CN204028122U - 一种led分立式器件测试夹具 - Google Patents
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Abstract
一种LED分立式器件测试夹具，包括测试台、夹臂和电极顶针，测试台上对应电极顶针处设有通孔，测试台下方设有电极顶针调节机构，电极顶针调节机构包括第一调节座和第一螺杆，第一调节座上设有与电极顶针对应的调节槽，电极顶针下端垂直插入所述调节槽内，第一螺杆一端水平插入调节槽内并与电极顶针下端连接，第一螺杆与第一调节座螺纹连接。打开夹臂，将待测LED放置在测试台中央，并释放夹臂，夹臂复位并将LED夹紧；LED被夹紧后，调节第一螺杆使电极顶针精确落在LED的电极上；最后电极顶针通电进行测试；校准后，操作手动杆即可装卸同种型号的LED并进行连续测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及LED测试夹具，尤其是用于LED分立式器件积分球测试的夹具。
背景技术
随着 LED 的广泛应用，LED 产品的规格和型号也在不断的增加，目前对 LED 进行光电性能测试的工装均为专用型，即一种型号的 LED 产品对应一种款式的测试工装，不同型号的LED测试工装之间难以通用。此种情形给LED的测试造成了很大的麻烦，这就要求LED生产企业每生产一种型号的 LED 产品就要购进一套专门测试此种型号的测试工装，这不但给企业增加了设备投入资金，提高了生产成本 ；而且一般情况测试工装都是根据测试产品而生的，这就会造成一种新型号的 LED 在刚研发出来的时候可能会因为没有测试工装而无法对其进行光电性能的测试，从而也无法及时准确的得出此项新产品的性能指标。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种LED分立式器件测试夹具，通用性强，能够适用不同型号的LED分立式器件的积分球测试。
为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种LED分立式器件测试夹具，包括测试台、设于所述测试台上的两个对称设置的夹臂和位于所述测试台下方的两个电极顶针；所述测试台上对应所述电极顶针处设有通孔，所述测试台下方设有电极顶针调节机构，所述电极顶针调节机构包括第一调节座和第一螺杆，所述第一调节座上设有与所述电极顶针对应的调节槽，所述电极顶针下端垂直插入所述调节槽内，所述第一螺杆一端水平插入所述调节槽内并与所述电极顶针下端连接，所述第一螺杆与第一调节座螺纹连接。本实用新型工作原理：首先根据测试的LED尺寸粗调第一螺杆，使第一螺杆一端在调节槽内移动，第一螺杆的移动带动电极顶针移动，使电极顶针大致落在LED的电极位置上；然后打开夹臂，将待测LED放置在测试台中央，并释放夹臂，夹臂复位并将LED夹紧；LED被夹紧后，调节第一螺杆使电极顶针精确落在LED的电极上；最后电极顶针通电进行测试；校准后，操作手动杆即可装卸同种型号的LED并进行连续测试。本实用新型通过调整电极顶针的位置，使其能够配合不同型号的LED的测试。
作为改进，所述第一螺杆的端部设有螺丝刀槽口，可通过螺丝刀等工具对第一螺杆进行旋转调节。
作为改进，所述夹臂的一端与转轴连接，翻转夹臂即可对夹臂进行控制，无论什么型号的LED，只需用两片夹臂即可将其夹紧。
作为改进，所述夹臂的另一端设有滑槽，所述滑槽内设有滑块，所述滑块与所述夹臂滑动连接。滑块的作用是增加夹臂的长度，以适应不同型号的LED夹紧需求。
作为改进，所述滑槽为燕尾槽。
作为改进，所述测试台下方设有手动杆，所述手动杆的一端与所述转轴连接。用手按压手动杆即可使转轴旋转，转轴旋转即可带动夹臂旋转，起到方便操作夹臂的目的。
作为改进，所述手动杆呈L形，包括垂直设置的连接部和水平朝外的受压部。
作为改进，所述转轴处设有复位弹簧，可以使夹臂和手动杆自动复位。
作为改进，所述夹臂的两侧设有对称设置辅助夹具，所述辅助夹具包括夹块、第二调节座和第二螺杆，所述第二螺杆通过所述第二调节座与所述夹块连接，所述第二螺杆与所述第二调节座为螺纹连接。两个夹块与两个夹臂共同对LED进行夹紧，使LED同时受到四个方向的夹紧力，从而将LED位置精确定位。
作为改进，所述测试台底部中间位置设有热沉。由于LED在测试时会发热，而LED的性能会受到高温的影响，本实用新型设置热沉后，能够对LED产生的热量快速散发，降低温度因素对测试结果的影响。
本实用新型与现有技术相比所带来的有益效果是：
本实用新型通过调整电极顶针的位置，使其能够配合不同型号的LED的测试。夹臂前端滑块的作用是增加夹臂的长度，以适应不同型号的LED夹紧需求。
附图说明
图1为本实用新型主视图。
图2为本实用新型俯视图。
图3为本实用新型立体图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。
如图1至3所示，一种LED分立式器件测试夹具，用于LED分立式器件积分球测试，其包括测试台3、设于所述测试台3上的两个对称设置的夹臂1和位于所述测试台3下方的两个电极顶针5。所述测试台3上对应所述电极顶针5处设有通孔10，测试时，电极顶针5同穿过所述通孔10与LED电极接触。所述测试台3下方设有电极顶针调节机构，所述电极顶针调节机构包括第一调节座7和第一螺杆6，所述第一调节座7与测试台3固定，所述第一调节座7上设有与所述电极顶针5对应的调节槽11，所述电极顶针5下端垂直插入所述调节槽11内；所述第一螺杆6一端水平穿过并插入所述调节槽11内并与所述电极顶针5下端连接，所述第一螺杆6与第一调节座7螺纹连接；所述第一螺杆6的端部设有螺丝刀槽口，可通过螺丝刀等工具对第一螺杆6进行旋转调节，通过旋转第一螺杆6可调节第一螺杆6伸入调节槽11内的长度。所述测试台3上于所述夹臂1一端设有转轴2，所述夹臂1一端与所述转轴2固定，另一端设有燕尾型滑槽，在所述转轴2处设置复位弹簧（未标示），使夹臂1始终保持下压的状态；所述滑槽内设有滑块8，所述滑块8与所述夹臂1滑动连接。滑块8的作用是增加夹臂1的长度，以适应不同型号的LED夹紧需求。所述测试台3下方设有L形手动杆4，其包括垂直的连接部41和水平朝外的受压部42，连接部41的上端与所述转轴2连接，下端与受压部42连接，用手按压手动杆4的受压部42即可使转轴2旋转，转轴2旋转即可带动夹臂1旋转，起到方便操作夹臂1的目的。所述夹臂1的两侧设有对称设置辅助夹具9，所述辅助夹具9包括夹块91、第二调节座92和第二螺杆93，所述第二螺杆93通过所述第二调节座92与所述夹块91连接，所述第二螺杆93与所述第二调节座92为螺纹连接。两个夹块与两个夹臂1共同对LED进行夹紧，使LED同时受到四个方向的夹紧力，从而将LED位置精确定位。所述测试台3底部中间位置设有热沉（未标示），热沉与测试台3相贴，LED可通过测试台将热量传递至热沉；由于LED在测试时会发热，而LED的性能会受到高温的影响，本实用新型设置热沉后，能够对LED产生的热量快速散发，降低温度因素对测试结果的影响。
本实用新型工作原理：首先根据测试的LED尺寸粗调第一螺杆6，使第一螺杆6一端在调节槽内移动，第一螺杆6的移动带动电极顶针5移动，使电极顶针5大致落在LED的电极位置上；然后打开夹臂1，将待测LED放置在测试台3中央，并释放夹臂1，夹臂1在复位弹簧的作用下复位并将LED夹紧；LED被夹紧后，调节第一螺杆6使电极顶针5精确落在LED的电极上；最后电极顶针通电进行测试；校准后，操作手动杆即可装卸同种型号的LED并进行连续测试。
Claims (10)
1.一种LED分立式器件测试夹具，包括测试台、设于所述测试台上的两个对称设置的夹臂和位于所述测试台下方的两个电极顶针；所述测试台上对应所述电极顶针处设有通孔，其特征在于：所述测试台下方设有电极顶针调节机构，所述电极顶针调节机构包括第一调节座和第一螺杆，所述第一调节座上设有与所述电极顶针对应的调节槽，所述电极顶针下端垂直插入所述调节槽内，所述第一螺杆一端水平插入所述调节槽内并与所述电极顶针下端连接，所述第一螺杆与第一调节座螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述第一螺杆的端部设有螺丝刀槽口。
3.根据权利要求1所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述夹臂的一端与转轴连接。
4.根据权利要求3所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述夹臂的另一端设有滑槽，所述滑槽内设有滑块，所述滑块与所述夹臂滑动连接。
5.根据权利要求4所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述滑槽为燕尾槽。
6.根据权利要求3所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述测试台下方设有手动杆，所述手动杆的一端与所述转轴连接。
7.根据权利要求6所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述手动杆呈L形，包括垂直设置的连接部和水平朝外的受压部。
8.根据权利要求6所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述转轴处设有复位弹簧。
9.根据权利要求1所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述夹臂的两侧设有对称设置辅助夹具，所述辅助夹具包括夹块、第二调节座和第二螺杆，所述第二螺杆通过所述第二调节座与所述夹块连接，所述第二螺杆与所述第二调节座为螺纹连接。
10.根据权利要求1所述的一种LED分立式器件测试夹具，其特征在于：所述测试台底部中间位置设有热沉。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107643165A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-01-30 | 吉林省长光瑞思激光技术有限公司 | 一种线阵激光器老化检测装置 |
| CN109085391A (zh) * | 2018-09-19 | 2018-12-25 | 四川爱联科技有限公司 | 电子设备测试装置及电子设备 |
| CN113358998A (zh) * | 2021-06-10 | 2021-09-07 | 中国科学院半导体研究所 | 一种通用led测试装置及测试方法 |
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| CN113358998B (zh) * | 2021-06-10 | 2023-01-06 | 中国科学院半导体研究所 | 一种通用led测试装置及测试方法 |
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