JPH075071A - 液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ - Google Patents

液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ

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JPH075071A
JPH075071A JP6028144A JP2814494A JPH075071A JP H075071 A JPH075071 A JP H075071A JP 6028144 A JP6028144 A JP 6028144A JP 2814494 A JP2814494 A JP 2814494A JP H075071 A JPH075071 A JP H075071A
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JP
Japan
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flexible circuit
carrier block
recess
circuit
free end
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Application number
JP6028144A
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English (en)
Inventor
Haim Feigenbaum
ハイム・フェーゲンバウム
John S Szalay
ジョン・エス・スザレイ
Blake F Woith
ブレイク・エフ・ウオイス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Co
Original Assignee
Hughes Aircraft Co
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Publication date
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Publication of JPH075071A publication Critical patent/JPH075071A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/0735Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、液晶ディスプレイ装置の微細な間
隔で配置された端子の導線に確実に接続を行うことので
きる試験プロ−ブを得ることを目的とする。 【構成】 キャリアブロック20と、このキャリアブロッ
ク20の下面に沿って延在し、キャリアブロック20の自由
端部26と一致した回路自由端部50を有し、この回路自由
端部26に近接した位置に設けられた液晶ディスプレイ装
置10の導体端部16と接触するための複数の隆起した突出
部54を有するフレキシブル回路44と、このフレキシブル
回路44をキャリアブロック20に固定するためにキャリア
ブロック20の下面の凹部30に適合して固定されるクラン
プブロック60とを具備し、フレキシブル回路44は突出部
54を外部試験回路に接続するために突出部に電気敵に接
続された導体を具備していることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶ディスプレイの試
験、特に試験するためにバンプを有するフレキシブル回
路を使用する改良された方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイ装置は特にポ−タブル
なラップトップ型のコンピュ−タの人気が急増するにし
たがって生産数が増加されている。多数のラップトップ
型コンピュ−タのスクリ−ンは、入力/出力ディスプレ
イ回路との接続のために4つの側面のエッジに延在する
2千乃至5千の導電性の回路線を有する装置パネルによ
り形成される平坦な液晶ディスプレイ装置である。薄い
平坦な部材はパネルと回路線上に配置され、導電性回路
ラインの端部により形成されるコンタクトの行に平行に
延在する外部縁部を有する。上に存在する薄い平坦部材
の縁部は導線のエッジにより限定されるディスプレイ装
置のコンタクトのエッジに近接して位置される。
【0003】全ての電子装置システム部品と共にコンピ
ュ−タの組立の前および入力/出力回路を有するディス
プレイ装置の組立の前に、液晶ディスプレイ装置の動作
試験をすることが所望される。通常の試験は弾性または
スプリングのようなタンブステンで形成された多数の小
さいブレ−ドまたは針が設けられている試験カ−ドを使
用する。ブレ−ドまたは針は機械的におよび電気的に試
験回路板に接続され、試験されるディスプレイ装置との
コンタクトとして動作する。針がそれぞれ個別に試験下
で装置の1回路線のみに接触することを可能にするよう
な形状および間隔で設けられている。電気導線はプロ−
ブカ−ドが試験回路と接続するようにコンタクトから板
の外部エッジまで延在する。使用において、針を有する
試験板は液晶ディスプレイ装置の導線の端部と結合する
ように移動される。適切な位置づけのため個々のブレ−
ドまたは針は個別に調節されなければならない。この調
節は試験されるディスプレイ装置の導線端部の存在する
パタ−ンおよび間隔に一致するようにパタ−ンおよび間
隔を生成するため弾性の針を曲げることにより行われ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】針とブレ−ドの端部は
それぞれが試験下の装置の導電性トレ−スと電気接触す
ることを確実にするために全て同一の面で下げなければ
ならない。これはプロ−ブカ−ド上に設けられた後ブレ
−ドを曲げることにより達成されるが困難で、時間がか
かり高価である。このような調節の後でさえも、針はも
との位置へ戻るように移動する傾向があり、調節された
位置が失われる。調節のこの損失はまた試験される装置
に対する針の圧力から生じ、回路導線を被覆する酸素の
浸透を確実にするのに必要または好ましい洗浄動作によ
り悪化される。結果として、一定の保守作業が必要であ
り、或いはプロ−ブカ−ドは意図している機能を行わな
くなる。適切に調整された時でさえ、針は複数の液晶面
または導電線端部の平面における顕著な差を補償するこ
とが不可能で、従って針はディスプレイ装置に対して過
剰な力を与え、いくつかの導線を破損してしまう。さら
に、非常に微細なピッチの導線(例えば.004乃至.005イ
ンチのピッチ)を試験するのに必要な密接した間隔は通
常の針コンタクトで達成することはできず、または試験
プロ−ブを非常に高価にし、試験中の機械的ダメ−ジを
受けやすくする。
【0005】さらに、液晶ディスプレイパネルの試験で
は上部に配置されている部材のエッジがディスプレイ装
置上の導電性線の端部に近接するので非常に小さい間隔
を限定し、従って上部に配置される部材のエッジとの干
渉を防ぐため針コンタクトのより正確な位置づけを必要
とする。
【0006】従って本発明の目的は、前述の問題を避
け、または最小限に押さえる試験方法および試験装置を
提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】好ましい実施例による本
発明の原理の実行において、自由端部と下面を有するキ
ャリアブロックを有する試験プロ−ブが設けられてい
る。ブロックの下面に沿って延在するフレキシブル回路
はキャリアブロックの自由端部と一致した回路自由端部
を有する。フレキシブル回路は、回路の自由端部と近接
するが内側に間隔を有する位置で、フレキシブル回路か
ら隆起した複数の突出部を含む。フレキシブル回路をキ
ャリアブロックに固定する手段が設けられ、フレキシブ
ル回路はこの突出部を外部試験回路と接続するために隆
起した突出部と電気接触する導体を含む。本発明の特徴
によるとキャリアブロックは下部表面上に凹部を有して
形成され、圧力バ−はフレキシブル回路をキャリアブロ
ックの下面に機械的に固定するようにフレキシブル回路
をこの凹部に押付ける。
【0008】
【実施例】本発明は最初に液晶ディスプレイ装置の試験
における使用について考慮され構成されているが、試験
プロ−ブの製造および使用におけるフレキシブル回路を
使用するための説明された方法および装置が多くの他の
異なったタイプの装置の試験に容易に適合されることが
理解されよう。しかしながら、本発明の方法および装置
の特徴をよりよく理解するために、液晶ディスプレイ装
置の試験用に特別に構成され配置された装置と共に説明
する。
【0009】図1で示されているように、液晶ディスプ
レイ装置10の一部分がディスプレイ装置の内部から外部
回路に接続する多数の導電トレ−スまたはライン14を形
成されている基体12を含む。図面を明瞭にするため示さ
れているラインは少数であるが、典型的なディスプレイ
装置は数インチの空間で2千乃至5千ものラインを有す
る。これらのトレ−スは方形に形成されたディスプレイ
装置の2側面または4側面に導かれ、通常図1の16で示
されているようにトレ−ス端部で終端している。これら
のトレ−ス端部は“ディスプレイ装置コンタクト”とも
呼ばれる。平面ガラス部材18のような保護装置は基体12
とトレ−ス14の上に位置する。ディスプレイ装置12を試
験するために電気コンタクトは外部試験回路と接続する
ために装置コンタクト16の全てまたは少なくとも1つの
グル−プで作られなければならない。このために、図
2、3で示されている試験プロ−ブが設けられ、これは
通常平面の剛性の方形構造を有し、プロ−ブ支持構造24
へ接続するためにその内端部に固定して取り付けられて
いる支持バ−22を有するキャリアブロック20で構成さ
れ、プロ−ブ支持構造24は試験プロ−ブと液晶パネルの
間の運動を可能にするプロ−ブ取付け(図示せず)に接
続されている。取付け装置はまた装置のコンタクト16の
行と正確に整列するためにキャリアブロックの水平位置
および方向の調節を行う。
【0010】外部自由端部26と内部端部28との間のキャ
リアブロックの中間部分にキャリアブロックの全体の幅
を横切って延在し下面で下方向に開口している横断凹部
が形成されている。示されている凹部は通常断面が台形
の形態である。しかしながら、例えば32,34 として示さ
れている角部は凹部に押込まれるフレキシブル回路の屈
曲における応力を最小化するためある程度丸みがあるこ
とが好ましい。
【0011】キャリアブロック20の自由端部26に隣接し
て背面端部に第2の凹部38が形成されており、そこには
後述されるようにプロ−ブ試験コンタクト用の弾性の圧
力背面支持体を形成する細長い弾性のソフトで柔軟な弾
性体パッド40が接着剤により固定して取り付けられてい
る。弾性体パッド40もキャリアブロックの自由端部26と
整列する自由端部42を有する。
【0012】全体を44で示されるフレキシブル回路はキ
ャリアブロック20の下面に固定され、キャリアブロック
と弾性体パッドの自由端部26,42 と隣接または整列され
る前方自由端部50を有する。フレキシブル回路は適切な
方法でキャリアブロック20の下面に固定される。後述す
るようにこれは機械的にキャリアブロックにクランプさ
れることが好ましい。フレキシブル回路はマンドレル処
理を含む幾つかの既知の方法の1つにより製造されるこ
とができる。このようなフレキシブル回路の一部分は図
4で示されており、この図4はフレキジブル回路がキャ
リアブロックに取付けられた後の支持弾性体パッド40の
関係を示している。フレキジブル回路はフレキシブル回
路の導電性トレ−ス56(図4では図示せず)に形成され
た試験コンタクトまたはプロ−ブバンプ54の形態の突出
形態を有するポリアミドのような非導電性材料の薄いフ
レキシブルなフィルム基体52から構成されている。トレ
−ス56(図3)のような個々の回路トレ−スは各プロ−
ブ試験コンタクト54に接続され、外部回路との接続用に
フレキシブル回路に沿って延在する。58で示されるよう
な付加的なコンタクトは外部試験回路に接続するために
フレキシブル回路(図3で示す)の内部端部で形成され
ている。誘電体フィルムのパッド40は導電性トレ−スと
突出部またはバンプ54に積層されている。
【0013】液晶ディスプレイ装置用の試験プロ−ブで
の使用のために、突出部は基部で直径約0.003 インチ、
頂点で直径約0.001 インチで、回路トレ−スの表面から
約0.003 インチ突出するように形成される。試験プロ−
ブコンタクトを限定するフレキシブル回路の突出部54の
間隔および構造はディスプレイ装置のコンタクト16のパ
タ−ン、構造、間隔に適合するパタ−ン、構造、間隔で
形成される。
【0014】完成したフレキシブル回路はキャリアブロ
ックの下面に簡単に接着して固定される。しかしながら
フレキシブル回路をキャリアブロックに固定する好まし
い装置は図面で示され、部分的にキャリアブロック自体
の下面に形成された横断凹部を具備している。フレキシ
ブル回路が完成し、マンドレルから移動された後、キャ
リアブロック凹部と同様に構成された凹部を有する好ま
しい工具または型具上に置かれ、キャリアブロックの凹
部30の構造と正確に一致する構造を有する内方向に屈折
した凹部を有するフレキシブル回路を予め形成するよう
に好ましくプレスされる。フレキシブル回路は物理的、
機械的に凹部の形状と結合する形状を有する圧力バ−60
によりキャリアブロックに固定される。圧力バ−60は図
3に示されているようにキャリアブロックの総幅を横断
して延在する。フレキシブル回路は圧力バ−60の端部の
領域がクランプボルト62,64 を受けるようにキャリアブ
ロックの幅よりも短い幅を有し、これらのクランプボル
トはキャリアブロックに対して圧力バ−60を押付け、従
ってフレキシブル回路をキャリアブロックに固定するよ
うにキャリアブロックの本体にねじで固定される。必要
または所望ならばフレキシブル回路はさらに少なくとも
フレキシブル回路の一部と凹部30の外部のキャリアブロ
ックとの間の適切な接着を使用することによりキャリア
ブロックに固定されることができる。
【0015】キャリアブロックの内端部は下面で平面接
触パッド68を有する第2のフレキシブル回路66のような
試験装置接続回路の端部に対して押付けられる第2の圧
力バ−64に固定される。接続回路66の接触パッド68は従
ってフレキシブル回路44の内端部に形成される突出した
コンタクト58に対して押付けられ、プロ−ブの自由端部
に近接する試験コンタクト54はフレキシブル回路トレ−
ス56、フレキシブル回路コンタクト58、接続回路接触パ
ッド68により外部試験装置(図示せず)に接続される。
【0016】説明されたクランプ凹部と圧力バ−60はキ
ャリアブロックにフレキシブル回路の固定機械的接続を
与え、間隔が維持されるようにキャリアブロックの下面
の平面から下方向に突出しない。重要なことに、隆起し
た突出部または試験プロ−ブコンタクト54はキャリアブ
ロックの弾性体パッドとフレキシブル回路自体の相互に
整列した自由端部に近接して位置されることである。こ
れらの自由端部は試験プロ−ブと、上に伝導性トレ−ス
14が位置されているディスプレイパネルの表面上に突出
する部材18の近接した自由エッジ70との間の間隔を最大
にするためにフレキシブル回路の平面に対して直立方向
に整列して延在する。代りに自由端部はキャリアブロッ
クとディスプレイパネル部材18のエッジ70との間の間隔
を増強するために(ブロックの下面に関して)90°より
も小さい角度で延在するように後方(図2で右側)に傾
斜してもよい。例えば典型的な液晶ディスプレイ装置パ
ネルでは上面に配置されている部材18のエッジ70と装置
コンタクト16の行との間の距離は約0.08乃至0.12インチ
程度である。従ってプロ−ブコンタクト54はプロ−ブの
自由端部26,50 に近接して位置され、距離は約0.08イン
チより小さい。実施例ではコンタクト54は約0.060 イン
チの距離フレキシブル回路エッジ50の内方に間隔が設け
られており、従ってプロ−ブの自由端部と上面に配置さ
れた部材18の直立したエッジ70との間に間隔を与える。
弾性体パッド40は約0.120 インチの幅を有し、全てのプ
ロ−ブコンタクトの両側に比較的均等な圧力を提供する
ようにプロ−ブコンタクト54(図2で示されているよう
に)の行の両側について実質上対称である。
【0017】凹部30と圧力バ−60は自由端部またはより
厳密にはフレキシブル回路のプロ−ブコンタクト54と剛
性なキャリアブロックとの間の正確な位置付けと接続を
確実にするためフレキシブル回路の自由端部に比較的近
接して位置されている。従って例えば凹部30の前方エッ
ジはキャリアブロックの自由端部から約0.6 インチであ
る。
【0018】重要なことに、プロ−ブコンタクト54と装
置コンタクト16の可視的な整列を容易にし、自動的な可
視的整列装置の使用を容易にするためにキャリアブロッ
クまたは少なくともその自由端部に近接する端部と弾性
体40は透明な材料から作られる。キャリアブロック、弾
性体、フレキジブル回路の自由端部の正確な整列は従っ
て装置コンタクトとプロ−ブコンタクトの可視的な整列
を非常に容易にする可視ラインを提供する。プロ−ブコ
ンタクトに近接する領域のキャリアブロックへの圧力バ
−60によるフレキシブル回路の剛性な機械的接続は接着
材料により形成される接続で可能なようにこれらが(フ
レキシブル回路の平面で)横方向に移動しないことを確
実にする。
【0019】説明された装置ではフレキシブル回路はキ
ャリアブロックの下面に沿って完全に位置され、全ての
フレキシブル回路およびその導電性トレ−スとコンタク
トは効果的に保護され、他の装置または設備との偶然的
な接触が生じるように露出されない。
【0020】説明されたフレキシブル回路の試験プロ−
ブの使用において、キャリアブロックは部材22,24 を含
む支持装置により位置され、プロ−ブコンタクト54はデ
ィスプレイ装置のコンタクト16のライン上にある。支持
構造はプロ−ブコンタクト54がディスプレイ装置コンタ
クト16に接触させるようにプロ−ブがディスプレイ装置
上に直接下げられることを可能にする。キャリアブロッ
ク20と支持構造または支持構造自体との間の適切な接続
(図示せず)はプロ−ブコンタクト54とディスプレイ装
置コンタクト16との間の整列と接触を確実にするために
ブロックの下面の平面におけるキャリアブロックの横方
向の調節を可能にする。キャリアブロックと弾性体パッ
ドが透明であることとプロ−ブの幾つかの素子の自由端
部の整列は全てプロ−ブコンタクトの最終的な可視整列
を容易にし、自動的な可視整列装置の使用を許容する。
【0021】弾性体背面支持部材40はプロ−ブコンタク
ト54の正面と背面との両者でフレキシブル回路の上面に
対して下方向にキャリアブロックから弾性的な圧力を供
給する。これは全ての試験コンタクトにわたって統一的
な接触を提供することを促進し、プロ−ブコンタクトが
平面でない装置のコンタクトと適切に接続することを可
能にする。従って弾性体支持部材はプロ−ブコンタクト
54がディスプレイ装置の導電性トレ−スの端部16の高さ
における相違に適合するように相互に関して垂直に変位
することを可能にする。
【0022】試験プロ−ブを液晶パネルディスプレイ装
置のコンタクトと接触して試験を行うのに有効な非常に
厳密な間隔の距離に試験プロ−ブを位置するように構成
された試験プロ−ブが説明された。装置は突出した試験
コンタクトとキャリアブロックへのフレキシブル回路の
改良された強固な接続を用いたフレキシブル回路のすぐ
れた構造を使用する。
【図面の簡単な説明】
【図1】上に配置されたパネル部材のエッジに近接して
位置する装置のコンタクトと導電性トレ−スの線を示し
た液晶ディスプレイパネルの部分的斜視図。
【図2】液晶ディスプレイパネルと関連して試験する本
発明の原理を実施した試験プロ−ブの部分的斜視図。
【図3】試験プロ−ブの下面図。
【図4】図1、2、3のプロ−ブで利用されるフレキシ
ブル回路と弾性支持体パッドの部分的拡大図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョン・エス・スザレイ アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92625、コロナ・デル・マー、ピラー・ウ エイ 1001 (72)発明者 ブレイク・エフ・ウオイス アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92669、オレンジ、サウス・カスリーン・ レーン 237

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 接触パッドの行を有する基体とこの接触
    パッドの行に近接するエッジを有する前記基体上の部材
    とを具備している液晶ディスプレイ装置を試験するため
    の試験プロ−ブにおいて、 キャリアブロックと、 このキャリアブロックの下面に沿って延在し、前記キャ
    リアブロックの自由端部と一致した回路自由端部を有
    し、この回路自由端部に近接した位置に複数の隆起した
    突出部を有するフレキシブル回路と、 このフレキシブル回路を前記キャリアブロックに固定す
    る手段とを具備し、 前記フレキシブル回路は前記突出部を外部試験回路に接
    続するためにこの突出部と電気的に接続されている導体
    手段を具備していることを特徴とする試験プロ−ブ。
  2. 【請求項2】 前記フレキシブル回路を固定する手段が
    前記キャリアブロックの下面に接続するクランプブロッ
    クを具備し、前記フレキシブル回路の一部分はキャリア
    ブロックとクランプブロックとの間に挟まれている請求
    項1記載の試験プロ−ブ。
  3. 【請求項3】 前記キャリアブロックが凹部壁を有する
    横断凹部を備え、前記フレキシブル回路は前記キャリア
    ブロックの下面と前記凹部の壁に沿って延在し、前記ク
    ランプブロックは前記凹部と組み合う形状を有し、前記
    凹部中に配置され、前記フレキシブル回路はクランプブ
    ロックと凹部壁との間に挟まれている請求項2記載の試
    験プロ−ブ。
  4. 【請求項4】 前記凹部は予め定められた形状を有し、
    前記フレキシブル回路は前記予め定められた形状と一致
    した予め形成された形状を有する請求項3記載の試験プ
    ロ−ブ。
  5. 【請求項5】 前記フレキシブル回路とキャリアブロッ
    クの前記自由端部に近接する前記キャリアブロックの下
    面との間に挟まれている弾性体パッドを含む請求項1記
    載の試験プロ−ブ。
  6. 【請求項6】 前記自由端部に近接する前記キャリアブ
    ロックの少なくとも一部と前記弾性体が試験される液晶
    ディスプレイ装置の接触パッドに関して前記隆した突出
    部の可視位置を容易にするために透明である請求項5記
    載の試験プロ−ブ。
  7. 【請求項7】 前記フレキシブル回路が導電性でない基
    体と前記基体上に形成された回路とを具備し、前記回路
    は外部試験回路に接続するための前記突出部から延在す
    る複数の導電線を具備し、前記導電線は前記突出部と一
    体に形成されている請求項1記載の試験プロ−ブ。
  8. 【請求項8】 外部試験回路に前記導電線を接続するた
    めに構成され配置されている前記回路の自由端部から離
    れた位置の前記導電性導線の部分と一体的に形成されて
    いる第2のグル−プの突出部を含む請求項7記載の試験
    プロ−ブ。
  9. 【請求項9】 前記ブロックの自由端部が前記下面に関
    して90角度より大きくない角度で延在する請求項1記載
    の試験プロ−ブ。
  10. 【請求項10】 ディスプレイ装置が、 基体のエッジに近接して位置する近接した間隔の装置コ
    ンタクトの行を有する基体と、 コンタクトの前記行に沿って延在し小さい距離によりコ
    ンタクトの前記行の内方向に間隔が隔てられているエッ
    ジを有する前記基体上の部材とを具備し、 前記試験プロ−ブが、 キャリアブロックと、 このキャリアブロックの下面に沿って延在し、前記キャ
    リアブロックの自由端部で終端する回路の自由端部を具
    備し、前記回路の自由端部と近接して位置する複数の隆
    起した突出部を有するフレキシブル回路と、 前記キャリアブロックに前記フレキシブル回路を固定す
    る手段とを具備し、 前記突出部は、前記部材のエッジと装置コンタクトの前
    記行との間の距離よりも小さい距離により前記回路の自
    由端部から内方に間隔を隔てられており、 前記回路の自由端部を越えて延在する前記キャリアブロ
    ックの部分はなく、 前記フレキシブル回路は前記突出部を外部試験回路に接
    続するために前記突出部隆と電気接触する導体手段を具
    備していることを特徴とする液晶ディスプレイ装置と試
    験プロ−ブの組合わせ。
  11. 【請求項11】 前記フレキシブル回路を固定する手段
    が前記キャリアブロックの下面に接続されるクランプブ
    ロックを具備し、前記フレキシブル回路の一部分はキャ
    リアブロックとクランプブロックとの間に挟まれている
    請求項10記載の試験プロ−ブ。
  12. 【請求項12】 前記キャリアブロックが表面を限定す
    る凹部を有する横断凹部を有し、前記フレキシブル回路
    は前記キャリアブロックの下面と前記凹部の表面に沿っ
    て延在し、前記クランプブロックは前記凹部と組み合う
    形状を有し、前記凹部中に位置され、前記フレキシブル
    回路はクランプブロックと凹部表面との間に挟まれてい
    る請求項11記載の試験プロ−ブ。
  13. 【請求項13】 前記凹部が予め定められた形状を有
    し、前記フレキシブル回路が前記予め定められた凹部形
    状と一致した予め形成された形状を有する請求項12記
    載の試験プロ−ブ。
  14. 【請求項14】 装置の接触パッドの行を限定するため
    装置のエッジに近接する装置の接触パッドでそれぞれ終
    端する複数の密接した間隔の回路を支持する基体を有
    し、その基体の上に取付けられる部材を含み、装置のコ
    ンタクトの前記行に沿って延在し、それから予め定めら
    れた小さい距離の間隔を有するエッジを備えている液晶
    ディスプレイ装置の試験方法において、 フレキシブル回路を提供するためにフレキシブル基体上
    に複数の導電性トレ−スを形成し、 前記フレキシブル回路の自由端部に近接するフレキシブ
    ル回路上に複数の隆起した突出部を形成し、それらの各
    突出部は前記導電性トレ−スの1つにそれぞれ電気的に
    接続され、前記トレ−スと基体の外方に突出し、 キャリアブロックを形成し、 このキャリアブロックに前記フレキシブル回路を固定
    し、前記キャリアブロックの自由端部は前記フレキシブ
    ル回路の自由端部と整列し、前記突出部は前記フレキシ
    ブル回路の外部に延在し、前記突出部が予め定められた
    小さい距離よりも小さい距離によって前記キャリアブロ
    ックとフレキシブル回路の自由端部から間隔を隔てられ
    るように前記フレキシブル回路を位置付け、 前記キャリアブロックの自由端部と、前記ディスプレイ
    装置の部材の端部に近接するフレキシブル回路の自由端
    部を前記フレキシブル回路の前記突出部が前記装置コン
    タクトと接続するように位置付け、 前記突出部を装置コンタクトの前記行に対して押付ける
    ために前記フレキシブル回路とキャリアブロックを前記
    ディスプレイ装置に移動する段階を有することを特徴と
    する液晶ディスプレイ装置の試験方法。
  15. 【請求項15】 キャリアブロックを形成する前記段階
    が前記キャリアブロックに横断凹部を形成する段階を有
    し、フレキシブル回路を形成する前記段階が前記キャリ
    アブロック凹部と組合う構造を有する凹部を有する前記
    フレキシブル回路を予め形成する段階を有し、前記フレ
    キシブル回路を前記キャリアブロックに固定する段階が
    前記キャリアブロックの下面に対して前記フレキシブル
    回路を位置付け、前記フレキシブル回路の凹部が前記キ
    ャリアブロック凹部に受けられ、機械的に前記フレキシ
    ブル回路の凹部を前記キャリアブロック凹部において前
    記キャリアブロックにクランプする請求項14記載の方
    法。
JP6028144A 1993-02-25 1994-02-25 液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ Pending JPH075071A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340963A (ja) * 2001-05-14 2002-11-27 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 導通検査装置
US9344090B2 (en) 2011-05-16 2016-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Programmable logic device

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5917707A (en) 1993-11-16 1999-06-29 Formfactor, Inc. Flexible contact structure with an electrically conductive shell
US7073254B2 (en) * 1993-11-16 2006-07-11 Formfactor, Inc. Method for mounting a plurality of spring contact elements
US5820014A (en) 1993-11-16 1998-10-13 Form Factor, Inc. Solder preforms
JP3491700B2 (ja) * 1994-03-18 2004-01-26 富士通株式会社 半導体集積回路装置の試験用キャリア
WO1996007924A1 (en) * 1994-09-09 1996-03-14 Micromodule Systems Membrane probing of circuits
JPH10506459A (ja) * 1994-09-09 1998-06-23 マイクロモジュール・システムズ 回路のメンブレンプローブ
WO1996013967A1 (en) * 1994-10-28 1996-05-09 Micromodule Systems Programmable high density electronic testing device
US6144216A (en) * 1995-04-01 2000-11-07 Enplas Corporation Electric contact apparatus for inspecting a liquid crystal display panel
JP3001182B2 (ja) * 1995-08-29 2000-01-24 信越ポリマー株式会社 液晶パネル検査装置およびその製造方法
US8033838B2 (en) * 1996-02-21 2011-10-11 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structure
US5994152A (en) 1996-02-21 1999-11-30 Formfactor, Inc. Fabricating interconnects and tips using sacrificial substrates
US6552563B1 (en) * 1996-11-14 2003-04-22 Si Diamond Technology, Inc. Display panel test device
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
JP2003344451A (ja) * 2002-05-30 2003-12-03 Advantest Corp プローブカード、プローブカード製造方法、及び接触子
US6765203B1 (en) * 2003-01-31 2004-07-20 Shimadzu Corporation Pallet assembly for substrate inspection device and substrate inspection device
JP5406790B2 (ja) * 2009-08-04 2014-02-05 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット及びこれを用いる試験装置
JP2012233723A (ja) * 2011-04-28 2012-11-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置及びプローブユニット
TWI451178B (zh) 2011-11-07 2014-09-01 Hannstar Display Corp 陣列基板與具有該陣列基板的液晶面板及其製造方法
CN102402030B (zh) * 2011-12-07 2013-11-13 苏州华兴源创电子科技有限公司 一种液晶面板检测治具
WO2014059633A1 (zh) * 2012-10-17 2014-04-24 Zhao Lin 一种压杆式液晶屏检测连接装置
CN104236445B (zh) * 2013-06-06 2017-03-29 纬创资通股份有限公司 检测工具及利用检测工具检测内凹变形程度的检测方法
US9435855B2 (en) 2013-11-19 2016-09-06 Teradyne, Inc. Interconnect for transmitting signals between a device and a tester
US9594114B2 (en) 2014-06-26 2017-03-14 Teradyne, Inc. Structure for transmitting signals in an application space between a device under test and test electronics
CN105093574B (zh) * 2015-06-05 2018-06-08 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测台
CN105929272A (zh) * 2016-04-25 2016-09-07 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司 一种前屏幕和触摸屏测试治具
US9977052B2 (en) 2016-10-04 2018-05-22 Teradyne, Inc. Test fixture
WO2018144878A1 (en) * 2017-02-02 2018-08-09 Brigham Young University Flexible electric probe
US10677815B2 (en) 2018-06-08 2020-06-09 Teradyne, Inc. Test system having distributed resources
US11363746B2 (en) 2019-09-06 2022-06-14 Teradyne, Inc. EMI shielding for a signal trace
US11862901B2 (en) 2020-12-15 2024-01-02 Teradyne, Inc. Interposer

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365659A (ja) * 1989-08-02 1991-03-20 Takeda Sangyo Kk プローブカード
JPH03223667A (ja) * 1990-01-29 1991-10-02 Shimadzu Corp キャピラリー電気泳動装置
JPH0458131A (ja) * 1990-06-27 1992-02-25 Sharp Corp 液晶表示パネルの検査装置
JPH04252964A (ja) * 1991-01-30 1992-09-08 Sharp Corp テスターヘッド
JPH04297050A (ja) * 1991-03-12 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体検査装置およびその平板状基板の製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3832632A (en) * 1971-11-22 1974-08-27 F Ardezzone Multi-point probe head assembly
JPS5815245A (ja) * 1981-07-21 1983-01-28 Seiko Epson Corp プロ−ブカ−ド
US4571542A (en) * 1982-06-30 1986-02-18 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Method and unit for inspecting printed wiring boards
US4585727A (en) * 1984-07-27 1986-04-29 Probe-Tronics, Inc. Fixed point method and apparatus for probing semiconductor devices
JPS63149576A (ja) * 1986-12-12 1988-06-22 Mitsubishi Electric Corp 基板検査装置
GB2239744B (en) * 1989-11-07 1994-03-16 Sharp Kk Tester head
US5055776A (en) * 1990-07-10 1991-10-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Flexible membrane circuit tester
US5177438A (en) * 1991-08-02 1993-01-05 Motorola, Inc. Low resistance probe for semiconductor

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365659A (ja) * 1989-08-02 1991-03-20 Takeda Sangyo Kk プローブカード
JPH03223667A (ja) * 1990-01-29 1991-10-02 Shimadzu Corp キャピラリー電気泳動装置
JPH0458131A (ja) * 1990-06-27 1992-02-25 Sharp Corp 液晶表示パネルの検査装置
JPH04252964A (ja) * 1991-01-30 1992-09-08 Sharp Corp テスターヘッド
JPH04297050A (ja) * 1991-03-12 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体検査装置およびその平板状基板の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340963A (ja) * 2001-05-14 2002-11-27 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 導通検査装置
US9344090B2 (en) 2011-05-16 2016-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Programmable logic device

Also Published As

Publication number Publication date
US5378982A (en) 1995-01-03
IL108504A (en) 1995-12-31
IL108504A0 (en) 1994-05-30
EP0613014A1 (en) 1994-08-31

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