CN105116355A - 一种led模组背光灯串检测装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种LED模组背光灯串检测装置及其检测方法，用于实现未组装的背光灯串的检测，该检测装置包括电源模块，分别与电源模块相连的LED驱动器以及控制器，LED驱动器与待测试的背光灯串连接，A/D采样模块连接于背光灯串与LED驱动器之间用于采集灯串的电压，并将该电压值传输于控制器，控制器通过比较A/D采样模块采集的电压值与预设的检测标准的阈值来进行待测试的背光灯条的检测。按照本发明实现的LED模组背光灯串的检测装置及其检测方法，能够将LED模组背光源中的LED灯串在组装前将不良品筛选出来，由此提高LED背光组装后的良率，提高产品质量，减少因返工和报废造成的各种损耗。

Description

一种LED模组背光灯串检测装置及其检测方法

技术领域

本发明属于LED模组灯条检测领域，更具体地，涉及一种LED模组背光灯串检测装置及其检测方法。

背景技术

LED背光是指用LED(Light-EmittingDiode，以下简称LED)来作为显示设备的背光源，由于LED背光薄，发光效率高、耗电量少、使用寿命长等优点，LED背光已成为当前液晶显示模组的主流背光源，LED背光在液晶显示屏上的使用已经是十分的广泛。

在LED液晶显示模组生产、调试、测试以及显示过程都需要通过背光来给显示屏提供光源，因此，首先对LED背光光源实现检测，是保证显示屏性能测试的前提条件。

现有技术中常见的测试方法是在液晶屏的同步测试过程中使得电源板和背光灯条的正负极正确对接，并给灯条提供符合生产测试要求的电流和电压，使其正常发光，再根据其发光情况来判断是否为良品，但是上述现有技术中的测试方式对灯串的检测并不具备通用性和灵活性，对如何提供全面的检测方式来实现LED背光灯具的检测测试是亟待解决的问题。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种LED模组背光灯串检测装置及其检测方法，其目的在于将LED模组背光源中的LED灯串在组装前的不良品筛选出来，由此提高LED背光组装后的良率，提高产品质量，减少因返工和报废造成的各种损耗。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种LED模组背光灯串的检测装置，用于实现未组装的背光灯串的检测，其特征在于，该检测装置包括电源模块，分别与电源模块相连的LED驱动模块以及控制模块，所述LED驱动模块与所述待测试背光灯串连接，A/D采样模块连接于待测试背光灯串与所述LED驱动模块之间用于采集所述待测试背光灯串的电压，并将该电压值传输于所述控制模块，所述控制模块通过比较所述A/D采样模块采集的电压值与预设检测标准的阈值进行比较实现所述待测试的背光灯串的检测。

进一步地，所述控制模块还与拨码开关连接，所述拨码开关通过所述控制模块调节所述LED驱动模块输出的用于驱动所述待测试背光灯串的测试电流。

进一步地，所述控制模块通过配置LED驱动模块的PWM引脚的频率占空比对所述待测试背光灯串的亮度实现调节。

进一步地，所述电源模块包括电源以及与所述电源分别相连的第一子转换模块与第二子转换模块，所述第一子转换模块与所述LED驱动器相连，所述第二子转换模块与所述控制器相连。

进一步地，所述控制模块具体为MCU。

另外一方面，本发明还提供了一种采用所述的LED模组背光灯串的检测装置来实现检测的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

STEP1：将所述待测试背光灯串的正负极分别连接至所述LED驱动模块输出端的正负极上；

STEP2：通过所述控制模块配置所述LED驱动模块，所述LED驱动模块配置所述待测试背光灯串合适的电压、电流，所述控制模块通过所述拨码开关控制所述LED驱动模块的输出电流大小；

STEP3：所述AD采样模块连接于每串所述待测试背光灯串输出端的正负极上，实时监控所述待测试背光灯串两端电压压差；所述AD采样模块将实时监控的电压压差传输于所述控制器。

进一步地，所述STEP2中还包括如下步骤：依据所述待测试背光灯串参数，所述控制模块配置所述LED驱动模块为按顺序的方式依次开启所述待测试的背光灯串，顺序开启的间隔时间可依据测试需求进行设定。

进一步地，所述STEP2中还包括如下步骤：所述控制模块通过所述拨码开关调节输入每个所述待测试背光灯串的驱动电流，由此在所述STEP3中实现测试所述每个待测试背光灯串在不同电流状态下的电压变化。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有如下有益效果：

(1)在背光灯串组装之前的检测，避免了组装之后测试中发现问题，又需要进行拆分，浪费大量的人工及成本；

(2)提出了更加灵活全面的测试方法，即采用控制器来进行灵活的测试方案的规划，并且通过进一步设置方便快捷的拨码开关的调节方式，方便调节测试电流，对不同型号和规格的背光灯串无需重新进行程序的设置和规划；

(3)在测试过程的规划上，通过控制器和拨码开关的配合使用，可以进一步进行调节切换电流的高低档位，测试灯串在不同电流状态下的电压是否有变化。

总之，按照本发明实现的背光灯串的检测装置和方法，能够将LED模组背光源中的LED灯串在组装前的不良品筛选出来，由此提高LED背光组装后的良率，提高产品质量，减少因返工和报废造成的各种损耗。

附图说明

图1是按照本发明实现的LED模组背光灯串检测装置的整体示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

本发明的检测装置依次包括电源1、以及电源转换模块2，其中电源转换模块2包括用于提供给未组装的LED灯串电源的第一子转换模块21以及为控制模块3提供电源的第二子转换模块22，其中第一子转换模块21与LED驱动模块4相连，LED驱动模块4与未组装的LED灯串相连，其中LED驱动模块4与未组装的LED灯串之间连接A/D采样模块5，用于监控LED灯串两端的电压压差，并送于与其相连的控制模块3，其中控制模块3还与LED驱动模块4相连，用于通过控制LED驱动模块4来实现更为灵活的检测测试。

实施例一

其中该实施例一中，控制模块3采用新型MCU芯片(STM32F103VE)，灯串的检测方式与流程都可以通过配置上述控制模块3来实现控制，其中LED驱动模块4的输出范围为:MAXOVP45V、电流0-30mA，第一子转换模块21具体为AC/DC模块，采用目前市场上常用的AC220V转DC12V电源适配器，提供整个系统的工作电源，提供DC12V电源供LED驱动模块4驱动LED灯串用，第二子转换模块22具体为DC/DC模块，将DC12V转换为DC3.3V提供MCU3的工作电源，AD采样模块5采集12串灯串输出接口电压值，并传输与MCU3进行分析，并通过检测该电压值是高于或低于预设的测试阈值来进行是否为良品的判断。

另外，本实施例中MCU3还分别与报警器6和拨码开关7连接，其中报警器6检测到异常灯串，开启声光报警,拨码开关7通过控制MCU3的IO管脚切换实现输出驱动电流的最小、最大电流切换。

按照本实施例中的装置，实现检测的步骤如下：

STEP1：给电源1端输入AC220V电源，提供LED驱动模块4、MCU3和装置运行的各个部件工作电源；

STEP2：将测试灯串的正负极分别连接至装置LED驱动模块4输出端的正负极上；

STEP3：通过MCU3编程配置LED输出驱动配置LED灯串合适的OVP电压、电流，MCU3通过I/O管脚控制打开LED驱动模块4开关；通过拨码开关7控制输出电流大小，最大最小值分别按MCU3配置电流值输出；

STEP4：AD采样模块5连接在每一串LED灯串输出端的正负极上，实时监控灯串两端电压压差；AD采样模块5将实时监控的状态传输给MCU3来进行判断，灯串正负极的电压值在预设阈值范围内，说明灯串上的所有灯珠阻抗未发生变化工作正常，此状态灯珠持续点亮；灯串正负极的压差超出预设阈值范围，说明灯串上有部分灯珠阻抗有变化出现负载电压过大或过小导致灯珠工作不正常；此状态MCU3立即控制LED驱动模块4关闭输出，同时开启故障报警器6，通过故障提示准确筛选出次品灯串。

其中，按照本发明实现的实施例一，可以实现更丰富的测试流程，例如，通过拨码开关对每个背光灯串切换输出电流的高低档位，测试每个背光灯串在不同电流状态下电压是否有变化。

另外按照本发明实现的实施例二，还可以实现LED模组灯串的扫描测试，该扫描测试包括如下步骤：

STEP1：依据灯串规格MCU3配置电压上下线阈值、LED驱动模块4配置灯串规格最大值和一个最小值电流值；并且MCU3设定背光灯串的输出开启方式为按顺序依次从1—12的方式依次开启，间隔时间根据测试的需要进行自由地设定；

STEP2：开启输出后1—12串灯串依次点亮，AD采样模块5依次扫描1—12串灯串电压值及实时采集到背光灯串正负极之间的压差，将监控信息传输给MCU3；MCU3接受采样信息后与预设阈值比较，判定是否在阈值范围内；通过拨码开关7控制输出驱动电流的大小，由此可实现低电流扫描检测，或高电流扫描检测；

STEP3：灯串正负极的电压值在预设阈值范围内，说明灯串上的所有灯珠阻抗未发生变化工作正常，此状态灯珠持续点亮；灯串正负极的压差超出预设阈值范围，说明灯串上有部分灯珠阻抗有变化出现负载电压过大或过小导致灯珠工作不正常；此状态MCU3立即控制LED驱动模块4关闭输出，同时开启故障报警灯和蜂鸣器，通过故障提示精确筛选出是哪一串灯串工作异常。

按照本发明实现的实施三，本实施例中MCU3可以通过配置PWM频率占空比的方式调节灯串亮度，可进行渐亮或渐暗的方式来检测，从而实现背光组光源的变亮变暗的调节方式。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种LED模组背光灯串的检测装置，用于实现未组装的背光灯串的检测，其特征在于，该检测装置包括电源模块，分别与电源模块相连的LED驱动模块(4)以及控制模块(3)，所述LED驱动模块(4)与待测试背光灯串连接，A/D采样模块(5)连接于所述待测试背光灯串与所述LED驱动模块(4)之间用于采集所述待测试背光灯串的电压，并将该电压值传输于所述控制模块(3)，所述控制模块(3)通过比较所述A/D采样模块(5)采集的电压值与预设检测标准的阈值进行比较实现所述待测试背光灯串的检测。

2.如权利要求1所述的LED模组背光灯串的检测装置，其特征在于所述控制模块(3)还与拨码开关(7)连接，所述拨码开关(7)通过所述控制模块(3)调节所述LED驱动模块(4)输出的用于驱动所述待测试背光灯串的测试电流。

3.如权利要求1或2所述的LED模组背光灯串的检测装置，其特征在于，所述控制模块(3)通过配置所述LED驱动模块(4)的PWM引脚的频率占空比对所述待测试背光灯串的亮度实现调节。

4.如权利要求3所述的LED模组背光灯串的检测装置，其特征在于，所述电源模块包括电源(1)以及与所述电源(1)分别相连的第一子转换模块(21)与第二子转换模块(22)，所述第一子转换模块(21)与所述LED驱动模块(4)相连，所述第二子转换模块(22)与所述控制模块(3)相连。

5.如权利要求4所述的模组背光灯串的检测装置，其特征在于，所述控制模块(3)具体为MCU。

6.一种采用如权利要求2-5中任意一项所述的LED模组背光灯串的检测装置来实现检测的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

STEP1：将所述待测试背光灯串的正负极分别连接至所述LED驱动模块(4)输出端的正负极上；

STEP2：通过所述控制模块(3)配置所述LED驱动模块(4)，所述LED驱动模块(4)配置所述待测试背光灯串合适的电压、电流，所述控制模块(3)通过所述拨码开关(7)控制所述LED驱动模块(4)的输出电流大小；

STEP3：所述AD采样模块(5)连接于每串所述待测试背光灯串输出端的正负极上，实时监控所述待测试背光灯串两端电压压差；所述AD采样模块(5)将实时监控的电压压差传输于所述控制模块(3)。

7.如权利要求6所述的LED模组背光灯串的检测装置来实现检测的方法，其特征在于，所述STEP2中还包括如下步骤：依据所述待测试背光灯串参数，所述控制模块(3)配置所述LED驱动模块(4)为按顺序的方式依次开启所述待测试的背光灯串，顺序开启的间隔时间可依据测试需求进行设定。

8.如权利要求7所述的LED模组背光灯串的检测装置来实现检测的方法，其特征在于，所述STEP2中还包括如下步骤：所述控制模块(3)通过所述拨码开关(7)调节输入每个所述待测试背光灯串的驱动电流，由此在所述STEP3中实现测试所述每个待测试背光灯串在不同电流状态下的电压变化。