CN206863170U - 一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,包括探针、探针固定装置以及电极装置,所述探针固定装置包括六层横向设置的堆栈层以及纵向支撑柱,堆栈层分为上三层以及下三层,中间由支撑柱支撑,形成镂空的状态,堆栈层设置有斜向固定探针的通孔;电极装置为漆包铜线切面后镀镍后再镀金,以增加通导性和稳定性,电极装置后级再接测量设备;所述探针共有四根,每根探针外表面镀有一层绝缘膜,探针通过探针固定装置的堆栈层斜向固定在装置中,探针顶端高出测量平面几毫米,本装置具有成本低、结构简单、维修方便、测量精度高的优点。

Description

一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机
技术领域
本实用新型属于电路板测试装置技术领域,具体涉及一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机。
背景技术
随着科技发展的进步和消费者对精巧化电子产品追求的不断提高,电子设备的体积越来越小、厚度越来越薄,这就致使PCB的面积越来越小、精度越来越高。PCB制造商在努力提高产品质量的同时,也在寻求更好的产品检测方法。在这种情况下,电路板测试仪就应运而生。
电路板测试仪用于对PCB进行性能测试,根据对测试结果的分析、对故障的诊断与定位也可扩展成为诊断系统。电路板测试仪被广泛应用于手机,电脑,医疗仪器,汽车等领域。但是传统的测试仪是使用两端子测定法,这种测试原理在测试时除了被检测基板的电阻,还有配线电阻,接触电阻,设备内阻,测试时以串联存在,而检测时判定值全部统一为100Ω,所以当基板出现缺口不良时对整个电阻值的影响非常不明显,往往会被误判为良品出货。因此,传统的电路板测试仪由于受结构的限制,对产品质量无法做到精细化检测,电路板中微小缺陷不能及时发现和选别。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现本实用新型目的,采用的技术方案是:一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,包括探针、探针固定装置以及电极装置,所述探针固定装置包括六层横向设置的堆栈层以及纵向支撑柱,堆栈层分为上三层以及下三层,中间由支撑柱支撑,形成镂空的状态,堆栈层设置有斜向固定探针的通孔;电极装置为漆包铜线切面后镀镍后再镀金,以增加通导性和稳定性,电极装置后级再接测量设备;所述探针共有四根,每根探针外表面镀有一层绝缘膜,探针通过探针固定装置的堆栈层斜向固定在装置中,探针顶端高出测量平面几毫米。
优选的,所述探针斜着设置在装置内部,依靠探针的弹性作为弹起的弹力,当测量PCB时,探针发生弯曲,当测量结束无PCB时,探针依靠自身弹性弹起。
优选的,所述探针外表面为涂有绝缘层,绝缘层材质为聚对二甲苯,能保证探针弯曲时仍然有着极佳的绝缘性。
优选的,所述探针露出测量平面的高度可以调整,并通过调整露出高度来调整弹力。
优选的,所述探针距测试中心0.13mm。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:(1)本刚性弯曲探针的电路板四线测试机具有结构简单、生产效率高、安全性高、便于安装维护的优点;(2)本刚性弯曲探针的电路板四线测试机采用四端子测试法,供给检测基板上的电流和电压是两个完全独立的回路,配线电阻和接触电阻等等外阻可以全部无视,所以被检测基板的阻值可以精确测定出来,能准确区分出良品以及不良品;(3)本刚性弯曲探针的电路板四线测试机对于常见的回路缺损,PTH孔,激光孔电镀不良等问题能起到很好的选别效果
附图说明
图1是本实用新型结构示意图。
图2是四线测试原理示意图。
1、被测试PCB板 2、上3层堆栈层 3、支撑柱 4、下3层堆栈层 5、支撑层 6、电极 7、绝缘层 8探针。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1所示,本实用新型提供一种技术方案:一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,包括探针、探针固定装置以及电极装置,所述探针固定装置包括六层横向设置的堆栈层以及纵向支撑柱,堆栈层分为上三层以及下三层,中间由支撑柱支撑,形成镂空的状态,堆栈层设置有斜向固定探针的通孔;电极装置为漆包铜线切面后镀镍后再镀金,以增加通导性和稳定性,电极装置后级再接测量设备;所述探针共有四根,每根探针外表面镀有一层绝缘膜,探针通过探针固定装置的堆栈层斜向固定在装置中,探针顶端高出测量平面几毫米。
工作原理:工作时,PCB被置于测试平台,四根探针受到PCB压力而发生弯曲。四根探针与PCB形成两个测试回路,两个回路的电流和电压是两个完全独立的回路,配线电阻和接触电阻等等外阻可以全部无视,所以被检测基板的阻值可以精确测定出来,每条线路都有一个自身的判定值,一般在10mΩ-1Ω不等,如此小的临界值当线路有微小缺陷时就能迅速的反映在电阻上,对比分析后区分出良品和不良品。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,包括探针、探针固定装置以及电极装置,所述探针固定装置包括六层横向设置的堆栈层以及纵向支撑柱,堆栈层分为上三层以及下三层,中间由支撑柱支撑,形成镂空的状态,堆栈层设置有斜向固定探针的通孔;电极装置为漆包铜线切面后镀镍后再镀金,以增加通导性和稳定性,电极装置后级再接测量设备;所述探针共有四根,每根探针外表面镀有一层绝缘膜,探针通过探针固定装置的堆栈层斜向固定在装置中,探针顶端高出测量平面几毫米。
2.根据权利要求1所述的一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,其特征在于:所述探针斜着设置在装置内部,依靠探针的弹性作为弹起的弹力,当测量PCB时,探针发生弯曲,当测量结束无PCB时,探针依靠自身弹性弹起。
3.根据权利要求1所述的一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,其特征在于:所述探针外表面为涂有绝缘层,绝缘层材质为聚对二甲苯,能保证探针弯曲时仍然有着极佳的绝缘性。
4.根据权利要求1所述的一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,其特征在于:所述探针露出测量平面的高度可以调整,并通过调整露出高度来调整弹力。
5.根据权利要求1所述的一种刚性弯曲探针的电路板四线测试机,其特征在于:所述探针距测试中心0.13mm。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110857963A (zh) * 2018-08-09 2020-03-03 欧姆龙株式会社 检查器具、检查单元以及检测装置
CN112630539A (zh) * 2020-12-14 2021-04-09 深圳市燕麦科技股份有限公司 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110857963A (zh) * 2018-08-09 2020-03-03 欧姆龙株式会社 检查器具、检查单元以及检测装置
CN110857963B (zh) * 2018-08-09 2022-03-29 欧姆龙株式会社 检查器具、检查单元以及检测装置
CN112630539A (zh) * 2020-12-14 2021-04-09 深圳市燕麦科技股份有限公司 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置
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