CN109936407A - 一种10g epon非对称onu发射光眼图质量验证方法 - Google Patents

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王旭东
杨伟强
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Sichuan Tianyi Comheart Telecom Co Ltd
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Sichuan Tianyi Comheart Telecom Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,包括以下步骤:S1:分析干扰源以及干扰方式;S2:分析潜在干扰产生环节,包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号;S3:针对S2各环节设置实验,验证干扰状态。通过最简单、最直接、最有效的分析该问题,确定干扰问题的直接原因。

Description

一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法
技术领域
本发明涉及10G EPON领域,尤其涉及一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法。
背景技术
10G EPON技术作为率先成熟的下一代PON技术,符合网络发展趋势,具备大带宽、大分光比,与EPON兼容组网、网管统一、平滑升级等优势。10GEPON与EPON一脉相承。利用现有网络直接提速10倍,且与国内电信运营商的带宽规划完美匹配,支撑国内电信运营商中远期规划目标的实现,支撑运营商在IDC业务、政企客户业务、家庭客户的持续拓展。目前10G EPON有两种形式:非对称10Gbit/sEPON和对称10GEPON,非对称系统仅仅只是下行速率达到10.3125Gbit/s,而上行速率仍然是1.25Gbit/s。
目前BOB技术在EPON/GPON FTTH终端上普遍应用,基本取代了独立光模块方案,成为FTTH终端快速发展,大规模成熟部署的重要标志。10G EPON非对称ONU作为一个过渡阶段,从节约成本考虑,由最初的光模块方案转化为BOB(BOSA on Board)技术。
10G EPON非对称ONU,含有WiFi频段有2.4GHz和5GHz。在测试ONU发送光眼图的时候,发现ONU自身5G信号开启的时候或者外界有5G信号存在并靠近ONU的时候,光眼图就会出现很多噪点。如果自身5G信号关闭,外界也没有5G信号存在,则发射光眼图正常。
由于5Gwifi干扰发射眼图为空间辐射到PCB形成串扰的问题,显而易见的能够采用电示波器进行测试,然而实际验证中,电示波器时域测试看不出噪声的频点,同时电示波器频谱测试功能测试TX调制信号上噪声频点时,虽然看出干扰但显示的频点是5G wifi自身的频点,想要测试的噪声频点没有显示出来。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提出一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,提供一种分析该问题最简单、最直接、最有效的方法。
一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,包括以下步骤:S1:分析干扰源以及干扰方式;S2:分析潜在干扰产生环节,包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号;S3:针对S2各环节设置实验,验证干扰状态。
进一步,针对BOB驱动电路电源系统的验证,包括以下子步骤:第一步,断开原有BOB驱动电路电源系统,外接直流稳压电源;第二步,施加5GWIFI干扰信号;第三步,检测10GEPON非对称ONU发送光眼图质量。
进一步,针对BOSA器件的验证,包括以下子步骤:第一步,在10G EPON非对称ONU上焊接EPON ONU的BOSA器件;第二步,施加5GWIFI干扰信号;第三步,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量。
进一步,针对主芯片到驱动芯片的调制信号的验证,包括以下子步骤:第一步,将10G EPON非对称ONU 的驱动芯片连接EPON ONU的MAC主芯片;第二步,EPON ONU的MAC主芯片向10G EPON非对称ONU 的驱动芯片发送信号,同时施加5GWIFI干扰信号;第三步,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量;第四步,将EPON ONU的驱动芯片连接10G EPON非对称ONU的MAC主芯片;第五步,10G EPON非对称ONU的MAC主芯片向EPON ONU的驱动芯片发送信号,同时施加5GWIFI干扰信号;第六步,检测EPON ONU发送光眼图质量。
本发明的有益效果在于:一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,能够最简单、最直接、最有效的分析该问题,确定干扰问题的直接原因。
附图说明
图1是ONU硬件框架示意图;
图2是ONU发送电源示意图。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
如图1所示,ONU发送工作原理为:一定码率的电信号从主芯片以调制信号的形式经差分线到驱动芯片,驱动芯片处理收到的数据信号后会驱动半导体激光器LD发射出相应速率的调制光信号。
一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,包括以下步骤:S1:分析干扰源以及干扰方式;S2:分析潜在干扰产生环节,包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号;S3:针对S2各环节设置实验,验证干扰状态。
进一步的,电源系统受到电磁辐射干扰的因素最大,因此先对针对BOB驱动电路电源系统进行验证,其实验方法为:如图2所示,断开L14即原有BOB驱动电路电源系统,外接直流稳压电源3.3V为BOB发送提供干净稳定的电源,同时施加5GWIFI干扰信号,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量,验证发现受到5GWiFi干扰,排除BOB发送电源受5G WiFi干扰的可能性。
其次,针对BOSA器件进行验证,由于EPON BOSA与10G EPON非对称BOSA上行都是1.25Gbit/s,10G EPON非对称ONU上行是支持EPON BOSA传输速率的。因此其实验方法为:将原有10G EPON非对称ONU的BOSA器件替换为EPON ONU的BOSA器件,同时施加5GWIFI干扰信号,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量,发射眼图依然受5GWiFi干扰的影响,因此排除了BOSA器件本身受到5G干扰的可能性。
针对主芯片到驱动芯片的调制信号的实验方法为:将10G EPON非对称ONU和EPONONU的MAC主芯片进行调换,检测10G EPON非对称ONU和EPON ONU的驱动芯片接收的调制信号,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量。
用已经成熟的EPON ONU MAC出来的调试信号直接给到10G EPON非对称ONU的驱动芯片端,因为该调制信号从MAC端出来肯定是干净的,也就是说10G EPON非对称ONU驱动芯片收到的数据调制信号是由EPON ONU提供。这样做的目的是保证10G EPON非对称ONU驱动芯片收到的数据调制信号完全干净。在外加5G干扰信号,同时5G WiFi进行吞吐量打流测试的时候,10G EPON非对称ONU发送出来的眼图已经完全没有噪点,说明可能原有MAC出来的调制信号数据就已经含有噪声,为进一步验证,将10G EPON非对称ONU出来的调试信号直接给到EPON ONU的驱动芯片端,做交叉实验,EPON ONU驱动芯片收到的数据调制信号是由10GEPON 非对称ONU提供,外加5G干扰信号,发现发送眼图有很多噪点,受到的干扰情况和10GEPON非对称ONU一样。因此,可证明10G EPON非对称ONU受到外界5G wifi信号干扰后,从MAC芯片出来的调制信号数据到驱动芯片端已经含有噪声,这是引起发送眼图在受到外界5Gwifi信号干扰后会出现很多噪点的直接原因。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明权利要求所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (4)

1.一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:分析干扰源以及干扰方式;
S2:分析潜在干扰产生环节,包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号;
S3:针对S2各环节设置实验,验证干扰状态。
2.根据权利要求1所述的一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,其特征在于,针对BOB驱动电路电源系统的验证,包括以下子步骤:
第一步,断开原有BOB驱动电路电源系统,外接直流稳压电源;
第二步,施加5GWIFI干扰信号;
第三步,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量。
3.根据权利要求1所述的一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,其特征在于,针对BOSA器件的验证,包括以下子步骤:
第一步,在10G EPON非对称ONU上焊接EPON ONU的BOSA器件;
第二步,施加5GWIFI干扰信号;
第三步,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量。
4.根据权利要求1所述的一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法,其特征在于,针对主芯片到驱动芯片的调制信号的验证,包括以下子步骤:
第一步,将10G EPON非对称ONU 的驱动芯片连接EPON ONU的MAC主芯片;
第二步,EPON ONU的MAC主芯片向10G EPON非对称ONU 的驱动芯片发送信号,同时施加5GWIFI干扰信号;
第三步,检测10G EPON非对称ONU发送光眼图质量;
第四步,将EPON ONU的驱动芯片连接10G EPON非对称ONU的MAC主芯片;
第五步,10G EPON非对称ONU的MAC主芯片向EPON ONU的驱动芯片发送信号,同时施加5GWIFI干扰信号;
第六步,检测EPON ONU发送光眼图质量。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111060772A (zh) * 2019-12-31 2020-04-24 瑞斯康达科技发展股份有限公司 一种测试系统及测试方法

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