CN111060772B - 一种测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

一种测试系统及测试方法，测试系统包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；测试连接装置包括：待测设备连接件，包括环形部件以及设置在环形部件表面的若干个测试组件，测试组件包括多个测试端和测试接头，测试接头用于将多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；测试设备连接件，包括位于环形部件中的中央部件，设置在中央部件表面的引入端以及与引入端电连接的外引构件，引入端可与测试设备的测试探头电连接；旋转机构，包括与环形部件和中央部件中至少一个连接的转动部件，转动部件转动时带动环形部件和中央部件相对转动，以使外引构件与不同的测试端依次建立电连接。本申请能够自动完成对待测线路的测试连接。

Description

一种测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及测试技术，尤指一种测试系统及测试方法。

背景技术

眼图(Eye Diagram)是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形，它包含丰富的信息，体现了数字信号整体的特征，是对数字信号质量的一种快速而又非常直观的观测手段，工程师可以通过眼图迅速得到待测信号的实测参数，并且可以据此来预判在现场可能发生的问题。因此，利用眼图进行分析是高速互连系统信号完整性分析的核心。在通信领域中，以太网的应用占有着重要地位，为保证不同以太网设备之间的互通性，就必须按照IEEE802.3标准要求进行一致性测试，其中，对于以太网端口的眼图测试也是一项用于判断信号完整性的非常重要的测试。

在现有技术中，对于以太网端口进行眼图测试时，通常需要使用示波器、专用的示波器探头以及用于待测信号外引的夹具，而测试不同速率的以太网端口需要选择不同的测试对象，例如，对于100M以太网端口，在眼图测试时需要测试两对信号(一对发送信号以及一对自交叉后的信号)；而对于1000M以太网端口，在眼图测试时需要测试四对双向数据信号(BI、DA+/-，BI、DB+/-，BI、DC+/-,BI、DB+/-)；对于每一对信号的测试都需要首先将待测信号线对与外引夹具连接，示波器测试端口与专用示波器探头连接，然后，将专用示波器探头与夹具对应的测试点通过接触形成电连接，由此完成针对一个待测信号对的测试回路连接，通过探头采集数字信号，在示波器上形成眼图显示。上述过程中所有的连接过程都需要手动完成，而且每完成一个信号对的测试，又需要手动进行针对下一待测信号对的测试回路连接，当被测设备的以太网端口较多时，势必会导致人工操作频次高，工作效率低，并且还可能人为产生的连接错误。

发明内容

本申请提供了一种测试系统和测试方法，能够自动完成对待测线路的测试连接。

本申请提供的测试系统，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；

其中：所述的测试连接装置包括：

待测设备连接件，包括环形部件以及设置在所述环形部件表面的若干个测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括位于所述环形部件中的中央部件，设置在所述中央部件表面的引入端以及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；

旋转机构，包括与所述环形部件和中央部件中至少一个连接的转动部件，所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动，以使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。

在一示例性实施例中，所述环形部件和所述中央部件的中心相同；同一所述测试组件的多个测试端等角度等半径分布。

在一示例性实施例中，与待测设备的待测线路连接的测试接头与测试端之间通过不同的布线层改变连接顺序，使所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动时，所述外引构件与不同的待测线路对依次建立电连接。

在一示例性实施例中，所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面；

所述外引构件一端固定，另一端向所述环形部件延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述外引构件包括具有双连接端的弹片，所述弹片的双连接端间隔设置，且所述双连接端可与两个需要同时测试的测试端同时接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述引入端包括垂直设置在中央部件表面的插针。

在一示例性实施例中，所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述环形部件的表面；

所述引入端包括固定在中央部件表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述环形部件上方的延伸段；

所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，所述双连接端能与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

在一示例性实施例中，所述系统还包括：

可升降平台；

所述旋转机构设置在所述可升降平台上，所述可升降平台的升降运动，改变所述环形部件表面和中央部件表面的高度差，以使设置在所述中央部件表面的外引构件和设置在所述环形部件表面的测试端断开电连接或者建立电连接。

在一示例性实施例中，所述双连接端为向下开口的双插孔。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置还包括：

基准板；

所述可升降平台固定设置在所述基准板上；所述环形部件和中央部件中未与所述转动部件连接的部件固定设置在所述基准板上。

本申请提供的测试方法，应用于如前所述的测试系统，包括：

将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述环形部件和中央部件可相对转动，通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试，包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对转动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面或者所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

本申请提供的测试方法，应用于如前所述的测试系统，包括：

将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述环形部件和中央部件可相对转动和相对垂直运动，通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述环形部件和中央部件的相对转动运动，使所述测试连接装置上的外引构件转动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

在一示例性实施例中，所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

与相关技术相比，本申请包括含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；其中：所述的测试连接装置包括：待测设备连接件，包括环形部件以及设置在所述环形部件表面的若干个测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；测试设备连接件，包括位于所述环形部件中的中央部件，设置在所述中央部件表面的引入端以及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；旋转机构，包括与所述环形部件和中央部件中至少一个连接的转动部件，所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动，以使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。本申请能够自动完成对待测线路的测试连接。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为相关技术以太网端口的接头线序示意图；

图2为本发明实施例中测试接头外引线信号的布线示意图；

图3为本发明一种实施例给出的测试方法流程图；

图4为本发明另一种实施例给出的测试方法流程图；

图5为本发明应用示例给出的一种测试连接装置示意图；

图6为本发明应用示例给出的另一种测试连接装置示意图。

具体实施方式

本申请描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本申请所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。

本申请包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本申请已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本申请中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。

此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本申请实施例的精神和范围内。

本申请提供了一种测试系统，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；其中：所述的测试连接装置包括：

待测设备连接件，包括环形部件以及设置在所述环形部件表面的若干个测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括位于所述环形部件中的中央部件，设置在所述中央部件表面的引入端以及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端与所述测试设备的测试探头电连接；

旋转机构，包括与所述环形部件和中央部件中至少一个连接的转动部件，所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动，以使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接。

本申请可实现对待测设备的多个待测线路的自动连接测试。

所述环形部件为环形结构；所述环形部件和所述中央部件的中心相同；所述环形结构可以为圆环结构、半圆环结构、或其他环形结构；测试组件的多个测试端和测试接头按照预设数量分布在所述环形部件的表面，同一所述测试组件的多个测试端等角度等半径分布。

与待测设备的待测线路连接的测试接头与测试端之间通过不同的布线层改变连接顺序，使所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动时，所述外引构件与不同的待测线路对依次建立电连接。如，待测试设备为以太网端口，由于以太网端口的接头线序示意图如图1所示，对于100M以太网端口而言，需要进行测试的测试线对为：1/2、3/6；对于1000M以太网端口而言，需要进行测试的测试线对为：1/2、3/6、4/5、7/8；此时，测试线对3/6所对应的测试端、以及测试线对1/2、4/5、7/8所对应的测试端，在一组测试端中各测试端的位置按照1-8顺序排布的情况，则无法保证每次待测的测试端之间的角度相同(3/6与其它角度不同)，由此可以在测试接头的外引信号端与测试端之间利用不同的PCB布线层的连接来改变连接顺序，使所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动时，示例性的走线可以如图2所示，其中，实线和虚线表明连接线在PCB中的不同布线层，当外引构件具有双连接端时，连续被测的两个测试端之间角度相等，同时被测的两个测试端之间的距离均与外引构件的双连接端之间的距离相等。

实施例一，

所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面；所述外引构件一端固定且与所述引入端电连接，另一端向所述环形部件延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

作为一种示例，所述外引构件包括具有双连接端的弹片，所述弹片的两连接端间隔设置，且所述两连接端可与同时被测的两个所述测试端接触建立电连接；所述引入端包括设置在中央部件表面的导电部件，如插针，测试设备的测试探头通过所述导电部件与所述引入端连接，从而实现与所述测试设备连接件电连接。

作为又一种示例，所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述环形部件的表面；所述引入端包括固定在中央部件表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述环形部件上方的延伸段；所述凸起段包括导电部件，如插针，测试设备的测试探头通过所述导电部件与所述测试设备连接件电连接。所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，且所述双连接端能与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

实施例二，

在实施例一的基础上，所述测试连接装置还包括：

可升降平台；所述旋转机构设置在所述可升降平台上。所述可升降平台的升降运动，改变所述环形部件表面和中央部件表面的高度差，以使设置在所述中央部件上的外引构件和设置在所述环形部件表面的测试端断开电连接或者建立电连接。

在该实施例中，当所述测试端包括通过引脚垂直设置在所述环形部件表面的外引线端子时，设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端的外引构件可以为设置在所述延伸段的第二端且具有向下开口的双插孔。

作为一种示例，所述测试连接装置还包括：

基准板；所述可升降平台固定设置在所述基准板上，所述环形部件和中央部件中未与所述转动部件连接的部件固定设置在所述基准板上。基准板是所述环形部件或中央部件，和所述可升降平台的安装基准，可通过本领域普通技术人员已知的其它构件和方法实现所述环形部件或中央部件，和所述可升降平台在其上的安装和固定，并且保持相对位置不变。但是，所述环形部件或中央部件，和可升降平台之间没有直接的固定关系。

本申请还提供一种测试方法，如图3所示，所述测试方法包括：

步骤S301：将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

步骤S302：将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

步骤S303：环形部件和中央部件可相对转动，通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

所述测试连接装置包括采用如实施例一所述的测试连接装置。

作为一种示例，步骤S303环形部件和中央部件可相对转动，通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试，包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对转动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面或者所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

上述判断存在需测试的下一组待测线路的方法包括：

当已测试的待测线路的数量小于预先设置的待测线路的数量时，则判断存在需测试的下一组待测线路；或

当所述测试连接装置中的测试接头与该测试接头连接的测试端之间存在电连接，则判断存在需测试的下一组待测线路。

本申请还提供一种测试方法，如图4所示，所述方法包括：

步骤S401：将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

步骤S402：将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

步骤S403：环形部件和中央部件可相对转动和相对垂直运动，通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

所述测试连接装置包括采用如实施例二所述的测试连接装置。

作为一种示例，步骤S403环形部件和中央部件可相对转动和相对垂直运动，通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试，包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述环形部件和中央部件的相对转动，使所述测试连接装置上的外引构件转动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

上述判断存在需测试的下一组待测线路的方法包括：

当已测试的待测线路的数量小于预先设置的待测线路的数量时，则判断存在需测试的下一组待测线路；或

当所述测试连接装置中的测试接头与该测试接头连接的测试端之间存在电连接，则判断存在需测试的下一组待测线路。

下面通过具体的应用示例对本发明实施例所述的测试连接装置进行说明。

应用示例一

一种用于以太网端口的眼图测试系统，包括：含有测试探头的测试设备(例如，示波器)、如图5所述的测试连接装置、以及待测设备；所述的测试连接装置包括：示出为包括环形部件1的待测设备连接件、示出为包括中央部件2的测试设备连接件、示出为包括电机组件3的旋转机构，其中：

所述环形部件1表面设置有若干个按照预定角度间隔布置的测试接头11(为了更清楚地说明，图5中仅示出为1个测试接头)，每个测试接头11的信号引出端分别与一组测试端12中的各测试端电连接，且每组测试端12中的测试端数量与测试接头11的信号引出端一致，并且一一对应地电连接；每个测试接头11可分别与外部待测设备的一个待测以太网端口匹配连接；由此，每个测试接头11可实现与待测设备的待测以太网端口对应的各待测线路的连接；每个测试接头11和对应的测试端12与相邻的测试接头11和该相邻测试接头11对应的测试端12按照设定角度布置于环形部件1上，且各组测试端12中各测试端等角度等半径均布；作为一种应用示例，各个测试接头11和对应的测试端12按照预设的数量均布于环形部件1，此处，环形部件1可以为线路印制板PCB，所述的测试接头11直接固定于其上，且该测试接头11的信号引出端直接焊接于所述PCB的对应焊盘中，所述测试端12为直接设置于PCB上的多个焊盘、铜片触点或者金手指等可以直接实现电连接的连接端；所述测试接头11的信号引出端与其对应的测试端12通过PCB上的布线直接实现连接，从而增加连接可靠性；并且布线宽度和走向可以由本领域普通技术人员根据测试信号的情况作出不同的设计。当然，在其它的应用示例中，环形部件1可以仅部分为PCB，该PCB包括测试接头11、测试端12以及两者的连接部分，该PCB嵌入其它材质的平板中共同构成环形部件1，由此降低制造成本。

所述中央部件2与所述环形部件1中心相同，表面固定有例如通过导线与所述测试设备的探头连接的引入端21，所述引入端21可以为图5示出的插针方式，方便插接，也可以是其它连接方式，所述引入端21还设置有一端外探的双连接端外引构件22，通过所述外引构件22，可实现所述引入端21与所述环形部件1上设置的测试端12的电连接；作为一种应用示例，所述外引构件22可以为一端固定且与所述引入端21电连接，另一端向所述环形部件1延伸，且能与所述测试端12接触建立电连接的具有双连接端的弹片；此处补充说明的是：对于外引构件22与测试端12的连接具体为：外引构件22的两个连接端同时分别与两个测试端12连接，且两个测试端12对应于测试接头11的两个信号输出端，即与待测以太网端口的一对待测试引脚(即：测试线路)可形成电连接。由于在本应用示例中，中央部件2上所设置的外引构件22只是随着中央部件2转动，其双连接端之间的距离是固定不变的，因此，在与两个测试端12连接时，双连接端与对应测试端接触的连接位置之间的距离与环形部件1上设置的每组测试端12中需要被同时测试的两个测试端之间的距离正好匹配相等。

所述旋转机构中的电机输出轴与所述中央部件2中心的转动中心固定连接，且可带动所述中央部件2转动；所述电机输出轴与中央部件2的转动中心的固定连接方式可以采用本领域普通技术人员已知的任何方式，此处不赘述；作为一种应用示例，所述电机为可编程步进电机，可根据每次需要转动的角度确定步进数，且与所述环形部件1的相对位置固定。作为一种应用示例，可以利用环形部件1作为电机安装的基准平面，通过本领域普通技术人员已知的其他构件(例如，图5中所示的柱状支撑构件)辅助实现两者的安装和固定，此处不赘述。

采用应用示例一所述的测试系统进行测试的过程包括：

根据待测以太网端口的速率情况，将待测设备的多个待测线路通过各待测以太网端口分别与环形部件1上的测试接头11连接，将作为外引构件22的两个弹片设置为可与需要被同时测试的两个测试端12分别形成连接的角度，且与其可实现电连接；然后通过引入端21与测试设备的测试探头实现电连接，启动对该待测设备的一对待测线路对的测试；当针对该待测设备的一对待测线路对完成测试后，通过电机的输出轴转动带动中央部件2转动，进而使外引构件22转动至下一对待测线路对对应的测试端位置，即：作为外引构件22的两个弹片正好与当前需要测试的一对待测线路对对应的测试端电连接，开始新一轮的测试。

在对第一个待测以太网端口进行测试前，将上述外引构件22设置于初始位置，可以利用人工确定外引构件22的初始位置，也可以通过位置传感器或限位开关等确定外引构件22的初始位置；所述初始位置是利用该眼图测试系统进行自动化测试的起始位置，该初始位置可以位于第一个待测试位置之前的某个位置。外引构件22从初始位置移动至第一个待测试位置的距离，以及从一个待测试位置移动到下一个待测试位置的距离可以由相关电机根据所需要输出的水平驱动距离实现控制。

所述根据待测设备待测试端口的速率情况，将测试接头与待测的测试端形成电连接，包括：

待测试端口的速率为100M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

待测试端口的速率为1000M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

上述眼图测试方法还可以适用于待测设备的待测试端口的速率为未知的情况，此时在将与待测以太网端口连接的测试接头11与待测的测试端12形成电连接之前，判断待测以太网端口是何种速率，典型的为100M还是1000M，包括：

通过电机的输出轴转动带动中央部件2转动，进而使外引构件22转动至测试接头对应的信号源判断测试端(例如，待测试端口的以太网端口的第4、5引脚)判断信号源判断测试端是否接收到信号，如果接收到信号，则认为该待测以太网端口为1000M端口，如果没有接收到信号，则认为该待测以太网端口为100M端口。

信号源判断测试端为预先已知的1000M端口和100M端口的两个输出端，且在测试端口为不同速率时，表现为不同的输出信号形式，即：1000M端口存在输出信号，而100M端口不存在输出信号；而对于常用的以太网端口而言，信号源判断测试端可以为：作为待测设备的测试端口的以太网端口的第4、5引脚所对应的测试端。

需要说明的是：对于多个测试接头对应的多组测试端，是依次进行测量的；由于每组测试端中有多个测试端，因此一个测试接头对应多组测试记录。

在上述的测试方法中，无论是从初始位置到第一个测试接头与待测的测试端形成电连接时的位置移动或者同一个测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化、或者相邻测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化的驱动均由外部控制器控制驱动器执行，启动测试记录结果也均由控制器执行。

应用示例二

另一种用于以太网端口的眼图测试系统，包括：含有测试探头的测试设备(例如，示波器)、如图6所述的测试连接装置、以及待测设备；所述的测试连接装置包括：示出为包括环形部件10的待测设备连接件、示出为包括中央部件20的测试设备连接件、示出为包括电机组件30的旋转机构，示出为包括可升降平台40的高度调整机构以及基准板50，其中：

所述环形部件10表面设置有若干个按照预定角度布置的测试接头110(为了更清楚地说明，图6中仅示出为1个测试接头)，每个测试接头110的信号引出端分别与一组测试端120中的各测试端电连接，且每组测试端120中的测试端数量与测试接头110的信号引出端一致，并且一一对应地电连接；每个测试接头110可分别与外部待测设备的一个待测以太网端口匹配连接；由此，每个测试接头110可实现与待测设备的待测以太网端口对应的各待测线路的连接；每个测试接头110和对应的测试端120与相邻的测试接头110和该相邻测试接头110对应的测试端120按照设定角度布置于环形部件10上，且各组测试端中各测试端等角度等半径均布；作为一种应用示例，各个测试接头110和对应的测试端120按照预设的数量均布于环形部件10，此处，环形部件10可以为线路印制板PCB，所述的测试接头110直接固定于其上，且该测试接头110的信号引出端直接焊接于所述PCB的对应焊盘中，所述测试端120为设置于所述环形部件10上的等半径布置的外引线端子，所述外引线端子可以通过引脚直接垂直焊接于所述PCB的对应焊盘中，用于外引线端子焊接的焊盘与用于所述测试接头110信号引出端焊接的对应焊盘通过PCB上的布线直接实现连接，从而增加连接可靠性；并且布线宽度和走向可以由本领域普通技术人员根据测试信号的情况作出不同的设计。当然，在其他的应用示例中，环形部件10可以仅部分为PCB，该PCB包括测试接头110、测试端120以及两者的连接部分，该PCB嵌入其它材质的平板中共同构成环形部件10，由此降低制造成本；

所述中央部件20与所述环形部件10的中心线相同，表面固定有L型结构的引入端210，所述引入端210例如通过外接导线与所述测试设备的测试探头连接，用于测试数据的采集，所述引入端210一端固定于所述中央部件20的表面，且还可设置有如图6所示的插针，方便外部连接，另一端向环形部件10方向延伸，且在延伸段段还设置有具有2个向下开口插孔的外引构件220，所述插孔间的角度与所述环形部件10上的需要被同时电连接的两个外引线端子间的角度相等，所述插孔与所述环形部件10上的外引线端子距离圆中心线等半径；所述引入端210可随着中央部件20的运动而同步运动，以使得外引构件220中的插孔与所述环形部件10上设置的具有外引线端子的测试端120可形成插接并实现电连接；所述的同步运动包括：随着中央部件20的转动而同步转动，以及随着中央部件20的升降运动而同步升降；

所述旋转机构中电机设置于可升降平台40上，电机输出轴与所述中央部件20中心的转动中心连接，且可带动所述中央部件20转动以及使得所述中央部件20随其升降同步升降；安装电机的可升降平台40可采用本领域普通技术人员所已知的方式实现，只要能使安装于其上的电机组件30在电机输出轴方向进行升降，以改变中央部件20表面和环形部件10表面的相对高度差即可，其所需要实现的升降距离可以根据外引线端子和插孔实现稳定连接和安全分离的两个位置来确定，作为一种应用示例，稳定连接和安全分离的两个位置可以在根据场景确定后由限位开关或者其他位置传感器来控制到位，稳定连接指的是：外引线端子和插孔插接配合到位；安全分离指的是：插孔位于外引线端子上方，两者之间可形成相对平移而无影响；电机输出轴与中央部件20的固定连接方式可以采用本领域普通技术人员已知的任何方式，此处不赘述；所述的电机可以是可编程步进电机，可根据每次转动的角度确定步进数。

所述可升降平台40，固定设置于基准板50上，可带动电机组件30按照预定策略进行升降运动，其具体的实现方案可采用本领域普通技术人员的已知方式实现，此处不赘述；以及

所述基准板50，是所述环形部件10和所述可升降平台40的安装基准，可通过本领域普通技术人员已知的其它构件和方法实现所述环形部件10和所述可升降平台40在其上的安装和固定，并且保持相对位置不变，但是，环形部件10和可升降平台40之间没有直接的固定关系。

采用应用示例二所述的测试系统进行测试的过程包括：

初始时，利用可升降平台40将电机组件30上升至使所述环形部件10上的外引线端子和所述中央部件20上的插孔实现安全分离的高度，根据待测以太网端口的速率情况，将待测设备的多个待测线路分别与环形部件10上的测试接头110连接；然后，通过电机的输出轴转动带动中央部件20转动至使得所述中央部件20上引入端210上所设置的外引构件220的插孔位于待测试的外引线端子的正上方，继续利用可升降平台40将电机组件30下降至外引线端子和插孔实现稳定连接的位置，由此实现测试设备的探头与测试接头110的电连接，启动对该待测设备待测线路的测试；当针对该待测设备待测线路的测试完成后，继续利用可升降平台40将电机组件30上升至使所述环形部件10上的外引线端子和所述中央部件20上引入端210上所设置的外引构件220的插孔实现安全分离的高度，通过电机的输出轴转动带动中央部件20转动至下一个待测试位置，即：所述中央部件20上引入端210上所设置的外引构件220的插孔在随着中央部件20下降后，正好可以与当前需要待测试的测试端120对应的外引线端子电连接，开始新一轮的测试。

在对第一个待测以太网端口进行测试前，将上述外引构件220设置于初始位置，可以利用人工确定外引构件220的初始位置，也可以通过位置传感器或限位开关等确定外引构件220的初始位置；所述初始位置是利用该眼图测试系统进行自动化测试的起始位置，该初始位置可以位于第一个待测试位置之前的某个位置。外引构件220从初始位置移动至第一个待测试位置的距离，以及从一个待测试位置移动到下一个待测试位置的距离可以由相关电机根据所需要输出的水平驱动距离实现控制。

根据待测以太网端口的速率情况，将待测设备的多个待测线路分别与环形部件10上的测试接头110连接，包括：

待测试端口的速率为100M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

待测试端口的速率为1000M：将测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

上述眼图测试方法还可以适用于待测设备的待测试端口的速率为未知的情况，此时在将与待测以太网端口连接的测试接头110与待测的测试端120形成电连接之前，判断待测以太网端口是何种速率，典型的为100M还是1000M，包括：

通过电机的输出轴转动带动中央部件220转动，进而使外引构件220转动至测试接头110对应的信号源判断测试端(例如，待测试端口的以太网端口的第4、5引脚)判断信号源判断测试端是否接收到信号，如果接收到信号，则认为该待测以太网端口为1000M端口，如果没有接收到信号，则认为该待测以太网端口为100M端口。

所述信号源判断测试端为预先已知的1000M端口和100M端口的两个输出端，且在测试端口为不同速率时，表现为不同的输出信号形式，即：1000M端口存在输出信号，而100M端口不存在输出信号；而对于常用的以太网端口而言，信号源判断测试端可以为：作为待测设备的测试端口的以太网端口的第4、5引脚所对应的测试端。

需要说明的是：对于多个测试接头对应的多组测试端，是依次进行测量的；由于每组测试端中有多个测试端，因此一个测试接头对应多组测试记录。

在上述的测试方法中，无论是从初始位置到第一个测试接头与待测的测试端形成电连接时的位置移动或者同一个测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化、或者相邻测试接头中将测试接头与两组待测测试端依次形成电连接的测试端的位置的变化的驱动均由外部控制器控制驱动器执行，启动测试记录结果也均由控制器执行。

相对于应用示例一而言，应用示例二所公开的测试系统中，在形成测试的电连接回路过程中，由于中央部件20可以进行升降运动使得外引线端子和插孔之间在垂直方向并未相对运动到位时，不会使得插孔与环形部件10表面存在任何接触，进一步保证了测试过程中结果的准确，并且具有更长的使用寿命。在应用示例一中，由于作为外引构件22的两个弹片在与不同的待测线路的测试端形成连接的过程中是在环形部件1的表面直接运动且始终处于一个对测试端的压力状态，因此测试过程中如果两个测试端距离较近则可能存在带电移位切换的现象，使得测试结果可能会有干扰，另一方面，也会造成外引构件22在长期受力作用下的疲劳强度降低。但是应用示例一的技术方案由于其成本优势，在无需过多测试接头的情况下依然是进行端口眼图自动化测试的较佳方案。

对于上述应用示例一和应用示例二补充说明以下几点：

(1)在上述应用示例一和应用示例二中，待测设备连接件和测试设备连接件均设计为圆形结构，是出于共轴运动时无相互影响的目的；但是在其它应用示例中，待测设备连接件和测试设备连接件也可以设计为其它形状，只要两者的相对运动不会产生影响即可；

(2)在上述应用示例一和应用示例二中，作为测试设备连接件的中央部件2是可以随着电机的输出轴运动的，但是在其它应用示例中，也可以是待测设备连接件发生转动，或者两者均发生转动，只需要能够实现待测设备连接件上的测试端12和测试设备连接件上的外引构件22或者待测设备连接件上的外引线端子和测试设备连接件上的插孔之间的相对角度变化即可；

(3)在上述应用示例一和应用示例二中，旋转机构为电机组件，而在其他应用示例中，也可以采用由齿轮传动等其它能控制输出轴转动角度的传动方式所构成的组件结构。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

Claims (14)

1.一种测试系统，其特征在于，包括：含有测试探头的测试设备，测试连接装置、待测设备；

其中：所述待测设备的以太网端口的第4、5引脚对应的测试端为信号源判断测试端，用以判断该待测的以太网端口为1000M端口还是100M端口；

所述的测试连接装置包括：

待测设备连接件，包括环形部件以及设置在所述环形部件表面的若干个测试组件，所述测试组件包括多个测试端和测试接头，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接；

测试设备连接件，包括位于所述环形部件中的中央部件，设置在所述中央部件表面的引入端以及与所述引入端电连接的外引构件，所述引入端可与所述测试设备的测试探头电连接；

旋转机构，包括与所述环形部件和中央部件中至少一个连接的转动部件，所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动，以使所述外引构件与不同的测试端依次建立电连接，所述环形部件和所述中央部件的中心相同，同一所述测试组件的多个测试端等角度等半径分布；与待测设备的待测线路连接的测试接头与测试端之间通过不同的布线层改变连接顺序，使所述转动部件转动时带动所述环形部件和中央部件相对转动时，所述外引构件与不同的待测线路对依次建立电连接；

其中，所述测试接头用于将所述多个测试端与待测设备的多个待测线路一一对应电连接，包括：

当待测设备的以太网端口为100M端口时，所述测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端；作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端；

当待测设备的以太网端口为1000M端口时，所述测试接头与待测的测试端形成电连接的测试端依次选择为：作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第1、2引脚对应第一组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第3、6引脚对应第二组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第4、5引脚对应第三组测试端，作为待测设备的待测试端口的以太网端口的第7、8引脚对应第四组测试端。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面；

所述外引构件一端固定，另一端向所述环形部件延伸，且能与所述测试端接触建立电连接。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，

所述外引构件包括具有双连接端的弹片，所述弹片的双连接端间隔设置，且所述双连接端可与两个需要同时测试的测试端同时接触建立电连接。

4.根据权利要求2或3所述的测试系统，其特征在于，

所述引入端包括垂直设置在中央部件表面的插针。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

所述测试端包括外引线端子，所述外引线端子通过引脚垂直设置在所述环形部件的表面；

所述引入端包括固定在中央部件表面的凸起段，及第一端与所述凸起段连接、第二端延伸至所述环形部件上方的延伸段；

所述外引构件设置在所述延伸段的第二端且具有双连接端，所述双连接端能与需要同时测试的两个测试端接触建立电连接。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述系统还包括：

可升降平台；

所述旋转机构设置在所述可升降平台上，所述可升降平台的升降运动，改变所述环形部件表面和中央部件表面的高度差，以使设置在所述中央部件表面的外引构件和设置在所述环形部件表面的测试端断开电连接或者建立电连接。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，

所述双连接端为向下开口的双插孔。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试连接装置还包括：

基准板；

所述可升降平台固定设置在所述基准板上；所述环形部件和中央部件中未与所述转动部件连接的部件固定设置在所述基准板上。

9.一种测试方法，应用于如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，包括：

根据信号源判断测试端判断待测设备的以太网端口为1000M端口还是100M端口；根据判断结果将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述环形部件和中央部件可相对转动，通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，

通过所述相对转动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试，包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对转动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，

所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端直接平贴在所述环形部件的表面或者所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接搭接建立电连接。

12.一种测试方法，应用于如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，包括：

根据信号源判断测试端判断待测设备的以太网端口为1000M端口还是100M端口；

根据判断结果将待测设备的多个待测线路与测试连接装置中的多个测试端一一建立电连接；

将测试设备的测试探头与测试连接装置中的引入端建立电连接；

所述环形部件和中央部件可相对转动和相对垂直运动，通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试。

13.根据权利要求12所述的测试方法，其特征在于，

通过所述相对转动和相对垂直运动将测试连接装置中的外引构件逐次与需要同时测试的两个测试端连接建立电连接以进行测试包括：

将所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试；

对该组待测线路测试完毕且存在需测试的下一组待测试线路时，通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与当前电连接的两个测试端分离；通过所述环形部件和中央部件的相对转动运动，使所述测试连接装置上的外引构件转动至下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端的上方；通过所述环形部件和中央部件的相对垂直运动，使所述测试连接装置上的外引构件与下一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接以进行测试。

14.如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，

所述测试连接装置上的外引构件与一组待测线路对应的需要同时测试的两个测试端接触建立电连接，包括：

当所述外引构件为双连接端的弹片，所述测试端为设置在所述环形部件表面的外引线端子时，所述外引构件与所述测试端直接插接建立电连接。

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