CN200986566Y - 万用型复合式电路板测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型为一种万用型复合式电路板测试治具，该治具上设有一针盘、夹合座及导线座；其中针盘与夹合座保持一定间距，且针盘及夹合座上分别设有复数个固定间距且相对应的钻孔及穿孔，该钻孔及穿孔内分别设有导电探针及长针，又，所述长针的两端分别与待测电路板上的测试点及导电探针电性接触；而导线座上设有同时与针盘内二个或以上的导电探针电性连通的导线接点，如此一来，当更换不同规格的待测电路板进行测试时，不需重新制作针盘及导线座，仅需依不同规格的待测电路板的测试点位置，更改夹合座、长针设置位置与测试比对程序即可，但测试点的面积却可无限的扩充，而节省治具制作工时及成本过高的种种问题。

Description

万用型复合式电路板测试治具

技术领域

本实用新型涉及一种万用型复合式电路板测试治具。

背景技术

已知的印刷电路板于制成后，尚须经过检测程序以检测该电路板线路是否为良品；而一般电路板制造厂商所常采用的检测机器，可分为专用型(Dedicated)测试治具及万用型(Universal Grid)测试治具两种，其中，专用型测试治具的测试机器便宜且测试速度快，但由于配合电路板上精密线路接点所用的一对一的弹性导电探针，其针头较细而昂贵，且容易损坏而常须更换，造成测试成本的增加；反之，万用型治具则是测试机器昂贵，但其所用的探针可为一般长针，并可重复使用，所以治具便宜；故一般的使用情况是在作印刷电路板样品的检测时，先选用万用型测试机，待该电路板验证通过要开始大量生产时，则改用专用型测试机，但必须多增加一次制作治具的针盘及长针，如此将增加人工的钻孔及洒针工时，完全不符合经济需要。

针对以上的缺失，有人利用专用型测试机上成本较为低廉的测试主机与万用型测试机可重复使用的长针等优点与以结合，而成为复合式测试治具，但使用上仍有其缺点：

1.使用者架设治具时间的浪费：基本上架设治具都要花费半小时以上时间插排线，若是治具的点数数量超过12,000点以上时，其排线近达185条左右，光是在架设治具时，就必须花费相当多的时间。

2.治具不用时的储位不足：使用者如以平均每个月有15-20个量产产品为例，每个量产产品最少需开设2组治具以供使用，则经过一段时间，将严重发生储位不足的问题。

3.治具成本：当治具报废后，其长针虽可以回收利用，但针盘的部份所使用的针管座并无法回收再用，也将造成成本增加。

4.治具的损坏：当治具反复架设时，常由于测试人员于架设治具或搬运的过程中造成治具损坏。

5.治具制作时间的问题：由于治具的制作分为针盘及长针部份，从程序撰写到钻孔以至于洒针，一个治具的工作天最少要四天才能够完成，若其测试点愈多，其工作天数会更长，尤其以针盘的制作时间最久。

另，由于上述测试治具的导线接点同时仅连接一导电探针，如为测试传统计算机的主机板，由于其电路板的面积较大且其测试接点间的点距也较大，因此就测试效率上并无明显差异，尚能符合需要；但对于现今愈来愈小及精致化的移动电话机板或移动电子装置的机板而言，其电路板的面积及测试接点间的点距较小，就针盘的测试面积而言，可同时容纳多片相同规格的电路板一次检测，但如此也会增加测试主机的成本负担，在使用上不尽理想。

有鉴于前述已知测试装置的缺失，本发明人研究出本实用新型的万用型复合式电路板测试治具。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种万用型复合式电路板测试治具，可节省治具制作时间及降低治具成本。

本实用新型的另一目的在于提供一种万用型复合式电路板测试治具，其每一导线接点可同时与二个以上的导电探针相连接，而使不同规格的待测电路板在不增加导线座的下也可进行测试，而节省测试工作。

本实用新型的又一目的在于提供一种万用型复合式电路板测试治具，其只要针盘的面积及夹合座可配合钻孔相对应的孔数足够，则可测试大小面积不同的待测电路板。

本实用新型的目的是这样实现的，一种万用型复合式电路板测试治具，该测试治具是装置于测试机台上，该测试治具包括有：

一针盘，该针盘上设有夹合座，该针盘及夹合座上分别钻设有复数个相对应的钻孔及穿孔，且所述钻孔与钻孔间及穿孔与穿孔间分别保持一定距离；

多个导电探针，其分别安装在钻孔中，所述导电探针一端与在钻孔中的弹性件相连接，另一端则凸出钻孔外；

多个长针，其分别插置夹合座上，并与导电探针成一对一电性连接；

一个以上的导线座，其与导电探针相连接，该导线座上设有导线接点，每一导线接点分别与二个穿孔及导电探针相连接。

导线座的导线接点可与二个以上的导电探针相连接。

导电接点同时与二点以上导电探针做连接。

由上所述，当更换不同规格的电路板进行测试时，针盘及导线座不需依不同规格的待测电路板重新制作，只要更改夹合座及长针的设置位置，并于测试程序上设定导线接点与待测电路板的测试点的电路导通或不导通即可，如此就针盘的洒针数量及面积而言，可以比已知技术增加1倍，因此待测电路板的测试点数量也可呈相同比率增加，所以在相同测试时间下，可节省1/2工时，可节省治具制作时间及有效降低治具制作成本等种种问题并提高测试效率。

附图说明

图1：本实用新型的断面组合示意图。

图2：本实用新型的部分断面组合放大示意图。

图3：本实用新型针盘的部分立体示意图。

图4：本实用新型针盘与导线座连接的立体示意图。

图4a：本实用新型针盘与导线座连接的立体放大示意图。

附图标号：

针盘10        钻孔11

导电探针20    弹性件21

夹合座30      上座31

下座32        夹合板33

穿孔34        针孔35

长针36        待测电路板40

导线座50      导线接点51

排线52

具体实施方式

请参阅图1、图2所示，本实用新型的万用型复合式电路板测试治具，其主要设有一针盘10，该针盘架设于测试机台(图中未示)上，请参照图3所示，该针盘10于一定面积上设有复数个钻孔11，所述钻孔11彼此之间保持一定间距，另，所述钻孔11分别埋设有一导电探针20，所述导电探针20一端与在钻孔11内的弹性件21接触，于本实施例中所述弹性件为弹簧，另一端则凸出钻孔11外。

再者，该针盘10上设有一个夹合座30，该夹合座30的面积可依制作者的需求而更改，另，该夹合座30是由一相对的上、下座31、32组合而成，且该上、下座31、32间设有一个以上的夹合板33，于本实施例为4个，所述夹合板33间保持一定间距，其中，上、下座31、32设有与钻孔11相对应的穿孔34，且该上、下座31、32及夹合板33上设有与穿孔34相对的针孔35，所述针孔35是呈逐渐向外扩展倾斜状，且所述穿孔34与针孔35中分别穿设有与待测电路板40的测试点相对的长针36，所述长针36的数量与导电探针相符，且分别与相对应的导电探针20成一对一电性接触。

此外，请参照图4、图4a所示，该针盘10旁设有一个以上的导线座50(俗称牛角座)，所述导线座50上设有复数个导线接点51，所述导线接点51可由电性排线52分别与导电探针20相连接，当更换不同规格的电路板进行测试时，针盘10不需依不同规格的待测电路板40重新制作，只需更改夹合座30、长针36的设置位置，并于测试程序上设定导线接点51与待测电路板40的测试点的电路导通或不导通即可，如此一来，可节省治具制作时间及有效降低治具制作成本等种种问题。

另，由于所述导线接点51分别可由电性排线52同时与二个或二个以上的导电探针20相连接，因此在导线座50及导线接点相同数量下，对其针盘的洒针数量及面积而言，可以比已知技术以1倍、2倍等倍数增加，因此待测电路板40的测试点数量也可呈相同比率增加，如此在相同测试时间下，可节省1/2、1/3的工时，以提高测试效率。

虽然本实用新型已以具体实施例揭示，但其并非用以限定本实用新型，任何本领域的技术人员，在不脱离本实用新型的构思和范围的前提下所作出的等同组件的置换，或依本实用新型专利保护范围所作的等同变化与修饰，皆应仍属本专利涵盖之范畴。

Claims (3)

1.一种万用型复合式电路板测试治具，该测试治具是装置于测试机台上，其特征在于该测试治具包括有：

一针盘，该针盘上设有夹合座，该针盘及夹合座上分别钻设有复数个相对应的钻孔及穿孔，且所述钻孔与钻孔间及穿孔与穿孔间分别保持一定距离；

多个导电探针，其分别安装在钻孔中，所述导电探针一端与在钻孔中的弹性件相连接，另一端则凸出钻孔外；

多个长针，其分别插置夹合座上，并与导电探针成一对一电性连接；

一个以上的导线座，其与导电探针相连接，该导线座上设有导线接点，每一导线接点分别与二个穿孔及导电探针相连接。

2.如权利要求1所述的万用型复合式电路板测试治具，其特征在于：导线座的导线接点可与二个以上的导电探针相连接。

3.如权利要求1所述的万用型复合式电路板测试治具，其特征在于：导电接点同时与二点以上导电探针做连接。

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