CN203385804U - 红外触摸屏老化装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种红外触摸屏老化装置，红外触摸屏中安装有触摸屏处理器和与所述触摸屏处理器连接的多个功率电阻，其中，包括老化控制器和多个触摸屏通讯接口，所述红外触摸屏进行老化测试时，所述老化控制器通过所述触摸屏通讯接口与红外触摸屏的触摸屏控制器连接；所述老化控制器还连接有用于红外触摸屏进行老化测试时，控制所有所述功率电阻闭合的电阻开关单元。本实用新型能同时对多个红外触摸屏进行老化测试，并且老化效率较高。
Description
技术领域
本实用新型涉及触摸屏老化技术领域，特别是涉及一种红外触摸屏老化装置。
背景技术
红外触摸屏的工作原理是在屏幕边框的两组对边上分别安装红外发射管和红外接收管，通过两组对边上的红外对管光路的通断来获得到触摸点坐标位置。红外触摸屏正常工作时通过一定的电流流过发射管，实现电光转换，接收灯管接受光照时实现光电的转换，所以红外触摸屏的工作实际就是不断地电光—光电转换，为保证产品的稳定性，出厂前都会经过老化试验。
传统的红外触摸屏的老化方法有：
一、将一台红外触摸屏连接到一台PC机，通过PC机控制触摸屏处理器，对触摸屏通电，实现触摸屏的老化测试，并实时监测触摸屏的状态；该方法中红外触摸屏的工作以及电脑PC机的实时监测需要红外触摸屏和PC机之间的通讯，因此一台PC机只能老化一台红外触摸屏。
二、通过在红外触摸屏的触摸屏处理器中增加老化程序，并在触摸屏添加拨码开关设置触摸屏的工作方式（正常工作或老化模式），使红外触摸屏通电即可选择老化。该方法需要在每个红外触摸屏的控制系统中添加老化程序，且红外触摸屏本身没有显示设备，需要连接外部设备才能反馈其工作状态，并且增加的拨码开关可能会由于误操作导致红外触摸屏老化结束后置于老化模式出货，因此老化过程繁琐，并且可能增加不良率。
实用新型内容
基于此，本实用新型提供一种红外触摸屏老化系统，能同时对多个红外触摸屏进行老化测试，并且老化效率较高。
一种红外触摸屏老化装置，红外触摸屏中安装有触摸屏处理器和与所述触摸屏处理器连接的多个功率电阻，其特征在于，包括老化控制器和多个触摸屏通讯接口，所述红外触摸屏进行老化测试时，所述老化控制器通过所述触摸屏通讯接口与红外触摸屏的触摸屏控制器连接；
所述老化控制器还连接有用于红外触摸屏进行老化测试时，控制所有所述功率电阻闭合的电阻开关单元。
上述红外触摸屏老化装置，设置有多个触摸屏通讯接口，因此能同时与多台红外触摸屏连接；每台红外触摸屏都通过触摸屏通讯接口连接到老化控制器上，因此老化控制器能与红外触摸屏中的触摸屏处理器通讯，控制红外触摸屏进行老化测试；通过电阻开关单元可控制触摸屏的电流强弱，实现红外触摸屏老化强弱的控制；当增大红外发射管的电流时，能使其发射功率增强，老化速度更快，老化工作效率更高；老化测试结束后，断开红外触摸屏与红外触摸屏老化装置的连接，红外触摸屏即停止通电，老化过程安全可靠。
附图说明
图1为本实用新型红外触摸屏老化系统在一实施例中的结构示意图。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本实用新型作进一步详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。
如图1所示，是本实用新型红外触摸屏老化装置在一实施例中的结构示意图，该红外触摸屏老化装置10，用于对红外触摸屏11进行老化测试（图1中示出了同时对三台红外触摸屏进行老化测试）；红外触摸屏11中安装有触摸屏处理器和与所述触摸屏处理器连接的多个功率电阻，其中，该老化装置10包括老化控制器101和多个触摸屏通讯接口102（图1中示出了三个触摸屏通讯接口），所述红外触摸屏11进行老化测试时，所述老化控制器101通过所述触摸屏通讯接口102与红外触摸屏11的触摸屏控制器连接；
所述老化控制器101还连接有用于红外触摸屏11进行老化测试时，控制所有所述功率电阻闭合的电阻开关单元103；
在本实施例中，老化装置10设置有多个触摸屏通讯接口102，因此能同时与多台红外触摸屏11连接；老化装置10中设置老化控制器101，每个触摸屏通讯接口102都连接到老化控制器101上，因此老化控制器101能与红外触摸屏11中的触摸屏处理器通讯，控制红外触摸屏11进行老化测试。
老化控制器101连接有电阻开关单元103；老化测试时，红外触摸屏11中触摸屏与电阻单元连接，电阻单元中设置有多个功率电阻，电阻开关单元103通过触摸屏通讯接口102与触摸屏控制器连接，可控制各个功率电阻的开合，当红外触摸屏11通电时，红外发射管通电，不同个数的功率电阻的开合可分配不同大小的电流至触摸屏中的红外发射管，因此通过电阻开关单元103可控制触摸屏的电流强弱，实现红外触摸屏11老化强弱的控制；当增大触摸屏中红外发射管的电流时，能使其发射功率增强，同时红外接收管的接收功率由于红外发射管的光强的增强而增强，使得红外触摸屏能在满负荷条件下工作，负载加大，老化速度更快，老化工作效率更高；在进行老化测试时，电阻开关单元103可控制所有所述功率电阻闭合，使红外发射管的电流达到最强的状态。
老化测试时，技术人员可将红外触摸屏11接入红外触摸屏老化装置10的触摸屏通讯接口102，通电后，根据测试需求设置电阻开关单元103，老化控制器101通过触摸屏通讯接口102向红外触摸屏11的触摸屏处理器发送不同功率电阻开合的指令，红外触摸屏11的触摸屏处理器根据指令控制各个功率电阻的开合，触摸屏中的红外发射管通电后开始进入老化模式，同时红外触摸屏11的测试状态也可通过触摸屏通讯接口102反馈给老化控制器101；老化测试结束后，断开红外触摸屏11与红外触摸屏老化装置10的连接，红外触摸屏11即停止通电，老化过程安全可靠。
在一较佳实施例中，所述老化控制器101还连接有PWM控制单元104，PWM控制单元104能产生控制脉冲，改变脉冲序列的周期可以调频，改变脉冲的宽度或占空比可以调压，采用适当控制方法即可使电压与频率协调变化，因此可以通过调整PWM的周期、PWM的占空比而达到控制电流大小的目的，在进行红外触摸屏老化测试时可通过PWM控制单元调整电流强度，增大电流强度时能增强红外发射管的发射功率，使触摸屏在满负荷条件下工作，加速老化测试。
在一较佳实施例中，所述老化控制器101可为一个或多个（图1中示出了一个老化控制器101），每个所述触摸屏通讯接口102连接至其中一个所述老化控制器101；本实用新型可根据测试需求及硬件需求设置不同个数的老化控制器101，老化控制器101与触摸屏通讯接口的连接个数也可自行设置，硬件性能越高的老化控制器101，可设置更多的触摸屏通讯接口102，同时进行更多台红外触摸屏11的老化测试，提高工作效率，节约成本。
其中，所述老化控制器101可为MCU（Micro Controller Unit，微控制单元）控制器，该类控制器的处理速度快、成本低。
在一较佳实施例中，红外触摸屏老化装置10还可包括状态显示单元105，所述状态显示单元105与每个所述老化控制器101连接，用于反馈红外触摸屏11老化测试时的状态，方便技术人员查看老化测试的进度；其中状态显示单元105可为显示器或LED指示灯。
在一较佳实施例中，所述触摸屏通讯接口102可为USB接口，通用的USB接口，能提高本装置的适用性。
上述红外触摸屏老化装置，设置有多个触摸屏通讯接口，因此能同时与多台红外触摸屏连接；每台红外触摸屏都通过触摸屏通讯接口连接到老化控制器上，因此老化控制器能与红外触摸屏中的触摸屏处理器通讯，控制红外触摸屏进行老化测试；通过电阻开关单元可控制触摸屏的电流强弱，实现红外触摸屏老化强弱的控制；当增大红外发射管的电流时，能使其发射功率增强，老化速度更快，老化工作效率更高；老化测试结束后，断开红外触摸屏与红外触摸屏老化装置的连接，红外触摸屏即停止通电，老化过程安全可靠。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (7)
1.一种红外触摸屏老化装置，红外触摸屏中安装有触摸屏处理器和与所述触摸屏处理器连接的多个功率电阻，其特征在于，包括老化控制器和多个触摸屏通讯接口，所述红外触摸屏进行老化测试时，所述老化控制器通过所述触摸屏通讯接口与红外触摸屏的触摸屏控制器连接；
所述老化控制器还连接有用于红外触摸屏进行老化测试时，控制所有所述功率电阻闭合的电阻开关单元。
2.根据权利要求1所述的红外触摸屏老化装置，其特征在于，所述老化控制器为一个或多个，每个所述触摸屏通讯接口连接至其中一个所述老化控制器。
3.根据权利要求1或2所述的红外触摸屏老化系统，其特征在于，所述老化控制器为MCU控制器。
4.根据权利要求2所述的红外触摸屏老化装置，其特征在于，所述老化控制器还连接PWM控制单元。
5.根据权利要求2所述的红外触摸屏老化装置，其特征在于，还包括状态显示单元，所述状态显示单元与每个所述老化控制器连接。
6.根据权利要求5所述的红外触摸屏老化系统，其特征在于，所述状态显示单元为显示器或LED指示灯。
7.根据权利要求1所述的红外触摸屏老化系统，其特征在于，所述触摸屏通讯接口为USB接口。
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| CN201320385246.6U CN203385804U (zh) | 2013-06-28 | 2013-06-28 | 红外触摸屏老化装置 |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105116355A (zh) * | 2015-09-15 | 2015-12-02 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种led模组背光灯串检测装置及其检测方法 |
| CN108535556A (zh) * | 2017-03-02 | 2018-09-14 | 台达电子工业股份有限公司 | 复合式产品测试系统及其测试方法 |
| CN113552440A (zh) * | 2020-04-01 | 2021-10-26 | 深圳市研测科技有限公司 | 一种平板电脑触摸屏测试系统 |
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2013
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