CN206671370U - 一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具 - Google Patents
一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板；本实用新型能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性，以及对产品的防护性；不仅大大提高了测试的准确性，而且操作也十分简单方便，提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型属于一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具。
背景技术
芯片电容器在生产过程中需要对产品进行电容量、损耗角正切、绝缘电阻、介质耐电压及温度特性等电性能测试，以保证产品的质量一致性、环境适应性及可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到测试基板上，再进行试验。这种做法易对产品易造成破坏，且无法重复利用、测试精确度低等缺点。同时，旧测试夹具只能进行单项电性能试验，无法进行切换。在电容器进行电性能测试过程中，传统夹具不易安放电容且易损伤电容表面的金层电极，影响测试的可靠性及结果；且在高低温测试过程中测试顶端与电容器容易发生接触不良，导致测量失效，从而无法准确测试电容器的各项电性能。每次测试失效，需要重复进行，甚至重新焊接产品，影响了测试效率。尤其是，无法准确有效地测试小尺寸产品。
因电容器体积过小，最小尺寸仅0.15mm×0.15mm×0.05mm，产品电极表面为金电极，传统测试夹具易损伤其镀金层，影响其电性能，同时产品焊接到测试基板上，完成某项性能测试后，无法取下进行其他项目的测试，需要重新焊接。
因此，传统夹具存在极大的缺陷及不完善。
实用新型内容
实用新型目的：本实用新型提供一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，该夹具测试效率高、检测准确度高、操作简便。
技术方案：一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。
具体地，所述第二探针固定板上设有若干个用于固定探针的若干个固定孔。
具体地，所述弹簧探针与第一探针固定板为焊接连接。
具体地，所述第二探针固定板上设有四个用于锁定固定螺杆的固定孔。
具体地，所述PCB板与上保护盖和下保护盖为固定连接。
有益效果：与现有技术相比，本实用新型的优点在于：该夹具为非破坏性测试，测试夹具可以重复应用，对电容器金层及基体无损伤，简化了操作，测试精确度高；同时因减少了焊接步骤，提高了测试效率，降低了测试成本；探针固定在第二探针固定板上后，形成凹字形结构，此凹字形结构起定位槽的作用，使电容器放置进去后不易挪动；弹簧探针和第一探针固定板焊接连接，产品放入弹簧探针和探针之间后，承受到弹簧力而固定，产品测试完后还可以取出进行其他项目的测试；与现有测试技术比较，本申请能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性，以及对产品的防护性；不仅大大提高了测试的准确性，而且操作也十分简单方便，提高了测试效率；可以一次性进行多只产品的测试，而且工位可以根据需求添加。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本实用新型。
如图1所示，一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖1、PCB板2、第一探针固定板3、弹簧探针4、探针6、固定螺杆7、第二探针固定板8、下保护盖10，上保护盖1下侧设有带屏蔽的PCB板2，在该PCB板2下侧设有第一探针固定板3；第一探针固定板3上插入若干个弹簧探针4延伸至PCB板2；弹簧探针4与第一探针固定板3为焊接连接；下保护盖10上侧设有带屏蔽的PCB板2，在该PCB板2上侧设有第二探针固定板8；第二探针固定板8上设有若干个用于固定探针6的若干个固定孔，探针6插入若干个固定孔内延伸至PCB板2；第二探针固定板8的四个角上设有四个固定孔，固定孔上设有固定螺杆7；PCB板2与上保护盖1和下保护盖10为固定连接。
本实用新型主要用于解决芯片电容器的电性能测试，包括电容器的电容量、损耗角正切、绝缘电阻、介质耐电压及温度特性等，测试功能多样；此夹具可以测试电容尺寸从0.15mm×0.15mm×0.05mm到5mm×5mm×2mm，可以覆盖全系列芯片电容器。
测试夹具上弹簧探针和探针作为测试探头，经过特殊的金属化工艺处理，表面为硬化镀金层，不易氧化及磨损，与电容器的金电极相匹配，测试更准确，一致性更好。
使用时，提起弹簧探针，将芯片电容器5放置于弹簧探针和探针之间，承受到弹簧力而固定；然后通过固定螺杆将夹具整体固定；PCB板和下保护盖通过螺杆固定在一起，使PCB板里的测试线路避免受损；测试时，分别将测试导线与夹具上下的PCB板的测试端口连接。
本实用新型不只单单适用于芯片电容器，其他上下电极的芯片产品或片式元件类似测试也可以采用本实用新型来操作，并且同样达到相同效果。
Claims (5)
1.一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述第二探针固定板上设有若干个用于固定探针的若干个固定孔。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述弹簧探针与第一探针固定板为焊接连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述第二探针固定板上设有四个用于锁定固定螺杆的固定孔。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：所述PCB板与上保护盖和下保护盖为固定连接。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN109580999A (zh) * | 2018-12-21 | 2019-04-05 | 富芯微电子有限公司 | 一种芯片测试夹具 |
| CN110927414A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-03-27 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 一种芯片测试夹具的保护装置 |
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| CN109580999B (zh) * | 2018-12-21 | 2024-03-22 | 富芯微电子有限公司 | 一种芯片测试夹具 |
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