CN103870375A - 端口测试装置 - Google Patents

端口测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103870375A
CN103870375A CN201210529736.9A CN201210529736A CN103870375A CN 103870375 A CN103870375 A CN 103870375A CN 201210529736 A CN201210529736 A CN 201210529736A CN 103870375 A CN103870375 A CN 103870375A
Authority
CN
China
Prior art keywords
testing device
dynamic arm
port
circuit board
cable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201210529736.9A
Other languages
English (en)
Inventor
余松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201210529736.9A priority Critical patent/CN103870375A/zh
Priority to TW101148169A priority patent/TW201426288A/zh
Priority to US13/756,558 priority patent/US20140159761A1/en
Publication of CN103870375A publication Critical patent/CN103870375A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

本发明公开了用于检测电子设备外围接口处传输信号是否正常的端口测试装置，其包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。本发明能避免频繁插拔检测探头及开关机所带来的繁琐工作，还会保护检测探头不受损，从而提高工作效率、保护产品性能。

Description

端口测试装置
技术领域
本发明涉及一种端口测试装置，尤其涉及一种电脑主机外围接口设备的测试装置。
背景技术
近年来，随着电子通讯技术的快速发展，电脑连接总线和接口标准已逐渐更新提升。电脑主机外围接口包括：传统的AGP（Accelerate Graphical Port，快速图形接口）接口、PCI（Peripheral Component Interconnect，外围元件连接）接口及新标准PCIE（Peripheral Component Interconnect Express，外围设备快速连接）接口，而具备较高传输率、较大兼容性的新标准PCIE接口已经逐渐取代传统的PCI接口和AGP接口。
通常，人们对PCIE接口进行测试时，使用的测试治具包括若干SMP（Symmetrical Multi-Processing，对称多功能处理）接口插座及与SMP接口插座数量相等的SMP测试探头，其中，每个SMP接口插座对应一个SMP测试探头。当进行PCIE接口测试时，通常先将某个SMP测试探头插入与其相对应的SMP接口插座中，当该SMP测试探头检测完毕后，需关闭主机，再将上述SMP测试探头拔出；而后再将另一个SMP测试探头插入与其相对应的SMP接口插座，然后开机，重新测试PCIE接口的另一引脚的输出信号。如此反复地操作，不但会导致测试繁琐，增加测试量，阻碍测试效率的提升，还会因反复插拔测试探头而导致探头受损。
发明内容
本发明提供一种能保证测试探头不受损且能提高测试效率的端口测试装置。
本发明的技术方案如下：
一种端口测试装置，包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。
本发明的有益效果在于：本发明的端口测试装置上只设置一个测试插座，通过旋转动态臂使动态臂依次与传输待测信号的线缆电连接将待测信号引出至测试插座进行测试，避免了现有技术中频繁插拔探头及开关机的繁琐操作，还可以避免检测探头受损，从而实现简便、快速的检测功能，提高工作效率，保护产品性能，延长使用寿命。
附图说明
图1是本发明端口测试装置的较佳实施例的示意图。
主要元件符号说明
端口测试装置 10
测试插座 11
动态臂 12
线缆 13
连接器 14
电路板 15
固定端 120
连接端 121
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参照图1，为本发明较佳实施方式的端口测试装置10包括一电路板15，该电路板15上设置测试插座11、两根动态臂12、PCIE（Peripheral Component Interconnect Express，外围设备快速连接）连接器14及若干个线缆13，其中这些线缆13均可通过动态臂12与测试插座11电连接，以实现若干路测试信号的传输。
所述测试插座11为由两个对称设置的接线器共同形成的一对多功能处理插座，即SMP（Symmetrical Multi-Processing，对称多功能处理）插座。
每一动态臂12均包括枢转固定在电路板15上的固定端120及远离测试插座11的连接端121。动态臂12为金属杆，由铜、铝或铁等导电金属制成，所述测试插座11的两个连接器分别通过导线与该两个动态臂电连接。每个动态臂12的优选阻抗为50Ω。该动态臂12可绕该固定端120枢转。
所述PCIE连接器14设于电路板15一端，在本实施例中，该端口测试装置10可测试16路测试信号，如图1中所示的第一至第十六路待测信号TX0，TX1，TX2……TX15，每一路待测信号TX0，TX1，TX2……TX15均由两条线缆13进行传输，即该端口测试装置10包括32条线缆13。每一线缆13的一端连接至PCIE连接器14上与每路待测信号对应的端子上，每一线缆13的另一端固定在电路板15上，并且每一线缆13的另一端分布在以动态臂12的固定端120为圆心以动态臂12的长度为半径的圆周上。
测试时，将该PCIE连接器14插入主板上的待测PCIE端口，旋转两动态臂12使两动态臂12分别转至传输需测试的一路待测信号的两条线缆13的连接端，图1中所示为两动态臂12连接在第十一路信号TX10的两线缆13上，两动态臂12与该第十一路信号TX10的线缆13电连接将待测信号传输至测试插座11，将测试插座11与外部示波器（图未示）相连，通过示波器上输出的波形显示，就可判断出该路信号的传输情况。当动态臂12与传输16路待测信号的线缆13依次连接导通后，即可检测出该主板上待测PCIE端口的信号传输能力是否正常。
当然有时根据测试需要也可只使用一根动态臂对一条线缆上传输的待测信号进行测量。
综上，上述端口测试装置10上只设置一个SMP插座11，通过旋转动态臂12使动态臂依次与传输待测信号的线缆13电连接将待测信号引出至SMP插座11进行测试，避免了现有技术中频繁插拔探头及开关机的繁琐操作，还可以避免检测探头受损，从而实现简便、快速的检测功能，提高工作效率，保护产品性能，延长使用寿命。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种端口测试装置，其特征在于：包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。
2.如权利要求1所述的端口测试装置，其特征在于：所述第一动态臂为金属杆，由导电金属材料制成。
3.如权利要求2所述的端口测试装置，其特征在于：所述端口测试装置还包括一第二动态臂，所述第二动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述第二动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触；所述第二动态臂为金属杆，由导电金属材料制成。
4.如权利要求3所述的端口测试装置，其特征在于：所述第一及第二动态臂的阻抗为50Ω。
5.如权利要求4所述的端口测试装置，其特征在于：所述线缆的数量为32条，每两条线缆用于传输一路待测信号。
6.如权利要求5所述的端口测试装置，其特征在于：所述线缆的另一端分布在以第一动态臂的枢转固定在电路板上的一端为圆心、以第一动态臂的长度为半径的圆周上。
7.如权利要求1至6任意一项所述的端口测试装置，其特征在于：所述测试插座为由两个对称设置的接线器共同形成的一对多功能处理插座。
CN201210529736.9A 2012-12-11 2012-12-11 端口测试装置 Pending CN103870375A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210529736.9A CN103870375A (zh) 2012-12-11 2012-12-11 端口测试装置
TW101148169A TW201426288A (zh) 2012-12-11 2012-12-18 測試裝置
US13/756,558 US20140159761A1 (en) 2012-12-11 2013-02-01 Test device for computer interfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210529736.9A CN103870375A (zh) 2012-12-11 2012-12-11 端口测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103870375A true CN103870375A (zh) 2014-06-18

Family

ID=50880283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210529736.9A Pending CN103870375A (zh) 2012-12-11 2012-12-11 端口测试装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20140159761A1 (zh)
CN (1) CN103870375A (zh)
TW (1) TW201426288A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105092975A (zh) * 2015-09-23 2015-11-25 广州兴森快捷电路科技有限公司 Pcb板内单端阻抗测试头
CN106053991A (zh) * 2016-07-11 2016-10-26 苏州威罗达电子科技有限公司 一种可自动测试端口的测试机构
CN107145416A (zh) * 2017-05-05 2017-09-08 郑州云海信息技术有限公司 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具系统
CN109031091A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 深圳市广和通无线股份有限公司 接口测试方法、测试系统和测试夹具
CN111060772A (zh) * 2019-12-31 2020-04-24 瑞斯康达科技发展股份有限公司 一种测试系统及测试方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104219519A (zh) * 2014-09-16 2014-12-17 硅谷数模半导体（北京）有限公司 音视频接口的测试转接板、测试系统和测试方法
CN112731020A (zh) * 2020-12-21 2021-04-30 南昌华勤电子科技有限公司 转接电路、信号测试系统和方法
CN114966364B (zh) * 2022-04-25 2024-01-16 苏州浪潮智能科技有限公司 一种spi测试的装置和服务器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7246190B2 (en) * 2004-04-21 2007-07-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for bringing bus lanes in a computer system using a jumper board
CN100517257C (zh) * 2005-10-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 高速外围部件互连总线接口测试装置
CN101206603A (zh) * 2006-12-22 2008-06-25 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 基于pci的ad信号接口卡
CN101276304A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Pcie 测试卡

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105092975A (zh) * 2015-09-23 2015-11-25 广州兴森快捷电路科技有限公司 Pcb板内单端阻抗测试头
CN106053991A (zh) * 2016-07-11 2016-10-26 苏州威罗达电子科技有限公司 一种可自动测试端口的测试机构
CN107145416A (zh) * 2017-05-05 2017-09-08 郑州云海信息技术有限公司 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具系统
CN109031091A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 深圳市广和通无线股份有限公司 接口测试方法、测试系统和测试夹具
CN109031091B (zh) * 2018-07-16 2021-08-17 深圳市广和通无线股份有限公司 接口测试方法、测试系统和测试夹具
CN111060772A (zh) * 2019-12-31 2020-04-24 瑞斯康达科技发展股份有限公司 一种测试系统及测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20140159761A1 (en) 2014-06-12
TW201426288A (zh) 2014-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103870375A (zh) 端口测试装置
CN109946590A (zh) 一种板卡转接设备和测试系统
CN202615382U (zh) 主板接口测试装置
CN102339251A (zh) 测试系统及其usb接口测试连接卡
CN206649498U (zh) 一种测试非标准pcie总线接口的测试治具
CN104882749A (zh) SATA Express连接器
CN204424609U (zh) 线缆连接器插头及其插座
CN206270945U (zh) 可插拔模块识别系统
CN209297212U (zh) 一种平板电脑
CN103901249A (zh) 接口信号测试装置
CN102567167A (zh) mSATA接口测试卡及测试系统
CN105652088B (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
CN102141952A (zh) 系统管理总线测试装置
CN104459426A (zh) 线缆检测系统
WO2012031486A1 (zh) 一种移动终端
CN102590571B (zh) 波形/数据变换器
CN201656199U (zh) 具有usb取电功能的串口线
CN214280251U (zh) 一种设备的调试系统
CN212624029U (zh) 一种基于SFF8643接口的PCIe信号测试治具
CN209896402U (zh) 一种多头电子设备数据线
CN103036124A (zh) 测试用的转接模具及其相关测试方法
CN203673019U (zh) 转换接口板和包括其的通信线束测试设备
CN102331962A (zh) Sas接口测试治具
CN200969091Y (zh) 测试卡及测试装置
CN220357583U (zh) 电子设备的信号测试装置及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140618