JPH0192669A - Ｉｃ測定用キャリア - Google Patents
Ｉｃ測定用キャリアInfo
- Publication number
- JPH0192669A JPH0192669A JP62250518A JP25051887A JPH0192669A JP H0192669 A JPH0192669 A JP H0192669A JP 62250518 A JP62250518 A JP 62250518A JP 25051887 A JP25051887 A JP 25051887A JP H0192669 A JPH0192669 A JP H0192669A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- housing
- electrode pads
- bottom plate
- insulating bottom
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000012050 conventional carrier Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＩＣの検査工程において自動的にＩＣの電気
的測定を行なう為のハンドリング装置に関し、特にＩＣ
をハンドリング装置内にてハンドリングする時にＩＣを
保持するキャリアに関する。
的測定を行なう為のハンドリング装置に関し、特にＩＣ
をハンドリング装置内にてハンドリングする時にＩＣを
保持するキャリアに関する。
従来、この種のＩＣ測定用キャリアはフラット形ＩＣ及
びＰＧＡ形ＩＣ等に使われておりＩＣの形状が複雑な為
ハンドリング装置内でのひっかかりの防止及びリード曲
がりの防止を主な目的としており、第３図（、ａ）、（
ｂ）に示すようにＩＣのリード１１部分を保護する為の
溝部１２を有しかつパッケージ部を保持する構造となっ
ていた。
びＰＧＡ形ＩＣ等に使われておりＩＣの形状が複雑な為
ハンドリング装置内でのひっかかりの防止及びリード曲
がりの防止を主な目的としており、第３図（、ａ）、（
ｂ）に示すようにＩＣのリード１１部分を保護する為の
溝部１２を有しかつパッケージ部を保持する構造となっ
ていた。
上述した従来のＩＣ測定用キャリアは対応するパッケー
ジの種類毎に形状及び寸法が異なるという点に加え同じ
形状のパッケージでも大きさが変わることによりキャリ
アの外形寸法が変わってしまい、ハンドリング装置のキ
ャリア搬送機構を各キャリアに合わせて改造あるいは調
整しなければならず、加えて、ハンドリング装置内の電
気的測定部において直接キャリア上のＩＣのリードに電
極の接触子を接触させる為、ＩＣの形状やピン数に対応
した専用の電極を用意しなければならないという欠点が
ある。
ジの種類毎に形状及び寸法が異なるという点に加え同じ
形状のパッケージでも大きさが変わることによりキャリ
アの外形寸法が変わってしまい、ハンドリング装置のキ
ャリア搬送機構を各キャリアに合わせて改造あるいは調
整しなければならず、加えて、ハンドリング装置内の電
気的測定部において直接キャリア上のＩＣのリードに電
極の接触子を接触させる為、ＩＣの形状やピン数に対応
した専用の電極を用意しなければならないという欠点が
ある。
本発明のＩＣ測定用キャリアは、上部に設けられたＩＣ
着脱用空所及び裏面に複数の電極パッドを設けた絶縁性
底板を備え、所定の幅、長さ及び高さを有するハウジン
グと、前記ハウジング内の所定高さに設けられＩＣソケ
ットを支持する固定用ボードと、前記ＩＣソケットのそ
れぞれのピンと前記電極パッドのそれぞれの間の電気的
導通をとる接続手段とを含んでなるというものである。
着脱用空所及び裏面に複数の電極パッドを設けた絶縁性
底板を備え、所定の幅、長さ及び高さを有するハウジン
グと、前記ハウジング内の所定高さに設けられＩＣソケ
ットを支持する固定用ボードと、前記ＩＣソケットのそ
れぞれのピンと前記電極パッドのそれぞれの間の電気的
導通をとる接続手段とを含んでなるというものである。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の第１の実施例の断面斜視図である。
ハウジング１はＩＣ着脱用空所２を有す形状となってお
り内部にはソケット３が固定用ボード４に固定されてい
る。ハウジング１の絶縁性底板１′底面には電極パッド
７があり、ソケットのピン５と配線６により電気的接続
がされている。
り内部にはソケット３が固定用ボード４に固定されてい
る。ハウジング１の絶縁性底板１′底面には電極パッド
７があり、ソケットのピン５と配線６により電気的接続
がされている。
各種のパッケージにそれぞれ対応したソケット３のピン
５は配線６により絶縁性底板１′の配列位置の統一され
た電極パッド７と電気的接続がされており、ソケット３
にＩＣを挿入することによりＩＣのリードと電極パッド
７との間の導通がとられることになる。
５は配線６により絶縁性底板１′の配列位置の統一され
た電極パッド７と電気的接続がされており、ソケット３
にＩＣを挿入することによりＩＣのリードと電極パッド
７との間の導通がとられることになる。
ハウジング１の外形寸法（Ｗ、Ｌ、Ｈ）は各種のパッケ
ージに対して統一し、ＩＣ着脱用空所２の部分の寸法（
Ｗ′、Ｄ′）を各種のパッケージに固有の値にすること
により、ＩＣの種類に応じてハンドリング装置を改造し
たり調整し直したりする必要がなくなる。
ージに対して統一し、ＩＣ着脱用空所２の部分の寸法（
Ｗ′、Ｄ′）を各種のパッケージに固有の値にすること
により、ＩＣの種類に応じてハンドリング装置を改造し
たり調整し直したりする必要がなくなる。
第２図は本発明の第２の実施例の断面斜視図である。
第１の実施例の配線６の代わりにハウジング１の絶縁性
底板１”にピンコネクタ８及びビンコネクタ８と電極パ
ッド７との間を電気的に接続する配線パターン９を有す
る構造となっている。ソケットのピン５をビンコネクタ
８に挿入することによりソケット３の各ピンと電極パッ
ド７との導通がとれ複雑な配線作業が不要になるので、
接続の信頼性が高くなるなどの利点がある。
底板１”にピンコネクタ８及びビンコネクタ８と電極パ
ッド７との間を電気的に接続する配線パターン９を有す
る構造となっている。ソケットのピン５をビンコネクタ
８に挿入することによりソケット３の各ピンと電極パッ
ド７との導通がとれ複雑な配線作業が不要になるので、
接続の信頼性が高くなるなどの利点がある。
以上説明したように、本発明はハウジングの外形寸法を
各種の形状及び寸法のパッケージに対して統一すること
により、ＩＣの電気的測定の為のハンドリング装置が各
種の形状及び寸法のパッケージに対して１種類しか必要
でなくかつ、電極パッドの配列位置が統一されているな
め、ハンドリング装置内の電気的測定部において電極が
１種類しか必要でない為にハンドリング機構が極めて簡
単な構造となりハンドリング装置内のひっかかりの防止
ができ、測定作業が円滑に行えるという効果がある。
各種の形状及び寸法のパッケージに対して統一すること
により、ＩＣの電気的測定の為のハンドリング装置が各
種の形状及び寸法のパッケージに対して１種類しか必要
でなくかつ、電極パッドの配列位置が統一されているな
め、ハンドリング装置内の電気的測定部において電極が
１種類しか必要でない為にハンドリング機構が極めて簡
単な構造となりハンドリング装置内のひっかかりの防止
ができ、測定作業が円滑に行えるという効果がある。
又ハンドリング装置内の電極の接触子が直接ＩＣのリー
ドに接触しない為、電気的測定を多数回繰り返してもＩ
Ｃのリードの損傷が少ない、高温測定時の電極の接触子
へのハンダくずの耐着−５＝ 笠、電気的測定の信頼性の低下を防げるなどの効′ 果
もある。
ドに接触しない為、電気的測定を多数回繰り返してもＩ
Ｃのリードの損傷が少ない、高温測定時の電極の接触子
へのハンダくずの耐着−５＝ 笠、電気的測定の信頼性の低下を防げるなどの効′ 果
もある。
第１図は本発明の第１の実施例の断面斜視図、第２図は
本発明の第２の実施例の断面斜視図、第３図（ａ）、（
ｂ）はそれぞれは従来のキャリアにフラット形ＩＣを保
持している状態の平面図及び正面図である。 １・・・ハウジング、１′・・・絶縁性底板、２・・・
ＩＣ着脱用空所、３・・・ソケット、４・・・固定用ボ
ード、５・・・ピン、６・・・配線、７・・・電極パッ
ド、８・・・ビンコネクタ、９・・・配線パターン、１
０・・・フラット形ＩＣ５１１・・・リード、１２・・
・溝部、１３・・・ＩＣ固定用つめ、１４・・・ベース
。
本発明の第２の実施例の断面斜視図、第３図（ａ）、（
ｂ）はそれぞれは従来のキャリアにフラット形ＩＣを保
持している状態の平面図及び正面図である。 １・・・ハウジング、１′・・・絶縁性底板、２・・・
ＩＣ着脱用空所、３・・・ソケット、４・・・固定用ボ
ード、５・・・ピン、６・・・配線、７・・・電極パッ
ド、８・・・ビンコネクタ、９・・・配線パターン、１
０・・・フラット形ＩＣ５１１・・・リード、１２・・
・溝部、１３・・・ＩＣ固定用つめ、１４・・・ベース
。
Claims (1)
- 上部に設けられたＩＣ着脱用空所及び裏面に複数の電極
パッドを設けた絶縁性底板を備え、所定の幅、長さ及び
高さを有するハウジングと、前記ハウジング内の所定高
さに設けられＩＣソケットを支持する固定用ボートと、
前記ＩＣソケットのそれぞれのピンと前記電極パッドの
それぞれの間の電気的導通をとる接続手段とを含んでな
ることを特徴とするＩＣ測定用キャリア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62250518A JPH0192669A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | Ｉｃ測定用キャリア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62250518A JPH0192669A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | Ｉｃ測定用キャリア |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0192669A true JPH0192669A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17209084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62250518A Pending JPH0192669A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | Ｉｃ測定用キャリア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0192669A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5080338A (en) * | 1990-07-30 | 1992-01-14 | Harris Graphics Corporation | Folding apparatus for rotary printing machine |
| US5522586A (en) * | 1994-09-07 | 1996-06-04 | Rockwell International Corporation | Folding apparatus with multiple speed folding jaw cylinder |
| US6752751B2 (en) | 2001-02-23 | 2004-06-22 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Folder with multiple-motor drive |
-
1987
- 1987-10-02 JP JP62250518A patent/JPH0192669A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5080338A (en) * | 1990-07-30 | 1992-01-14 | Harris Graphics Corporation | Folding apparatus for rotary printing machine |
| US5522586A (en) * | 1994-09-07 | 1996-06-04 | Rockwell International Corporation | Folding apparatus with multiple speed folding jaw cylinder |
| US6752751B2 (en) | 2001-02-23 | 2004-06-22 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Folder with multiple-motor drive |
| US7090632B2 (en) | 2001-02-23 | 2006-08-15 | Goss International Americas, Inc. | Folder with multiple-motor drive |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100393316B1 (ko) | 반도체디바이스시험장치 | |
| US5205741A (en) | Connector assembly for testing integrated circuit packages | |
| US4862076A (en) | Test point adapter for chip carrier sockets | |
| JPH10185947A (ja) | プローブ・アダプタ | |
| KR19990023042A (ko) | 테스트단자부착 반도체 장치 및 아이씨 소켓 | |
| JP2509285B2 (ja) | 半導体装置の試験方法 | |
| JP4334473B2 (ja) | オープン／ショートテスタのためのマルチソケット基盤 | |
| US3999827A (en) | Electrical connector for semiconductor device package | |
| JPH0628273B2 (ja) | Ｉｃ支持フィルムとそれを塔載したキャリア | |
| US5581195A (en) | Semiconductor chip holding device | |
| JPH0192669A (ja) | Ｉｃ測定用キャリア | |
| US3955867A (en) | Integrated circuit package connector with probing facility | |
| JP2705332B2 (ja) | Ｉｃデバイスの電気的特性測定装置 | |
| JP3052874B2 (ja) | Ｂｇａ型半導体装置のプローブ装置 | |
| JPH0744205B2 (ja) | プローブカード取付方法 | |
| JPS6041729Y2 (ja) | ウエハプロ−ブカ−ド | |
| JPH0345187Y2 (ja) | ||
| JPH039280A (ja) | Ｉｃの検査方法 | |
| JPS6325573A (ja) | 集積回路のテストボ−ド | |
| JP3259355B2 (ja) | Ｉｃデバイスの電気的特性測定装置 | |
| KR0136814Y1 (ko) | 반도체 장치의 메뉴얼 소켓 | |
| JPH04306578A (ja) | 電子デバイスソケットとそれを実装した回路基板 | |
| JPH04110988U (ja) | 半導体検査装置のテストボード構造 | |
| KR20000016127A (ko) | 반도체 패키지 및 디바이스 소켓_ | |
| JPH02162671A (ja) | Ｉｃパッケージ変換用ソケット |