CN109085391B - 电子设备测试装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子设备测试领域，本发明是要解决如何在电子设备测试时简化其安装和拆卸过程的问题，提出一种电子设备测试装置及电子设备，电子设备测试装置，包括底板、固定装置和至少一个第一滑动固定装置，第一滑动固定装置与固定装置配合形成一个夹持结构，实现了电子设备在测试时快速拆卸，测试装置可循环使用的目的，简化了测试时的安装和拆卸过程，此外，通过将待测电子设备的PIN脚连接至排针，在测试时插入排线即可开始对电子设备的测试，方便接线，简化了测试流程，适用于模块化的电子设备。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备测试领域，具体来说涉及一种电子设备测试装置。
背景技术
目前，各类模块化电子设备(如WIFI模组、蓝牙模组、IOT模组、传感器模组等)广泛应用于日常生活中，很多模块在设计开发初期，需要进行大量的调试、测试和验证等工作，该类工作对测试装置有很强的依赖性，现有技术中，为了达到电子设备可在测试装置可拆卸固定的目的，通常采用在测试装置上安装压缩弹簧或者收缩顶针，在固定电子设备时，由于其受压缩弹簧或者收缩顶针的固定装置的影响，安装和拆卸过程复杂。
发明内容
本发明的目的是要解决如何在电子设备测试时简化其安装和拆卸过程的问题，提出一种电子设备测试装置及电子设备。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是：电子设备测试装置，包括底板、固定装置和至少一个第一滑动固定装置，所述第一滑动固定装置设置于底板的一侧，第一滑动固定装置包括第一U型弹针和设置于底板的第一钻孔和与其对应的第一跑道孔，所述第一U型弹针的一端插入第一钻孔中，另一端插入对应的第一跑道孔中，所述第一U型弹针的另一端能够在第一跑道孔中机械性移动，所述固定装置设置于靠近第一跑道孔的一侧，第一滑动固定装置与固定装置配合形成一个夹持结构。
进一步的，为解决接线过程复杂的问题，所述第一钻孔为PTH钻孔，所述第一U型弹针为导电性材料制成，所述底板设有与第一钻孔对应电性连接的第一排针；
所述待测电子设备的一侧设有具有导电性的第一半圆形孔，所述第一半圆形孔与待测电子设备的至少一个第一PIN脚电性连接，用于待测电子设备固定放置于电子设备测试装置时，第一PIN脚能够与对应的第一排针电性连接。
进一步的，为解决如何有效固定待测电子设备的问题，所述第一钻孔和第一跑道孔分别并排设置于底板上，所述第一U型弹针平行设置。
为进一步解决如何有效固定待测电子设备的问题，所述固定装置为至少一个第二滑动固定装置，所述第二滑动固定装置设置于底板的另一侧，第二滑动固定装置包括第二U型弹针和设置于底板的第二钻孔和与其对应的第二跑道孔，所述第二U型弹针的一端插入第二钻孔中，另一端插入对应的第二跑道孔中，所述第二U型弹针的另一端能够在第二跑道孔中机械性移动，第二跑道孔靠近所述第一跑道孔，待测电子设备在第一U型弹针和第二U型弹针的弹力作用下能够通过第一滑动固定装置和第二滑动固定装置与底板可拆卸固定。
为进一步解决待测电子设备接线复杂的问题，其特征在于，所述第二钻孔为PTH钻孔，所述第二U型弹针为导电性材料制成，所述底板设有与第二钻孔对应电性连接的第二排针；
所述待测电子设备的另一侧设有具有导电性的第二半圆形孔，所述第二半圆形孔与待测电子设备的至少一个第二PIN脚电性连接，用于待测电子设备固定放置于电子设备测试装置时，第二PIN脚能够与对应的第二排针电性连接。
为进一步解决如何有效固定待测电子设备的问题，所述至少一个第二滑动固定装置中的第二钻孔和第二跑道孔分别并排设置于底板上，所述第二U型弹针平行设置。
为进一步解决如何有效固定待测电子设备的问题，所述至少一个第一滑动固定装置与至少一个第二滑动固定装置对应设置在同一水平线上。
具体的，为使U型弹针能够有效导电，所述第一U型弹针和第二U型弹针均为表面镀金的不锈钢材料制成。
具体的，为进一步解决如何有效固定待测电子设备的问题，所述第一滑动固定装置和第二滑动固定装置分别为5～10个。
本发明还提供一种电子设备，所述电子设备通过上述电子设备检测装置进行检测。
本发明的有益效果是：本发明所述的电子设备检测装置，通过在底板上设置第一钻孔和第一跑道孔滑动固定第一U型弹针，安装时，直接将待测电子设备卡在固定装置和第一U型弹针之间，拆卸时，按压第一U型弹针取出即可，实现了模块化的电子设备在测试时快速拆卸，测试装置可循环使用的目的，简化了测试时的安装和拆卸过程，此外，通过将待测电子设备的PIN脚连接至排针，在测试时插入排线即可开始对电子设备的测试，方便接线，简化了测试流程。
附图说明
图1为本发明所述的电子设备测试装置的结构示意图；
图2为本发明所述的电子设备测试装置的另一个结构示意图；
附图标记说明：
1-底板；2-第一U型弹针；3-第一钻孔；4-第一跑道孔；5-第二U型弹针；6-第二钻孔；7-第二跑道孔；8-待测电子设备；9-第一排针；10-第二排针；11-导线。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的实施方式进行详细描述，需要说明的是，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本发明所述的电子设备测试装置，如图1所示，包括底板1、固定装置和至少一个第一滑动固定装置，第一滑动固定装置设置于底板的一侧，第一滑动固定装置包括第一U型弹针2和设置于底板的第一钻孔3和与其对应的第一跑道孔4，第一U型弹针2的一端插入第一钻孔3中，另一端插入对应的第一跑道孔4中，第一U型弹针2的另一端能够在第一跑道孔4中机械性移动，固定装置设置于靠近第一跑道孔的一侧，第一滑动固定装置与固定装置配合形成一个夹持结构，待测电子设备8在第一U型弹针2的弹力作用下能够通过第一滑动固定装置和固定装置与底板1可拆卸固定，在待测电子设备8安装之前，第一U型弹针2受弹力的影响，其另一端与第一跑道孔4的外侧固定，需要测试时，将待测电子设备8卡入固定装置和第一U型弹针2之间，在第一U型弹针2的弹力作用下，实现待测电子设备8与测试装置的固定，测试完成后，用户可向第一滑动固定装置一侧挤压电子设备或者按压第一U型弹针2拆卸电子设备，第一钻孔3一般优选为圆形，其内径略大于第一U型弹针2的直径，第一滑动固定装置的数量根据待测电子设备8的尺寸合理调整。
优选的，第一钻孔3为PTH钻孔，第一U型弹针2为导电性材料制成，如图2所示，底板1设有与第一钻孔3对应电性连接的第一排针9；待测电子设备8的一侧设有具有导电性的第一半圆形孔，第一半圆形孔与待测电子设备8的至少一个第一PIN脚电性连接，用于待测电子设备8固定放置于待测电子设备8测试装置时，第一PIN脚能够与对应的第一排针9电性连接，第一排针9可以通过导线11与第一钻孔3连接，实现了待测电子设备8的第一PIN脚与第一排针9的对应电性连接，将第一U型弹针2的一端插入第一钻孔3，在底板1的bottom面焊接固定，在测试待测电子设备8时，将排线插入第一排针9即可实现排线与待测电子设备8的第一PIN脚的电性连接，接线和取线较为方便。
如图2所示，第一钻孔3和第一跑道孔4分别并排设置于底板1上，第一U型弹针2平行设置，能够使待测电子设备8更好的固定在测试装置上，并且在测试时使待测电子设备8的第一PIN脚与第一排针9的对应连接更清楚，避免混淆。
如图2所示，固定装置可以为至少一个第二滑动固定装置，第二滑动固定装置设置于底板的另一侧，第二滑动固定装置包括第二U型弹针5和设置于底板的第二钻孔6和与其对应的第二跑道孔7，第二U型弹针5的一端插入第二钻孔6中，另一端插入对应的第二跑道孔7中，第二U型弹针5的另一端能够在第二跑道孔7中机械性移动，第二跑道孔7靠近第一跑道孔4，待测电子设备8在第一U型弹针2和第二U型弹针5的弹力作用下能够通过第一滑动固定装置和第二滑动固定装置与底板1可拆卸固定，第二滑动固定装置的结构与第一滑动固定装置的结构相同，第二钻孔7与第一钻孔4均设置于底板1的内侧，通过设置第二滑动固定装置，待测电子设备8能够更好的与底板1固定。
如图2所示，第二钻孔6为PTH钻孔，第二U型弹针5为导电性材料制成，底板1设有与第二钻孔6对应电性连接的第二排针10；待测电子设备8的另一侧设有具有导电性的第二半圆形孔，第二半圆形孔与待测电子设备8的至少一个第二PIN脚电性连接，用于待测电子设备8固定放置于测试装置时，第二PIN脚能够与对应的第二排针10电性连接，增加第二排针10，实现第二排针10与待测电子设备8的第二PIN脚电性连接，可在测试时，可连接更多的PIN脚，且占用空间较小。
如图2所示，第二钻孔6和第二跑道孔7分别并排设置于底板1上，第二U型弹针5平行设置，在测试时，能够使待测电子设备8的第二PIN脚与第二排针10的对应连接更清楚，避免混淆，第二滑动固定装置与第一滑动固定装置基本相同，相关之处请参见上述第一滑动固定装置描述。
优选的，至少一个第一滑动固定装置与至少一个第二滑动固定装置对应设置在同一水平线上，使待测电子设备固定在测试装置上时，两侧受力均匀，不易脱落。
优选的，第一U型弹针和第二U型弹针均为表面镀金的不锈钢材料制成，具有优良导电性、耐磨性、弹性和可焊性好的优点。
第一滑动固定装置和第二滑动固定装置根据实际需要选择，优选的，第一滑动固定装置和第二滑动固定装置分别为5～10个，能够有效的对待测电子设备8进行固定，且测试时能够连接足够多的PIN脚。
Claims (9)
1.电子设备测试装置，用于对待测电子设备进行测试，其特征在于，包括底板、固定装置和至少一个第一滑动固定装置，所述第一滑动固定装置设置于底板的一侧，第一滑动固定装置包括第一U型弹针和设置于底板的第一钻孔和与其对应的第一跑道孔，所述第一U型弹针的一端插入第一钻孔中，另一端插入对应的第一跑道孔中，所述第一U型弹针的另一端能够在第一跑道孔中机械性移动，所述固定装置设置于靠近第一跑道孔的一侧，第一滑动固定装置与固定装置配合形成一个夹持结构。
2.如权利要求1所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第一钻孔为PTH钻孔，所述第一U型弹针为导电性材料制成，所述底板设有与第一钻孔对应电性连接的第一排针；
所述待测电子设备的一侧设有具有导电性的第一半圆形孔，所述第一半圆形孔与电子设备的至少一个第一PIN脚电性连接，用于待测电子设备固定放置于电子设备测试装置时，第一PIN脚能够与对应的第一排针电性连接。
3.如权利要求1所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第一钻孔和第一跑道孔分别并排设置于底板上，所述第一U型弹针平行设置。
4.如权利要求1所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述固定装置为至少一个第二滑动固定装置，所述第二滑动固定装置设置于底板的另一侧，第二滑动固定装置包括第二U型弹针和设置于底板的第二钻孔和与其对应的第二跑道孔，所述第二U型弹针的一端插入第二钻孔中，另一端插入对应的第二跑道孔中，所述第二U型弹针的另一端能够在第二跑道孔中机械性移动，第二跑道孔靠近所述第一跑道孔，待测电子设备在第一U型弹针和第二U型弹针的弹力作用下能够通过第一滑动固定装置和第二滑动固定装置与底板可拆卸固定。
5.如权利要求4所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第二钻孔为PTH钻孔，所述第二U型弹针为导电性材料制成，所述底板设有与第二钻孔对应电性连接的第二排针；
所述待测电子设备的另一侧设有具有导电性的第二半圆形孔，所述第二半圆形孔与电子设备的至少一个第二PIN脚电性连接，用于待测电子设备固定放置于电子设备测试装置时，第二PIN脚能够与对应的第二排针电性连接。
6.如权利要求4所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第二钻孔和第二跑道孔分别并排设置于底板上，所述第二U型弹针平行设置。
7.如权利要求4所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述至少一个第一滑动固定装置与至少一个第二滑动固定装置对应设置在同一水平线上。
8.如权利要求4至7任一项所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第一U型弹针和第二U型弹针均为表面镀金的不锈钢材料制成。
9.如权利要求4至7任一项所述的电子设备测试装置，其特征在于，所述第一滑动固定装置和第二滑动固定装置分别为5～10个。
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