CH645730A5 - Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai. - Google Patents

Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai. Download PDF

Info

Publication number
CH645730A5
CH645730A5 CH8882A CH8882A CH645730A5 CH 645730 A5 CH645730 A5 CH 645730A5 CH 8882 A CH8882 A CH 8882A CH 8882 A CH8882 A CH 8882A CH 645730 A5 CH645730 A5 CH 645730A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
spring
guide tube
base
contact
test
Prior art date
Application number
CH8882A
Other languages
English (en)
Inventor
Roger Cornu
Pierre-Andre Meier
Original Assignee
Technobal Sa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Technobal Sa filed Critical Technobal Sa
Priority to CH8882A priority Critical patent/CH645730A5/fr
Priority to US06/455,524 priority patent/US4560926A/en
Priority to DE3300247A priority patent/DE3300247A1/de
Priority to GB08300448A priority patent/GB2113483B/en
Publication of CH645730A5 publication Critical patent/CH645730A5/fr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

La présente invention concerne les contacts d'essai pour le test de circuits imprimés.
Les machines de test de circuits imprimés utilisées dans l'industrie électronique comportent généralement un plateau traversé par des passages dont la position est parfaitement bien définie, et qui sont susceptibles de recevoir des contacts d'essais prévus pour effectuer des mesures électriques en des points particuliers d'une plaque de circuits imprimés présentée parallèlement au plateau.
A cet effet, les contacts d'essai utilisés à ce jour comportent notamment une embase destinée à être montée à demeure dans un passage du plateau, et prévue pour assurer, d'une part, la retenue mécanique de la tête de contact du côté du plateau dirigé vers la plaque de circuits imprimés et, d'autre part, le raccordement électrique de cette tête de contact avec l'installation de test elle-même.
Le plus souvent, l'embase forme un réceptacle dans lequel est monté de manière amovible un ensemble interchangeable constitué par un tube de guidage dans lequel est inclus un ressort de compression, et qui retient également, à l'une de ses extrémités, une tête de contact pouvant coulisser axialement dans le tube de guidage.
La configuration de l'extrémité de contact des têtes de contact doit être très différente selon la nature des plages du circuit imprimé
où l'on désire effectuer une mesure. On comprendra donc que le test de chaque nouveau circuit imprimé exigera le remplacement de la plupart des têtes de contact.
L'utilisation d'ensembles interchangeables délicats à fabriquer et à assembler parce que comprenant simultanément le tube de guidage, le ressort en compression et la tête de contact n'est donc pas rationnelle.
C'est pourquoi l'invention propose une nouvelle structure de contacts d'essai, dans laquelle seule la tête de contact est amovible, les autres éléments restant fixés à demeure dans les passages du plateau de la machine de test.
Le contact selon l'invention se caractérise en ce que:
— le tube de guidage est assujetti rigidement à l'une des extrémités de l'embase;
— le ressort comporte une première extrémité rigidement assujettie au tube de guidage du côté de l'embase et/ou à l'extrémité de l'embase, et une deuxième extrémité où sont formées une pluralité de spires jointives, le diamètre extérieur des spires du ressort étant inférieur au diamètre intérieur du tube, et
— la tête de contact est assujettie de façon amovible à la deuxième extrémité du ressort et comporte à cet effet une extrémité de retenue lisse, cylindrique, terminée par un cône d'engagement et dont le diamètre est très légèrement supérieur au diamètre intérieur des spires de la deuxième extrémité du ressort, de façon à pouvoir être facilement mise en place ou retirée sous l'effet d'une rotation de cette tête de contact dans le sens inverse du sens de l'enroulement des spires.
L'invention propose également une tête amovible pour de tels contacts d'essai, dont la structure est particulièrement simple puisqu'il suffit qu'elle comporte une extrémité de retenue lisse, cylindrique et terminée par un cône d'engagement.
L'invention sera bien comprise à la lecture de la description suivante, faite en relation avec les dessins joints, parmi lesquels:
la fig. 1 est une vue en coupe d'un contât d'essai de l'art antérieur;
la fig. 2 est une vue en coupe d'un contact d'essai selon l'invention, et la fig. 3 est une vue en coupe agrandie d'une portion de la fig. 2.
Dans la fig. 1, on a représenté un contact d'essai typique de l'art antérieur, comportant notamment une embase 1 destinée à être montée à demeure dans un passage 2 du plateau 3 de la machine de test. Cette embase 1 reçoit de façon amovible un ensemble interchangeable, généralement référence 4, constitué par un tube de guidage 5 qui retient au moins un ressort de compression 6 et une tête de contact 7.
Selon l'invention, et comme on le voit dans la fig. 2, on a prévu de réaliser une structure unique comprenant l'embase 8, le tube de guidage 9 et le ressort de compression 10.
Par exemple, le tube de guidage 9 est serti dans une gorge 11 de l'embase 8, tandis que la première extrémité 12 du ressort 10 est engagée sur l'extrémité 13 de l'embase 8 où elle est assujettie en position par un sertissage en quatre points de la portion correspondante 14 du tube 9.
La tête de contact 15 est, quant à elle, assujettie de façon amovible à la deuxième extrémité 16 du ressort.
Comme on le voit au mieux sur la fig. 3, cette extrémité 16 comporte une pluralité de spires jointives 17 dont le diamètre extérieur est inférieur, par exemple de 0,05 mm, au diamètre intérieur du tube 9.
Par ailleurs, la tête de contact 15 comporte une extrémité de retenue 18, lisse, cylindrique, de diamètre légèrement supérieur, par exemple de 0,02 mm, au diamètre intérieur des spires jointives 17.
De cette manière, on comprendra aisément que, pour assurer l'engagement ou le retrait de l'extrémité de retenue 18 dans l'extrémité 16 du ressort 10, il suffira d'accompagner ce mouvement d'une rotation dans le sens inverse du sens de rotation de l'enroulement des spires, comme indiqué par la flèche 19, ce qui aura pour effet d'élargir les spires 17 du ressort 10. Pour faciliter l'engagement, l'extrémité de retenue 18 est terminée par un cône d'engagement 20.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
3
645 730
La surface intérieure du tube comporte en outre une portion conique 21 contre laquelle vient s'appuyer la dernière spire de la deuxième extrémité 16 du ressort, et dont l'effet est de resserrer cette spire contre l'extrémité de retenue 18, et ainsi favoriser la retenue de la tête de contact 15 aussi longtemps qu'elle n'est pas sollicitée vers l'intérieur du tube 9.
Dans une variante, l'extrémité libre de l'embase peut être adaptée pour permettre tout type de connexion électrique avec l'installation de test, notamment par enroulement ou par soudage. De même, toutes les pièces du contact d'essai peuvent être dimension-5 nées de façon à s'adapter aux applications particulières envisagées, ou encore être munies de tout type de revêtement adéquat.
R
1 feuille dessins

Claims (5)

645 730
1. Contact d'essai pour le test de circuits imprimés, comprenant notamment une tête de contact montée coulissante axialement dans un tube de guidage à rencontre d'un ressort de compression inclus également dans ce tube, et une embase recevant le tube et destinée à être montée à demeure dans un passage du plateau d'une machine à tester les circuits imprimés, caractérisé en ce que:
— le tube de guidage (9) est assujetti rigidement à l'une des extrémités (13) de l'embase (8);
— le ressort (10) comporte une première extrémité (12) rigidement assujettie au tube de guidage du côté de l'embase et/ou à l'extrémité de l'embase, et une deuxième extrémité (16) où sont formées une pluralité de spires jointives (17), le diamètre extérieur des spires du ressort était inférieur au diamètre intérieur du tube, et
— la tête de contact (15) est assujettie de façon amovible à la deuxième extrémité du ressort et comporte à cet effet une extrémité de retenue (18) lisse, cylindrique, terminée par un cône d'engagement et dont le diamètre est très légèrement supérieur au diamètre intérieur des spires de la deuxième extrémité du ressort, de façon à pouvoir être facilement mise en place ou retirée sous l'effet d'une rotation de cette tête de contact dans le sens inverse du sens de l'enroulement des spires.
2. Contact d'essai selon la revendication 1, caractérisé en ce que le diamètre de l'extrémité de retenue (18) de la tête de contact (15) est supérieur de 0,02 mm environ au diamètre intérieur des spires du ressort (10).
2
REVENDICATIONS
3. Contact d'essai selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que la surface intérieure du tube de guidage (9) comporte une portion conique (21) contre laquelle vient s'appuyer la dernière spire de la deuxième extrémité du ressort (10), et dont l'effet est de resserrer cette spire contre l'extrémité de retenue de la tête de contact (15) lorsque celle-ci n'est pas sollicitée vers l'intérieur du tube de guidage.
4. Contact d'essai selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le tube de guidage (9) est serti dans une gorge de l'embase (8), et en ce que la première extrémité (12) du ressort (10) est engagée par-dessus l'extrémité de l'embase et assujettie en position par un sertissage du tube de guidage.
5. Tête de contact amovible pour un contact d'essai selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'elle comporte une extrémité de retenue (18) lisse, cylindrique et terminée par un cône d'engagement.
CH8882A 1982-01-08 1982-01-08 Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai. CH645730A5 (fr)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH8882A CH645730A5 (fr) 1982-01-08 1982-01-08 Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai.
US06/455,524 US4560926A (en) 1982-01-08 1983-01-04 Contact device for use in the testing of printed circuits and a removable contact head for use in such a device
DE3300247A DE3300247A1 (de) 1982-01-08 1983-01-05 Pruefkontaktvorrichtung fuer den test gedruckter schaltungen
GB08300448A GB2113483B (en) 1982-01-08 1983-01-07 Removable p.c.b. test prod

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH8882A CH645730A5 (fr) 1982-01-08 1982-01-08 Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH645730A5 true CH645730A5 (fr) 1984-10-15

Family

ID=4178986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH8882A CH645730A5 (fr) 1982-01-08 1982-01-08 Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai.

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4560926A (fr)
CH (1) CH645730A5 (fr)
DE (1) DE3300247A1 (fr)
GB (1) GB2113483B (fr)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3340431C2 (de) * 1983-11-09 1985-12-19 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Gefederter Kontaktstift für Prüfzwecke
DE3424210A1 (de) * 1984-06-30 1986-01-09 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktelement fuer einen pruefadapter
GB2166913A (en) * 1984-11-13 1986-05-14 Tektronix Inc Impedance matched test probe
DE3441480A1 (de) * 1984-11-13 1986-05-15 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH, 6384 Schmitten Kontaktstift
US4740746A (en) * 1984-11-13 1988-04-26 Tektronix, Inc. Controlled impedance microcircuit probe
US4700132A (en) * 1985-05-06 1987-10-13 Motorola, Inc. Integrated circuit test site
US4884024A (en) * 1985-11-19 1989-11-28 Teradyne, Inc. Test pin assembly for circuit board tester
EP0237732B1 (fr) * 1986-02-27 1991-10-16 Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung Tige de contact à ressort pour appareils de test
JPS63149576A (ja) * 1986-12-12 1988-06-22 Mitsubishi Electric Corp 基板検査装置
US4943768A (en) * 1986-12-12 1990-07-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Testing device for electrical circuit boards
EP0292590A1 (fr) * 1987-05-26 1988-11-30 Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung Dispositif de contact pour appareils d'essai
US5032787A (en) * 1989-11-03 1991-07-16 Everett/Charles Contact Products, Inc. Electrical test probe having rotational control of the probe shaft
US5009613A (en) * 1990-05-01 1991-04-23 Interconnect Devices, Inc. Spring contact twister probe for testing electrical printed circuit boards
DE4110359A1 (de) * 1991-03-28 1992-10-01 Johann Bischl Feinmechanik Gmb Federnder pruefstift
US5225773A (en) * 1992-02-26 1993-07-06 Interconnect Devices, Inc. Switch probe
US5227718A (en) * 1992-03-10 1993-07-13 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
US5420519A (en) * 1992-03-10 1995-05-30 Virginia Panel Corporation Double-headed spring contact probe assembly
US5489854A (en) * 1993-04-01 1996-02-06 Analog Devices, Inc. IC chip test socket with double-ended spring biased contacts
US5456621A (en) * 1994-02-01 1995-10-10 Relm Communications, Inc. Self-wiping/self cleaning electrical contact
US5936421A (en) * 1994-10-11 1999-08-10 Virginia Panel Corporation Coaxial double-headed spring contact probe assembly and coaxial surface contact for engagement therewith
US5942906A (en) * 1994-11-18 1999-08-24 Virginia Panel Corporation Interface system utilizing engagement mechanism
US5557213A (en) * 1994-12-01 1996-09-17 Everett Charles Technologies, Inc. Spring-loaded electrical contact probe
JPH1138041A (ja) * 1997-07-24 1999-02-12 Mitsubishi Electric Corp プローブカード用片持ち型プローブ針とその製造方法ならびに制御方法
US6331836B1 (en) * 2000-08-24 2001-12-18 Fast Location.Net, Llc Method and apparatus for rapidly estimating the doppler-error and other receiver frequency errors of global positioning system satellite signals weakened by obstructions in the signal path
JP3899075B2 (ja) 2002-03-05 2007-03-28 リカ デンシ アメリカ， インコーポレイテッド 電子パッケージと試験機器をインターフェースするための装置
JP3768183B2 (ja) * 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチｉｃパッケージ用ｉｃソケット
US7315176B2 (en) * 2004-06-16 2008-01-01 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes, methods of making, and methods of using
US7411405B2 (en) * 2004-11-03 2008-08-12 Panduit Corp. Method and apparatus for reliable network cable connectivity
US7626408B1 (en) * 2005-02-03 2009-12-01 KK Technologies, Inc. Electrical spring probe
US9887478B2 (en) * 2015-04-21 2018-02-06 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Thermally insulating electrical contact probe
US9899193B1 (en) 2016-11-02 2018-02-20 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. RF ion source with dynamic volume control

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3435168A (en) * 1968-03-28 1969-03-25 Pylon Co Inc Electrical contact
DE1765461B2 (de) * 1968-05-22 1976-12-16 Bossert, Anneliese, 7530 Pforzheim Federkontakt
US3799168A (en) * 1972-02-28 1974-03-26 R Peters Electro-surgical handle
CH589947A5 (en) * 1974-02-13 1977-07-29 Ingun Ag Test pin for printed circuit boards - with spring loaded shank in barrel and test end with conical hollow for boards test point
US4050762A (en) * 1976-11-10 1977-09-27 Everett/Charles, Inc. Telescoping spring probe having separate wiper contact member
DE2924262C2 (de) * 1979-06-15 1984-12-13 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Federnder Kontaktbaustein für Meß- und Prüfzwecke
US4438397A (en) * 1979-12-26 1984-03-20 Teradyne, Inc. Test pin

Also Published As

Publication number Publication date
GB2113483A (en) 1983-08-03
US4560926A (en) 1985-12-24
GB2113483B (en) 1985-08-14
DE3300247A1 (de) 1983-07-28
GB8300448D0 (en) 1983-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH645730A5 (fr) Contact d'essai pour le test de circuits imprimes, et tete de contact amovible pour un tel contact d'essai.
EP1649957B1 (fr) Dispositif de coupe et de marquage d'un câble métallique
FR2466885A1 (fr) Fiche concentrique a usages multiples
EP0097602B1 (fr) Jauge de contrôle de profondeur d'un trou
FR2634263A1 (fr) Dispositif tendeur de courroie premonte
EP0683394A1 (fr) Dispositif d'accrochage d'un instrument de mesure sur une tête de vis
EP0024968B1 (fr) Raccord autoverrouillable et outil pour son serrage
EP0035460B1 (fr) Elément de repérage pour fils électriques
EP0260583A1 (fr) Palpeur de mesure de dimensions
EP0044795B1 (fr) Tête d'expansion pour un appareil destiné à évaser ou à élargir les extrémités des tubes ou similaires
FR2795560A1 (fr) Serre-fil muni d'un dispositif de protection contre le toucher
EP1454691A1 (fr) Dispositif de serrage muni d'articulations élastiques
EP0866483A1 (fr) Coupe-batterie bi-stable à verrouillage mécanique
FR2480166A1 (fr) Dispositif pour maintenir des cles dans une machine a reproduire les cles
EP0603118A1 (fr) Dispositif serre-joint
EP0521803B1 (fr) Dispositif de connexion et d'alimentation électrique
FR3106210A1 (fr) Support d’outil de mesure et de contrôle non destructif.
EP0046830A1 (fr) Compas de précision à brisures parallèles et à barre de rigidité
EP0041414B1 (fr) Presse-étau perfectionnée
FR2816764A1 (fr) Dispositif de raccordement pour deux cables electriques
EP0091857A1 (fr) Dispositif d'arrêt d'une pièce sur un axe
FR2779569A1 (fr) Bielle de commande munie d'un embout comportant des crans d'usinage
EP0234171A1 (fr) Tête d'alésage
CH638704A5 (fr) Dispositif de blocage d'un plateau mobile sur une table le long de moyens de guidage.
FR3040546A1 (fr) Dispositif de connexion pour plot de batterie

Legal Events

Date Code Title Description
PFA Name/firm changed

Owner name: TECHNOBAL S.A.

PL Patent ceased