JPH02248876A - プリント基盤テスト用のスーパーアダプタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の目的及び分野） 本発明は、プリント基盤の検査において、微細な回路端
子の配列を有するプリント基盤の検査において、プリン
ト基盤の微細な回路端子の配列よりも大きい間隔の配列
による検査ピン有するユニバーサルヘッドを使用しなが
ら、前記微細な回路端子を有するプリント基盤との接続
を可能とするピンの接触を変換する為のスーパーアダプ
タに関するものである。

近年、電子部品においては、ファインテクノロジーが発
達し、ＩＣ等の電子部品のピッチは非常に微細化してい
る（例えば従来は２．５４ｍｍであったのが、最近では
０，６〜０．８ｍｍとなっているのが実情である。）。

この為、ＩＣ等の電子部品をプリント基盤に装着する方
法も従来の用にプリント基盤に設けた孔に電子部品の端
子からのリード線を挿入する方法から、プリント基盤の
表面の配線に直接レーザー光等を用いて接着する方法に
変わってきている。

又、喰え従来のようなリード線を挿入する方法において
も、プリント基盤における孔の間隔は極めて微細なもの
になっている。

このように、電子部品を配列したプリント基盤における
各端子間のピッチは微細となっているにも拘らず、コン
タクトピン、ロングピン等を介して、プリント基盤の検
査を行う為に用いる検査用の基盤であるユニバーサルヘ
ッドにおける検査ピンを差込む為の孔の間隔は従来同様
の基準を維持しており、プリント基盤の端子間のピッチ
の変化に対応し得ていない。

このような場合、従来のユニバーサルヘッドを用いて、
回路端子のピッチが極めて微細なプリント基盤の検査を
行うには、第１図に示すように両者に介在するロングピ
ン６はプリント基盤の端子が狭い間隔で存在する領域に
集中して大きく湾曲しなければならないが、これではロ
ングピンの先端とプリント基盤の回路端子との接触が不
安定となり、安定したプリント基盤の検査を行うことが
不可能となる。

これを解決する為の１つの方法としては、第２図に示す
ように、ユニバーサルヘッド４自体を、検査の対象とな
るプリント基盤１における電子部品からの端子と同じレ
イアウトで検査用のピンを配列することが考えられるが
、本来ユニバーサルヘッド６は、様々なタイプのプリン
ト基盤の回路を検査する為にある以上、プリント基盤の
機種毎に夫々異なるユニバーサルヘッドを設計すること
は事実上不可能である。

又、第３図に示すように、微細なピッチ（ファインピッ
チの回路端子によるプリント基盤ｌに対応したピッチで
ユニバーサルヘッド４の検査ピン５を配列しておく方法
も考えられる６ しかしこの場合には、例えば従来の２．５４ｍｍピッチ
配列の検査ピン５を２倍にしたダブルメツシュ（第４図
参照）か又は検査ピン５を４倍とした４倍メツシュ（第
５図参照）が必要となるが、これでは従来のユニバーサ
ルヘッドに対して、価格が約２倍、　４倍となって、経
済コストとして極めて不利である。

ここに、従来のユニバーサルヘッドを使用しながら、フ
ァインピッチの回路端子を配列しているプリント基盤の
検査を可能とする変換器具の出現が要請されていた。

本発明は、このような要請に応じることを目的とするも
のである。

（発明の構成） 一般にＩＣ等の電子部品は、電子部品自体の外側周囲に
回路端子が出ていることから、プリント基盤の全面にわ
たってダブルメツシュ、”４倍メツシュ等による微細な
格子間隔を必要としてはいない。

この為、ユニバーサルヘッドは通常２万〜３万個の検査
用のピンを配列しているが、実際に検査に使用するピン
は１．０００〜５．０００ピン程度であって、常に１万
個以上の検査ピンが使用されていないことになる。

本願発明のスーパーアダプタは、このようなユニバーサ
ルヘッドの使用されていない検査ピンに相当する差込・
接触用のピンの部分と接続するピンヘッドを変換ボード
の他の面において、該差込・接触用のピンの位置から移
動させて、他のピンヘッドと密集させることによって、
プリント基盤の微細な回路端子のピッチに適合させるよ
うにする点において基本的な技術思想を有するものであ
る。

本発明の基本的な構成は、 変換用ボードの一方の面にユニバーサルヘッドの検査ピ
ンの配列に対応した配列よる差込・接触用のピンを設け
、変換ボードの他方の面には、前記各差込・接触用のピ
ンとそれぞれ電気回路的に接続しているピンヘッドを設
け、該ピンヘッドは変換ボード面に一様に分布せず、変
換ボード面の一部の面に密集していることからなるプリ
ント基盤テスト用のスーパーアダプタからなる。

以下実施例に従って説明する。

第６図は本願発明の斜視図であり、第７図は本願発明の
接触・差込・接触用のピン７３及びこれらが取り付けら
れている変換ボード７２の一方の面を示す平面図であり
、第８図はピンヘッド及びこれらが取りつけられている
変換ボードの他方の面を示す平面図である。

即ち、第６図、第７図に示すように、差込・接触用のピ
ン７３は、変換ボード７２の一方の面に取り付けられて
いるが、その１間隔はユニバーサルヘッドの検査ピン５
が配列されたピッチに対応している。

これに対し、変換ボード７２の他方の面に設けられてい
るピンヘッド７１は、プリント基盤の回路端子のピッチ
に対応する為に、第６図、第８図に示すように、密集し
た状態で配列されている。

このような密集した配列状況として、第８図においては
、ピンヘッドを外側の周囲部分に密集させて設けた状況
を示すが、実際にはこのような配列に限定される訳では
なく、 例えばピンヘッド７１を内側の中心部に密集させて設け
た配列方法、 ピンヘッド７１を一方側に寄せて密集させた配列方法も
考えられる。

尚、第７図及び第８図においては、何れも正方形状の変
換ボード７２を示しているが、変換ボード７２の形状は
長方形、多角形、円、楕円等任意の形状を採用し得る。

各差込・接触用のピンと各ピンへラド７１とは、夫々　
ｌ：ｌの対応関係で電気回路的に接続されている。

この場合、例えば第９図に示すように、ピンへラド７Ｉ
が密集している領域においては、密集しているピンヘッ
ド７１のうち半数については変換ボード７２禽介してそ
の裏側に差込・接触用のピン７３と変換ボード７２中の
グリッド（格子）を通じてストレートに接続され、残り
半分のピンヘッド７１は変換ボード７２中のグリッド（
格子）に固着されているが、これに対応する差込・接触
用のピン７３は、当該ピンヘッド７１の裏側に存在せず
、ピンへラド７１が密集していない領域の裏側に位置し
ており、当該ピンヘッド７１と配線によって接続される
ことになる。

熱論、本願の発明は、このようなグリッド（格子）７４
を設けて、ピンヘッド７１と差込・接触用のピン７３を
ストレートに接続したり、且つピンへラド７１を固着す
る構成に限定される訳ではなく、要するに、個々のピン
ヘッドに対応する差込・接触用のピン７３とが電気的に
接続されていれば良い。

又ピンヘッドが密集する領域においては、第６図に示す
ように、ピンヘッド７１と差込・接触用のピン７３との
単位面積当りの数の比率が２：１である必要はなく、例
えば４：１であっても良い（実際にはこのような配列は
厄介ではあるが）。

又ピンヘッド７１の配列状態は、プリント基盤の回路端
子の配列に対応して、格子状とするのが便利であるが、
特にこのような配列に限定される訳ではなく、極端な場
合には、不規則の配列であっても良い。

このような構成よって、後述するように、従来のユニバ
ーサルヘッドを使用しながら、回路端子が極めて微細な
ピッチであるプリント基盤の測定に使用することができ
るが、このようなスーパーアダプタを重畳させて、極端
に微細な回路端子間のピッチを有するプリント基盤の測
定を行うことも可能である。

この為には、変換用ボードの一方の面に他のスーパーア
ダプタピンヘッドの配列に対応して配列した差込・接触
用のピンを設け、変換ボードの他方の面に前記各差込・
接触用のピンとそれぞれ接続しているピンヘッドを設け
、該ピンヘッドを変換ボード面に一様に分布せず、変換
ボード面の一部の面において前記差込・接触用のピンの
配列よりも更に密集した状態とすることからなる重量用
スーパーアダプタを用いると良い。

（発明の作用効果） 以上の如きスーパーアダプタ６を用いた場合には、第１
０図に示すように、プリント基盤の検査において、スー
パーアダプタ７の差込・接触用のピン７３をガイドボー
ド３の孔に差込み、且つユニバーサルヘッド４の検査ピ
ン５のヘッドに接触させ、他方では、変換ボード７２の
一部の表面に密集したピンヘッド７１にロングピンの末
端を載せて、しかも当該ロングピン６のヘッド（先端部
分）をプリント基盤ｌの測定用の回路端子に接触させる
ならば、ロングピンは従来のユニバーサルヘッド４を使
用するように曲げる必要はなく、ストレートな状態で接
触させることができるので、安定した状態によるプリン
ト基盤の測定を行うことができる。

仮に、　１個のスーパーアダプタだけでは、プリント基
盤の微細なピッチによる回路端子に適合するほどの密集
したピンへラド７１を得ることができない場合には、ス
ーパーアダプタを２段、３段・・・と複数個積重ねるこ
とによって、前記微細なピッチの回路端子に適合する程
度に密集したピンヘッド７１を得るようにすれば良い。

このような他のスーパーアダプタに重畳させる為のスー
パーアタックが特許請求の範囲（５）記載のスーパーア
ダプタである。

これによって、第１１図に示すように、スーパーアゲブ
タ同志の重畳が可能となって、極めて微細なピッチによ
る回路端子を有するプリント基盤に対して、ロングピン
６をストレートに接続することができ、従来のユニバー
サルヘッド４によってこのようなプリント基盤の検査を
行うことが可能となる。

このように、本願発明によって、従来のユニバーサルヘ
ッドを使用しながら、微細なピッチによる回路端子を有
するプリント基盤の検査を極めて簡単な操作によって安
定して行うことが可能となるので、本願発明は絶大な効
用を有するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図：ファインピッチの回路端子を有するプリント基
盤にロングピンを介して従来のユニバーサルヘッドを接
続した状態を示す側面図 第２図ニブリント基盤の回路端子のピッチに応じてユニ
バーサルヘッドの検査ピンを配列した状態を示す側面図 第３図ニブリント基盤の回路端子の微細なピッチと同程
度のピッチで検査ピンを配列したことによるユニバーサ
ルヘッドを用いた状態を示す側面図 第４図、第５図：検査ピンを挿入する孔の格子をダブル
メツシュ状、　４倍メツシュ状とした状態を夫々示す平
面図 第６回置本願発明のスーパーアダプタの斜視図第７図ニ
ス−パーアダプタの差込・接触用のピンが設置された側
の変換ボード７２及び当該差込・接触用のピン７３の平
面図。 第８図ニス−パーアダプタのピンヘッドが設置された側
の変換ボード７２の平面図 第９図：ピンヘッドと差込・接触用のピンとをグリッド
を用いて接続したことによる実施例の断面図 第１Ｏ図ニスーパーアダプタを用いて、プリント基盤の
検査を行った状態を示す側面図 第１１図ニス−パーアダプタを重畳して用いることによ
って、プリント基盤の検査を行った状態を示す側面図 １・プリント基盤　２・パターンボード３・ガイドボー
ド　４・ユニバーサルヘッド５・ユニバーサルヘッドの
検査ピン ６・ロングピン ７・本願発明のスーパーアダプタ ７トピンヘツド　７２・変換ボード ７３・差込・接触用のピン ７４・スーパーアダプターのグリッド（格子）出願人代
理人弁護士弁理士　赤　尾　直　人第４図 第５図 第８図 第１１図 手続補正書 平成１年４月２７日

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）変換用ボードの一方の面にユニバーサルヘッドの
   検査ピンの配列に対応した配列よる差込・接触用のピン
   を設け、変換ボードの他方の面には、前記各差込・接触
   用のピンとそれぞれ電気回路的に接続しているピンヘッ
   ドを設け、該ピンヘッドは変換ボード面に一様に分布せ
   ず、変換ボード面の一部の面に密集していることからな
   るプリント基盤テスト用のスーパーアダプタ
2. （２）ピンヘッドを変換ボード面の外側に密集させたこ
   とを特徴とする特許請求の範囲（１）記載のプリント基
   盤テスト用のスーパーアダプタ
3. （３）ピンヘッドを変換ボード面の中央の内側に密集さ
   せたことを特徴とするプリント基盤検査用のスーパーア
   ダプタ
4. （４）ピンヘッドを変換ボード面の片側に密集させたこ
   とを特徴とするプリント基盤検査用のスーパーアダプタ
5. （５）変換用ボードの一方の面に他のスーパーアダプタ
   ピンヘッドの配列に対応して配列した差込・接触用ピン
   を設け、変換ボードの他方の面に前記各差込・接触用の
   ピンとそれぞれ接続しているピンヘッドを設け、該ピン
   ヘッドを変換ボード面に一様に分布せず、変換ボード面
   の一部の面において前記差込・接触用ピンの配列よりも
   更に密集した状態とすることからなる重畳用スーパーア
   ダプタ