JPH075071A - 液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブ - Google Patents
液晶ディスプレイパネル用試験プロ−ブInfo
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- JPH075071A JPH075071A JP6028144A JP2814494A JPH075071A JP H075071 A JPH075071 A JP H075071A JP 6028144 A JP6028144 A JP 6028144A JP 2814494 A JP2814494 A JP 2814494A JP H075071 A JPH075071 A JP H075071A
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- carrier block
- recess
- circuit
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/0735—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、液晶ディスプレイ装置の微細な間
隔で配置された端子の導線に確実に接続を行うことので
きる試験プロ−ブを得ることを目的とする。 【構成】 キャリアブロック20と、このキャリアブロッ
ク20の下面に沿って延在し、キャリアブロック20の自由
端部26と一致した回路自由端部50を有し、この回路自由
端部26に近接した位置に設けられた液晶ディスプレイ装
置10の導体端部16と接触するための複数の隆起した突出
部54を有するフレキシブル回路44と、このフレキシブル
回路44をキャリアブロック20に固定するためにキャリア
ブロック20の下面の凹部30に適合して固定されるクラン
プブロック60とを具備し、フレキシブル回路44は突出部
54を外部試験回路に接続するために突出部に電気敵に接
続された導体を具備していることを特徴とする。
隔で配置された端子の導線に確実に接続を行うことので
きる試験プロ−ブを得ることを目的とする。 【構成】 キャリアブロック20と、このキャリアブロッ
ク20の下面に沿って延在し、キャリアブロック20の自由
端部26と一致した回路自由端部50を有し、この回路自由
端部26に近接した位置に設けられた液晶ディスプレイ装
置10の導体端部16と接触するための複数の隆起した突出
部54を有するフレキシブル回路44と、このフレキシブル
回路44をキャリアブロック20に固定するためにキャリア
ブロック20の下面の凹部30に適合して固定されるクラン
プブロック60とを具備し、フレキシブル回路44は突出部
54を外部試験回路に接続するために突出部に電気敵に接
続された導体を具備していることを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶ディスプレイの試
験、特に試験するためにバンプを有するフレキシブル回
路を使用する改良された方法および装置に関する。
験、特に試験するためにバンプを有するフレキシブル回
路を使用する改良された方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイ装置は特にポ−タブル
なラップトップ型のコンピュ−タの人気が急増するにし
たがって生産数が増加されている。多数のラップトップ
型コンピュ−タのスクリ−ンは、入力/出力ディスプレ
イ回路との接続のために4つの側面のエッジに延在する
2千乃至5千の導電性の回路線を有する装置パネルによ
り形成される平坦な液晶ディスプレイ装置である。薄い
平坦な部材はパネルと回路線上に配置され、導電性回路
ラインの端部により形成されるコンタクトの行に平行に
延在する外部縁部を有する。上に存在する薄い平坦部材
の縁部は導線のエッジにより限定されるディスプレイ装
置のコンタクトのエッジに近接して位置される。
なラップトップ型のコンピュ−タの人気が急増するにし
たがって生産数が増加されている。多数のラップトップ
型コンピュ−タのスクリ−ンは、入力/出力ディスプレ
イ回路との接続のために4つの側面のエッジに延在する
2千乃至5千の導電性の回路線を有する装置パネルによ
り形成される平坦な液晶ディスプレイ装置である。薄い
平坦な部材はパネルと回路線上に配置され、導電性回路
ラインの端部により形成されるコンタクトの行に平行に
延在する外部縁部を有する。上に存在する薄い平坦部材
の縁部は導線のエッジにより限定されるディスプレイ装
置のコンタクトのエッジに近接して位置される。
【0003】全ての電子装置システム部品と共にコンピ
ュ−タの組立の前および入力/出力回路を有するディス
プレイ装置の組立の前に、液晶ディスプレイ装置の動作
試験をすることが所望される。通常の試験は弾性または
スプリングのようなタンブステンで形成された多数の小
さいブレ−ドまたは針が設けられている試験カ−ドを使
用する。ブレ−ドまたは針は機械的におよび電気的に試
験回路板に接続され、試験されるディスプレイ装置との
コンタクトとして動作する。針がそれぞれ個別に試験下
で装置の1回路線のみに接触することを可能にするよう
な形状および間隔で設けられている。電気導線はプロ−
ブカ−ドが試験回路と接続するようにコンタクトから板
の外部エッジまで延在する。使用において、針を有する
試験板は液晶ディスプレイ装置の導線の端部と結合する
ように移動される。適切な位置づけのため個々のブレ−
ドまたは針は個別に調節されなければならない。この調
節は試験されるディスプレイ装置の導線端部の存在する
パタ−ンおよび間隔に一致するようにパタ−ンおよび間
隔を生成するため弾性の針を曲げることにより行われ
る。
ュ−タの組立の前および入力/出力回路を有するディス
プレイ装置の組立の前に、液晶ディスプレイ装置の動作
試験をすることが所望される。通常の試験は弾性または
スプリングのようなタンブステンで形成された多数の小
さいブレ−ドまたは針が設けられている試験カ−ドを使
用する。ブレ−ドまたは針は機械的におよび電気的に試
験回路板に接続され、試験されるディスプレイ装置との
コンタクトとして動作する。針がそれぞれ個別に試験下
で装置の1回路線のみに接触することを可能にするよう
な形状および間隔で設けられている。電気導線はプロ−
ブカ−ドが試験回路と接続するようにコンタクトから板
の外部エッジまで延在する。使用において、針を有する
試験板は液晶ディスプレイ装置の導線の端部と結合する
ように移動される。適切な位置づけのため個々のブレ−
ドまたは針は個別に調節されなければならない。この調
節は試験されるディスプレイ装置の導線端部の存在する
パタ−ンおよび間隔に一致するようにパタ−ンおよび間
隔を生成するため弾性の針を曲げることにより行われ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】針とブレ−ドの端部は
それぞれが試験下の装置の導電性トレ−スと電気接触す
ることを確実にするために全て同一の面で下げなければ
ならない。これはプロ−ブカ−ド上に設けられた後ブレ
−ドを曲げることにより達成されるが困難で、時間がか
かり高価である。このような調節の後でさえも、針はも
との位置へ戻るように移動する傾向があり、調節された
位置が失われる。調節のこの損失はまた試験される装置
に対する針の圧力から生じ、回路導線を被覆する酸素の
浸透を確実にするのに必要または好ましい洗浄動作によ
り悪化される。結果として、一定の保守作業が必要であ
り、或いはプロ−ブカ−ドは意図している機能を行わな
くなる。適切に調整された時でさえ、針は複数の液晶面
または導電線端部の平面における顕著な差を補償するこ
とが不可能で、従って針はディスプレイ装置に対して過
剰な力を与え、いくつかの導線を破損してしまう。さら
に、非常に微細なピッチの導線(例えば.004乃至.005イ
ンチのピッチ)を試験するのに必要な密接した間隔は通
常の針コンタクトで達成することはできず、または試験
プロ−ブを非常に高価にし、試験中の機械的ダメ−ジを
受けやすくする。
それぞれが試験下の装置の導電性トレ−スと電気接触す
ることを確実にするために全て同一の面で下げなければ
ならない。これはプロ−ブカ−ド上に設けられた後ブレ
−ドを曲げることにより達成されるが困難で、時間がか
かり高価である。このような調節の後でさえも、針はも
との位置へ戻るように移動する傾向があり、調節された
位置が失われる。調節のこの損失はまた試験される装置
に対する針の圧力から生じ、回路導線を被覆する酸素の
浸透を確実にするのに必要または好ましい洗浄動作によ
り悪化される。結果として、一定の保守作業が必要であ
り、或いはプロ−ブカ−ドは意図している機能を行わな
くなる。適切に調整された時でさえ、針は複数の液晶面
または導電線端部の平面における顕著な差を補償するこ
とが不可能で、従って針はディスプレイ装置に対して過
剰な力を与え、いくつかの導線を破損してしまう。さら
に、非常に微細なピッチの導線(例えば.004乃至.005イ
ンチのピッチ)を試験するのに必要な密接した間隔は通
常の針コンタクトで達成することはできず、または試験
プロ−ブを非常に高価にし、試験中の機械的ダメ−ジを
受けやすくする。
【0005】さらに、液晶ディスプレイパネルの試験で
は上部に配置されている部材のエッジがディスプレイ装
置上の導電性線の端部に近接するので非常に小さい間隔
を限定し、従って上部に配置される部材のエッジとの干
渉を防ぐため針コンタクトのより正確な位置づけを必要
とする。
は上部に配置されている部材のエッジがディスプレイ装
置上の導電性線の端部に近接するので非常に小さい間隔
を限定し、従って上部に配置される部材のエッジとの干
渉を防ぐため針コンタクトのより正確な位置づけを必要
とする。
【0006】従って本発明の目的は、前述の問題を避
け、または最小限に押さえる試験方法および試験装置を
提供することである。
け、または最小限に押さえる試験方法および試験装置を
提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】好ましい実施例による本
発明の原理の実行において、自由端部と下面を有するキ
ャリアブロックを有する試験プロ−ブが設けられてい
る。ブロックの下面に沿って延在するフレキシブル回路
はキャリアブロックの自由端部と一致した回路自由端部
を有する。フレキシブル回路は、回路の自由端部と近接
するが内側に間隔を有する位置で、フレキシブル回路か
ら隆起した複数の突出部を含む。フレキシブル回路をキ
ャリアブロックに固定する手段が設けられ、フレキシブ
ル回路はこの突出部を外部試験回路と接続するために隆
起した突出部と電気接触する導体を含む。本発明の特徴
によるとキャリアブロックは下部表面上に凹部を有して
形成され、圧力バ−はフレキシブル回路をキャリアブロ
ックの下面に機械的に固定するようにフレキシブル回路
をこの凹部に押付ける。
発明の原理の実行において、自由端部と下面を有するキ
ャリアブロックを有する試験プロ−ブが設けられてい
る。ブロックの下面に沿って延在するフレキシブル回路
はキャリアブロックの自由端部と一致した回路自由端部
を有する。フレキシブル回路は、回路の自由端部と近接
するが内側に間隔を有する位置で、フレキシブル回路か
ら隆起した複数の突出部を含む。フレキシブル回路をキ
ャリアブロックに固定する手段が設けられ、フレキシブ
ル回路はこの突出部を外部試験回路と接続するために隆
起した突出部と電気接触する導体を含む。本発明の特徴
によるとキャリアブロックは下部表面上に凹部を有して
形成され、圧力バ−はフレキシブル回路をキャリアブロ
ックの下面に機械的に固定するようにフレキシブル回路
をこの凹部に押付ける。
【0008】
【実施例】本発明は最初に液晶ディスプレイ装置の試験
における使用について考慮され構成されているが、試験
プロ−ブの製造および使用におけるフレキシブル回路を
使用するための説明された方法および装置が多くの他の
異なったタイプの装置の試験に容易に適合されることが
理解されよう。しかしながら、本発明の方法および装置
の特徴をよりよく理解するために、液晶ディスプレイ装
置の試験用に特別に構成され配置された装置と共に説明
する。
における使用について考慮され構成されているが、試験
プロ−ブの製造および使用におけるフレキシブル回路を
使用するための説明された方法および装置が多くの他の
異なったタイプの装置の試験に容易に適合されることが
理解されよう。しかしながら、本発明の方法および装置
の特徴をよりよく理解するために、液晶ディスプレイ装
置の試験用に特別に構成され配置された装置と共に説明
する。
【0009】図1で示されているように、液晶ディスプ
レイ装置10の一部分がディスプレイ装置の内部から外部
回路に接続する多数の導電トレ−スまたはライン14を形
成されている基体12を含む。図面を明瞭にするため示さ
れているラインは少数であるが、典型的なディスプレイ
装置は数インチの空間で2千乃至5千ものラインを有す
る。これらのトレ−スは方形に形成されたディスプレイ
装置の2側面または4側面に導かれ、通常図1の16で示
されているようにトレ−ス端部で終端している。これら
のトレ−ス端部は“ディスプレイ装置コンタクト”とも
呼ばれる。平面ガラス部材18のような保護装置は基体12
とトレ−ス14の上に位置する。ディスプレイ装置12を試
験するために電気コンタクトは外部試験回路と接続する
ために装置コンタクト16の全てまたは少なくとも1つの
グル−プで作られなければならない。このために、図
2、3で示されている試験プロ−ブが設けられ、これは
通常平面の剛性の方形構造を有し、プロ−ブ支持構造24
へ接続するためにその内端部に固定して取り付けられて
いる支持バ−22を有するキャリアブロック20で構成さ
れ、プロ−ブ支持構造24は試験プロ−ブと液晶パネルの
間の運動を可能にするプロ−ブ取付け(図示せず)に接
続されている。取付け装置はまた装置のコンタクト16の
行と正確に整列するためにキャリアブロックの水平位置
および方向の調節を行う。
レイ装置10の一部分がディスプレイ装置の内部から外部
回路に接続する多数の導電トレ−スまたはライン14を形
成されている基体12を含む。図面を明瞭にするため示さ
れているラインは少数であるが、典型的なディスプレイ
装置は数インチの空間で2千乃至5千ものラインを有す
る。これらのトレ−スは方形に形成されたディスプレイ
装置の2側面または4側面に導かれ、通常図1の16で示
されているようにトレ−ス端部で終端している。これら
のトレ−ス端部は“ディスプレイ装置コンタクト”とも
呼ばれる。平面ガラス部材18のような保護装置は基体12
とトレ−ス14の上に位置する。ディスプレイ装置12を試
験するために電気コンタクトは外部試験回路と接続する
ために装置コンタクト16の全てまたは少なくとも1つの
グル−プで作られなければならない。このために、図
2、3で示されている試験プロ−ブが設けられ、これは
通常平面の剛性の方形構造を有し、プロ−ブ支持構造24
へ接続するためにその内端部に固定して取り付けられて
いる支持バ−22を有するキャリアブロック20で構成さ
れ、プロ−ブ支持構造24は試験プロ−ブと液晶パネルの
間の運動を可能にするプロ−ブ取付け(図示せず)に接
続されている。取付け装置はまた装置のコンタクト16の
行と正確に整列するためにキャリアブロックの水平位置
および方向の調節を行う。
【0010】外部自由端部26と内部端部28との間のキャ
リアブロックの中間部分にキャリアブロックの全体の幅
を横切って延在し下面で下方向に開口している横断凹部
が形成されている。示されている凹部は通常断面が台形
の形態である。しかしながら、例えば32,34 として示さ
れている角部は凹部に押込まれるフレキシブル回路の屈
曲における応力を最小化するためある程度丸みがあるこ
とが好ましい。
リアブロックの中間部分にキャリアブロックの全体の幅
を横切って延在し下面で下方向に開口している横断凹部
が形成されている。示されている凹部は通常断面が台形
の形態である。しかしながら、例えば32,34 として示さ
れている角部は凹部に押込まれるフレキシブル回路の屈
曲における応力を最小化するためある程度丸みがあるこ
とが好ましい。
【0011】キャリアブロック20の自由端部26に隣接し
て背面端部に第2の凹部38が形成されており、そこには
後述されるようにプロ−ブ試験コンタクト用の弾性の圧
力背面支持体を形成する細長い弾性のソフトで柔軟な弾
性体パッド40が接着剤により固定して取り付けられてい
る。弾性体パッド40もキャリアブロックの自由端部26と
整列する自由端部42を有する。
て背面端部に第2の凹部38が形成されており、そこには
後述されるようにプロ−ブ試験コンタクト用の弾性の圧
力背面支持体を形成する細長い弾性のソフトで柔軟な弾
性体パッド40が接着剤により固定して取り付けられてい
る。弾性体パッド40もキャリアブロックの自由端部26と
整列する自由端部42を有する。
【0012】全体を44で示されるフレキシブル回路はキ
ャリアブロック20の下面に固定され、キャリアブロック
と弾性体パッドの自由端部26,42 と隣接または整列され
る前方自由端部50を有する。フレキシブル回路は適切な
方法でキャリアブロック20の下面に固定される。後述す
るようにこれは機械的にキャリアブロックにクランプさ
れることが好ましい。フレキシブル回路はマンドレル処
理を含む幾つかの既知の方法の1つにより製造されるこ
とができる。このようなフレキシブル回路の一部分は図
4で示されており、この図4はフレキジブル回路がキャ
リアブロックに取付けられた後の支持弾性体パッド40の
関係を示している。フレキジブル回路はフレキシブル回
路の導電性トレ−ス56(図4では図示せず)に形成され
た試験コンタクトまたはプロ−ブバンプ54の形態の突出
形態を有するポリアミドのような非導電性材料の薄いフ
レキシブルなフィルム基体52から構成されている。トレ
−ス56(図3)のような個々の回路トレ−スは各プロ−
ブ試験コンタクト54に接続され、外部回路との接続用に
フレキシブル回路に沿って延在する。58で示されるよう
な付加的なコンタクトは外部試験回路に接続するために
フレキシブル回路(図3で示す)の内部端部で形成され
ている。誘電体フィルムのパッド40は導電性トレ−スと
突出部またはバンプ54に積層されている。
ャリアブロック20の下面に固定され、キャリアブロック
と弾性体パッドの自由端部26,42 と隣接または整列され
る前方自由端部50を有する。フレキシブル回路は適切な
方法でキャリアブロック20の下面に固定される。後述す
るようにこれは機械的にキャリアブロックにクランプさ
れることが好ましい。フレキシブル回路はマンドレル処
理を含む幾つかの既知の方法の1つにより製造されるこ
とができる。このようなフレキシブル回路の一部分は図
4で示されており、この図4はフレキジブル回路がキャ
リアブロックに取付けられた後の支持弾性体パッド40の
関係を示している。フレキジブル回路はフレキシブル回
路の導電性トレ−ス56(図4では図示せず)に形成され
た試験コンタクトまたはプロ−ブバンプ54の形態の突出
形態を有するポリアミドのような非導電性材料の薄いフ
レキシブルなフィルム基体52から構成されている。トレ
−ス56(図3)のような個々の回路トレ−スは各プロ−
ブ試験コンタクト54に接続され、外部回路との接続用に
フレキシブル回路に沿って延在する。58で示されるよう
な付加的なコンタクトは外部試験回路に接続するために
フレキシブル回路(図3で示す)の内部端部で形成され
ている。誘電体フィルムのパッド40は導電性トレ−スと
突出部またはバンプ54に積層されている。
【0013】液晶ディスプレイ装置用の試験プロ−ブで
の使用のために、突出部は基部で直径約0.003 インチ、
頂点で直径約0.001 インチで、回路トレ−スの表面から
約0.003 インチ突出するように形成される。試験プロ−
ブコンタクトを限定するフレキシブル回路の突出部54の
間隔および構造はディスプレイ装置のコンタクト16のパ
タ−ン、構造、間隔に適合するパタ−ン、構造、間隔で
形成される。
の使用のために、突出部は基部で直径約0.003 インチ、
頂点で直径約0.001 インチで、回路トレ−スの表面から
約0.003 インチ突出するように形成される。試験プロ−
ブコンタクトを限定するフレキシブル回路の突出部54の
間隔および構造はディスプレイ装置のコンタクト16のパ
タ−ン、構造、間隔に適合するパタ−ン、構造、間隔で
形成される。
【0014】完成したフレキシブル回路はキャリアブロ
ックの下面に簡単に接着して固定される。しかしながら
フレキシブル回路をキャリアブロックに固定する好まし
い装置は図面で示され、部分的にキャリアブロック自体
の下面に形成された横断凹部を具備している。フレキシ
ブル回路が完成し、マンドレルから移動された後、キャ
リアブロック凹部と同様に構成された凹部を有する好ま
しい工具または型具上に置かれ、キャリアブロックの凹
部30の構造と正確に一致する構造を有する内方向に屈折
した凹部を有するフレキシブル回路を予め形成するよう
に好ましくプレスされる。フレキシブル回路は物理的、
機械的に凹部の形状と結合する形状を有する圧力バ−60
によりキャリアブロックに固定される。圧力バ−60は図
3に示されているようにキャリアブロックの総幅を横断
して延在する。フレキシブル回路は圧力バ−60の端部の
領域がクランプボルト62,64 を受けるようにキャリアブ
ロックの幅よりも短い幅を有し、これらのクランプボル
トはキャリアブロックに対して圧力バ−60を押付け、従
ってフレキシブル回路をキャリアブロックに固定するよ
うにキャリアブロックの本体にねじで固定される。必要
または所望ならばフレキシブル回路はさらに少なくとも
フレキシブル回路の一部と凹部30の外部のキャリアブロ
ックとの間の適切な接着を使用することによりキャリア
ブロックに固定されることができる。
ックの下面に簡単に接着して固定される。しかしながら
フレキシブル回路をキャリアブロックに固定する好まし
い装置は図面で示され、部分的にキャリアブロック自体
の下面に形成された横断凹部を具備している。フレキシ
ブル回路が完成し、マンドレルから移動された後、キャ
リアブロック凹部と同様に構成された凹部を有する好ま
しい工具または型具上に置かれ、キャリアブロックの凹
部30の構造と正確に一致する構造を有する内方向に屈折
した凹部を有するフレキシブル回路を予め形成するよう
に好ましくプレスされる。フレキシブル回路は物理的、
機械的に凹部の形状と結合する形状を有する圧力バ−60
によりキャリアブロックに固定される。圧力バ−60は図
3に示されているようにキャリアブロックの総幅を横断
して延在する。フレキシブル回路は圧力バ−60の端部の
領域がクランプボルト62,64 を受けるようにキャリアブ
ロックの幅よりも短い幅を有し、これらのクランプボル
トはキャリアブロックに対して圧力バ−60を押付け、従
ってフレキシブル回路をキャリアブロックに固定するよ
うにキャリアブロックの本体にねじで固定される。必要
または所望ならばフレキシブル回路はさらに少なくとも
フレキシブル回路の一部と凹部30の外部のキャリアブロ
ックとの間の適切な接着を使用することによりキャリア
ブロックに固定されることができる。
【0015】キャリアブロックの内端部は下面で平面接
触パッド68を有する第2のフレキシブル回路66のような
試験装置接続回路の端部に対して押付けられる第2の圧
力バ−64に固定される。接続回路66の接触パッド68は従
ってフレキシブル回路44の内端部に形成される突出した
コンタクト58に対して押付けられ、プロ−ブの自由端部
に近接する試験コンタクト54はフレキシブル回路トレ−
ス56、フレキシブル回路コンタクト58、接続回路接触パ
ッド68により外部試験装置(図示せず)に接続される。
触パッド68を有する第2のフレキシブル回路66のような
試験装置接続回路の端部に対して押付けられる第2の圧
力バ−64に固定される。接続回路66の接触パッド68は従
ってフレキシブル回路44の内端部に形成される突出した
コンタクト58に対して押付けられ、プロ−ブの自由端部
に近接する試験コンタクト54はフレキシブル回路トレ−
ス56、フレキシブル回路コンタクト58、接続回路接触パ
ッド68により外部試験装置(図示せず)に接続される。
【0016】説明されたクランプ凹部と圧力バ−60はキ
ャリアブロックにフレキシブル回路の固定機械的接続を
与え、間隔が維持されるようにキャリアブロックの下面
の平面から下方向に突出しない。重要なことに、隆起し
た突出部または試験プロ−ブコンタクト54はキャリアブ
ロックの弾性体パッドとフレキシブル回路自体の相互に
整列した自由端部に近接して位置されることである。こ
れらの自由端部は試験プロ−ブと、上に伝導性トレ−ス
14が位置されているディスプレイパネルの表面上に突出
する部材18の近接した自由エッジ70との間の間隔を最大
にするためにフレキシブル回路の平面に対して直立方向
に整列して延在する。代りに自由端部はキャリアブロッ
クとディスプレイパネル部材18のエッジ70との間の間隔
を増強するために(ブロックの下面に関して)90°より
も小さい角度で延在するように後方(図2で右側)に傾
斜してもよい。例えば典型的な液晶ディスプレイ装置パ
ネルでは上面に配置されている部材18のエッジ70と装置
コンタクト16の行との間の距離は約0.08乃至0.12インチ
程度である。従ってプロ−ブコンタクト54はプロ−ブの
自由端部26,50 に近接して位置され、距離は約0.08イン
チより小さい。実施例ではコンタクト54は約0.060 イン
チの距離フレキシブル回路エッジ50の内方に間隔が設け
られており、従ってプロ−ブの自由端部と上面に配置さ
れた部材18の直立したエッジ70との間に間隔を与える。
弾性体パッド40は約0.120 インチの幅を有し、全てのプ
ロ−ブコンタクトの両側に比較的均等な圧力を提供する
ようにプロ−ブコンタクト54(図2で示されているよう
に)の行の両側について実質上対称である。
ャリアブロックにフレキシブル回路の固定機械的接続を
与え、間隔が維持されるようにキャリアブロックの下面
の平面から下方向に突出しない。重要なことに、隆起し
た突出部または試験プロ−ブコンタクト54はキャリアブ
ロックの弾性体パッドとフレキシブル回路自体の相互に
整列した自由端部に近接して位置されることである。こ
れらの自由端部は試験プロ−ブと、上に伝導性トレ−ス
14が位置されているディスプレイパネルの表面上に突出
する部材18の近接した自由エッジ70との間の間隔を最大
にするためにフレキシブル回路の平面に対して直立方向
に整列して延在する。代りに自由端部はキャリアブロッ
クとディスプレイパネル部材18のエッジ70との間の間隔
を増強するために(ブロックの下面に関して)90°より
も小さい角度で延在するように後方(図2で右側)に傾
斜してもよい。例えば典型的な液晶ディスプレイ装置パ
ネルでは上面に配置されている部材18のエッジ70と装置
コンタクト16の行との間の距離は約0.08乃至0.12インチ
程度である。従ってプロ−ブコンタクト54はプロ−ブの
自由端部26,50 に近接して位置され、距離は約0.08イン
チより小さい。実施例ではコンタクト54は約0.060 イン
チの距離フレキシブル回路エッジ50の内方に間隔が設け
られており、従ってプロ−ブの自由端部と上面に配置さ
れた部材18の直立したエッジ70との間に間隔を与える。
弾性体パッド40は約0.120 インチの幅を有し、全てのプ
ロ−ブコンタクトの両側に比較的均等な圧力を提供する
ようにプロ−ブコンタクト54(図2で示されているよう
に)の行の両側について実質上対称である。
【0017】凹部30と圧力バ−60は自由端部またはより
厳密にはフレキシブル回路のプロ−ブコンタクト54と剛
性なキャリアブロックとの間の正確な位置付けと接続を
確実にするためフレキシブル回路の自由端部に比較的近
接して位置されている。従って例えば凹部30の前方エッ
ジはキャリアブロックの自由端部から約0.6 インチであ
る。
厳密にはフレキシブル回路のプロ−ブコンタクト54と剛
性なキャリアブロックとの間の正確な位置付けと接続を
確実にするためフレキシブル回路の自由端部に比較的近
接して位置されている。従って例えば凹部30の前方エッ
ジはキャリアブロックの自由端部から約0.6 インチであ
る。
【0018】重要なことに、プロ−ブコンタクト54と装
置コンタクト16の可視的な整列を容易にし、自動的な可
視的整列装置の使用を容易にするためにキャリアブロッ
クまたは少なくともその自由端部に近接する端部と弾性
体40は透明な材料から作られる。キャリアブロック、弾
性体、フレキジブル回路の自由端部の正確な整列は従っ
て装置コンタクトとプロ−ブコンタクトの可視的な整列
を非常に容易にする可視ラインを提供する。プロ−ブコ
ンタクトに近接する領域のキャリアブロックへの圧力バ
−60によるフレキシブル回路の剛性な機械的接続は接着
材料により形成される接続で可能なようにこれらが(フ
レキシブル回路の平面で)横方向に移動しないことを確
実にする。
置コンタクト16の可視的な整列を容易にし、自動的な可
視的整列装置の使用を容易にするためにキャリアブロッ
クまたは少なくともその自由端部に近接する端部と弾性
体40は透明な材料から作られる。キャリアブロック、弾
性体、フレキジブル回路の自由端部の正確な整列は従っ
て装置コンタクトとプロ−ブコンタクトの可視的な整列
を非常に容易にする可視ラインを提供する。プロ−ブコ
ンタクトに近接する領域のキャリアブロックへの圧力バ
−60によるフレキシブル回路の剛性な機械的接続は接着
材料により形成される接続で可能なようにこれらが(フ
レキシブル回路の平面で)横方向に移動しないことを確
実にする。
【0019】説明された装置ではフレキシブル回路はキ
ャリアブロックの下面に沿って完全に位置され、全ての
フレキシブル回路およびその導電性トレ−スとコンタク
トは効果的に保護され、他の装置または設備との偶然的
な接触が生じるように露出されない。
ャリアブロックの下面に沿って完全に位置され、全ての
フレキシブル回路およびその導電性トレ−スとコンタク
トは効果的に保護され、他の装置または設備との偶然的
な接触が生じるように露出されない。
【0020】説明されたフレキシブル回路の試験プロ−
ブの使用において、キャリアブロックは部材22,24 を含
む支持装置により位置され、プロ−ブコンタクト54はデ
ィスプレイ装置のコンタクト16のライン上にある。支持
構造はプロ−ブコンタクト54がディスプレイ装置コンタ
クト16に接触させるようにプロ−ブがディスプレイ装置
上に直接下げられることを可能にする。キャリアブロッ
ク20と支持構造または支持構造自体との間の適切な接続
(図示せず)はプロ−ブコンタクト54とディスプレイ装
置コンタクト16との間の整列と接触を確実にするために
ブロックの下面の平面におけるキャリアブロックの横方
向の調節を可能にする。キャリアブロックと弾性体パッ
ドが透明であることとプロ−ブの幾つかの素子の自由端
部の整列は全てプロ−ブコンタクトの最終的な可視整列
を容易にし、自動的な可視整列装置の使用を許容する。
ブの使用において、キャリアブロックは部材22,24 を含
む支持装置により位置され、プロ−ブコンタクト54はデ
ィスプレイ装置のコンタクト16のライン上にある。支持
構造はプロ−ブコンタクト54がディスプレイ装置コンタ
クト16に接触させるようにプロ−ブがディスプレイ装置
上に直接下げられることを可能にする。キャリアブロッ
ク20と支持構造または支持構造自体との間の適切な接続
(図示せず)はプロ−ブコンタクト54とディスプレイ装
置コンタクト16との間の整列と接触を確実にするために
ブロックの下面の平面におけるキャリアブロックの横方
向の調節を可能にする。キャリアブロックと弾性体パッ
ドが透明であることとプロ−ブの幾つかの素子の自由端
部の整列は全てプロ−ブコンタクトの最終的な可視整列
を容易にし、自動的な可視整列装置の使用を許容する。
【0021】弾性体背面支持部材40はプロ−ブコンタク
ト54の正面と背面との両者でフレキシブル回路の上面に
対して下方向にキャリアブロックから弾性的な圧力を供
給する。これは全ての試験コンタクトにわたって統一的
な接触を提供することを促進し、プロ−ブコンタクトが
平面でない装置のコンタクトと適切に接続することを可
能にする。従って弾性体支持部材はプロ−ブコンタクト
54がディスプレイ装置の導電性トレ−スの端部16の高さ
における相違に適合するように相互に関して垂直に変位
することを可能にする。
ト54の正面と背面との両者でフレキシブル回路の上面に
対して下方向にキャリアブロックから弾性的な圧力を供
給する。これは全ての試験コンタクトにわたって統一的
な接触を提供することを促進し、プロ−ブコンタクトが
平面でない装置のコンタクトと適切に接続することを可
能にする。従って弾性体支持部材はプロ−ブコンタクト
54がディスプレイ装置の導電性トレ−スの端部16の高さ
における相違に適合するように相互に関して垂直に変位
することを可能にする。
【0022】試験プロ−ブを液晶パネルディスプレイ装
置のコンタクトと接触して試験を行うのに有効な非常に
厳密な間隔の距離に試験プロ−ブを位置するように構成
された試験プロ−ブが説明された。装置は突出した試験
コンタクトとキャリアブロックへのフレキシブル回路の
改良された強固な接続を用いたフレキシブル回路のすぐ
れた構造を使用する。
置のコンタクトと接触して試験を行うのに有効な非常に
厳密な間隔の距離に試験プロ−ブを位置するように構成
された試験プロ−ブが説明された。装置は突出した試験
コンタクトとキャリアブロックへのフレキシブル回路の
改良された強固な接続を用いたフレキシブル回路のすぐ
れた構造を使用する。
【図1】上に配置されたパネル部材のエッジに近接して
位置する装置のコンタクトと導電性トレ−スの線を示し
た液晶ディスプレイパネルの部分的斜視図。
位置する装置のコンタクトと導電性トレ−スの線を示し
た液晶ディスプレイパネルの部分的斜視図。
【図2】液晶ディスプレイパネルと関連して試験する本
発明の原理を実施した試験プロ−ブの部分的斜視図。
発明の原理を実施した試験プロ−ブの部分的斜視図。
【図3】試験プロ−ブの下面図。
【図4】図1、2、3のプロ−ブで利用されるフレキシ
ブル回路と弾性支持体パッドの部分的拡大図。
ブル回路と弾性支持体パッドの部分的拡大図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョン・エス・スザレイ アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92625、コロナ・デル・マー、ピラー・ウ エイ 1001 (72)発明者 ブレイク・エフ・ウオイス アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92669、オレンジ、サウス・カスリーン・ レーン 237
Claims (15)
- 【請求項1】 接触パッドの行を有する基体とこの接触
パッドの行に近接するエッジを有する前記基体上の部材
とを具備している液晶ディスプレイ装置を試験するため
の試験プロ−ブにおいて、 キャリアブロックと、 このキャリアブロックの下面に沿って延在し、前記キャ
リアブロックの自由端部と一致した回路自由端部を有
し、この回路自由端部に近接した位置に複数の隆起した
突出部を有するフレキシブル回路と、 このフレキシブル回路を前記キャリアブロックに固定す
る手段とを具備し、 前記フレキシブル回路は前記突出部を外部試験回路に接
続するためにこの突出部と電気的に接続されている導体
手段を具備していることを特徴とする試験プロ−ブ。 - 【請求項2】 前記フレキシブル回路を固定する手段が
前記キャリアブロックの下面に接続するクランプブロッ
クを具備し、前記フレキシブル回路の一部分はキャリア
ブロックとクランプブロックとの間に挟まれている請求
項1記載の試験プロ−ブ。 - 【請求項3】 前記キャリアブロックが凹部壁を有する
横断凹部を備え、前記フレキシブル回路は前記キャリア
ブロックの下面と前記凹部の壁に沿って延在し、前記ク
ランプブロックは前記凹部と組み合う形状を有し、前記
凹部中に配置され、前記フレキシブル回路はクランプブ
ロックと凹部壁との間に挟まれている請求項2記載の試
験プロ−ブ。 - 【請求項4】 前記凹部は予め定められた形状を有し、
前記フレキシブル回路は前記予め定められた形状と一致
した予め形成された形状を有する請求項3記載の試験プ
ロ−ブ。 - 【請求項5】 前記フレキシブル回路とキャリアブロッ
クの前記自由端部に近接する前記キャリアブロックの下
面との間に挟まれている弾性体パッドを含む請求項1記
載の試験プロ−ブ。 - 【請求項6】 前記自由端部に近接する前記キャリアブ
ロックの少なくとも一部と前記弾性体が試験される液晶
ディスプレイ装置の接触パッドに関して前記隆した突出
部の可視位置を容易にするために透明である請求項5記
載の試験プロ−ブ。 - 【請求項7】 前記フレキシブル回路が導電性でない基
体と前記基体上に形成された回路とを具備し、前記回路
は外部試験回路に接続するための前記突出部から延在す
る複数の導電線を具備し、前記導電線は前記突出部と一
体に形成されている請求項1記載の試験プロ−ブ。 - 【請求項8】 外部試験回路に前記導電線を接続するた
めに構成され配置されている前記回路の自由端部から離
れた位置の前記導電性導線の部分と一体的に形成されて
いる第2のグル−プの突出部を含む請求項7記載の試験
プロ−ブ。 - 【請求項9】 前記ブロックの自由端部が前記下面に関
して90角度より大きくない角度で延在する請求項1記載
の試験プロ−ブ。 - 【請求項10】 ディスプレイ装置が、 基体のエッジに近接して位置する近接した間隔の装置コ
ンタクトの行を有する基体と、 コンタクトの前記行に沿って延在し小さい距離によりコ
ンタクトの前記行の内方向に間隔が隔てられているエッ
ジを有する前記基体上の部材とを具備し、 前記試験プロ−ブが、 キャリアブロックと、 このキャリアブロックの下面に沿って延在し、前記キャ
リアブロックの自由端部で終端する回路の自由端部を具
備し、前記回路の自由端部と近接して位置する複数の隆
起した突出部を有するフレキシブル回路と、 前記キャリアブロックに前記フレキシブル回路を固定す
る手段とを具備し、 前記突出部は、前記部材のエッジと装置コンタクトの前
記行との間の距離よりも小さい距離により前記回路の自
由端部から内方に間隔を隔てられており、 前記回路の自由端部を越えて延在する前記キャリアブロ
ックの部分はなく、 前記フレキシブル回路は前記突出部を外部試験回路に接
続するために前記突出部隆と電気接触する導体手段を具
備していることを特徴とする液晶ディスプレイ装置と試
験プロ−ブの組合わせ。 - 【請求項11】 前記フレキシブル回路を固定する手段
が前記キャリアブロックの下面に接続されるクランプブ
ロックを具備し、前記フレキシブル回路の一部分はキャ
リアブロックとクランプブロックとの間に挟まれている
請求項10記載の試験プロ−ブ。 - 【請求項12】 前記キャリアブロックが表面を限定す
る凹部を有する横断凹部を有し、前記フレキシブル回路
は前記キャリアブロックの下面と前記凹部の表面に沿っ
て延在し、前記クランプブロックは前記凹部と組み合う
形状を有し、前記凹部中に位置され、前記フレキシブル
回路はクランプブロックと凹部表面との間に挟まれてい
る請求項11記載の試験プロ−ブ。 - 【請求項13】 前記凹部が予め定められた形状を有
し、前記フレキシブル回路が前記予め定められた凹部形
状と一致した予め形成された形状を有する請求項12記
載の試験プロ−ブ。 - 【請求項14】 装置の接触パッドの行を限定するため
装置のエッジに近接する装置の接触パッドでそれぞれ終
端する複数の密接した間隔の回路を支持する基体を有
し、その基体の上に取付けられる部材を含み、装置のコ
ンタクトの前記行に沿って延在し、それから予め定めら
れた小さい距離の間隔を有するエッジを備えている液晶
ディスプレイ装置の試験方法において、 フレキシブル回路を提供するためにフレキシブル基体上
に複数の導電性トレ−スを形成し、 前記フレキシブル回路の自由端部に近接するフレキシブ
ル回路上に複数の隆起した突出部を形成し、それらの各
突出部は前記導電性トレ−スの1つにそれぞれ電気的に
接続され、前記トレ−スと基体の外方に突出し、 キャリアブロックを形成し、 このキャリアブロックに前記フレキシブル回路を固定
し、前記キャリアブロックの自由端部は前記フレキシブ
ル回路の自由端部と整列し、前記突出部は前記フレキシ
ブル回路の外部に延在し、前記突出部が予め定められた
小さい距離よりも小さい距離によって前記キャリアブロ
ックとフレキシブル回路の自由端部から間隔を隔てられ
るように前記フレキシブル回路を位置付け、 前記キャリアブロックの自由端部と、前記ディスプレイ
装置の部材の端部に近接するフレキシブル回路の自由端
部を前記フレキシブル回路の前記突出部が前記装置コン
タクトと接続するように位置付け、 前記突出部を装置コンタクトの前記行に対して押付ける
ために前記フレキシブル回路とキャリアブロックを前記
ディスプレイ装置に移動する段階を有することを特徴と
する液晶ディスプレイ装置の試験方法。 - 【請求項15】 キャリアブロックを形成する前記段階
が前記キャリアブロックに横断凹部を形成する段階を有
し、フレキシブル回路を形成する前記段階が前記キャリ
アブロック凹部と組合う構造を有する凹部を有する前記
フレキシブル回路を予め形成する段階を有し、前記フレ
キシブル回路を前記キャリアブロックに固定する段階が
前記キャリアブロックの下面に対して前記フレキシブル
回路を位置付け、前記フレキシブル回路の凹部が前記キ
ャリアブロック凹部に受けられ、機械的に前記フレキシ
ブル回路の凹部を前記キャリアブロック凹部において前
記キャリアブロックにクランプする請求項14記載の方
法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US023019 | 1993-02-25 | ||
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---|---|
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Family
ID=21812662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5378982A (ja) |
EP (1) | EP0613014A1 (ja) |
JP (1) | JPH075071A (ja) |
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