，从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端5将测试信号输入测试装置3。
本实施例中LVDS信号为10bit双通道LVDS信号。当然，本实施例中信号转换单元21也可以将LVDS信号转换为RGB格式的测试信号之外的其他测试装置3可识别的信号。
信号转换单元21为DS90CF388芯片。DS90CF388芯片的时钟频率最高支持112MHz，可支持高至100kHz调制频率的时钟扩频，而且支持VGA、SVGA、XGA、SXGA(双像素)、SXGA+(双像素)和UXGA(双像素)，除此之外，DS90CF388芯片还可以避免LVDS信号由于扩频所引起的时钟抖动问题的发生。当然，本实施例信号转换单元21也可以采用其他类似DS90CF388芯片的电子器件。
信号选择单元22包括FPGA芯片221、有源晶振模块222以及程序存储模块223，其中：FPGA芯片221用于接收控制指令并根据控制指令，从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端5将测试信号输入测试装置3；有源晶振模块222用于为FPGA芯片221提供时钟基准；程序存储模块223用于存储软件程序和/或数据。
本实用新型实施例利用了FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)芯片灵活性高、数字I/O口丰富、速度快、带宽高的特点，同时，FPGA芯片不仅具有设计周期短、开发费用低、功耗低及风险小的特点，而且可以显著提高系统集成度、可靠性。当然，本实施例中FPGA芯片221也可以采用其他可将LVDS信号处理为RGB格式的的其他电子器件。
作为本实施例的进一步改进，本实施例中FPGA芯片221为EP3C5F256C8芯片。EP3C5F256C8芯片数据处理能力比较强且性能稳定，能支持24bit数字电视信号的选择。使用EP3C5F256C8芯片可以至少检测如图4所示的4个电路板1所发出的LVDS信号是否正确。
选择控制单元23包括工控机231(Industrial Personal Computer，IPC)以及与工控机231相连的电平输出单元232，其中：工控机231用于接收用户输入的控制命令，并根据控制命令对电平输出单元232输出控制指令；电平输出单元232用于接收控制指令，并根据控制指令通过对FPGA芯片221输入高电平或低电平信号的方式控制FPGA芯片221。
工控机231是一种加固的增强型个人计算机，它可以作为一个工业控制器在工业环境中可靠运行。本实施例中工控机231可以通过串口与电平输出单元232相连。
电平输出单元232为单片机，优选为51系列单片机。单片机连接容易，功能强大，尤其51系列单片机是一种数据处理能力比较强、技术成熟且性能稳定的单片机，适宜用作电平输出单元232。当然，本实施例中电平输出单元232也可以采用系列单片机之外的其他单片机或具有类似功能的芯片。
LVDS信号的格式为VESA(Video Electronics Standards Association，视频电子标准协会)以及JEIDA(日本电子工业开发协会)其中的一种或两种。以上两种格式为目前比较通用的数据传输格式，使用以上两种通用格式有利于扩大信号选切转换模块2的选择范围。
电路板1为电视机主板，测试装置3为工控机。电视机的主板是电视机内的重要器件，其上设置有多种功耗器件，适宜采用本实用新型实施例所提供的电路板选切测试电路进行大批量检测。工控机可以直接对测试信号进行数据比较，判断电路板1输出的LVDS信号是否正确，从而判断所测试的电路板1的性能是否正常。
该电视机测试电路，包括上述本实用新型实施例所提供的电路板选切测试电路。
由于本实用新型实施例电视机测试电路具有与上述本实用新型实施例所提供的电路板选切测试电路相同的技术特征，所以两者不仅具有单一性，而且还能产生相同的技术效果，解决相同的技术问题。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种电路板选切测试电路，其特征在于：包括至少两路与电路板相连的LVDS信号输出端、信号选切转换模块以及与测试装置相连的测试信号输出端，每路所述LVDS信号输出端与一个电路板相连，其中：
所述LVDS信号输出端用于接收所述电路板发出的LVDS信号并将所述LVDS信号输入所述信号选切转换模块；
所述信号选切转换模块用于将所述LVDS信号输出端输入的LVDS信号处理为至少两路所述测试装置可识别的测试信号，并从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端输入所述测试装置。
2.根据权利要求1所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述信号选切转换模块包括至少两个信号转换单元、信号选择单元以及选择控制单元，每个所述信号转换单元与一路所述LVDS信号输出端相连，其中：
所述信号转换单元用于将每路所述LVDS信号输出端输入的LVDS信号均转换为一路数字RGB格式的测试信号，然后将所述测试信号输入所述信号选择单元；
所述信号选择单元用于接收所述选择控制单元输入的控制指令并根据所述控制指令，从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端将所述测试信号输入所述测试装置。
3.根据权利要求2所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述信号转换单元为DS90CF388芯片。
4.根据权利要求2所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述信号选择单元包括FPGA芯片、有源晶振模块以及程序存储模块，其中：
所述FPGA芯片用于接收控制指令并根据所述控制指令，从所述测试信号中选择一路，然后通过所述测试信号输出端将所述测试信号输入所述测试装置；
所述有源晶振模块用于为所述FPGA芯片提供时钟基准；
所述程序存储模块用于存储软件程序和/或数据。
5.根据权利要求4所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述FPGA芯片为EP3C5F256C8芯片。
6.根据权利要求2所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述选择控制单元包括工控机以及与所述工控机相连的电平输出单元，其中：
所述工控机用于接收用户输入的控制命令，并根据所述控制命令对所述电平输出单元输出控制指令；
所述电平输出单元用于接收所述控制指令，并根据所述控制指令通过对所述FPGA芯片输入高电平或低电平信号的方式控制所述FPGA芯片。
7.根据权利要求6所述的多路电压切换电路，其特征在于：所述电平输出单元为51系列单片机。
8.根据权利要求1所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述LVDS信号的格式为VESA、JEIDA其中的一种或两种。
9.根据权利要求1所述的电路板选切测试电路，其特征在于：所述电路板为电视机主板，所述测试装置为工控机。
10.一种电视机测试电路，其特征在于：包括上述权利要求1至9任一所述电路板选切测试电路。
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