CN209086289U - 一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，片式元器件具有两端电极，夹具包括上盖板、下盖板、上电极顶针、下电极顶针、上电极引线、下电极引线，上盖板可拆卸地盖紧在下盖板上，上电极顶针下端可向上收缩地设置在上盖板上，下电极顶针固定设置在下盖板上，上、下电极顶针上下相对布置，上、下电极引线分别与上电极顶针下端、下电极顶针上端连接，下电极顶针顶部与下盖板之间形成有放置片式元器件的凹槽，上盖板盖在下盖板上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极顶针接触。本实用新型对片式元器件无损伤，操作简单，测试效率高，可重复使用，且通用性强。

Description

一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具

技术领域

本实用新型涉及一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具。

背景技术

微波单层电容器在生产制造过程中，需要对其进行电压温度特性的测试，以确定电容器在试验温度下的电容值与基准温度下的电容值的相对变化程度，从而保证产品的质量一致性及环境匹配性。旧有测试方法是将产品焊接到普通的载体(如玻纤板)上进行试验，但此种试验方法对产品易造成损伤，且存在重复利用率低、测试精度不高等缺点。在现有技术中，也可借助夹具对电容器进行电压温度特性测试，但现有夹具存在诸多缺陷：在高低温测试过程中因短路或断路现象常有发生，或者夹具的测试端头与电容器容易发生接触不良，导致发生测量失效，无法准确测试到容值及容值变化趋势，而当测试失效时，需要再次进行测试，如此则影响了测试效率；放置电容器困难且易损伤电容器的金层电极，影响测试的可靠性及结果；且无法有效测试小尺寸电容产品，对于小尺寸电容器，其表面电极为金电极，夹具容易损伤其镀金层，影响其电性能。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提出一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，对片式元器件无损伤，操作简单，测试效率高，可重复使用，且通用性强。

本实用新型通过以下技术方案实现：

一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，片式元器件具有两端电极，夹具包括上盖板、下盖板、上电极顶针、下电极顶针、上电极引线、下电极引线，上盖板可盖紧在下盖板上，上、下电极顶针上下相对布置，上电极顶针设置在上盖板上且其下端可向上收缩，下电极顶针固定设置在下盖板上，上、下电极引线分别与上电极顶针上端、下电极顶针下端连接，下电极顶针顶部与下盖板之间形成有放置片式元器件的凹槽，上盖板盖紧在下盖板上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极顶针接触。

进一步的，所述上、下盖板设置有分别用于安装所述上、下电极顶针的安装孔，安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔，上、下电极顶针均包括针管和设置在针管一端的针头，针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径，所述凹槽由下电极顶针针头与下盖板的一段孔形成。

进一步的，所述上电极顶针为弹簧顶针。

进一步的，所述片式元器件包括微波单层电容器。

进一步的，所述上、下盖板上分别间隔设置有多个上、下电极顶针，多个上、下电极顶针两两上下相对布置。

进一步的，所述上盖板可通过螺栓盖紧在下盖板上。

进一步的，所述上、下电极顶针的针管分别焊接固定在上、下盖板的二段孔内。

进一步的，所述上、下电极顶针表面为镀金层。

本实用新型具有如下有益效果：

1、测试时，下盖板平放在工作台上，将片式元器件放置在凹槽内以防止片式元器件掉出，再将上盖板盖紧在下盖板上即可进行电压温度特性测试，此时上电极顶针向上收缩以将片式元器件下压在下电极顶针上，保证片式元器件的两端电极与上、下电极顶针的良好接触，从而大大提高了测试的准确性，测试完成后，拆开上、下盖板即可取出片式元器件，对片式元器件无损伤，操作简单，测试效率高，可重复使用，可测试的片式元器件的尺寸从0.1mm*0.1mm*0.05mm到6mm*6mm*3mm，通用性强。

2、安装孔的结构设置与上、下电极顶针相适应，既能方便上、下电极顶针的安装，又能使下电极顶针与下盖板的一段孔形成凹槽以放置片式元器件，当上电极顶针向上收缩时，其也能与上盖板的一段孔形成凹槽以容纳片式元器件，从而保证良好的接触性。

3、上、下盖板上分别间隔设置有多个上、下电极顶针，从而可一次性测试多个片式元器件，提高测试效率。

附图说明

下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。

图1为本实用新型的俯视结构示意图。

图2为本实用新型的剖视结构示意图。

其中，1、片式元器件；2、上盖板；3、下盖板；4、上电极顶针；5、下电极顶针；6、上电极引线；7、下电极引线；8、安装孔；81、一段孔；82、二段孔；91、针管；92、针头；10、螺栓；11、螺孔；12、让位孔。

具体实施方式

如图1和图2所示，片式元器件1具有两端电极，用于片式元器件电压温度特性测试的夹具包括上盖板2、下盖板3、上电极顶针4、下电极顶针5、上电极引线6、下电极引线7，上盖板2可盖紧在下盖板3上，也可从下盖板3拆除，上电极顶针4、下电极顶针5上下相对布置，上电极顶针4下设置在上盖板2上且其下端可向上收缩，下电极顶针5固定设置在下盖板3上，上电极引线6、下电极引线7分别与上电极顶针4上端、下电极顶针5下端连接，下电极顶针5顶部与下盖板3之间形成有放置片式元器件1的凹槽，上盖板2盖紧在下盖板3上后，片式元器件1的两端电极分别与上电极顶针4、下电极顶针5接触。在本实施例中，片式元器件1为微波单层电容器。

上电极顶针4和下电极顶针5均包括针管91和设置在针管91一端的针头92，上电极顶针4的针管91内设置有弹簧，针头92与针管91连接的一面为圆形，其中，针管91和针头92的结构为现有技术。在本实施例中，上电极顶针4具体为弹簧顶针，下电极顶针5为无伸缩性的顶针。上电极顶针4和下电极顶针5表面为镀金层，不易氧化及磨损，与片式元器件1的电极(为金电极)相匹配，使测试更准确。

上盖板2和下盖板3均设置有分别用于安装上电极顶针4和下电极顶针5的安装孔8，安装孔8包括相互连通的一段孔81和二段孔82，针头92与针管91连接面的直径小于一段孔81直径其大于二段孔82直径，使得下电极顶针5的针头92与下盖板3的一段孔81能够形成放置片式元器件1的凹槽，在测试较厚的片式元器件1时，上电极顶针4的针头92可收缩至上盖板2的一段孔81内，从而形成可容纳片式元器件1上部的空间，上电极顶针4和下电极顶针5的针管91分别焊接固定在上盖板2的一段孔81和下盖板3的二段孔82内。

在本实施例中，上盖板2和下盖板3上分别间隔设置有多个上电极顶针4和下电极顶针5，多个上电极顶针4和下电极顶针5两两上下相对布置，以同时测试多个片式元器件1。上盖板2四角均设置有让位孔12，下盖板3四角均设置有与让位孔12对应的螺孔11，上盖板2通过与螺孔11匹配的螺栓10盖紧在下盖板3上，盖紧时，螺栓10穿过让位孔12后锁紧在螺孔11中。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (8)

1.一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，片式元器件具有两端电极，其特征在于：夹具包括上盖板、下盖板、上电极顶针、下电极顶针、上电极引线、下电极引线，上盖板可盖紧在下盖板上，上、下电极顶针上下相对布置，上电极顶针设置在上盖板上且其下端可向上收缩，下电极顶针固定设置在下盖板上，上、下电极引线分别与上电极顶针上端、下电极顶针下端连接，下电极顶针顶部与下盖板之间形成有放置片式元器件的凹槽，上盖板盖紧在下盖板上后，片式元器件的两端电极分别与上、下电极顶针接触。

2.根据权利要求1所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上、下盖板设置有分别用于安装所述上、下电极顶针的安装孔，安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔，上、下电极顶针均包括针管和设置在针管一端的针头，针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径，所述凹槽由下电极顶针针头与下盖板的一段孔形成。

3.根据权利要求1所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上电极顶针为弹簧顶针。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述片式元器件包括微波单层电容器。

5.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上、下盖板上分别间隔设置有多个上、下电极顶针，多个上、下电极顶针两两上下相对布置。

6.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上盖板可通过螺栓盖紧在下盖板上。

7.根据权利要求2所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上、下电极顶针的针管分别焊接固定在上、下盖板的二段孔内。

8.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件电压温度特性测试的夹具，其特征在于：所述上、下电极顶针表面为镀金层。