CN219695188U - 一种用于电子元件的引脚测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种用于电子元件的引脚测试机构，包括设置于电子元件工位的后续引脚测试机构上的支撑底座，所述支撑底座顶部设有支撑台，所述支撑底座顶部位于支撑台两侧的表面均设有第一刻度尺，所述支撑底座顶部位于支撑台上方设有压紧装置，所述支撑底座顶部一侧设有立杆，所述立杆顶部设有第一驱动电机，所述立杆内部设有竖向螺纹杆，所述竖向螺纹杆外侧套设有竖向滑块，所述立杆一侧设有支撑板，所述支撑板底部设有可根据电子元件规格进行调节的调节测试组件，通过设置的调节测试组件，可以使该引脚测试机构使用时，能够对不同规格的电子元件的引脚进行测试，提高测试机构的实用性，给测试人员带来方便。
Description
技术领域
本实用新型主要涉及电子元件检测的技术领域，具体为一种用于电子元件的引脚测试机构。
背景技术
电子元件是电路中的重要组成部分，电子元件相互连接构成具有特定功能的电路，在电子元件使用前需要对电子元件进行检测，一般采用引脚测试机构对电子元件的引脚进行测试；但是现有的引脚测试机构在使用过程中，不能够对不同规格的电子元件的引脚进行测试，导致测试机构的实用性下降，给测试人员带来不便。
实用新型内容
本实用新型主要提供了一种用于电子元件的引脚测试机构，用以解决上述背景技术中提出的技术问题。
本实用新型解决上述技术问题采用的技术方案为：
一种用于电子元件的引脚测试机构，包括设置于电子元件工位的后续引脚测试机构上的支撑底座，所述支撑底座顶部设有支撑台，所述支撑台顶部开设有若干个等距分布的放置槽，所述支撑台顶部位于放置槽一侧均设有指针，所述支撑底座顶部位于支撑台两侧的表面均设有第一刻度尺，所述支撑底座顶部位于支撑台上方设有压紧装置，所述支撑底座顶部一侧设有立杆，所述立杆顶部设有第一驱动电机，所述立杆内部设有竖向螺纹杆，所述竖向螺纹杆外侧套设有竖向滑块，所述立杆一侧设有支撑板，所述支撑板底部设有可根据电子元件规格进行调节的调节测试组件。
进一步的，所述调节测试组件包括位于支撑板底部一侧的方形罩，所述方形罩前端设有第二驱动电机，所述方形罩内部设有横向螺纹杆，所述横向螺纹杆外侧套设有分隔块，所述横向螺纹杆外侧位于分隔块两侧均设有横向滑块，所述横向滑块一侧设有活动杆，所述活动杆底部设有若干个等距分布的测试器，所述活动杆另一侧设有限位板，所述限位板一侧设有两个对称设置的第二刻度尺。
进一步的，所述横向滑块与横向螺纹杆之间螺纹连接。
进一步的，所述活动杆与限位板之间滑动连接。
进一步的，所述横向螺纹杆外侧以分隔块为分割点将外侧设置的螺纹呈反向设置。
进一步的，所述压紧装置包括位于支撑台上方的支撑横板，所述支撑横板底部设有若干个等距分布的压紧弹簧，所述支撑横板一侧设有安装耳，所述支撑横板另一侧设有卡接耳。
进一步的，所述压紧弹簧与支撑台表面均开设有若干个等距分布的放置槽位置逐一对应。
进一步的，所述支撑横板一侧与安装耳旋转连接，并且支撑横板另一侧与卡接耳通过卡扣卡接固定。
进一步的，所述支撑板与竖向螺纹杆外侧套设的竖向滑块之间通过连接杆固定连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型适用于电子元件加工的后续电子元件的引脚测试工作中测试机构的调节，通过设置的调节测试组件，测试人员将待测试的电子元件依次放置在放置槽上，然后通过观察第一刻度尺上的尺数，启动第二驱动电机带动横向螺纹杆旋转，使横向滑块带动两组活动杆同时向内或向外移动，然后通过观察第二刻度尺上的刻度，从而使测试器与电子元件两侧的引脚位置相对应，调节完成后，通过启动第一驱动电机带动竖向螺纹杆旋转，从而使支撑板向下移动，从而使得测试器与电子元件两侧的引脚相接触进行测试工作，测试完成后的结果发送到电脑上，以供测试人员判断引脚的好坏，使该引脚测试机构使用时，能够对不同规格的电子元件的引脚进行测试，提高测试机构的实用性，给测试人员带来方便。
以下将结合附图与具体的实施例对本实用新型进行详细的解释说明。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的压紧装置结构示意图；
图3为本实用新型的调节测试组件整体结构示意图；
图4为本实用新型的内部侧视结构示意图。
图中：1、支撑底座；101、支撑台；102、放置槽；103、指针；104、第一刻度尺；105、立杆；106、第一驱动电机；107、竖向螺纹杆；108、竖向滑块；109、支撑板；2、压紧装置；201、安装耳；202、支撑横板；203、压紧弹簧；204、卡接耳；3、调节测试组件；301、方形罩；302、第二驱动电机；303、横向螺纹杆；304、分隔块；305、横向滑块；306、限位板；307、第二刻度尺；308、活动杆；309、测试器。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更加全面的描述，附图中给出了本实用新型的若干实施例，但是本实用新型可以通过不同的形式来实现，并不限于文本所描述的实施例，相反的，提供这些实施例是为了使对本实用新型公开的内容更加透彻全面。
实施例，请参照附图1-4所示，一种用于电子元件的引脚测试机构，包括设置于电子元件工位的后续引脚测试机构上的支撑底座1，支撑底座1顶部设有支撑台101，支撑台101顶部开设有若干个等距分布的放置槽102，支撑台101顶部位于放置槽102一侧均设有指针103，支撑底座1顶部位于支撑台101两侧的表面均设有第一刻度尺104，支撑底座1顶部位于支撑台101上方设有压紧装置2，支撑底座1顶部一侧设有立杆105，立杆105顶部设有第一驱动电机106，立杆105内部设有竖向螺纹杆107，竖向螺纹杆107外侧套设有竖向滑块108，立杆105一侧设有支撑板109，支撑板109底部设有可根据电子元件规格进行调节的调节测试组件3，调节测试组件3包括位于支撑板109底部一侧的方形罩301，方形罩301前端设有第二驱动电机302，方形罩301内部设有横向螺纹杆303，横向螺纹杆303外侧套设有分隔块304，横向螺纹杆303外侧位于分隔块304两侧均设有横向滑块305，横向滑块305一侧设有活动杆308，活动杆308底部设有若干个等距分布的测试器309，活动杆308另一侧设有限位板306，限位板306一侧设有两个对称设置的第二刻度尺307，横向滑块305与横向螺纹杆303之间螺纹连接，活动杆308与限位板306之间滑动连接，横向螺纹杆303外侧以分隔块304为分割点将外侧设置的螺纹呈反向设置。
需要说明的是，当前电子元件在进行放置时，需确保每个电子元件的中心点与指针103对应，现根据电子元件适配的情况下，通过观察第一刻度尺104上的尺数，启动第二驱动电机302带动横向螺纹杆303旋转，使横向滑块305带动两组活动杆308同时向内或向外移动，然后通过观察第二刻度尺307上的刻度，从而使测试器309与电子元件两侧的引脚位置相对应，调节完成后，通过启动第一驱动电机106带动竖向螺纹杆107旋转，从而使支撑板109向下移动，从而使得测试器309与电子元件两侧的引脚相接触进行测试工作，测试完成后的结果发送到电脑上，以供测试人员判断引脚的好坏，使该引脚测试机构使用时，能够对不同规格的电子元件的引脚进行测试，提高测试机构的实用性，给测试人员带来方便。
具体的，请参照附图1和2所示，压紧装置2包括位于支撑台101上方的支撑横板202，支撑横板202底部设有若干个等距分布的压紧弹簧203，支撑横板202一侧设有安装耳201，支撑横板202另一侧设有卡接耳204，压紧弹簧203与支撑台101表面均开设有若干个等距分布的放置槽102位置逐一对应，支撑横板202一侧与安装耳201旋转连接，并且支撑横板202另一侧与卡接耳204通过卡扣卡接固定，通过将压紧弹簧203压在电子元件上，可以防止电子元件测试时发生偏移，保证测试效果的准确性。
具体的，请参照附图1和4所示，支撑板109与竖向螺纹杆107外侧套设的竖向滑块108之间通过连接杆固定连接，通过启动第一驱动电机106带动竖向螺纹杆107旋转，从而使支撑板109向下移动，从而使得装置能够对电子元件两侧的引脚相接触进行测试工作。
本实用新型的具体操作方式如下：
首先，测试人员向上拔起支撑横板202，使得支撑横板202立起来，然后测试人员将待测试的电子元件依次放置在放置槽102上，放置时，需确保每个电子元件的中心点与指针103对应，电子元件放置完成后，在将支撑横板202放下，使压紧弹簧203压在电子元件上，防止电子元件测试时发生偏移，保证测试效果的准确性，然后通过观察第一刻度尺104上的尺数，启动第二驱动电机302带动横向螺纹杆303旋转，使横向滑块305带动两组活动杆308同时向内或向外移动，然后通过观察第二刻度尺307上的刻度，从而使测试器309与电子元件两侧的引脚位置相对应，调节完成后，通过启动第一驱动电机106带动竖向螺纹杆107旋转，从而使支撑板109向下移动，从而使得测试器309与电子元件两侧的引脚相接触进行测试工作，测试完成后的结果发送到电脑上，以供测试人员判断引脚的好坏。
上述结合附图对本实用新型进行了示例性描述，显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的这种非实质改进，或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其他场合的，均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种用于电子元件的引脚测试机构，包括设置于电子元件工位的后续引脚测试机构上的支撑底座(1)，其特征在于：所述支撑底座(1)顶部设有支撑台(101)，所述支撑台(101)顶部开设有若干个等距分布的放置槽(102)，所述支撑台(101)顶部位于放置槽(102)一侧均设有指针(103)，所述支撑底座(1)顶部位于支撑台(101)两侧的表面均设有第一刻度尺(104)，所述支撑底座(1)顶部位于支撑台(101)上方设有压紧装置(2)，所述压紧装置(2)包括位于支撑台(101)上方的支撑横板(202)，所述支撑横板(202)底部设有若干个等距分布的压紧弹簧(203)，所述支撑横板(202)一侧设有安装耳(201)，所述支撑横板(202)另一侧设有卡接耳(204)，所述支撑底座(1)顶部一侧设有立杆(105)，所述立杆(105)顶部设有第一驱动电机(106)，所述立杆(105)内部设有竖向螺纹杆(107)，所述竖向螺纹杆(107)外侧套设有竖向滑块(108)，所述立杆(105)一侧设有支撑板(109)，所述支撑板(109)底部设有可根据电子元件规格进行调节的调节测试组件(3)，所述调节测试组件(3)包括位于支撑板(109)底部一侧的方形罩(301)，所述方形罩(301)前端设有第二驱动电机(302)，所述方形罩(301)内部设有横向螺纹杆(303)，所述横向螺纹杆(303)外侧套设有分隔块(304)，所述横向螺纹杆(303)外侧位于分隔块(304)两侧均设有横向滑块(305)，所述横向滑块(305)一侧设有活动杆(308)，所述活动杆(308)底部设有若干个等距分布的测试器(309)，所述活动杆(308)另一侧设有限位板(306)，所述限位板(306)一侧设有两个对称设置的第二刻度尺(307)。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述横向滑块(305)与横向螺纹杆(303)之间螺纹连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述活动杆(308)与限位板(306)之间滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述横向螺纹杆(303)外侧以分隔块(304)为分割点将外侧设置的螺纹呈反向设置。
5.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述压紧弹簧(203)与支撑台(101)表面均开设有若干个等距分布的放置槽(102)位置逐一对应。
6.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述支撑横板(202)一侧与安装耳(201)旋转连接，并且支撑横板(202)另一侧与卡接耳(204)通过卡扣卡接固定。
7.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的引脚测试机构，其特征在于：所述支撑板(109)与竖向螺纹杆(107)外侧套设的竖向滑块(108)之间通过连接杆固定连接。
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