KR100747653B1

KR100747653B1 - 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛

Info

Publication number: KR100747653B1
Application number: KR1020060129184A
Authority: KR
Inventors: 최준호
Original assignee: 주식회사 코디에스
Priority date: 2006-03-10
Filing date: 2006-12-18
Publication date: 2007-08-08

Abstract

본 발명은 미세한 픽셀피치를 가지는 대형 액정 디스플레이(LCD)를 용이하게 검사할 수 있도록 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛에 관한 것으로서, 하우징의 배면에 마련되는 티씨피 블록과, 상기 티씨피(Tape Carrier Package-TCP) 블록의 하단에 마련되는 아이씨부와, 상기 아이씨부에 일단이 연결되어 있고 타단은 티씨피 블록을 거쳐 상기 하우징의 상단부로 연결되는 제1 에프피씨(Flexible Printed Circuit-FPC)와, 일단이 실리콘 봉에 상기 제1 에프피씨에 연결되는 제2 에프피씨와, 상기 제2 에프피씨 상부에 구비되는 포고부로 이루어진 평판 디스플레이를 검사하는 프로브 유닛에 있어서, 팁 전단부에 돌출부가 형성되어 있는 제1 블레이드 팁; 상기 제1 블레이드 팁의 돌출부와 상호간에 대향되지 않도록 돌출부가 형성되어 있는 제2 블레이드 팁; 복수의 슬릿이 일정한 간격으로 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제1 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제1 슬릿부; 상기 제1 슬릿부의 슬릿과 이격된 위치에 슬릿이 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제2 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제2 슬릿부;를 포함하며, 상기 제1 슬릿부 및 제2 슬릿부는, 에폭시 본딩에 의해 상기 하우징의 외측 하단부에 고정, 결합되는 것을 특징으로 한다.

프로브, 평판, 패널, 디스플레이, 지그재그, zigzag

Description

평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛{PROBE UNIT FOR INSPECTION OF FLAT DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명에 따른 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛의 조립 사시도.

도 2는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛의 분해 사시도.

도 3은 도 1에 도시된 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛의 저면 사시도.

도 4는 도 2에 도시된 슬릿에 핀이 결합되는 상태를 나타내는 부분 확대 사시도.

도 5는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛을 나타내는 단면도.

* 도면의 주요 부호에 대한 설명 *

100 : 프로브 유닛 2 : 하우징

4 : 티씨피 블록 6 : 아이씨부

8 : 제1 에프피씨 10 : 실리콘 봉

12 : 제2 에프피씨 14 : 고정플레이트

16 : 돌출부 18 : 제1 블레이드 팁

20 : 돌출부 22 : 제2 블레이드 팁

24 : 슬릿 26 : 제1 슬릿부

28 : 슬릿 30 : 제2 슬릿부

32 : 완충부재 34 : 제1 밸런스 조정수단

38 : 제2 밸런스 조정수단 40 : 중공

42 : 가이드 바

본 발명은 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 미세한 픽셀피치를 가지는 대형 액정 디스플레이(LCD)를 용이하게 검사할 수 있도록 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛에 관한 것이다.

액정 디스플레이(LCD)와 같은 평판형 디스플레이 장치는 생산과정 중에 평판형 디스플레이 장치에 사용되는 패널의 불량여부를 검사하는 과정이 수행된 후, 조립되어 평판형 디스플레이 장치로 조립된다.

즉, 조립 전의 평판 디스플레이 패널에서 드라이브 아이씨(Drive IC)가 부착되는 검사용 패드에 검사용 프로브를 접촉시킨 후 드라이브 아이씨에서 검사용 프로브로 인가되는 전원 및 제어신호를 검사용 패드를 통해 패널부로 인가시켜 평판 디스플레이 패널을 점등시킨 후 디스플레이 패널의 얼룩 및 디스플레이와 관련된 전반적인 검사가 이루어지도록 하여 디스플레이 패널의 불량여부를 확인하기 위한 테스트 과정이 이루어진다.

액정 디스플레이(LCD)가 대형화되어 가면서, 상기 액정 디스플레이(LCD)의 픽셀 피치가 미세화되어 감에 따라 대형 액정 디스플레이(LCD)를 검사하는 프로브 유닛의 탐침블레이드 배치간격도 미세화 되어야 하는데, 종래 탐침부재는 일정한 두께나 직경을 가지므로 평행하게 배열하였을 경우 두께나 직경에 의해 피치(간격)를 미세화하는데 한계가 있다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로서, 본 발명의 목적은 상층에 있는 탐침 블레이드가 하층에 있는 탐침 블레이드들 사이에 위치되도록 하여 상하층에 있는 탐침 블레이드가 지그재그(zigzag) 형상으로 위치되도록 다층의 프로브 블록을 제작하여 전극 간격이 미세한 대형 액정 디스플레이(LCD)의 경우에도 용이하게 검사할 수 있도록 하기 위한 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일 실시예는, 하우징의 배면에 마련되는 티씨피 블록과, 상기 티씨피(Tape Carrier Package-TCP) 블록의 하단에 마련되는 아이씨부와, 상기 아이씨부에 일단이 연결되어 있고 타단은 티씨피 블록을 거쳐 상기 하우징의 상단부로 연결되는 제1 에프피씨(Flexible Printed Circuit-FPC)와, 일단이 실리콘 봉에 의해 상기 제1 에프피씨에 연결되는 제2 에프피씨와, 상기 제2 에프피씨 상부에 구비되는 고정플레이트로 이루어진 평판 디스플레이를 검사하는 프로브 유닛에 있어서, 팁 전단부에 돌출부가 형성되어 있는 제1 블레이드 팁; 상기 제1 블레이드 팁의 돌출부와 상호간에 대향되지 않도록 돌출부가 형성되어 있는 제2 블레이드 팁; 복수의 슬릿이 일정한 간격으로 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제1 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제1 슬릿부; 상기 제1 슬릿부의 슬릿과 이격된 위치에 슬릿이 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제2 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제2 슬릿부;를 포함하며, 상기 제1 슬릿부 및 제2 슬릿부는, 에폭시 본딩에 의해 상기 하우징의 외측 하단부에 고정, 결합되는 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 제1 블레이드 팁 및 제2 블레이드 팁은, 양측단부에 중공이 형성되어 있으며, 상기 중공에 가이드 바가 끼워져 복수의 블레이드 팁이 일정한 간격으로 이격된 상태로 연결되도록 하는 것이 바람직하다.

상기 가이드 바의 재질은, 세라믹이다.

상기 가이드 바는, 그 단면이 사각형인 것이 바람직하다.

본 발명에 따른 상기 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛은, 상기 하우징에 완충부재를 통해 결합되어 상기 제1 블레이드 팁 및 제2 블레이드 팁의 좌우 밸런스 및 핀압을 조절하는 제1 밸런스 조정수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

그리고, 본 발명에 따른 상기 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛은, 상기 하우징에 상부 플레이트를 통해 결합되어 상기 티씨피 블록의 좌우 밸런스 및 후단 핀압을 조절하는 제2 밸런스 조정수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 제1, 제2 밸런스 조정수단은, 무두렌치 볼트인 것이 바람직하다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.

도 1 내지 도 5에 도시된 바에 의하면, 상기 프로브 유닛(100)은, 하우징(2)의 배면에 마련되는 티씨피(Tape Carrier Package-TCP) 블록(4)과, 상기 티씨피 블록(4)의 하단에 마련되는 아이씨부(6)와, 상기 아이씨부(6)에 일단이 연결되어 있고 타단은 티씨피 블록(4)을 거쳐 상기 하우징(2)의 상단부로 연결되는 제1 에프피씨(Flexible Printed Circuit-FPC)(8)와, 일단이 실리콘 봉(10)에 의해 상기 제1 에프피씨(8)에 연결되는 제2 에프피씨(12)와, 상기 제2 에프피씨(12) 상부에 구비되는 고정플레이트(14)와, 팁 전단부에 돌출부(16)가 형성되어 있는 제1 블레이드 팁(18)과, 상기 제1 블레이드 팁(18)의 돌출부(16)와 상호간에 대향되지 않도록 돌출부(20)가 형성되어 있는 제2 블레이드 팁(22)과, 복수의 슬릿(24)이 일정한 간격으로 형성되어 있으며, 상기 슬릿(24)에 상기 제1 블레이드 팁(18)의 돌출부(16)가 끼워져서 결합되는 제1 슬릿부(26)와, 상기 제1 슬릿부(26)의 슬릿(24)과 이격된 위치에 슬릿(28)이 형성되어 있으며, 상기 슬릿(28)에 상기 제2 블레이드 팁(22)의 돌출부(20)가 끼워져서 결합되는 제2 슬릿부(30)와, 상기 하우징(2)에 완충부재(32)를 통해 결합되어 상기 제1 블레이드 팁(18) 및 제2 블레이드 팁(22)의 좌우 밸런스 및 핀(1)압을 조절하는 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)을 포함한다.

그리고 상기 제1 슬릿부(26) 및 제2 슬릿부(30)는, 에폭시 본딩에 의해 상기 하우징(2) 외측 하단부에 고정결합된다.

또한 상기 제1 블레이드 팁(18) 및 제2 블레이드 팁(22)은 양측단부에 중공(40)이 형성되어 있으며, 상기 중공(40)에 가이드 바(42)가 끼워져 복수의 블레이드 팁(18,22)이 일정한 간격으로 이격된 상태로 연결된다.

상기 가이드 바(42)의 재질은, 세라믹이며, 그 단면이 사각형이다.

상기 제1, 제2 밸런스 조정수단(34)(38)은 무두렌치 볼트 또는 육각 볼트 중 어느 하나를 이용한다.

상기와 같이 구성된 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛의 작용에 대해 설명하면 다음과 같다.

상기 슬릿(24,28)의 피치가 70㎛인 슬릿부(26,30)를 지그재그(zigzag)로 배치시킴으로써, 35㎛피치를 검사할 수 있는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛(100)을 구현할 수 있다.

즉, 70㎛ 피치로 슬릿(24,28)이 형성되어 있는 2개의 슬릿부(26,30)를 상기 슬릿(24,28)이 엇갈리도록 배치한 후 상기 슬릿(24)에 제1 블레이드 팁(18)의 돌출부(16)를 끼워서 결합시킨다. 그리고 상기 슬릿(26)에는 제 2 블레이드 팁(22)의 돌출부(20)를 끼워서 결합시킨다. 그러면 상기 제1 블레이드 팁(18)과 제1 블레이드 팁(18) 사이에 제2 블레이드 팁(22)이 위치되고, 상기 제2 블레이드 팁(22)과 제2 블레이드 팁(22) 사이에 제1 블레이드 팁(18)이 위치된다. 결국은 35피치의 블레이드 팁을 갖는 프로브 유닛(100)을 제공할 수 있게 된다.

상기 제1, 제2 슬릿부(26,30)에 블레이드 팁(18,22)을 모두 끼워서 결합시킨 후, 에폭시 본딩 방식을 이용하여 하우징(2) 끝단부에 부착 고정시켜 프로브 블록(1)을 형성시킨다.

그리고 상기 블레이드 팁(18,22)에 형성되어 있는 중공(40)에 단면이 사각형인 가이드 바(42)를 결합시켜 한쌍의 사이드 커버에 형성되어 있는 중공에 끼워져 결합한다. 이때 상기 가이드 바(42)를 사각형상으로 제작함으로써 웨이브(Wave)되는 현상을 제거할 수 있다.

또한 상기 하우징(2)에서 상기 슬릿부(26,30)가 부착 고정되는 위치에서 내측으로 홈(미도시)이 형성되어 있으며, 상기 홈(미도시)에 완충부재(32)가 결합된다.

즉, 상기 슬릿부(26,30)에 형성된 한쌍의 중공(40)과 동일 선상에 홈을 형성시켜 상기 홈에는 완충부재(32)가 결합되고, 상기 중공(40)에는 가이드 바(42)가 결합되어 상기 가이드 바(42) 상면과 완충부재(32)가 서로 접촉된 상태로 위치하게 되며, 상기 완충부재(32)를 후술하는 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)을 이용해 가압 강도를 조절함으로써 상기 제1,2 블레이드 팁(18,22) 및 핀(1)에 가해지는 압력을 조절할 수 있게 된다.

그리고 상기 고정플레이트(14)와 상기 하우징(2) 사이에 제2 에프피씨(12)를 위치시켜 고정플레이트(14)와 하우징(2)을 결합시킨 후 상기 고정플레이트(14)를 관통시켜 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)을 결합한다. 이때 상기 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)은 상기 완충부재(32) 상면에 위치하도록 하고, 상기 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)으로 하여금 완충부재(32)를 가압하게 하여 핀(1)에 가해지는 압력을 조절할 수 있게 하고 있다.

즉, 상기 제1 밸런스 조정수단(34)을 전면부에 한쌍 마련하고, 제2 밸런스 조정수단(38)을 상기 제1 밸런스 조정수단(34)과 동일 선에 마련하여 나사의 조입과 풀림에 의해 한쌍의 완충부재(32)를 각각 가압함으로써 상기 제1,2 블레이드 팁(18,22) 및 핀(1)에 가해지는 압력을 조절할 수 있게 된다.

여기서 상기 제1,2 밸런스 조정수단(34,38)은 무두렌치 볼트 또는 육각 볼트 중 어느 하나로 이루어지는 것이 바람직하다.

또한, 상기 프로브 블록(1)과 티씨피 블록(4)이 일체형 구조로 이루어져 있어, 후단의 핀 미스를 최소화시킬 수 있다. 즉, 피치가 매우 미세하기 때문에 프로브 블록(1) 하나에 각기 다른 로트(Lot)를 가진 티씨피 블록(4)을 체결하는 경우 일치시키기 어렵기 때문에 프로브 블록(1)과 그에 상응하는 티씨피 블록(4)을 전용으로 제작하여 1:1로 접촉하는 구조를 갖도록 한다. 좀더 상세히 기술하면, 도 1 및 도 5에 도시된 바와 같이 상기 티씨피 블록(4)은 프로브 블록(1)으로 신호를 전달하는 매체이기 때문에, 프로브 블록(1)에 내장되는 형태이다.

이상 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시켜 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.

상술한 바와 같은 본 발명의 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛에 따르면, 상층에 있는 탐침 블레이드가 하층에 있는 탐침 블레이드들 사이에 위치되도록 하여 상하층에 있는 탐침 블레이드가 지그재그(zigzag) 형상으로 위치되도록 다층의 프로브 블록을 제작하여 전극 간격이 미세한 대형 액정 디스플레이(LCD)의 경우에도 용이하게 검사할 수 있도록 하는 효과가 있다.

또한, 본 발명은 제1, 제2 블레이드 팁의 전장을 기존의 블레이드 팁의 전장보다 절반의 크기를 갖도록 하는 한편, 가이드 바인 세라믹 바를 사각형 구조로 설계하여 웨이브(wave)되는 현상을 제거할 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims

하우징의 배면에 마련되는 티씨피 블록과, 상기 티씨피(Tape Carrier Package-TCP) 블록의 하단에 마련되는 아이씨부와, 상기 아이씨부에 일단이 연결되어 있고 타단은 티씨피 블록을 거쳐 상기 하우징의 상단부로 연결되는 제1 에프피씨(Flexible Printed Circuit-FPC)와, 일단이 실리콘 봉에 의해 상기 제1 에프피씨에 연결되는 제2 에프피씨와, 상기 제2 에프피씨 상부에 구비되는 고정플레이트로 이루어진 평판 디스플레이를 검사하는 프로브 유닛에 있어서,

팁 전단부에 돌출부가 형성되어 있는 제1 블레이드 팁;

상기 제1 블레이드 팁의 돌출부와 상호간에 대향되지 않도록 돌출부가 형성되어 있는 제2 블레이드 팁;

복수의 슬릿이 일정한 간격으로 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제1 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제1 슬릿부; 및

상기 제1 슬릿부의 슬릿과 이격된 위치에 슬릿이 형성되어 있으며, 상기 슬릿에 상기 제2 블레이드 팁의 돌출부가 끼워져서 결합되는 제2 슬릿부;를 포함하며,

상기 제1 슬릿부 및 제2 슬릿부는, 에폭시 본딩에 의해 상기 하우징의 외측 하단부에 고정, 결합되는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛.
제 1 항에 있어서, 상기 제1 블레이드 팁 및 제2 블레이드 팁은,

양측단부에 중공이 형성되어 있으며, 상기 중공에 가이드 바가 끼워져 복수의 블레이드 팁이 일정한 간격으로 이격된 상태로 연결되도록 하는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛.
제 2 항에 있어서, 상기 가이드 바의 재질은,

세라믹인 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛.
제 3 항에 있어서, 상기 가이드 바는,

그 단면이 사각형인 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛.
제 1 항에 있어서, 상기 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛은,

상기 하우징에 완충부재를 통해 결합되어 상기 제1 블레이드 팁 및 제2 블레이드 팁의 좌우 밸런스 및 핀압을 조절하는 제1 밸런스 조정수단 및 제2 밸런스 조정수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이 검사용 프로브 유닛.
삭제
제 5 항에 있어서, 상기 제1 밸런스 조정수단 및 제2 밸런스 조정수단은,

무두렌치 볼트인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 검사용 프로브 유닛.