CN2862259Y - 硬盘测试治具 - Google Patents
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Abstract
一种硬盘测试治具，用来辅助验证硬盘的性能，所述硬盘测试治具包括一支撑台、一推动件及一转接件，所述支撑台用于放置待测硬盘，所述推动件装设在所述支撑台上，所述推动件推动待测硬盘使待测硬盘的接口与所述转接件电性插接，所述转接件用于将待测硬盘的接口电性转接到测试线缆。通过应用该测试治具，可避免测试硬盘时数据线和电源线的频繁插拔，延长了数据线和电源线的使用寿命且方便测试，提高了工作效率。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种测试治具，特别涉及一种用以协助验证硬盘性能的硬盘测试治具。
【背景技术】
硬盘是电脑的重要部分，因为硬盘中存放着大量的数据，包括庞大的操作系统、游戏软件、文本文件等等，有时就连启动引导自举程序也放在硬盘中，如果硬盘出了问题，将会影响电脑的正常使用。因为硬盘的性能对整个系统的性能有直接影响，所以厂商对于硬盘的性能测试就显得尤为重要。硬盘的接口包括电源接口和数据接口两部分，其中电源接口与主机电源相连接，为硬盘正常工作提供电力保证，数据接口则是硬盘数据与主板控制芯片之间进行数据传输交换的通道，使用时是用一根数据线将其与主板IDE接口或与其他控制适配器的接口相连接。数据接口又可以分成IDE(Integrated DriveElectronics，集成驱动器电子)接口和SCSI(Small Computer System Interface，小型计算机系统接口)接口两大派系。一般来说，硬盘出厂时默认的设置是作为主盘，当只安装一个硬盘时是不需要改动的，但当安装多个硬盘时，就需要对硬盘跳线重新设，其跳线位置多在硬盘数据接口和电源接口之间。目前硬盘性能测试是通过一数据线和一电源线将待测硬盘的数据接口和电源接口连接到电脑主板上相应接口然后进行测试，在测试完一个硬盘后需要将数据线和电源线从硬盘的接口上拔下然后换上下一待测硬盘，所以在测试过程中需要频繁插拔数据线和电源线，数据线和电源线可能由于频繁的插拔缩短了使用寿命或者容易损坏，而且频繁的插拔数据线和电源线也不方便硬盘的测试。
【实用新型内容】
鉴于以上内容，有必要提供一种方便对硬盘进行测试的硬盘测试治具。
一种硬盘测试治具，用来辅助验证硬盘的性能，所述硬盘测试治具包括一支撑台、一推动件及一转接件，所述支撑台用于放置待测硬盘，所述推动件装设在所述支撑台上，所述推动件推动待测硬盘使待测硬盘的接口与所述转接件电性插接，所述转接件用于将待测硬盘的接口电性转接到测试线缆。
相较现有技术，所述硬盘测试治具将待测硬盘放置于支撑台，通过所述推动件推动待测硬盘使待测硬盘的接口通过所述转接件与测试线缆连接，不需要数据线和电源线的频繁插拔从而延长了数据线和电源线的使用寿命而且测试时更换硬盘容易简便，提高了工作效率。
【附图说明】
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。
图1是本实用新型硬盘测试治具较佳实施方式的立体分解图。
图2是本实用新型硬盘测试治具较佳实施方式的组装图。
图3是本实用新型硬盘测试治具较佳实施方式的另一组装图。
图4是本实用新型硬盘测试治具较佳实施方式的使用状态图。
【具体实施方式】
请参照图1，本实用新型硬盘测试治具用来辅助对硬盘进行测试，其较佳实施方式包括一支撑台100、一推动件200及一转接件300。
所述支撑台100包括一支撑板120及若干支撑件140，所述支撑板120四角处分别设一螺孔122，所述支撑板120靠近一端缘设一导向槽124，所述导向槽124包括一长形导槽126、自所述长形导槽126一侧垂直延伸的一第一凹槽128及自长形导槽126另一侧垂直延伸的一第二凹槽130，所述第一凹槽128及所述第二凹槽130在所述长形导槽126方向上的距离大约为10mm，所述长形导槽126两端分别设一对锁固孔132，所述支撑板120还设若干穿孔134。所述支撑板120顶部平行固定两固定板136(请参照图3)，所述固定板136在所述支撑板120上形成一容积区间，其内刚好可放置一待测硬盘，且所述待测硬盘可沿所述固定板136的边缘滑动。每一支撑件140包括一支撑柱142及一螺母144，所述支撑柱142为一螺杆，所述支撑件140用于支撑所述支撑板120。
所述推动件200包括一连接杆220、一推动板240、一推动杆260及一滑动杆280。所述连接杆220上部设若干穿孔222，所述连接杆220底部设一锁固孔224，所述推动板240对应所述连接杆220的穿孔222设有若干锁固孔242。所述推动杆260底部设一通孔262，所述推动杆260底部两侧分别设一定位件264，所述定位件264的中部对应所述推动杆260底部的通孔262分别设一通孔266，所述定位件264还设两穿孔268。所述定位件264的两侧分别设一固定件270，所述固定件270的中部对应所述推动杆260底部的通孔262分别设一通孔272，所述固定件270对应所述支撑板120的两对锁固孔132分别设一对穿孔274。所述滑动杆280为一扁平形长条，所述滑动杆280对应所述连接杆220底部的锁固孔224设一穿孔282，所述滑动杆280对应所述定位件264的穿孔268设两锁固孔284。
所述转接件300包括一转接板320及穿过所述转接板320的一第一转接线340、一第二转接线360及一第三转接线380，所述转接板320底部对应所述支撑板120上的穿孔134设若干锁固孔322。所述第一转接线340为一40针的数据接口插针，所述第二转接线360为一4针的跳线插针，所述第三转接线380为一4针的电源接口插针。所述第一转接线340、第二转接线360及第三转接线380与待测硬盘接口接触的一端均为弹性插针。
请共同参照图2，安装所述硬盘测试治具时，将所述支撑柱142穿过对应螺母144螺合至该支撑板120四角处对应的螺孔122中，即将所述支撑件140固定到支撑板120，所述螺母144用来防止所述支撑板120沿所述支撑柱142下滑。
所述推动杆260伸入到所述支撑板120上的导向槽124内，将所述滑动杆280依次穿过所述一固定件270中部的通孔272、所述一定位件264中部的通孔266、所述推动杆260底部的通孔262、所述另一固定件270中部的通孔272及所述另一定位件264中部的通孔266，通过若干螺丝穿经所述固定件270穿孔274及所述支撑板120上的对应螺孔132将所述固定件270固定在所述支撑板120上，通过两螺丝穿经所述定位件264的穿孔268及所述滑动杆280上的对应锁固孔284将所述定位件264固定在所述滑动杆280上，所述推动杆260固定在所述定位件264之间，但所述定位件264与所述推动杆260间留有少许间隙可使所述推动杆260左右摆动。通过一螺丝穿经所述滑动杆280上的穿孔282及所述连接杆220上的对应锁固孔224将所述连接杆220固定在所述滑动杆280上，此时所述连接杆220也伸入到所述支撑板120上的导向槽124内，通过若干螺丝穿经所述连接杆220的穿孔222及所述推动板240上的对应锁固孔242将所述推动板240通过所述连接杆220固定在所述滑动杆280上，通过推动所述推动杆260使之沿所述支撑板120上导向槽124的长形导槽126方向上滑动可使所述推动板240在所述连接杆220的带动下沿着所述支撑板120的表面滑动。
通过若干螺丝穿经所述支撑板120上的穿孔134及所述转接板320底部的对应锁固孔322将所述转接板320固定在所述支撑板120顶部。
请参照图4，在进行硬盘测试时，将一待测硬盘400放置在所述支撑台100上两固定板136形成的容积区间内，然后推动所述推动杆260使之沿所述支撑板120上导向槽124的长形导槽126方向上滑动，所述推动板240随之在所述支撑板120上滑动，在接触到所述待测硬盘400后所述推动板240推动所述待测硬盘400在所述固定板136形成的容积区间内移动，直至所述待测硬盘400的数据接口(图未示)与所述第一转接线340插接，所述待测硬盘400的跳线接口(图未示)与所述第二转接线360插接，所述待测硬盘400的电源接口(图未示)与所述第三转接线380插接，然后将所述推动杆260推入到所述导向槽124的第一凹槽128或第二凹槽130内(本实用新型硬盘测试治具较佳实施方式推入到所述第二凹槽130内)，具体情况视待测硬盘的接口与所述转接件300插接的紧密程度而定，可在10mm误差范围内灵活调节。
将所述推动杆260推入到第二凹槽130内后，由于所述转接件300上的第一转接线340、第二转接线360及第三转接线380与待测硬盘接口接触的一端均为弹性插针，所以在松开所述推动杆260后所述第一转接线340、第二转接线360及第三转接线380的弹性插针的弹性回复力通过所述待测硬盘400及所述推动板240传送给所述推动杆260使之卡紧在所述第二凹槽130内，达到稳固待测硬盘在所述固定板136形成的容积区间内的目的，然后将所述第一转接线340及第三转接线380的另外一端分别插接上数据线和电源线即可进行硬盘的性能测试。
测试完成后，将所述推动杆260从所述第一凹槽128或第二凹槽130内推出到所述长形导槽126中，松开所述推动杆260后所述待测硬盘400在所述第一转接线340、第二转接线360及第三转接线380的弹性插针回复力作用下从所述固定板136形成的容积区间内弹出，然后接着可换上下一待测硬盘进行测试。
本实用新型硬盘测试治具的较佳实施方式可避免数据线和电源线的频繁插拔，延长了数据线和电源线的使用寿命且方便测试。
Claims (11)
1.一种硬盘测试治具，用来辅助验证硬盘的性能，其特征在于：所述硬盘测试治具包括一支撑台、一推动件及一转接件，所述支撑台用于放置待测硬盘，所述推动件装设在所述支撑台上，所述推动件推动待测硬盘使待测硬盘的接口与所述转接件电性插接，所述转接件用于将待测硬盘的接口电性转接到测试线缆。
2.如权利要求1所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述支撑台包括一支撑板及若干支撑件，所述支撑板四角处分别设一螺孔，所述每一支撑件包括一支撑柱及一螺母，所述支撑柱穿过对应螺母螺合至该支撑板四角处对应的螺孔中。
3.如权利要求2所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述支撑板顶部平行固定两固定板，所述固定板在所述支撑板上形成一容积区间，所述容积区间用于放置待测硬盘。
4.如权利要求2所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述支撑板靠近一端缘设一导向槽，所述导向槽包括一长形导槽、自所述长形导槽一侧垂直延伸的一第一凹槽及自长形导槽另一侧垂直延伸的一第二凹槽。
5.如权利要求4所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述第一凹槽及所述第二凹槽在所述长形导槽方向上的距离大约为10mm。
6.如权利要求4所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述推动件包括一推动板及一连接杆，所述连接杆上部设若干穿孔，所述推动板对应所述连接杆的穿孔设若干锁固孔，通过若干螺丝穿经所述连接杆的穿孔及所述推动板上的对应锁固孔将所述连接杆与所述推动板连接固定，所述连接杆伸入到所述支撑板上的导向槽内。
7.如权利要求6所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述推动件还包括一滑动杆，所述连接杆底部设一锁固孔，所述滑动杆对应所述连接杆上的锁固孔设一穿孔，通过一螺丝穿经所述滑动杆上的穿孔及所述连接杆上的对应锁固孔将所述连接杆固定在所述滑动杆上。
8.如权利要求7所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述推动件进一步包括一推动杆，所述推动杆底部设一通孔，所述推动杆底部两侧分别设一定位件，所述定位件的中部对应所述推动杆底部的通孔分别设一通孔，所述定位件的两侧分别设一固定件，所述固定件的中部对应所述推动杆底部的通孔分别设一通孔，所述推动杆伸入到所述支撑板上的导向槽内，所述滑动杆依次穿过所述一固定件中部的通孔、所述一定位件中部的通孔、所述推动杆的通孔、所述另一固定件中部的通孔及所述另一定位件中部的通孔。
9.如权利要求8所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述支撑板上长形导槽两端分别设一对锁固孔，所述固定件对应所述支撑板的两对锁固孔分别设一对穿孔，通过若干螺丝穿经所述固定件的穿孔及所述支撑板上的对应锁固孔将所述固定件固定在所述支撑板上，所述定位件分别设一穿孔，所述滑动杆对应所述定位件的穿孔设两锁固孔，通过两螺丝穿经所述定位件的穿孔及所述滑动杆上的对应锁固孔将所述定位件固定在所述滑动杆上。
10.如权利要求1所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述转接件包括一转接板及穿过所述转接板的一第一转接线、一第二转接线及一第三转接线，所述第一转接线、第二转接线及第三转接线与待测硬盘接口接触的一端均为弹性插针。
11.如权利要求10所述的硬盘测试治具，其特征在于：所述支撑板设若干穿孔，所述转接板底部对应所述支撑板的穿孔设若干锁固孔，通过若干螺丝穿经所述支撑板的穿孔及所述转接板底部的对应锁固孔将所述转接板固定在所述支撑板顶部。
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