CN111060769B - 一种测试系统和测试方法 - Google Patents

Abstract

一种测试系统和方法，系统包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；测试连接装置包括：待测设备连接件，包括固定测试板以及设置在固定测试板表面的测试组件，测试组件包括多个测试端和测试接头，测试接头用于将多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；测试设备连接件包括滑动组件，滑动组件包括可直线运动的滑动块，设置在滑动块表面的支撑杆，设置在支撑杆另一端的移动测试板，设置在移动测试板表面的引入端及与引入端电连接的外引构件，引入端可与测试探头电连接；水平驱动组件，推动滑动块相对于固定测试板作水平直线运动，使外引构件与不同的测试端依次建立电连接。本发明能够自动完成对待测线路的测试连接。

Description

一种测试系统和测试方法

技术领域

本发明涉及测试领域，更具体地，涉及一种测试系统和测试方法。

背景技术

眼图(Eye Diagram)是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形，它包含丰富的信息，体现了数字信号整体的特征，是对数字信号质量的一种快速而又非常直观的观测手段，工程师可以通过眼图迅速得到待测信号的实测参数，并且可以据此来预判在现场可能发生的问题。因此，利用眼图进行分析是高速互连系统信号完整性分析的核心。在通信领域中，以太网的应用占有着重要地位，为保证不同以太网设备之间的互通性，就必须按照IEEE802.3标准要求进行一致性测试，其中，对于以太网端口的眼图测试也是一项用于判断信号完整性的非常重要的测试。

相关技术中，对于以太网端口进行眼图测试时，通常需要使用示波器、专用的示波器探头以及用于待测信号外引的夹具，而测试不同速率的以太网端口需要选择不同的测试对象，例如，对于100M以太网端口，在眼图测试时需要测试两对信号(一对发送信号以及一对自交叉后的信号)；而对于1000M以太网端口，在眼图测试时需要测试四对双向数据信号(BI、DA+/-，BI、DB+/-，BI、DC+/-,BI、DB+/-)；对于每一对信号的测试都需要首先将待测信号线对与外引夹具连接，示波器测试端口与专用示波器探头连接，然后，将专用示波器探头与夹具对应的测试点通过接触形成电连接，由此完成针对一个待测信号对的测试回路连接，通过探头采集数字信号，在示波器上形成眼图显示。上述过程中所有的连接过程都需要手动完成，而且每完成一个信号对的测试，又需要手动进行针对下一待测信号对的测试回路连接，当被测设备的以太网端口较多时，势必会导致人工操作频次高，工作效率低，并且还可能人为产生的连接错误。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试系统和测试方法，能够自动完成对待测线路的测试连接。

本申请提供了一种测试系统，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；

其中：所述的测试连接装置，包括：

待测设备连接件，包括固定测试板以及设置在所述固定测试板表面的测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括滑动组件，所述滑动组件包括可直线运动的滑动块，设置在所述滑动块表面的支撑杆，设置在所述支撑杆的另一端的移动测试板，以及设置在所述移动测试板表面的引入端及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；

水平驱动组件，所述水平驱动组件推动所述滑动块相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。

在一示例性实施例中，所述固定测试板为方形板；

所述多个测试接头按照第一预设距离间隔布置，所述多个测试端被分为多组；每组测试端中的测试端数量与一个测试接头的信号引出端一致，并且一一对应地电连接。

在一示例性实施例中，每个测试接头对应的测试端组之间按照第二预设距离间隔布置，且每组测试端中各测试端等距离均布。

在一示例性实施例中，两个相邻测试接头之间的距离大于该两个相邻测试接头对应的两组测试端之间的距离。

在一示例性实施例中，与待测设备的待测线路连接的所述测试接头的信号引出端与测试端之间通过不同的布线层改变电连接顺序，使所述水平驱动组件推动所述滑动块作直线运动时，所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。

在一示例性实施例中，所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面；

所述外引构件一端固定，另一端向所述固定测试板延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述外引构件向所述固定测试板延伸的另一端为具有双连接端的弹片，所述弹片的双连接端间隔设置，且所述双连接端可与两个需要同时测试的测试端同时接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述引入端包括设置在所述移动测试板表面的插针。

在一示例性实施例中，所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述固定测试板的表面；

所述引入端包括固定在所述移动测试板表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述固定测试板的延伸段；

所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，所述双连接端可与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置还包括：

设置在所述滑动块表面的垂直驱动组件，所述垂直驱动组件推动所述移动测试板沿支撑杆做升降运动。

在一示例性实施例中，所述双连接端为具有向下开口的双插孔。

在一示例性实施例中，所述凸起段上设置插针。

在一示例性实施例中，所述滑动组件还包括：

直线导轨，所述水平驱动组件推动所述滑动块沿所述直线导轨作直线运动。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置还包括：

基准板，所述基准板为所述固定测试板的安装平面以及滑动块的运动基准平面，且所述直线导轨设置在所述基准板上。

本发明还提供了一种测试方法，应用于如前所述的测试系统，包括：

将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与所述测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述移动测试板可相对于固定测试板作水平直线运动，通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面或者所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

本申请还提供了一种测试方法，应用于如前所述的测试系统，包括：

将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述移动测试板相对于所述固定测试板可作水平直线运动和垂直运动，通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述移动测试板相对于固定测试板的水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件移动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

与相关技术相比，本申请包括含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；其中：所述的测试连接装置，包括：待测设备连接件，包括固定测试板以及设置在所述固定测试板表面的测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；测试设备连接件，包括滑动组件，所述滑动组件包括可直线运动的滑动块，设置在所述滑动块表面的支撑杆，设置在所述支撑杆的另一端的移动测试板，以及设置在所述移动测试板表面的引入端及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；水平驱动组件，所述水平驱动组件推动所述滑动块相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。本申请能够自动完成对待测线路的测试连接。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为相关技术以太网端口的接头线序示意图；

图2为本发明实施例中测试接头外引线信号的布线示意图；

图3为本发明一种实施例给出的测试方法流程图；

图4为本发明另一种实施例给出的测试方法流程图；

图5为本发明应用示例给出的一种测试连接装置示意图；

图6为本发明应用示例给出的另一种测试连接装置示意图。

具体实施方式

本申请描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本申请所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。

本申请包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本申请已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本申请中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。

此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本申请实施例的精神和范围内。

本申请提供了一种测试系统，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；其中：所述的测试连接装置，包括：

待测设备连接件，包括固定测试板以及设置在所述固定测试板表面的测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括滑动组件，所述滑动组件包括可直线运动的滑动块，设置在所述滑动块表面的支撑杆，设置在所述支撑杆的另一端的移动测试板，以及设置在所述移动测试板表面的引入端及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；

水平驱动组件，所述水平驱动组件推动所述滑动块相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。

本申请可实现对待测设备的多个待测线路的自动连接测试。

作为一种示例性实施例，上述固定测试板可以为方形板，如矩形板；

所述多个测试接头按照第一预设距离间隔布置，所述多个测试端被分为多组；每组测试端中的测试端数量与一个测试接头的信号引出端一致，并且一一对应地电连接。每个测试接头对应的测试端组之间按照第二预设距离间隔布置，且每组测试端中各测试端等距离均布。示例性的，两个相邻测试接头之间的距离大于该两个相邻测试接头对应的两组测试端之间的距离。

作为一种示例性实施例，与待测设备的待测线路连接的所述测试接头的信号引出端与测试端之间通过不同的布线层改变电连接顺序，使所述水平驱动组件推动所述滑动块作直线运动时，所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。如，本申请每个测试接头分别与所述待测设备的一个待测以太网端口匹配连接，由于以太网端口的接头线序示意图如图1所示，对于100M以太网端口而言，需要进行测试的测试线对为：1/2、3/6；对于1000M以太网端口而言，需要进行测试的测试线对为：1/2、3/6、4/5、7/8；此时，测试线对3/6所对应的测试端、以及测试线对1/2、4/5、7/8所对应的测试端，在一组测试端中各测试端的位置按照1-8顺序排布的情况，则无法保证每次待测的测试端之间的角度相同(3/6与其它角度不同)，由此可以在测试接头的信号引出端与测试端之间利用PCB不同的布线层改变连接顺序，当外引构件具有双连接端时，使得需要同时被测的两个测试端之间的距离均与外引构件的双连接端之间的距离相等，示例性的走线可以如图2所示，其中，实线和虚线表明连接线在PCB中的不同布线层，此时，明显连续被测的两个测试端之间距离可以相等。

实施例一，

所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面；所述外引构件一端固定且与所述引入端电连接，另一端向所述固定测试板延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

示例性的，所述外引构件向所述固定测试板延伸的另一端为具有双连接端的弹片，所述弹片的双连接端间隔设置，且所述双连接端可与两个需要同时测试的测试端同时接触建立电连接；所述引入端包括设置在所述移动测试板表面的导电部件，如插针，测试设备的测试探头通过所述导电部件与所述引入端连接，从而实现与所述测试设备连接件电连接。

作为一种实施例，所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述固定测试板的表面；所述引入端包括固定在所述移动测试板表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述固定测试板的延伸段；所述凸起段上设置导电部件，如插针，测试设备的测试探头通过所述导电部件与所述测试设备连接件电连接。所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，且所述双连接端可与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

实施例二，

在实施例一的基础上，所述测试连接装置还包括：

设置在所述滑动块表面的垂直驱动组件，所述垂直驱动组件推动所述移动测试板沿支撑杆做升降运动。

在该实施例中，当所述测试端包括通过引脚垂直设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端的外引构件可以为设置在所述延伸段的第二端且具有向下开口的双插孔。

作为一种示例性实施例，所述滑动组件还包括：

直线导轨，所述水平驱动组件推动所述滑动块沿所述直线导轨作直线运动。

对于上述结构说明一点，本申请的滑动块在水平驱动组件的推动下可以直接滑动，但是设置了直线导轨会减少滑动块直线运动过程中对于水平驱动组件中的部件(如丝杠)的扭矩影响，使得直线运动不仅稳定可靠，而且延长水平驱动组件的使用寿命。

作为一种示例性实施例，所述测试连接装置还包括：

基准板，所述基准板为所述固定测试板的安装平面以及滑动块的运动基准平面，且所述直线导轨设置在所述基准板上。基准板是所述固定测试板和所述直线导轨的安装基准，可通过本领域普通技术人员已知的其它构件和方法实现所述固定测试板和所述直线导轨在其上的安装和固定，并且保持相对位置不变。

本发明实施例还提供了一种测试方法，如图3所示，所述方法包括：

步骤S301：将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

步骤S302：将测试设备的测试探头与所述测试连接装置中的引入端建立电连接；

步骤S303：所述移动测试板可相对于固定测试板作水平直线运动，通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

所述测试连接装置包括采用如实施例一所述的测试连接装置。

作为一种示例性实施例，通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试，包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面或者所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

上述判断存在需测试的下一组待测线路的方法包括：

当已测试的待测线路的数量小于预先设置的待测线路的数量时，则判断存在需测试的下一组待测线路；或

当所述测试连接装置中的测试接头与该测试接头连接的测试端之间存在电连接，则判断存在需测试的下一组待测线路。

本申请还提供一种测试方法，如图4所示，所述方法包括：

步骤S401：将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

步骤S402：将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

步骤S403：所述移动测试板相对于所述固定测试板可作水平直线运动和垂直运动，通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

所述测试连接装置包括采用如实施例二所述的测试连接装置。

作为一种示例性实施例，通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述移动测试板相对于固定测试板的水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件移动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

上述判断存在需测试的下一组待测线路的方法包括：

当已测试的待测线路的数量小于预先设置的待测线路的数量时，则判断存在需测试的下一组待测线路；或

当所述测试连接装置中的测试接头与该测试接头连接的测试端之间存在电连接，则判断存在需测试的下一组待测线路。

下面通过具体的应用示例对本发明所述的测试连接装置进行说明。

应用示例一

一种用于以太网端口的眼图测试系统，包括：含有测试探头的测试设备(例如，示波器)、如图5所述的测试连接装置、以及待测设备；所述的测试连接装置包括：示出为包括固定测试板1000的待测设备连接件、示出为包括滑动组件2000的测试设备连接件、水平驱动组件3000，基准板4000，其中：

所述固定测试板1000为矩形板，上表面设置有若干个按照预定距离间隔布置的测试接头1110，每个测试接头1110的信号引出端分别与一组测试端1120电连接，且每组测试端1120中的测试端数量与测试接头1110的信号引出端一致，并且一一对应地电连接；每个测试接头1110可分别与外部待测设备的一个待测以太网端口匹配连接；由此，每个测试接头1110可实现与待测设备的待测以太网端口对应的各待测线路的连接；每个测试接头1110和对应的一组测试端1120与相邻的测试接头1110和该相邻测试接头1110对应的一组测试端1120按照设定间隔(如，两个测试接头1110之间的距离大于两个相邻测试接头1110对应的两组测试端1120之间的距离)布置于固定测试板1000上，且各组测试端中各测试端等距离均布；此处，固定测试板1000可以为线路印制板PCB，所述的测试接头1110直接固定于其上，且该测试接头1110的信号引出端直接焊接于所述PCB的对应焊盘中，所述测试端1120为直接设置于PCB上的多个焊盘、铜片触点或者金手指等可以直接实现电连接的连接端；所述的测试接头1110的信号引出端与其对应的测试端1120通过PCB上的布线直接实现连接，从而增加连接可靠性；并且布线宽度和走向可以由本领域普通技术人员根据测试信号的情况作出不同的设计。当然，在其它的实施例中，固定测试板1000可以是部分的为PCB，该PCB包括测试接头1110、测试端1120以及两者的连接部分，该PCB嵌入其它材质的平板中共同构成固定测试板1000，由此降低制造成本。

所述滑动组件2000包括：可沿直线导轨3005直线运动的滑动块2001，在滑动块2001上设置的向上延伸的支撑杆2002，在支撑杆2002的另一端固定设置的移动测试板2003，以及引入端2004，所述引入端2004可通过例如导线与所述测试设备的探头连接，示例性的，可在所述引入端2004的一端设置有如图5所示的插针，方便外部连接，所述引入端2004还设置有一端外探的双连接端外引构件2200，且通过所述外引构件2200与所述固定测试板1000上设置的测试端1120可实现电连接；示例性的，所述外引构件2200可以为一端固定且与所述引入端2004电连接，另一端向固定测试板1000延伸的双连接端的弹片，且所述弹片的延伸长度为能与所述测试端1120连接。此处补充说明的是：对于外引构件2200与测试端1120的连接可以为：外引构件2200的两个连接端同时分别与两个测试端1120连接，且两个测试端1120对应于测试接头1110的两个信号输出端，即与待测以太网端口的一对测试引脚可形成电连接。由于在本实施例中，滑动组件2000上所设置的外引构件2200只是随着滑动块2001平移，其双连接端之间的距离是固定不变的，因此，在与两个测试端1120连接时，双连接端与对应测试端接触的连接位置之间的距离与固定测试板1000上设置的每组测试端1120中需要被同时测试的两个测试端之间的距离正好匹配相等。

所述水平驱动组件3000，可推动所述滑动块2001沿直线导轨3005作直线运动。示例性的，所述水平驱动组件3000包括电机、由电机驱动的滚珠丝杠部件以及将所述滑动块2001安装于所述滚珠丝杠工作台的安装部件；所述滚珠丝杠工作台结构、以及将所述滑动块2001安装于所述滚珠丝杠工作台的安装部件可以采用本领域普通技术人员已知的任何方式，此处不赘述；所述的电机可以为可编程步进电机，可根据每次带动滑动块2001运动的距离确定步进数；以及

所述基准板4000，为所述固定测试板1000的安装平面以及滑动块2001的运动基准平面，并设置有给其上的滑动块2001沿直线运动起导向作用的直线导轨3005；所述固定测试板1000利用铜柱等安装件安装于所述基准板4000的上方，且所述铜柱的长度为：所述外引构件2200正好搭接在所述测试端1120上的高度。

采用应用示例一所述的系统进行眼图测试的方法包括：

根据待测以太网端口的速率情况，将与待测以太网端口连接的测试接头1110与待测的测试端1120形成电连接；将作为外引构件2200的两个弹片设置为可与需要被同时测试的两个测试端1120分别实现电连接，并(例如，通过计算机等外部输入设备)对各待测以太网端口进行参数配置，使其处于待测状态；通过引入端2004与测试设备的测试探头实现电连接，启动对该待测设备测试端的眼图测试；当针对该待测设备测试端的眼图测试完成后，通过水平驱动组件3000驱动滑动块2001移动至下一个待测试位置，即：作为外引构件2200的两个弹片正好与当前需要待测试的测试端1120电连接，开始新一轮的测试。

在对第一个待测以太网端口进行测试前，将上述外引构件2200设置于初始位置，可以利用人工确定外引构件2200的初始位置，也可以通过位置传感器或限位开关等确定外引构件2200的初始位置；所述初始位置是利用该眼图测试系统进行自动化测试的起始位置，该初始位置可以位于第一个待测试位置之前的某个位置。外引构件2200从初始位置移动至第一个待测试位置的距离，以及从一个待测试位置移动到下一个待测试位置的距离可以由相关电机根据所需要输出的水平驱动距离实现控制。

所述根据待测设备待测试端口的速率情况，将测试接头与待测的测试端形成电连接，包括：

待测试端口的速率为100M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

待测试端口的速率为1000M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

上述眼图测试方法还可以适用于待测设备的待测试端口的速率为未知的情况，此时在将与待测以太网端口连接的测试接头1110与待测的测试端1120形成电连接之前，判断待测以太网端口是何种速率，典型的为100M还是1000M，包括：

通过水平驱动组件驱动滑动组件滑动至测试接头对应的信号源判断测试端(例如，待测试端口的以太网端口的第4、5引脚)判断信号源判断测试端是否接收到信号，如果接收到信号，则认为该待测以太网端口为1000M端口，如果没有接收到信号，则认为该待测以太网端口为100M端口。

信号源判断测试端为预先已知的1000M端口和100M端口的两个输出端，且在测试端口为不同速率时，表现为不同的输出信号形式，即：1000M端口存在输出信号，而100M端口不存在输出信号；而对于常用的以太网端口而言，信号源判断测试端可以为：作为待测设备的测试端口的以太网端口的第4、5引脚所对应的测试端。

需要说明的是：对于多个测试接头对应的多组测试端，是依次进行测量的；由于每组测试端中有多个测试端，因此一个测试接头对应多组测试记录。

在上述的测试方法中，无论是从初始位置到第一个测试接头与待测的测试端形成电连接时的位置移动或者同一个测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化、或者相邻测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化的驱动均由外部控制器控制驱动器执行，启动测试记录结果也均由控制器执行。

应用示例二

另一种用于以太网端口的眼图测试系统，包括：含有测试探头的测试设备(例如，示波器)、如图6所述的测试连接装置、以及待测设备；所述的测试连接装置包括：示出为包括固定测试板10000的待测设备连接件、示出为包括滑动组件20000的测试设备连接件、水平驱动组件30000、基准板50000以及垂直驱动组件40000，其中：

所述固定测试板10000为矩形板，上表面设置有若干个按照预定距离间隔布置的测试接头10110，每个测试接头10110的信号引出端分别与一组测试端10120电连接，且每组测试端10120中的测试端数量与测试接头10110的信号引出端一致，并且一一对应地电连接；每个测试接头10110可分别与外部待测设备的一个待测以太网端口匹配连接；由此，每个测试接头10110可实现与待测设备的待测以太网端口对应的各待测线路的连接；每个测试接头10110和对应的一组测试端10120与相邻的测试接头10110和该相邻测试接头10110对应的一组测试端10120按照设定间隔(如，两个测试接头10110之间的距离大于两个相邻测试接头10110对应的两组测试端10120之间的距离)布置于固定测试板10000上，且各组测试端10120中各测试端等距离均布；此处，固定测试板10000可以为线路印制板PCB，所述的测试接头10110直接固定于其上，且该测试接头10110的信号引出端直接焊接于所述PCB的对应焊盘中，所述测试端10120为设置于所述固定测试板10000上的等距离布置的插针端子，所述插针端子与所对应的测试接头10110平行布置，并可以通过引脚直接垂直焊接于所述PCB的对应焊盘中，用于插针端子焊接的焊盘与用于所述测试接头10110的信号引出端焊接的对应焊盘通过PCB上的布线直接实现连接，从而增加连接可靠性；并且布线宽度和走向可以由本领域普通技术人员根据测试信号的情况作出不同的设计。当然，在其他的实施例中，固定测试板10000可以是部分的为PCB，该PCB包括测试接头10110、测试端10120以及两者的连接部分，该PCB嵌入其它材质的平板中共同构成固定测试板10000，由此降低制造成本。

所述滑动组件20000包括：可沿直线导轨50003直线运动的滑动块20001，在滑动块20001上设置的向上延伸的支撑杆20002，在支撑杆20002的另一端设置有可沿支撑杆20002上下移动的移动测试板20003，所述移动测试板20003上设置有L型机构的引入端20004，所述引入端20004例如通过外接导线与所述测试设备的测试探头连接，用于测试数据的采集，所述引入端20004的一端固定于所述移动测试板20003上表面且还可设置有如5图所示的插针，方便外部连接，另一端向固定测试板10000方向延伸，且在延伸端还设置有具有2个向下开口插孔的外引构件20020，所述插孔间的距离与所述固定测试板10000上需要被同时电连接的两个插针端子间的距离相等，所述插孔可位于所述固定测试板10000上的插针端子上方；所述引入端20004带动设有插孔的外引构件20020可随着移动测试板20003的运动而同步运动，以使得所述插孔与插针端子可形成插接并实现电连接，；所述的同步运动包括：随着移动测试板20003的平行移动而同步平行移动，以及随着移动测试板20003的升降运动而同步升降。

所述水平驱动组件30000，可推动所述滑动块20001沿直线导轨50003作直线运动。示例性的，所述水平驱动组件30000可以包括：电机、由电机驱动的滚珠丝杠部件以及将所述滑动块20001安装于所述滚珠丝杠工作台的安装部件；所述滚珠丝杠工作台结构、以及将所述滑动块20001安装于所述滚珠丝杠工作台的安装部件可以采用本领域普通技术人员已知的任何方式，此处不赘述；所述的电机可以为可编程步进电机，可根据每次带动滑动块20001运动的距离确定步进数；

所述垂直驱动组件40000，安装于所述滑动块20001的上表面，用于推动所述移动测试板20003沿支撑杆20002作直线运动；其实现方式可以采用本领域普通技术人员已知的技术方案，只要能使所述移动测试板20003相对滑动块20001进行上下运动即可，其可由安装于所述滑动块20001上的电机、由电机驱动的滚珠丝杠部件以及将所述移动测试板20003安装于所述滚珠丝杠工作台的安装部件构成；也可以是由将移动测试板20003安装于其上的可升降平台来实现，可以由本领域普通技术人员根据实际情况选用；只要能使安装于其上的移动测试板20003(由此使得设置在其上引入端20004的2个插孔)进行升降，以改变插孔和固定测试板10000表面的插针相对高度差即可，其所需要实现的升降距离可以根据插针和插孔实现稳定连接和安全分离的两个位置来确定，示例性的，稳定连接和安全分离的两个位置可以在根据场景确定后由限位开关或者其他位置传感器来控制到位，稳定连接指的是：插针和插孔插接配合到位，而安全分离指的是：插孔位于插针上方，两者之间可形成相对平移而无影响；

以及

所述基准板50000，为所述固定测试板10000的安装平面以及滑动块20001的运动基准平面，并设置有给其上的滑动块20001沿直线运动起导向作用的直线导轨50003；所述固定测试板10000利用铜柱等安装件安装于所述基准板50000的上方。

采用应用示例二所述的系统进行眼图测试的方法包括：

初始时，利用垂直驱动组件40000将移动测试板20003上升至使所述固定测试板10000上的插针和所述移动测试板20003引入端20004上的插孔实现安全分离的高度；根据待测以太网端口的速率情况，将与待测以太网端口连接的测试接头10110与待测的测试端10120形成电连接，并(例如，通过计算机等外部输入设备)对各待测以太网端口进行参数配置，使其处于待测状态；将待测设备的多个待测以太网端口分别与固定测试板10000的测试接头10110连接，通过垂直驱动组件40000驱动移动测试板20003向上运动使得插针和插孔实现安全分离的高度，继续利用水平驱动组件30000驱动滑动块20001，使得滑动组件20000运动至使得插孔位于待测试的插针的正上方，继续利用垂直驱动组件40000驱动移动测试板20003向下运动至插针和插孔实现稳定连接的位置，由此实现测试设备的探头与测试接头10110的电连接，启动对该待测设备测试端的眼图测试；当针对该待测设备测试端的眼图测试完成后，继续通过垂直驱动组件40000驱动移动测试板20003向上运动至插针和插孔实现安全分离的高度，通过水平驱动组件30000的驱动滑动块20001，使得滑动组件20000运动至下一个待测试位置(即：利用水平驱动组件30000驱动滑动块20001运动至使得插孔位于待测试的插针的正上方)，然后通过垂直驱动组件40000驱动移动测试板20003向下运动至插针和插孔实现稳定连接的位置，使得插孔正好可以与当前需要待测试的测试端对应的插针电连接，由此开始新一轮的测试。

在对第一个待测以太网端口进行测试前，将上述外引构件2200设置于初始位置，可以利用人工确定外引构件2200的初始位置，也可以通过位置传感器或限位开关等确定外引构件2200的初始位置；所述初始位置是利用该眼图测试系统进行自动化测试的起始位置，该初始位置可以位于第一个待测试位置之前的某个位置。外引构件2200从初始位置移动至第一个待测试位置的距离，以及从一个待测试位置移动到下一个待测试位置的距离可以由相关电机根据所需要输出的水平驱动距离实现控制。

所述根据待测设备待测试端口的速率情况，将测试接头与待测的测试端形成电连接，包括：

待测试端口的速率为100M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

待测试端口的速率为1000M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

上述眼图测试方法还可以适用于待测设备的待测试端口的速率为未知的情况，此时在将与待测以太网端口连接的测试接头1110与待测的测试端1120形成电连接之前，判断待测以太网端口是何种速率，典型的为100M还是1000M，包括：

通过水平驱动组件驱动滑动组件滑动至测试接头对应的信号源判断测试端，如果接收到信号，则认为该待测以太网端口为1000M端口，如果没有接收到信号，则认为该待测以太网端口为100M端口。

所述信号源判断测试端为预先已知的1000M端口和100M端口的两个输出端，且在测试端口为不同速率时，表现为不同的输出信号形式，即：1000M端口存在输出信号，而100M端口不存在输出信号；而对于常用的以太网端口而言，信号源判断测试端可以为：作为待测设备的测试端口的以太网端口的第4、5引脚所对应的测试端。

需要说明的是：对于多个测试接头对应的多组测试端，是依次进行测量的；由于每组测试端中有多个测试端，因此一个测试接头对应多组测试记录。

在上述的测试方法中，无论是从初始位置到第一个测试接头与待测的测试端形成电连接时的位置移动或者同一个测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化、或者相邻测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化的驱动均由外部控制器控制驱动器执行，启动测试记录结果也均由控制器执行。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

Claims (17)

1.一种测试系统，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；

其中：所述的测试连接装置，包括：

待测设备连接件，包括固定测试板以及设置在所述固定测试板表面的测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括滑动组件，所述滑动组件包括可直线运动的滑动块，设置在所述滑动块表面的支撑杆，设置在所述支撑杆的另一端的移动测试板，以及设置在所述移动测试板表面的引入端及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；

水平驱动组件，所述水平驱动组件推动所述滑动块相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接；

所述固定测试板为方形板；

所述多个测试接头按照第一预设距离间隔布置，所述多个测试端被分为多组；每组测试端中的测试端数量与一个测试接头的信号引出端一致，并且一一对应地电连接；其中，所述待测设备的以太网端口的第4、5引脚对应的测试端为信号源判断测试端，用以判断该待测的以太网端口为1000M端口还是100M端口；

每个测试接头对应的测试端组之间按照第二预设距离间隔布置，且每组测试端中各测试端等距离均布；

与待测设备的待测线路连接的所述测试接头的信号引出端与测试端之间通过不同的布线层改变电连接顺序，使所述水平驱动组件推动所述滑动块作直线运动时，所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接；

其中，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接，包括：

当待测设备的以太网端口为100M端口时，所述测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：待测设备的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；待测设备的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

当待测设备的以太网端口为1000M端口时，所述测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：待测设备的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，待测设备的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，待测设备的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，待测设备的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

两个相邻测试接头之间的距离大于该两个相邻测试接头对应的两组测试端之间的距离。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面；

所述外引构件一端固定，另一端向所述固定测试板延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，

所述外引构件向所述固定测试板延伸的另一端为具有双连接端的弹片，所述弹片的双连接端间隔设置，且所述双连接端可与两个需要同时测试的测试端同时接触建立电连接。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，

所述引入端包括设置在所述移动测试板表面的插针。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述固定测试板的表面；

所述引入端包括固定在所述移动测试板表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述固定测试板的延伸段；

所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，所述双连接端可与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试连接装置还包括：

设置在所述滑动块表面的垂直驱动组件，所述垂直驱动组件推动所述移动测试板沿支撑杆做升降运动。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，

所述双连接端为具有向下开口的双插孔。

9.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，

所述凸起段上设置插针。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述滑动组件还包括：

直线导轨，所述水平驱动组件推动所述滑动块沿所述直线导轨作直线运动。

11.根据权利要求10所述的测试系统，其特征在于，所述测试连接装置还包括：

基准板，所述基准板为所述固定测试板的安装平面以及滑动块的运动基准平面，且所述直线导轨设置在所述基准板上。

12.一种测试方法，应用于如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，包括：

根据信号源判断测试端判断待测设备的以太网端口为1000M端口还是100M端口；

根据判断结果将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与所述测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述移动测试板可相对于固定测试板作水平直线运动，通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

13.根据权利要求12所述的测试方法，其特征在于，

通过所述水平直线运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于所述固定测试板作水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

14.根据权利要求13所述的测试方法，其特征在于，

所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述固定测试板的表面或者所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

15.一种测试方法，应用于如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，包括：

根据信号源判断测试端判断待测设备的以太网端口为1000M端口还是100M端口；

根据判断结果将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述移动测试板相对于所述固定测试板可作水平直线运动和垂直运动，通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

16.根据权利要求15所述的测试方法，其特征在于，

通过所述水平直线运动和垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述移动测试板相对于固定测试板的水平直线运动，使所述测试连接装置上的外引构件移动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述移动测试板相对于固定测试板的垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

17.根据权利要求16所述的测试方法，其特征在于，

所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述固定测试板表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

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