CN103149388B - 集成电路测试连接装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路测试连接装置，在同一方案的集成电路测试过程中通过使用固定的集成电路转接板，在集成电路功能测试过程中通过使用桥接转板将集成电路引脚的顺序与集成电路转接板转接口的排列顺序调整一致。集成电路转接板的转接口的顺序固定，通过桥接转板实现将同一方案的引脚的顺序不一致的集成电路的引脚调整一致，即通过调整集成电路转接板的转接口的顺序，实现了同一方案的集成电路进行测试时使用同一集成电路转接板。桥接转板设计简单、耗时短且成本低，避免了重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。同时，还公开了一种集成电路测试连接方法。

Description

集成电路测试连接装置和方法

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种集成电路测试连接装置和一种集成电路测试连接方法。

背景技术

集成电路（IntegratedCircuit，IC）是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时，一般是对电子产品的集成电路进行功能测试。对集成电路进行功能测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。

针对一些需要客户设计集成电路的方案，不同的客户设计的集成电路的各个功能模块的排列和连接可能不同，则集成电路的走线就会不同，导致集成电路的各个功能引脚的输出顺序不同。对集成电路进行功能测试连接集成电路和测试装置时，如果集成电路的功能引脚输出顺序不同，需要针对每一种具有不同引脚输出顺序的集成电路设计专用的集成电路转接板。

但是，针对同一方案的集成电路，其引脚中功能引脚的类别和各自的数量是确定的，区别仅在于各个引脚的排列顺序可能不同。如果仅为了改变某几个引脚的排列顺序就重新设计一块集成电路转接板既浪费了材料又耗费人力，而且耗时较长、延长交期时间。

发明内容

基于此，有必要针对不同客户设计的同一方案的集成电路在进行功能测试时，引脚的输出顺序不同时需要设计不同的集成电路转接板造成浪费材料、延长交期时间的问题，提供一种针对同一方案的集成电路每次进行测试时不需重新设计集成电路转接板的集成电路测试连接装置。

同时，还提供一种集成电路测试连接方法。

一种集成电路测试连接装置，用于在对集成电路进行功能测试时连接所述集成电路和测试装置，包括：

集成电路转接板，具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

桥接转板，具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接。

在其中一个实施例中，所述桥接转板为印刷电路板。

在其中一个实施例中，所述桥接转板的输出接口分别设有相应的信号通道标记。

在其中一个实施例中，所述集成电路转接板的转接口和数据输出接口分别设有相应的信号通道标记。

在其中一个实施例中，所述桥接转板通过双排插针直接连接所述集成电路转接板。

在其中一个实施例中，所述桥接转板通过单排插针连接跳线间接连接所述集成电路转接板。

在其中一个实施例中，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

一种集成电路测试连接方法，包括如下步骤：

提供集成电路转接板，所述集成电路转接板具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

获取待测试的集成电路引脚定义；

提供桥接转板，所述桥接转板具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接；

依次连接所述集成电路、桥接转板、集成电路转接以及测试装置。

在其中一个实施例中，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

在其中一个实施例中，还包括在所述集成电路转接板的各个接口丝印对应各个接口的通道标记的步骤。

上述集成电路测试连接装置和集成电路测试连接方法，在同一方案的集成电路测试过程中通过使用转接口排列顺序固定的集成电路转接板，在集成电路功能测试过程中通过使用桥接转板将集成电路引脚的顺序与集成电路转接板转接口的排列顺序调整一致。集成电路转接板的转接口的顺序固定，通过桥接转板实现将同一方案的引脚的顺序不一致的集成电路的引脚调整一致，即集成电路转接板的转接口的顺序，实现了同一方案的集成电路进行测试时使用同一集成电路转接板。桥接转板设计简单、耗时短且成本低，避免了重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。

附图说明

图1为本发明一实施例的集成电路测试连接装置模块图；

图2为调整触控集成电路引脚的顺序的示意图；

图3为本发明一实施例的集成电路测试连接方法流程图。

具体实施方式

一种集成电路测试连接装置和一种集成电路测试连接方法，在同一方案的集成电路测试过程中通过使用固定的集成电路转接板，在集成电路功能测试过程中通过使用桥接转板将集成电路引脚的顺序与集成电路转接板转接口的排列顺序调整一致。集成电路转接板的转接口的顺序固定，通过桥接转板实现将同一方案的引脚的顺序不一致的集成电路的引脚调整一致，即集成电路转接板的转接口的顺序，实现了同一方案的集成电路进行测试时使用同一集成电路转接板。桥接转板设计简单、耗时短且成本低，避免了重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。

下面结合附图和实施例对本发明集成电路测试连接装置和集成电路测试连接方法进行进一步详细说明。

参考图1，为本发明一实施例的集成电路测试连接装置模块图。

一种集成电路测试连接装置300，包括桥接转板310和集成电路转接板330，用于在对集成电路100进行功能测试时连接集成电路100和测试装置500。集成电路转接板330具有引脚为固定排列顺序的转接口331（参考图2）和连接测试装置500的数据输出接口332（参考图2）。桥接转板310具有用于连接集成电路100的引脚的输入接口311和与转接口331对接的输出接口312。输入接口311和输出接口312的传输相同信号的引脚在桥接转板310内部一一对应连接。

在对同一个方案的集成电路100进行功能测试时，针对不同客户完成的引脚顺序不同的集成电路100，通过上述桥接转板310将集成电路100引脚的顺序调整与集成电路转接板330的转接口331的固定的排列顺序一致，并通过连接集成电路转接板330连接测试装置500进行功能测试。通过使用上述桥接转板310，在测试同一个方案的集成电路100的功能时实现了使用同一标准的集成电路转接板330，桥接转板310相对于集成电路转接板330设计简单、耗时短且成本低，避免了每次测试都需要重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。

具体的，上述桥接转板310为印刷电路板（图未示），印刷电路板（PrintedCircuitBoard，PCB）的引脚的输入接口连接集成电路100的引脚输出端，通过调整布线的顺序调整集成电路100引脚的排列顺序与集成电路转接板330的转接口331的固定的排列顺序一致并从桥接转板310的引脚输出接口输出。针对同一个设计方案中引脚排列顺序不同的集成电路100，在进行功能测试时，每次针对引脚输出顺序不同的集成电路100分别设计一个相应的印刷电路板，可通过手工焊接或印制布线调整引脚的排列顺序。

上述集成电路转接板330连接在待测试触摸屏和测试仪器之间，一般用于调试、检修，用于引入或引出信号。集成电路转接板330一般只有连接器和印制线，个别的设有简单电路。上述集成电路转接板330设有多个连接器，用于连接集成电路与测试装置，而上述桥接转板310只有一个连接器，用于与上述集成电路转接板330进行连接。连接器是指连接两个有源器件的器件，用于传输电流或信号，亦称作接插件、插头和插座。如果每次进行测试都重新设计一个新的集成电路转接板，这样比较麻烦、浪费材料，且延长交期。

在对同一设计方案的集成电路100进行测试时，先设计好集成电路转接板330通道的排列顺序即集成电路转接板330的转接口331的固定的排列顺序，并在集成电路转接板330的转接口331和数据输出接口332分别标记相应的信号通道标记（参考图2）。上述先行设计好通道的排列顺序的集成电路转接板330可称为集成电路转接公板，“公板”指的是一种标准设计方案，集成电路转接公板是指针对同一设计方案的集成电路100、确定好通道排列顺序的一种集成电路转接板330，针对不同设计方案的集成电路100可分别设计相应的集成电路转接公板。

针对同一领域的设计方案的集成电路，上述集成电路转接公板也可针对不同类别引脚按照预定顺序分别设计多个通道，上述针对每种引脚类别分别设计多个通道的集成电路转接板330可应用于各类别的引脚数量不多于上述集成电路转接板330对应通道数量的集成电路100，使同一款IC的设计方案的集成电路100进行测试时只需要使用一种集成电路转接公板，减少集成电路转接板330的设计、节省成本，使集成电路100测试更加简单、方便。

参考图2，为调整触控集成电路引脚的顺序的示意图。

上述集成电路100为触控屏的集成电路即触控集成电路。触控屏又称为“触摸屏”、“触控面板”，是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，当接触了屏幕上的图形按钮时，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连结装置，可用以取代机械式的按钮面板，并借由液晶显示画面制造出生动的影音效果。上述触控集成电路引脚一般包括驱动通道引脚210、感应通道引脚220和地线引脚230（参考图2）。

上述集成电路转接板330的转接口331的固定排列顺序为驱动通道引脚210和感应通道引脚220相邻排列或相互分割排列并通过地线引脚230分隔驱动通道引脚和感应通道引脚。上述驱动通道引脚210和感应通道引脚220相互分割排列是指感应通道引脚220分隔驱动通道引脚210（参考图2）或驱动通道引脚210分隔感应通道引脚220（图未示）。

参考图2，集成电路转接板330的转接口331的排列顺序为感应通道引脚220平均分隔驱动通道引脚210，且通过地线引脚230隔开驱动通道引脚210和感应通道引脚220，途中虚线所指为通过桥接转板310调整触控集成电路引脚为相应与集成电路转接板330的转接口331的排列顺序一致的顺序。在其他的实施例中，上述集成电路转接板330的转接口331的排列顺序也可以为感应通道引脚220按其他比例分隔驱动通道引脚210。

在其他的实施例中，述集成电路转接板330的转接口331的排列顺序也可有其他选择，例如驱动通道引脚210和感应通道引脚220通过地线引脚230相邻排列，或驱动通道引脚210按照一定的分隔比例分隔感应通道引脚220。

上述桥接转板310与上述集成电路转接板330连接时，分别在桥接转板310上打公座（图未示）和母座（图未示），通过双排插针（图未示）或单排插针（图未示）连接桥接转板310和集成电路转接板330。可双排插针直接连接桥接转板310与集成电路转接板330，可通过单排插针连接跳线（图未示）间接连接桥接转板310的转接口331。上述跳线是指连接电路板(PCB)两需求点的金属连接线。

参考图2，上述集成电路100为触控集成电路时，上述驱动通道引脚210用符号DRV表示，感应通道引脚220用符号SEN表示，地线引脚230通过符号GND表示。上述集成电路转接板330通过数据输出接口332连接测试装置500，上述集成电路转接板330的数据输出接口332包括地线接口、模拟电源线接口、复位线接口、数据线接口、失真线接口、中断线接口和数字电源线接口，图2所示上述地线接口、模拟电源线接口、复位线接口、数据线接口、失真线接口、中断线接口和数字电源线接口分别通过丝印标记为相应的符号：GND、AVDD、/RST、SDA、SCL、INT和VDDIO。

图3，为本发明一实施例的集成电路测试连接方法流程图。

参考图1，一种集成电路测试连接方法，具体包括如下步骤：

步骤S110：提供集成电路转接板，上述集成电路转接板具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口。

步骤S130：获取待测试的集成电路引脚定义。

上述引脚定义是指客户针对设计出的集成电路引脚说明书中每个引脚具体的功能介绍。在客户设计出集成电路时，同时给出集成电路相应引脚的定义方便后续通过集成电路引脚连接测试装置。

步骤S150：提供桥接转板，上述桥接转板具有用于连接上述集成电路的引脚的输入接口和与上述转接口对接的输出接口，上述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在上述桥接转板内部一一对应连接。

步骤S170：依次连接所述集成电路、桥接转板、集成电路转接以及测试装置。

具体的，上述集成电路100为触控集成电路，上述触控集成电路一般包括驱动通道引脚210、感应通道引脚220和地线引脚230（参考图2）。

上述集成电路转接板的转接口的固定排列顺序为驱动通道引脚210和感应通道引脚220相邻排列或相互分割排列并通过地线引脚230分隔驱动通道引脚210和感应通道引脚220。上述驱动通道引脚210和感应通道引脚220相互分割排列是指感应通道引脚220分隔驱动通道引脚210（参考图2）或驱动通道引脚210分隔感应通道引脚220（图未示）。

在其他的实施例中，上述集成电路转接板330的转接口331的固定排列顺序也可为感应通道引脚220按其他比例分隔驱动通道引脚210。在其他的实施例中，上述集成电路转接板330的转接口331的固定排列顺序也可有其他选择，例如驱动通道引脚210和感应通道引脚220通过地线引脚230相邻排列，或驱动通道引脚210按照一定的分隔比例分隔感应通道引脚220。

进一步的，还包括在上述集成电路转接板的各个接口丝印对应各个接口的通道标记的步骤（图未示）。通过在集成电路转接板330的转接口331对应的各个通道丝印相应的符号，以便进行测试时方便连接。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种集成电路测试连接装置，用于在对集成电路进行功能测试时连接所述集成电路和测试装置，其特征在于，包括：

集成电路转接板，具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

桥接转板，具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接；所述桥接转板的输入接口的排列顺序与所述集成电路板的引脚的排列顺序相同，且所述桥接转板的输出接口的排列顺序与所述集成电路转接板的转接口的排列顺序相同；

所述桥接转板为印刷电路板，所述印刷电路板的引脚通过调整布线的顺序调整所述集成电路的排列顺序与所述集成电路转接板的转接口的固定的排列顺序一致；

其中，所述集成电路转接板设有多个连接器，用于连接集成电路与测试装置。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板的输出接口分别设有相应的信号通道标记。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述集成电路转接板的转接口和数据输出接口分别设有相应的信号通道标记。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板通过双排插针直接连接所述集成电路转接板。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板通过单排插针连接跳线间接连接所述集成电路转接板。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

7.一种集成电路测试连接方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供集成电路转接板，所述集成电路转接板具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

获取待测试的集成电路引脚定义；

提供桥接转板，所述桥接转板具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接；所述桥接转板的输入接口的排列顺序与所述集成电路板的引脚的排列顺序相同，且所述桥接转板的输出接口的排列顺序与所述集成电路转接板的转接口的排列顺序相同；

依次连接所述集成电路、桥接转板、集成电路转接板以及测试装置；

其中，所述集成电路转接板设有多个连接器，用于连接集成电路与测试装置，所述桥接转板为印刷电路板，所述印刷电路板的引脚通过调整布线的顺序调整所述集成电路的排列顺序与所述集成电路转接板的转接口的固定的排列顺序一致。

8.根据权利要求7所述的集成电路测试连接方法，其特征在于，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

9.根据权利要求7所述的集成电路测试连接方法，其特征在于，还包括在所述集成电路转接板的各个接口丝印对应各个接口的通道标记的步骤。