CN210604873U - 一种电路板测试治具 - Google Patents

一种电路板测试治具 Download PDF

Info

Publication number
CN210604873U
CN210604873U CN201921024609.7U CN201921024609U CN210604873U CN 210604873 U CN210604873 U CN 210604873U CN 201921024609 U CN201921024609 U CN 201921024609U CN 210604873 U CN210604873 U CN 210604873U
Authority
CN
China
Prior art keywords
base
testing
block
sliding
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201921024609.7U
Other languages
English (en)
Inventor
齐进军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Feishitong Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Feishitong Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Feishitong Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Feishitong Technology Co Ltd
Priority to CN201921024609.7U priority Critical patent/CN210604873U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN210604873U publication Critical patent/CN210604873U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种电路板测试治具,包括定位台,底座和设置在底座上的测试部和固定部,底座固定在定位台上;底座为“L”形,在底座上开有直角孔,孔内设有螺纹杆,且螺纹杆延伸至底座外部;固定部包括固定块和调节块,固定块设置在底座上方,固定块与底座形成一个置物空间,调节块设置在固定块上方,螺纹杆与固定块固定连接;测试部包括与底座旋转连接的测试板和设置在测试板上的测试探针,测试板两个侧面均开有第一滑槽,第一滑槽内设有第一滑块;调节块两个侧面均开有第二滑槽,第二滑槽内设有第二滑块,第一滑块与第二滑块通过连杆连接。本实用新型提供一种较高测试精度,测试操作简便,装置便于拆卸更换的电路板测试治具。

Description

一种电路板测试治具
技术领域
本实用新型涉及测试设备领域,尤其是涉及一种电路板测试治具。
背景技术
随着电子产品的发展,导致对电路板的需求量越来越大。在现有技术中,对电路板的电压测试多为人工手动测试,手动测试只能一组一组的测试电压,大多数情况下,一块电路板中往往需要测试多组电压数据,这时手动测试费时、费力,效率不高。
生产电路板的过程中需要对电路板进行性能测试,传统的测试方法为将待测电路板设置在一有线测试治具上,然后通过有线测试治具上的连接线连接到外围设备(例如,USB设备、键盘、鼠标、显卡等)上,从而实现对电路板性能的测试。但是,传统的有线测试治具有较多的连接线,各连接线之间容易相互串扰,从而会影响测试的稳定性,另外,由于连接线较多,还会使测试治具体积大,重量沉。
一公开号为CN205507024U的现有技术公开了一种电路板测试治具及电路板测试系统。电路板测试治具包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块。升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接,且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔。探针组件包括探针。探针的第一端与主控模块电连接,探针的第二端用于在产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量,克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题。
但是上述现有技术仍存在下列问题:测试精度低,测试时操作较为繁琐,且装置不可拆卸的问题和不足。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足,本实用新型提供一种电路板测试治具,本实用新型解决的技术问题为:提供一种较高测试精度,并且测试操作简便,装置便于拆卸更换的电路板测试治具。
本实用新型所采用的的技术方案为:
一种电路板测试治具,包括定位台和测试装置,测试装置包括底座和设置在底座上的测试部和固定部,所述底座上设有至少两个第一定位孔,所述定位台上设有若干第二定位孔,且第一定位孔与第二定位孔尺寸相同,所述测试部与固定部相对设置在底座上;
所述底座为“L”形,在所述底座上开有直角孔,直角孔内设有螺纹杆,且螺纹杆延伸至底座外部;
所述固定部包括固定块和调节块,所述固定块设置在底座上方,所述固定块与底座形成一个置物空间,所述调节块设置在固定块上方,所述螺纹杆与固定块固定连接;
所述测试部包括测试板和测试探针,所述测试探针设置在测试板表面上,所述测试板与底座旋转连接,所述测试板两个侧面均开有第一滑槽,第一滑槽内设有第一滑块;
所述调节块两个侧面均开有第二滑槽,第二滑槽内设有第二滑块,所述第一滑块与第二滑块通过连杆连接。
本实用新型的工作原理及优点在于:
一种电路板测试治具,包括定位台和底座,底座上设有至上两个第一定位孔,定位台上设有若干第二定位孔,且第一定位孔与第二定位孔的尺寸相同,进而底座可以通过第一定位孔和第二定位孔固定在定位台上,防止测试过程中,底座运动而影响测试精度,该电路板测试治具还包括测试部和固定部,测试部和固定部设置在底座上,且测试部和固定部相对设置。
底座为“L”形,因此底座的一部分用于设置测试部和固定部,另一部分用于和固定部同时固定待测设备,固定部包括固定块与调节块,固定块与底座共同固定待测设备,另外有一个螺纹杆固定连接,且螺纹杆延伸至底座外部,可以通过螺纹杆,使固定块在底座上直线运动,调节固定与底座的相对位置,从而可以调节固定块与底座所形成的置物空间的大小。
测试部包括测试板与测试探针,测试板与底座旋转连接,从而可以使测试板相对于底座翻转,测试板两个侧面开有第一滑槽,调节块两个侧面均开有第二滑槽,第二滑槽内设有第二滑块,所述第一滑块与第一滑块通过连杆连接,可以通过第一滑块与第二滑块分别在第一滑槽和第二滑槽的位置,来控制测试板的旋转角度,在测试板上设有测试探针,需要对待测设备进行测试时,调节测试板,使测试板平放,便可以进行测试操作。
进一步,第一滑槽与第一滑槽为锯齿形滑槽。第一滑块与第二滑块均为梯型,且第一滑块与第二滑块连接有弹簧,在第一滑槽内还设有第一凸块,第一凸块与第一滑块通过第一弹簧连接,在第二滑槽内设有第二凸块,第二凸块与第二滑块通过第二弹簧连接。
将第一滑槽与第二滑槽设为锯齿形滑槽,第一滑块与第二滑块设有梯形,在第一滑块内设有第一凸块,第一凸块与第一滑块通过第一弹簧连接,第一弹簧处于自然状态下,第一滑块伸出第一滑槽,此时第一滑块可以在第一滑槽内运动,对第一滑块施加一个作用力,第一弹簧受到压缩,第一滑块被锯齿形滑槽卡住,此时第一滑块被固定,第二滑块在第二滑槽内的作用同理,当第一弹簧与第二弹簧都处于自然状态下,可以旋转测试板,调节测试板的翻转角度,第二弹簧与第二弹簧都处于压缩状态下,测试板的位置固定。
进一步,所述底座上还设有若干弹性顶柱,所述弹性顶柱设置在所述固定块与底座形成的置物空间内。
由于固定块与底座形成一个置物空间,用于放置待测设备,在置物空间内设有若干弹性顶柱,可以适用于不同厚度的待测设备。
进一步,所述测试板上连接有弹性链条,所述弹性链条自由端连接有凸块,述底座外表面开有用于容纳所述凸块的圆孔。
该弹性链条、凸块与圆孔的作用是在该电路板测试治具闲置时,可以固定测试板,将凸块塞入圆孔内,便可固定测试板,若需要电路板测试治具进行测试时,取出凸块即可。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型电路板测试治具测试装置的侧视图;
图2是本实用新型的底座的立体结构图;
图3是本实用新型的螺纹杆安装示意图;
图4是本实用新型电路板测试治具的俯视图。
说明书附图中的附图标记包括:
定位台1,底座2,固定块3,调节块4,测试板5,螺纹杆6,第一滑槽7,第一滑块8,第一连杆9,第二连杆10,第二滑槽11,第二滑块12,橡胶垫13,链条14,凸块15,圆孔16,第二定位孔17,第一定位孔18,弹性顶柱19,载物板20。
具体实施方式
下面通过具体实施方式进行进一步说明:
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
一种电路板测试治具,主要由定位台和测试装置两个部分组成,测试装置包括底座、固定部和测试部三个部分,底座上设有至上两个第一定位孔,定位台上设有若干第二定位孔,且第一定位孔与第二定位孔的尺寸相同,进而底座可以通过第一定位孔和第二定位孔固定在定位台上,防止测试过程中,底座运动而影响测试精度,该电路板测试治具还包括测试部和固定部,测试部和固定部设置在底座上,且测试部和固定部相对设置。
底座为“L”形,因此底座的横部用于设置测试部和固定部,纵部用于和固定部同时固定待测设备,固定部包括固定块与调节块,固定块与底座共同固定待测设备,另外有一个螺纹杆固定连接,且螺纹杆延伸至底座外部,可以通过螺纹杆,使固定块在底座上直线运动,调节固定与底座的相对位置,从而可以调节固定块与底座所形成的置物空间的大小。
测试部包括测试板与测试探针,测试板与底座旋转连接,在本实施例中测试板与底座通过转轴连接,测试板设置在底座左侧,从而可以使测试板相对于底座向右翻转,测试板两个侧面开有第一滑槽,调节块两个侧面均开有第二滑槽,第二滑槽内设有第二滑块,所述第一滑块与第一滑块通过连杆连接,可以通过第一滑块与第二滑块分别在第一滑槽和第二滑槽的位置,来控制测试板的旋转角度,在测试板上设有测试探针,需要对待测设备进行测试时,调节测试板,使测试板平放,便可以进行测试操作。
在本实施例中,第一滑槽与第二滑槽为锯齿形滑槽。第一滑块与第二滑块均为梯型,且第一滑块与第二滑块连接有弹簧,在第一滑槽内还设有第一凸块,第一凸块与第一滑块通过第一弹簧连接,第一弹簧处于自然状态下,第一滑块伸出第一滑槽,此时第一滑块可以在第一滑槽内运动,对第一滑块施加一个作用力,第一弹簧受到压缩,第一滑块被锯齿形滑槽卡住,此时第一滑块被固定。在第二滑槽内设有第二凸块,第二凸块与第二滑块通过第二弹簧连接,第二滑块在第二滑槽内的作用同理,当第一弹簧与第二弹簧都处于自然状态下,可以旋转测试板,调节测试板的翻转角度,第二弹簧与第二弹簧都处于压缩状态下,测试板的位置固定。
由于固定块与底座形成一个置物空间,用于放置待测设备,在置物空间内设有若干弹性顶柱,可以适用于不同厚度的待测设备,在本实施例中,可以在弹性顶柱上放置载物板,再将待测设备放置在载物板上,防止待测设备与底座和固定块直接接触,受到磨损。试板上连接有弹性链条,所述弹性链条自由端连接有凸块,述底座外表面开有用于容纳所述凸块的圆孔。在该电路板测试治具闲置时,将凸块塞入圆孔内,便可固定测试板,若需要电路板测试治具进行测试时,取出凸块即可。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“内”、“外”指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“若干个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
以上所述的仅是本实用新型的实施例,方案中公知的具体结构及特性等常识在此未作过多描述,所属领域普通技术人员知晓申请日或者优先权日之前实用新型所属技术领域所有的普通技术知识,能够获知该领域中所有的现有技术,并且具有应用该日期之前常规实验手段的能力,所属领域普通技术人员可以在本申请给出的启示下,结合自身能力完善并实施本方案,一些典型的公知结构或者公知方法不应当成为所属领域普通技术人员实施本申请的障碍。应当指出,对于本领域的技术人员来说,在不脱离本实用新型结构的前提下,还可以作出若干变形和改进,这些也应该视为本实用新型的保护范围,这些都不会影响本实用新型实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准,说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。

Claims (6)

1.一种电路板测试治具,包括定位台和测试装置,测试装置包括底座和设置在底座上的测试部和固定部,其特征在于:所述底座上设有至少两个第一定位孔,所述定位台上设有若干第二定位孔,且第一定位孔与第二定位孔尺寸相同,底座固定在定位台上,所述测试部与固定部相对设置在底座上;
所述底座为“L”形,在所述底座上开有直角孔,直角孔内设有螺纹杆,且螺纹杆延伸至底座外部;
所述固定部包括固定块和调节块,所述固定块设置在底座上方,所述固定块与底座形成一个置物空间,所述调节块设置在固定块上方,所述螺纹杆与固定块固定连接;
所述测试部包括测试板和测试探针,所述测试探针设置在测试板表面上,所述测试板与底座旋转连接,所述测试板两个侧面均开有第一滑槽,第一滑槽内设有第一滑块;
所述调节块两个侧面均开有第二滑槽,第二滑槽内设有第二滑块,所述第一滑块与第二滑块通过连杆连接。
2.根据权利要求1所述的一种电路板测试治具,其特征在于:所述第一滑槽与第一滑槽为锯齿形滑槽。
3.根据权利要求2所述的一种电路板测试治具,其特征在于:所述第一滑块与第二滑块均为梯型,在第一滑槽内还设有第一凸块,第一凸块与第一滑块通过第一弹簧连接,在第二滑槽内设有第二凸块,第二凸块与第二滑块通过第二弹簧连接。
4.根据权利要求1所述的一种电路板测试治具,其特征在于:所述底座上还设有若干弹性顶柱,所述弹性顶柱设置在所述固定块与底座形成的置物空间内。
5.根据权利要求1所述的一种电路板测试治具,其特征在于:所述测试板上连接有弹性链条,所述弹性链条自由端连接有凸块。
6.根据权利要求5所述的一种电路板测试治具,其特征在于:在所述底座外表面开有用于容纳所述凸块的圆孔。
CN201921024609.7U 2019-07-03 2019-07-03 一种电路板测试治具 Active CN210604873U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201921024609.7U CN210604873U (zh) 2019-07-03 2019-07-03 一种电路板测试治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201921024609.7U CN210604873U (zh) 2019-07-03 2019-07-03 一种电路板测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN210604873U true CN210604873U (zh) 2020-05-22

Family

ID=70690969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201921024609.7U Active CN210604873U (zh) 2019-07-03 2019-07-03 一种电路板测试治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN210604873U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021253735A1 (zh) * 2020-06-16 2021-12-23 法特迪精密科技(苏州)有限公司 一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021253735A1 (zh) * 2020-06-16 2021-12-23 法特迪精密科技(苏州)有限公司 一种用于测试机精确度调试的辅助测试治具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6441629B1 (en) Probe contact system having planarity adjustment mechanism
TW521151B (en) Pin block structure for mounting contact pins
US5068601A (en) Dual function cam-ring system for DUT board parallel electrical inter-connection and prober/handler docking
US20110193583A1 (en) Methods for planarizing a semiconductor contactor
CN105093000B (zh) 测试装置
CN105004895B (zh) 一种表贴封装微波器件测试装置
CN203012063U (zh) 一种用于批量电子元器件测试的测试板
JPH075071A (ja) 液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ
US4700132A (en) Integrated circuit test site
CN111308323A (zh) 一种老化测试座及老化测试装置
CN210604873U (zh) 一种电路板测试治具
CN106405274B (zh) 电子元件老化测试装置
CN110031748A (zh) 集成电路元件测试装置及测试方法
CN115855479A (zh) 一种数据记录模块的寿命测试方法及装置
US10295566B2 (en) Method of providing a high density test contact solution
CN209802616U (zh) 一种用于多组探针的弹力测试结构
CN104569505B (zh) 无螺纹接触弹簧的更换
CN211554060U (zh) 一种多功能的线路板测试治具
KR20160113492A (ko) 플랙시블 컨택복합체 및 이를 이용한 테스트용 소켓
CN108535552A (zh) 测试装置
JP2000097985A (ja) 間隔が密な試験場所用走査試験機
CN205067627U (zh) 一种探针测试装置
CN211698066U (zh) Qfp封装集成电路的电性检测仪
CN109085391B (zh) 电子设备测试装置及电子设备
DE4433906A1 (de) Testgerät für integrierte Halbleiterschaltungen

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant