CN201199247Y - Pcb测试机用密度转换装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种PCB测试机用密度转换装置,该装置包括上下两层,上层为转换针盘,下层为排针,通过转换针盘弹簧复位机构中的弹簧不仅起有效消除上端针托与测试夹具探针间隙,确保其间良好电气连接的作用,还使得上端针托通过该弹簧与下端引线电气相连,从而将密度固定不变的测试夹具探针转换为密度可变的引线方式,实现了密度转换。而设置于转换针盘下的排针,其伸出基板外的连接针上端与转换针盘引线相连,下端较长延伸于测试机针床中与其内探针相连,并竖直对探针进行顶压,使得探针下的弹簧处于一个压紧的状态,以确保测试机针床探针与引线间良好的电气接触。由此可见,该装置通过这两部分的配合,大大提高了密度转换后用于测试的可靠性,使得在不改变测试机原本配置的基础上对高密度PCB板进行测试变得可行。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种印刷电路板(Printed Circuit Board;PCB)测试领域,尤其是指一种PCB测试机用密度转换装置。
【背景技术】
在PCB测试行业里,有一种标准通用的测试点规范——四密度(即在1平方英寸均匀地排列400个测试接触点),而每个测试点必须与等测试电路连接,而现有的PCB板测试器械均是通过连线将测试电路引脚直接焊接至测试接触点进行测试工作,然而现下电路板的集成度越来越高,焊点越来越小,密度越密,而相比之下PCB板测试机的发展往往会有一定滞后,加之PCB板测试机的价格很高,使用企业往往无法承担对相应测试机的更新换代,但这也意味着企业在失掉机会,甚至导致企业在激烈竞争的市场大潮中落败。如何通过对原有测试机做尽量小的改动下使其适应或者部分适应快速增长中更高密度焊点PCB的测试需求已经成为业内急需解决的首要问题。
【实用新型内容】
本实用新型的目的在于克服上述缺陷,提供一种可直接应用于原有测试机上的密度转换装置,通过该装置可实现在原有较低测试密度的测试机上对较高密度PCB板进行测试的目的。
本实用新型的目的是这样实现的:一种PCB测试机用密度转换装置,其改进之处在于:它包括上下两层,上层为转换针盘,下层为排针,上下层相叠并通过座脚架设于测试机针床上;所述转换针盘上表面与测试夹具探针对应设有网状通孔,通孔内设置有弹簧复位机构,弹簧复位机构主体为弹簧,其上端用于顶触测试夹具探针,下端通过导线与排针相连;所述排针由基板及固定其上的连接针组成,连接针两端伸出于基板上下表面之外,其上端与转换针盘引线相连,下端用于与测试机针床探针相连;
所述排针连接针下端的伸出部分长度大于排针基板下表面到测试机针床探针的距离;
所述转换针盘的网状通孔内设有用于卡接弹簧复位机构的卡环;
所述弹簧复位机构包括一个弹簧,其上端收缩形成有对应测试夹具探针的针托,下端与引线电气相连。
本实用新型的有益效果在于提供了一种PCB测试机用密度转换装置,该装置包括上下两层,上层为转换针盘,下层为排针,通过转换针盘弹簧复位机构中的弹簧不仅起有效消除上端针托与测试夹具探针间隙,确保其间良好电气连接的作用,还使得上端针托通过该弹簧与下端引线电气相连,从而将密度固定不变的的测试夹具探针转换为密度可变的引线方式,实现了密度转换。而设置于转换针盘下的排针,其伸出基板外的连接针上端与转换针盘引线相连,下端较长延伸于测试机针床中与其内探针相连,并竖直对探针进行顶压,使得探针下的弹簧处于一个压紧的状态,以确保测试机针床探针与引线间良好的电气接触。由此可见,该装置通过这两部分的配合,大大提高了密度转换后用于测试的可靠性,使得在不改变测试机原本配置的基础上对高密度PCB板进行测试变得可行。
【附图说明】
下面结合附图及实施例对本实用新型做进一步说明。
图1为本实用新型的整体结构示意图。
图2为图1所示a-a剖视示意图。
图3为图1中所示b-b剖视示意图。
图4为本实用新型第一具体实施例转换针盘的内部结构示意图。
图5为本实用新型第二具体实施例转换针盘的内部结构示意图。
图6为本实用新型第三具体实施例转换针盘的结构示意图。
【具体实施方式】
一种PCB测试机用密度转换装置,它设置于测试机针床1与测试夹具3间,用于将原本探针密度较高的测试夹具3转换用于原有探针密度较低的测试机针床1上,从而实现对高密度PCB板测试的目的。
参见图1,该转换装置包括上下两层,其下层为一个设置于测试机针床1之上的排针基板7,测试机针床探针101成较低的四密度排列,见图2的a-a剖视图,排针基板7的连接针702是对应测试机针床探针101设置的,连接针702固定设置于排针基板7内,其两端均伸出于排针基板7上下表面之外,且连接针702下端的伸出长度略长于壳体下表面到测试机针床探针101间的距离c,排针基板7通过脚柱701架于测试机针床1上后,由其内的排针的针头下端延伸部分插入测试机针床与其内探针相触,并给予针床探针一个垂直方向的顶压力,使得探针下的弹簧处于一个压紧状态,从而达到消除间隙保证良好电气连接的目的。
所述转换装置的上层为转换针盘,它包括机架2,机架2水平设有针盘201,针盘201通过四边的立柱202架于排针基板7之上,针盘201表面开有网状通孔203,通孔203与测试夹具探针对应设置,其密度通常高于测试机针床探针的排列密度,如图3中b-b剖视图所示为八密度排列(如果需要,测试夹具对应密度可进一步提高至十六密度或更高),针盘通孔203内设置有弹簧复位机构,
参见图4为本实用新型密度转换装置的转换针盘第一种具体实施例,
实施例中转换针盘网状通孔203内设置的弹簧复位机构为一弹簧连线4,通孔203的下端设有用于卡接弹簧的凸台204,上述的弹簧连线4是一种行业内可购备的通用标准件,其主体为弹簧401,弹簧401上端收缩形成有针托402,针托402截面成锥形用于承载对应测试夹具探针,弹簧401下端连接有引线403,引线403另一头由专用工具直接缠绕于排针基板7中对应针头702上,再由该连接针702连接至测试机针床探针。
参见图5则为本实用新型密度转换装置的转换针盘第二种具体实施例,
本实施例中的转换针盘与测试夹具3最下层相连,针盘的网状通孔203内设有用于卡固弹簧复位机构的卡环505,本实施例中的弹簧复位机构采用了专用探针5,它也是一种行业内可购备的通用标准件,该专用探针5由壳体501及其内卡固的弹簧502及探头503组成,弹簧502下端还连接有引线504。使用时直接将测试夹具内的普通探针301替换为此种专用探针5,并通过设置于测试夹具下端的转换针盘卡接,将专用探头5的引线403由专用工具直接缠绕于排针基板7对应针头702上,再由该连接针702与测试机针床探针相连,使得该探针用于电路板测试同时还提供一个带复位功能的柔性连接,从而确保测试夹具探针与下端针托间良好的电气接触,实现测试密度转换目的。
综上所述,本实用新型提供了一种切实可行,且实现方法简单有效的PCB测试机用密度转换装置,需要指出的是,本实用新型不限于上述实施方式,例如还可以通过在测试机针床1与测试夹具3间设置一层垂直导电橡胶以实现密度转换的功能,如图6所示,该垂直导电层两端为支架603,用于架固与测试机针床1之上,其水平端上表面内对应测试夹具的探针设置有上触点601,垂直导电橡胶的下表面内部对应上表面的上触点601设置有下触点602,下触点602下端还与引线604现连,引线604另一头缠绕于排针基板7对应连接针702上,再由该连接针702与测试机针床探针顶压相连,且由于此处采用的导电橡胶为垂直导电橡胶,导电橡胶层内的上下触点只有处于垂直位置的情况下受挤压才会能导通,加上橡胶本身具有一定弹性,在外应力微小变化下亦能实现复位功能,不仅保证了水平触点之间的电气隔离问题,还使上下触点能在一定形变下保持良好的接触,从而达到实际密度转换装置的可靠性要求,也可以实现测试机测试密度的转换功能,故任何熟悉本专业的技术人员在基于本实用新型方法或者装置的技术方案内对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均属于本实用新型的保护范围内。
Claims (4)
1.一种PCB测试机用密度转换装置,其特征在于:它包括上下两层,上层为转换针盘,下层为排针,上下层相叠并通过座脚架设于测试机针床上;所述转换针盘上表面与测试夹具探针对应设有网状通孔,通孔内设置有弹簧复位机构,弹簧复位机构主体为弹簧,其上端用于顶触测试夹具探针,下端通过导线与排针相连;所述排针由基板及固定其上的连接针组成,连接针两端伸出于基板上下表面之外,其上端与转换针盘引线相连,下端用于与测试机针床探针相连。
2.如权利要求1所述的PCB测试机用密度转换装置,其特征在于:所述排针连接针下端的伸出部分长度大于排针基板下表面到测试机针床探针的距离。
3.如权利要求1所述的PCB测试机用密度转换装置,其特征在于:所述转换针盘的网状通孔内设有用于卡接弹簧复位机构的卡环。
4.如权利要求3所述的PCB测试机用密度转换装置,其特征在于:所述弹簧复位机构包括一个弹簧,其上端收缩形成有对应测试夹具探针的针托,下端与引线电气相连。
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CNU2008200099943U CN201199247Y (zh) | 2008-05-06 | 2008-05-06 | Pcb测试机用密度转换装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101576571B (zh) * | 2008-05-06 | 2013-04-10 | 深圳麦逊电子有限公司 | Pcb测试机用密度转换装置 |
CN104090135A (zh) * | 2014-06-26 | 2014-10-08 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 | 一种适用于多种引脚微小间距的芯片测试探针 |
CN111060772A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-24 | 瑞斯康达科技发展股份有限公司 | 一种测试系统及测试方法 |
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2008
- 2008-05-06 CN CNU2008200099943U patent/CN201199247Y/zh not_active Expired - Lifetime
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