CN213957460U - 一种测试治具探针针盘的新型结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试治具探针针盘的新型结构，包括底座，所述底座顶部固定连接有固定挡板，所述底座顶部设置有待测试板，所述底座左右两端均固定连接有支撑板，靠右侧的支撑板内侧通过第一弹簧连接有活动挡板，所述支撑板之间从上到下滑动连接有压板、探针针盘，所述压板上螺纹连接有若干个压块，所述探针针盘上开设有若干个安装孔，所述安装孔上安装有测试探针，所述测试探针底部通过连接板连接有测试针头，所述测试探针顶部固定连接有配合板，所述配合板与探针针盘之间设置有第二弹簧，所述探针针盘底部固定连接有缓冲套，只需要调节压块的数量和安装位置即可适应于不同的待测试板，有效提高了探针针盘的适用性，降低了测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试治具探针针盘的新型结构，属于PCB板测试技术领域。
背景技术
众所周知，PCB板在出厂前需要对其性能进行电性检测，将PCB板固定在电性测试仪上，并用针盘治具进行探测，目前，现有的针盘治具一般包括底盘以及一体成型于底盘的探针，探测时，易出现压力过大，而压坏探针；并且，在整体对非工作下的探针也不能进行保护，易受外力的影响，而损坏探测端头，同时，由于现在的探针针盘多设计为专用测试，适用性较低，造成测试成本较高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种测试治具探针针盘的新型结构，只需要调节压块的数量和安装位置即可适应于不同的待测试板，有效提高了探针针盘的适用性，降低了测试成本，可以有效解决背景技术中的问题。
为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：
一种测试治具探针针盘的新型结构，包括底座，所述底座顶部固定连接有固定挡板，所述底座顶部设置有待测试板，所述底座左右两端均固定连接有支撑板，靠右侧的支撑板内侧通过第一弹簧连接有活动挡板，所述支撑板之间从上到下滑动连接有压板、探针针盘，所述压板上螺纹连接有若干个压块，所述探针针盘上开设有若干个安装孔，所述安装孔上安装有测试探针，所述测试探针底部通过连接板连接有测试针头，所述测试探针顶部固定连接有配合板，所述配合板与探针针盘之间设置有第二弹簧，所述探针针盘底部固定连接有缓冲套。
本实用新型进一步的改进在于，所述活动挡板滑动连接在底座顶部。
本实用新型进一步的改进在于，所述待测试板设置在固定挡板、活动挡板之间。
本实用新型进一步的改进在于，所述连接板、测试针头均设置在缓冲套内部，所述连接板滑动连接缓冲套。
本实用新型进一步的改进在于，所述探针针盘左右两端均固定连接有连接块，所述连接块上固定连接有滑块。
本实用新型进一步的改进在于，所述缓冲套设置为聚乙烯护套，所述压块与测试探针成对设置。
本实用新型有益效果：一种测试治具探针针盘的新型结构，通过将压块与测试探针成对设置，在测试时将待测试板相应位置上的压块螺纹安装，在压板下降时通过相应的压块将测试探针下压，使测试针头露出接触待测试板，从而可以很好的对待测试板进行测试，对于没有电路结构的部分由于第二弹簧的作用，该部分的测试针头不会向下从缓冲套内滑出，可以有效对需要测试的部分进行测试，对没有电路结构的部分起到很好的保护作用，只需要调节压块的数量和安装位置即可适应于不同的待测试板，有效提高了探针针盘的适用性，降低了测试成本。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。
图1是本实用新型一种测试治具探针针盘的新型结构结构图。
图2是本实用新型一种测试治具探针针盘的新型结构测试探针安装结构图。
图3是本实用新型一种测试治具探针针盘的新型结构探针针盘结构图。
图中标号：1、底座；2、固定挡板；3、活动挡板；4、待测试板；5、支撑板；6、第一弹簧；7、压板；8、探针针盘；9、测试探针；10、配合板；11、第二弹簧；12、安装孔；13、缓冲套；14、连接板；15、测试针头；16、压块；17、连接块；18、滑块。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
下面结合具体实施方式对本实用新型作进一步的说明，其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制，为了更好地说明本实用新型的具体实施方式，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸，对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的，基于本实用新型中的具体实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他具体实施方式，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
如图1-3所示，一种测试治具探针针盘的新型结构，包括底座1，所述底座1顶部固定连接有固定挡板2，所述底座1顶部设置有待测试板4，所述底座1左右两端均固定连接有支撑板5，靠右侧的支撑板5内侧通过第一弹簧6连接有活动挡板3，所述支撑板5之间从上到下滑动连接有压板7、探针针盘8，所述压板7上螺纹连接有若干个压块16，所述探针针盘8上开设有若干个安装孔12，所述安装孔12上安装有测试探针9，所述测试探针9底部通过连接板14连接有测试针头15，所述测试探针9顶部固定连接有配合板10，所述配合板10与探针针盘8之间设置有第二弹簧11，所述探针针盘8底部固定连接有缓冲套13。
在本实施例中，所述活动挡板3滑动连接在底座1顶部。
在本实施例中，所述待测试板4设置在固定挡板2、活动挡板3之间。
在本实施例中，所述连接板14、测试针头15均设置在缓冲套13内部，所述连接板14滑动连接缓冲套13。
在本实施例中，所述探针针盘8左右两端均固定连接有连接块17，所述连接块17上固定连接有滑块18。
在本实施例中，所述缓冲套13设置为聚乙烯护套，所述压块16与测试探针9成对设置。
本实用新型改进于：一种测试治具探针针盘的新型结构，通过将压块16与测试探针9成对设置，在测试时将待测试板4相应位置上的压块16螺纹安装，在压板7下降时通过相应的压块16将测试探针10下压，使测试针头15露出接触待测试板4，从而可以很好的对待测试板4进行测试，对于没有电路结构的部分由于第二弹簧11的作用，该部分的测试针头15不会向下从缓冲套13内滑出，可以有效对需要测试的部分进行测试，对没有电路结构的部分起到很好的保护作用，只需要调节压块16的数量和安装位置即可适应于不同的待测试板，有效提高了探针针盘8的适用性，降低了测试成本。
以上为本实用新型较佳的实施方式，以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化以及改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内，本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (6)
1.一种测试治具探针针盘的新型结构，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶部固定连接有固定挡板(2)，所述底座(1)顶部设置有待测试板(4)，所述底座(1)左右两端均固定连接有支撑板(5)，靠右侧的支撑板(5)内侧通过第一弹簧(6)连接有活动挡板(3)，所述支撑板(5)之间从上到下滑动连接有压板(7)、探针针盘(8)，所述压板(7)上螺纹连接有若干个压块(16)，所述探针针盘(8)上开设有若干个安装孔(12)，所述安装孔(12)上安装有测试探针(9)，所述测试探针(9)底部通过连接板(14)连接有测试针头(15)，所述测试探针(9)顶部固定连接有配合板(10)，所述配合板(10)与探针针盘(8)之间设置有第二弹簧(11)，所述探针针盘(8)底部固定连接有缓冲套(13)。
2.根据权利要求1所述的一种测试治具探针针盘的新型结构，其特征在于：所述活动挡板(3)滑动连接在底座(1)顶部。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具探针针盘的新型结构，其特征在于：所述待测试板(4)设置在固定挡板(2)、活动挡板(3)之间。
4.根据权利要求1所述的一种测试治具探针针盘的新型结构，其特征在于：所述连接板(14)、测试针头(15)均设置在缓冲套(13)内部，所述连接板(14)滑动连接缓冲套(13)。
5.根据权利要求1所述的一种测试治具探针针盘的新型结构，其特征在于：所述探针针盘(8)左右两端均固定连接有连接块(17)，所述连接块(17)上固定连接有滑块(18)。
6.根据权利要求1所述的一种测试治具探针针盘的新型结构，其特征在于：所述缓冲套(13)设置为聚乙烯护套，所述压块(16)与测试探针(9)成对设置。
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