CN218445594U - 一种覆铜板电阻率检测夹具和覆铜板电阻率检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了种覆铜板电阻率检测夹具，包括：若干个样品槽，每一所述样品槽包括上固定座和下固定座。所述上固定座上设有多个朝下设置的第一测针，所述上固定座的四周均匀分布有多个定位针；所述下固定座上设有多个朝上设置的第二测针，所述下固定座的四周均匀分布有多个定位槽；其中，所述定位针和所述定位槽的数量相同且位置一一对应，所述第一测针和所述第二测针的针尖错开分布。本申请通过将上固定座和下固定座的测针通过测量导线串联连接，测量导线再与电阻测试设备相连接，与待测覆铜板的测试点直接接触，进行电阻率检测工作，无需再焊接测试导线，可避免焊接过程中烙铁的高温对覆铜板热冲击，不会影响板材的绝缘性能，从而提高测试精度。

Description

一种覆铜板电阻率检测夹具和覆铜板电阻率检测装置

技术领域

本实用新型涉及覆铜板电阻率检测技术领域，具体涉及一种覆铜板电阻率检测夹具和覆铜板电阻率检测装置。

背景技术

覆铜箔层压板(Copper Clad Laminate,CCL)是将电子玻纤布或其它增强材料浸以树脂，一面或双面覆以铜箔并经热压而制成的一种板状材料，简称为覆铜板。各种不同形式、不同功能的印制电路板，都是在覆铜板上有选择地进行加工、蚀刻、钻孔及镀铜等工序，制成不同的印制电路。对印制电路板主要起互连导通、绝缘和支撑的作用，对电路中信号的传输速度、能量损失和特性阻抗等有很大的影响，因此，印制电路板的性能、品质、制造中的加工性、制造水平、制造成本以及长期的可靠性及稳定性在很大程度上取决于覆铜板。

覆铜板层压板表体电阻率检测是指测量覆铜板层压板的表面电阻率和体积电阻率，来剔除不合格及有缺陷的产品，并对检验得到的数据进行电子记录以便后续质量统计分析。现有的覆铜板层压板表体电阻率检验方式是完全由人工完成焊线单独测试，难以保证焊线牢固，并需要人工将数据录入电脑进行数据分析，而且多个测试项目接线繁琐，整个过程耗费大量工时，工作效率低下。

发明内容

针对上述现有技术的缺陷，本实用新型提供了一种覆铜板电阻率检测夹具，通过将上固定座和下固定座的测针通过测量导线串联连接，测量导线再与电阻测试设备相连接，与待测覆铜板的测试点直接接触，进行电阻率检测工作。

本实用新型技术方案如下：

一种覆铜板电阻率检测夹具，包括：若干个样品槽，每一所述样品槽包括：

上固定座，所述上固定座上设有多个朝下设置的第一测针，所述上固定座的四周均匀分布有多个定位针；和

下固定座，所述下固定座上设有多个朝上设置的第二测针，所述下固定座的四周均匀分布有多个定位槽；

其中，所述定位针和所述定位槽的数量相同且位置一一对应，所述第一测针和所述第二测针的针尖错开分布。

可选地，所述测针为弹性测针。

可选地，所述上固定座上设有同心设置的外圈测试区和内圈测试区，所述外圈测试区均匀分布至少2个第一测针，所述内圈测试区均匀分布至少2个第一测针。

可选地，所述上固定座上设有同心设置的外圈测试区和内圈测试区，所述外圈测试区均匀分布3个第一测针，所述内圈测试区均匀分布5个第一测针。

可选地，所述下固定座上设有一圆形测试区，所述圆形测试区内均匀分布至少2个第二测针。

可选地，所述下固定座设有一圆形测试区，所述圆形测试区内均匀分布5个第二测针。

可选地，所述定位针和所述定位槽的数量分别为4个，并分别设置在所述上固定座和所述下固定座的四个顶角。

可选地，所述上固定座的所有第一测针通过测量导线串联，所述下固定座的所有第二测针通过测量导线串联。

可选地，所述样品槽的数量至少为2个。

一种覆铜板电阻率检测装置，包括测量机构和所述的覆铜板电阻率检测夹具。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

(1)本申请的覆铜板电阻率检测夹具，通过将上固定座和下固定座的测针通过测量导线串联连接，测量导线再与电阻测试设备相连接，与待测覆铜板的测试点直接接触，进行电阻率检测工作，无需再焊接测试导线，可避免焊接过程中烙铁的高温对覆铜板热冲击，不会影响板材的绝缘性能，从而提高测试精度。

(2)本申请的覆铜板电阻率检测夹具设有多个样品槽，可以同时针对多个覆铜板进行检测，提高了检测效率。

(3)本申请的覆铜板电阻率检测夹具可以去掉繁琐的固定样品和接线功能，节约人力物力；在检测完成之后，方便拿取样品。

附图说明

图1为本申请实施例的覆铜板电阻率检测夹具的结构示意图；

图2为图1所示覆铜板电阻率检测夹具的样品槽的分解示意图；

图3为本申请实施例的上固定座的下表面的表面示意图；

图4为本申请实施例的下固定座的上表面的表面示意图。

附图标记

上固定座-1；下固定座-2；第一测针-3；第二测针-4；定位针-5；定位槽-6；外圈测试区-7；内圈测试区-8；圆形测试区-9；样品槽-10；覆铜板电阻率检测夹具-100。

具体实施方式

结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为本申请实施例的覆铜板电阻率检测夹具的结构示意图。参见图1，覆铜板电阻率检测夹具包括：9个样品槽，且按3×3的矩阵排布。可以同时针对九个覆铜板进行检测，提高了检测的工作效率。当然，在其他的优选实施例中，样品槽的数量也可以按照其他的排布方式来设置样品槽的排布。

图2为图1所示覆铜板电阻率检测夹具的样品槽的分解示意图。参见图2，每一所述样品槽包括：上固定座1和下固定座2。所述上固定座1上设有多个朝下设置的第一测针3，所述上固定座1的四周均匀分布有4个定位针5。所述下固定座2上设有多个朝上设置的第二测针4，所述下固定座2的四周均匀分布有4个定位槽6。所述定位针5和所述定位槽6的数量相同且位置一一对应，所述第一测针3和所述第二测针4的针尖错开分布。当然也可以根据实际需要设计更多的定位针5和定位槽6。

图3为本申请实施例的上固定座1的下表面的表面示意图。参见图3，所述上固定座1用于布置所述第一测针3的表面设有同心设置的外圈测试区和内圈测试区，所述外圈测试区沿其周向方向均匀分布3个第一测针3，所述内圈测试区沿其径向方向均匀分布4个第一测针3，所述外圈测试区及所述内圈测试区的公共圆心处分布有1个第一测针3。

图4为本申请实施例的下固定座2的上表面的表面示意图。参见图4，所述下固定座2用于布置所述第二测针4的表面设有一圆形测试区，所述圆形测试区沿其径向方向均匀分布4个第二测针4，所述圆形测试区的圆心处分布有1个第二测针4。

如图3及图4所示，所述定位针5和所述定位槽6的数量分别为4个，并分别设置在所述上固定座1和所述下固定座2的四个顶角。

在一个具体实施例中，所述测针为弹性测针，所述测针直接接触测试面。所述上固定座1的所有第一测针3通过测量导线串联，所述下固定座2的所有第二测针4通过测量导线串联。

本申请的覆铜板电阻率检测夹具，通过将上固定座1和下固定座2的测针通过测量导线串联连接，测量导线再与电阻测试设备相连接，与待测覆铜板的测试点直接接触，进行电阻率检测工作，无需再焊接测试导线，可避免焊接过程中烙铁的高温对覆铜板热冲击，不会影响板材的绝缘性能，从而提高测试精度。

本申请另一个实施例还提供了一种覆铜板电阻率检测装置，包括测量机构和所述的覆铜板电阻率检测夹具。其中覆铜板电阻率检测夹具参见前述的结构，从而可以提高覆铜板电阻率的检测精度和检测效率。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，包括：若干个样品槽，每一所述样品槽包括：

上固定座，所述上固定座上设有多个朝下设置的第一测针，所述上固定座的四周均匀分布有多个定位针；和

下固定座，所述下固定座上设有多个朝上设置的第二测针，所述下固定座的四周均匀分布有多个定位槽；

其中，所述定位针和所述定位槽的数量相同且位置一一对应，所述第一测针和所述第二测针的针尖错开分布。

2.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述测针为弹性测针。

3.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述上固定座上设有同心设置的外圈测试区和内圈测试区，所述外圈测试区均匀分布至少2个第一测针，所述内圈测试区均匀分布至少2个第一测针。

4.根据权利要求3所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述外圈测试区均匀分布3个第一测针，所述内圈测试区均匀分布5个第一测针。

5.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述下固定座上设有一圆形测试区，所述圆形测试区内均匀分布至少2个第二测针。

6.根据权利要求5所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述下固定座设有一圆形测试区，所述圆形测试区内均匀分布5个第二测针。

7.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述定位针和所述定位槽的数量分别为4个，并分别设置在所述上固定座和所述下固定座的四个顶角。

8.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述上固定座的所有第一测针通过测量导线串联，所述下固定座的所有第二测针通过测量导线串联。

9.根据权利要求1所述的覆铜板电阻率检测夹具，其特征在于，所述样品槽的数量至少为2个。

10.一种覆铜板电阻率检测装置，其特征在于，包括测量机构和权利要求1-9中任一项所述的覆铜板电阻率检测夹具。

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