CN204188667U - 一种pogo pin双动测试探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种pogo pin双动测试探针，包括双活动探针组件及接触探头，所述双活动探针组件包括针头、弹性件、及沿其轴向设有通腔的针套，所述接触探头为两端段的截面尺寸小于中间段截面尺寸的三段长条形实心探头，所述针头与接触探头对应插接于针套两端，所述弹性件设于所述针头与接触探头之间。采用本实用新型结构的测试探针，具有更强的抗折弯和抗断裂强度，降低pogo pin测试探针的损耗率，提高了探针检测的使用寿命和测试效率，且接触探头可自行更换，实现双活动探针的重复使用，节省售后维护成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子测试领域，尤其涉及一种pogo pin测试夹具上使用的双动测试探针。
背景技术
pogo pin（探针式连接器）是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器，广泛应用于半导体设备中，起连接作用。
目前，现有技术中对电子产品元器件的测试主要分为两种。第一种是采用两端分别焊有公、母Connector的FPC，通过人工手动将FPC与待测产品扣取连接，进一步连接测试设备进行检测。这种测试方式需要投入大量的人力、物力，测试时Connector的扣取使用寿命比较低，更换率高，测试良率低，导致待测产品上的Connector报废率升高，同时FPC上有一端Connector不良就需要更换整条FPC，这样造成物力过渡浪费。
另一种方案是行业中最新出现的探针测试，即pogo pin测试夹具，采用pogo pin探针与待测产品按压接触，将待测产品信号引至测试设备进行检测，采用这种方案避免了第一种方案中的浪费和损耗，降低了成本，同时提高了测试准确率。但由于待测产品的结构精细，对于引脚中心距在0.4mm或以下时，只能使用针套直径约为0.2mm，活动针头直径约为0.1mm大小的探针，造成测试探针的使用寿命短、损耗大、易折弯和断裂的问题，从而导致测试效率低、维护投入大，不能满足现有的生产需求。
实用新型内容
针对上述现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种pogo pin双动测试探针，克服测试探针使用寿命短、损耗大、活动针头直径较小容易折弯和断裂的问题。
为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：
一种pogo pin双动测试探针，包括双活动探针组件及接触探头，所述双活动探针组件包括针头、弹性件、及沿其轴向设有通腔的针套，所述接触探头为两端段的截面尺寸小于中间段截面尺寸的三段长条形实心探头，所述针头与接触探头对应插接于针套两端，所述弹性件设于所述针头与接触探头之间。
进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述针套两端外壁向内挤压成凸部，用于针头与接触探头的限位。
进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述针头一端穿插针套与弹性件连接，另一端对应与转接PCB连接。
进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述接触探头一端穿插针套与弹性件连接，另一端对应与待测产品连接。
更进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述针头与接触探头在沿其轴向的推力作用下可使所述弹性件收缩，从而令双动测试探针的长度缩短。
更进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述接触探头与待测产品接触的一端设有爪型锥尖。
更进一步，一种pogo pin双动测试探针，所述弹性件为金属弹簧。
本实用新型的增益效果在于，提供一种pogo pin双动测试探针，采用双活动探针组件与接触探头的双截独特设计，接触探头为一体成型的三段实心长条形结构，具有更强的抗折弯和抗断裂强度，降低pogo pin测试探针的损耗率，提高了探针检测的使用寿命和测试效率，且接触探头可自行更换，实现双活动探针的重复使用，节省售后维护成本。
附图说明
图1为本实用新型一种pogo pin双动测试探针的结构爆炸图。
图2为本实用新型一种pogo pin双动测试探针的剖视图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参照图1，为本实用新型一种pogo pin双动测试探针的结构爆炸图，本实施例的探针包括双活动探针组件及接触探头，所述双活动探针组件包括针头30、金属弹簧40、及沿其轴向设有通腔201的针套20，所述接触探头10由前段101、中段102及尾段103构成的一体成型的实心长条形结构，前段101与尾端103的截面尺寸小于中段102的截面尺寸。
所述接触探头10的前段101设有爪型锥尖1011与待测产品测试点接触，尾端103对应插接与针套20的通腔201与金属弹簧40连接，所述针头30一端对应插接与针套20的通腔201与金属弹簧40的另一端连接，针头30另一端对应与转接PCB连接，在沿针套20轴向的推力作用下，所述接触探头10与针头30可使所述金属弹簧40收缩，从而令双动测试探针的长度缩短。
在测试过程中，测试探针安装在特定针板上，以对应待测产品的测试点，所述接触探头10为实心长条形结构，接触探头10的前段101与待测产品测试点接触，针头30与转接PCB板接触，进一步连接测试设备。测试信号由待测产品经接触探头10-针套20及金属弹簧40-针头30传至转接PCB板，进一步传送至测试设备进行检测。
本实用新型的实施例为双活动探针组件与接触探头的双截独特设计，采用接触探头与待测产品接触的设计，替代现有探针的活动探针头的接触方式。接触探头为一体成型的实心结构，在有限特定空间内，本实施例的pogo pin双动测试接触探头具有比现有活动探针头更大的截面尺寸，具有更强的抗折弯和抗断裂强度，降低pogo pin测试探针的损耗率，提高了探针检测的使用寿命和测试效率，且接触探头可自行更换，实现双活动探针的重复使用，节省售后维护成本。
进一步参照图2本实用新型一种pogo pin双动测试探针的剖视图，包括接触探头10、针套20、金属弹簧30、针头40，所述接触探头10插接于针套20并与金属弹簧30连接，所述针头对应插接于针套20另一端并与金属弹簧30另一端连接，针套20两端外壁向内挤压成凸部，用于接触探头10与针头40的限位。所述接触探头10、针套20、金属弹簧30及针头40设置在同一轴线上，在沿其轴向的推力作用下可使金属弹簧40收缩，从而令双动测试探针的长度缩短，以实现测试探针与待测产品及转接板的紧密接触及缓冲作用，金属弹簧40的充分接触也起到传递测试信号的作用。
因此，通过上述公开内容，本实用新型实施例提供了一种pogo pin双动测试探针，采用实心结构的接触探头与待测产品的接触方式，从而具有更强的抗折弯和抗断裂强度，降低pogo pin测试探针的损耗率，提高了探针检测的使用寿命和测试效率。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种pogo pin双动测试探针，包括双活动探针组件及接触探头，其特征在于，所述双活动探针组件包括针头、弹性件、及沿其轴向设有通腔的针套，所述接触探头为两端段的截面尺寸小于中间段截面尺寸的三段长条形实心探头，所述针头与接触探头对应插接于针套两端，所述弹性件设于所述针头与接触探头之间。
2.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述针套两端外壁向内挤压成凸部，用于针头与接触探头的限位。
3.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述针头一端穿插针套与弹性件连接，另一端对应与转接PCB连接。
4.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述接触探头一端穿插针套与弹性件连接，另一端对应与待测产品连接。
5.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述针头与接触探头在沿其轴向的推力作用下可使所述弹性件收缩，从而令双动测试探针的长度缩短。
6.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述接触探头与待测产品接触的一端设有爪型锥尖。
7.根据权利要求1所述的pogo pin双动测试探针，其特征在于，所述弹性件为金属弹簧。
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