CN207636708U - 一种环形器/隔离器测试工装 - Google Patents
一种环形器/隔离器测试工装 Download PDFInfo
- Publication number
- CN207636708U CN207636708U CN201721531911.2U CN201721531911U CN207636708U CN 207636708 U CN207636708 U CN 207636708U CN 201721531911 U CN201721531911 U CN 201721531911U CN 207636708 U CN207636708 U CN 207636708U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- circulator
- isolator
- pcb board
- test fixture
- high frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种环形器/隔离器测试工装,包括接地板、PCB板、可调电容和高频连接器,PCB板上设有微带电路,微带电路的一端与高频连接器的插芯电连接,微带电路的另一端设有焊盘;可调电容的一端与微带电路电连接,可调电容的另一端与PCB板上的接地线电连接;PCB板和高频连接器分别固定在接地板上。本实用新型提供的环形器/隔离器测试工装,设置可调电容,用户在测试环形器/隔离器性能之前可利用可调电容调节高频连接器与PCB板的整体驻波,从而使环形器/隔离器的测试环境达到最佳状态,进而使环形器/隔离器的测试数据更为精确、更为可靠;结构简单、加工方便、制造成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及环形器/隔离器技术领域,尤其涉及一种环形器/隔离器测试工装。
背景技术
目前隔离器、环形器等无源微波器件基本都是人工手动测试,测试的连接主要靠人工连接,可靠性差,一致性比较差,特别是SMD类型(表贴类)的环形器,基本上要靠和焊盘的接触连接后来进行性能测试。随着频率的升高,测试PCB的加工尺寸误差会导致测试端口驻波的变化,从而影响测试环境的变化,导致器件性能测试不准。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种测试数据更为精准、可靠的环形器/隔离器测试工装。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:一种环形器/隔离器测试工装,包括接地板、PCB板、可调电容和高频连接器,所述PCB板上设有微带电路,所述微带电路的一端与高频连接器的插芯电连接,微带电路的另一端设有焊盘;所述可调电容的一端与微带电路电连接,可调电容的另一端与PCB板上的接地线电连接;PCB板和高频连接器分别固定在接地板上。
进一步的,所述微带电路的电阻值为40Ω-60Ω。
进一步的,所述PCB板上设有定位孔,所述定位孔与环形器/隔离器底部的定位柱相适配。
进一步的,所述焊盘与环形器/隔离器上的PIN针对应设置。
进一步的,所述微带电路镀金处理。
进一步的,所述接地板的材质为铜。
进一步的,所述高频连接器与接地板通过螺钉连接。
进一步的,所述接地板靠近PCB板的一侧设有凸出于所述PCB板的辅助块,所述辅助块上设有弧形面,所述弧形面对应的直径与环形器/隔离器的外径相等。
进一步的,所述辅助块与所述接地板一体成型或可拆卸连接。
进一步的,所述PCB板上设有用于对所述辅助块进行避位的避空槽。
本实用新型的有益效果在于:设置可调电容,用户在测试环形器/隔离器性能之前可利用可调电容调节高频连接器与PCB板的整体驻波,从而使环形器/隔离器的测试环境达到最佳状态,进而使环形器/隔离器的测试数据更为精确、更为可靠;结构简单、加工方便、制造成本低。
附图说明
图1为本实用新型实施例一的环形器/隔离器测试工装与环形器/隔离器配合的示意图;
图2为本实用新型实施例一的环形器/隔离器测试工装的整体结构的示意图;
图3为本实用新型实施例一的环形器/隔离器测试工装的爆炸图。
标号说明:
1、接地板;
2、PCB板;
3、可调电容;
4、高频连接器;
5、微带电路;
6、焊盘;
7、定位孔;
8、辅助块;
9、弧形面;
10、避空槽;
100、环形器/隔离器。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
本实用新型最关键的构思在于:在微带电路与PCB板接地线之间架设可调电容,从而让用户在测试环形器/隔离器性能之前可以调整好连接器与PCB板的整体驻波。
请参照图1至图3,一种环形器/隔离器测试工装,包括接地板1、PCB板2、可调电容3和高频连接器4,所述PCB板2上设有微带电路5,所述微带电路5的一端与高频连接器4的插芯电连接,微带电路5的另一端设有焊盘6;所述可调电容3的一端与微带电路5电连接,可调电容3的另一端与PCB板2上的接地线电连接;PCB板2和高频连接器4分别固定在接地板1上。
本实用新型的结构原理简述如下:用户在利用可调电容3调整好PCB板2与高频连接器4整体驻波之后,将环形器/隔离器100的PIN针与微带电路5中的焊盘6接触即可进行环形器/隔离器100的性能测试,操作简便。
从上述描述可知,本实用新型的有益效果在于:设置可调电容,用户在测试环形器/隔离器性能之前可利用可调电容调节高频连接器与PCB板的整体驻波,从而使环形器/隔离器的测试环境达到最佳状态,进而使环形器/隔离器的测试数据更为精确、更为可靠;结构简单、加工方便、制造成本低。
进一步的,所述微带电路5的电阻值为40Ω-60Ω。
进一步的,所述PCB板2上设有定位孔7,所述定位孔7与环形器/隔离器100底部的定位柱相适配。
由上述描述可知,设置与环形器/隔离器上定位柱相匹配的定位孔,有利于环形器/隔离器的准确定位,有利于保证环行器/隔离器和测试微带电路连接的可靠性。
进一步的,所述焊盘6与环形器/隔离器100上的PIN针对应设置。
进一步的,所述微带电路5镀金处理。
由上述描述可知,射频微带连接电路采用镀金处理工艺保证了测试的一致性和稳定性。
进一步的,所述接地板1的材质为铜。
进一步的,所述高频连接器4与接地板1通过螺钉连接。
由上述描述可知,高频连接器的外壳接地。
进一步的,所述接地板1靠近PCB板2的一侧设有凸出于所述PCB板2的辅助块8,所述辅助块8上设有弧形面9,所述弧形面9对应的直径与环形器/隔离器100的外径相等。
进一步的,所述辅助块8与所述接地板1一体成型或可拆卸连接。
进一步的,所述PCB板2上设有用于对所述辅助块8进行避位的避空槽10。
由上述描述可知,设置辅助块,方便员工安装PCB板以及待测试的环形器/隔离器,有利于提高环形器/隔离器的测试效率。
实施例一
请参照图1至图3,本实用新型的实施例一为:一种环形器/隔离器测试工装,包括接地板1、PCB板2、可调电容3和高频连接器4,所述PCB板2上设有微带电路5,所述微带电路5的一端与高频连接器4的插芯电连接,微带电路5的另一端设有焊盘6;所述可调电容3的一端与微带电路5电连接,可调电容3的另一端与PCB板2上的接地线电连接;PCB板2和高频连接器4分别固定在接地板1上。
由于本实施例的环形器/隔离器测试工装是用来测试三端头的环形器/隔离器100的,因此,本实施例的环形器/隔离器测试工装具有三个高频连接器4及三个焊盘6,三个焊盘6呈三角形布置且焊盘6与环形器/隔离器100上的PIN针对应。
所述微带电路5的电阻值为40Ω-60Ω,优选所述微带电路5的电阻值为50Ω。
为便于对环形器/隔离器100精确定位,所述PCB板2上设有定位孔7,所述定位孔7与环形器/隔离器100底部的定位柱相适配。可选的,接地板1上设有与所述定位孔7对应的延伸孔。
所述微带电路5镀金处理,所述接地板1的材质为铜,所述高频连接器4与接地板1通过螺钉连接,所述PCB板2与接地板1螺接、卡接或焊接。
可选的,所述接地板1靠近PCB板2的一侧设有凸出于所述PCB板2的辅助块8,所述辅助块8上设有弧形面9,所述弧形面9对应的直径与环形器/隔离器100的外径相等,所述辅助块8与所述接地板1一体成型或可拆卸连接。
进一步的,所述PCB板2上设有用于对所述辅助块8进行避位的避空槽10。
综上所述,本实用新型提供的环形器/隔离器测试工装,设置可调电容,用户在测试环形器/隔离器性能之前可利用可调电容调节高频连接器与PCB板的整体驻波,从而使环形器/隔离器的测试环境达到最佳状态,进而使环形器/隔离器的测试数据更为精确、更为可靠;结构简单、加工方便、制造成本低;设置与环形器/隔离器上定位柱相匹配的定位孔,有利于环形器/隔离器的准确定位,有利于保证环行器/隔离器和测试微带电路连接的可靠性;射频微带连接电路采用镀金处理工艺保证了测试的一致性和稳定性;设置辅助块,方便员工安装待测试的环形器/隔离器,有利于提高环形器/隔离器的测试效率。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种环形器/隔离器测试工装,其特征在于:包括接地板、PCB板、可调电容和高频连接器,所述PCB板上设有微带电路,所述微带电路的一端与高频连接器的插芯电连接,微带电路的另一端设有焊盘;所述可调电容的一端与微带电路电连接,可调电容的另一端与PCB板上的接地线电连接;PCB板和高频连接器分别固定在接地板上。
2.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述微带电路的电阻值为40Ω-60Ω。
3.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述PCB板上设有定位孔,所述定位孔与环形器/隔离器底部的定位柱相适配。
4.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述焊盘与环形器/隔离器上的PIN针对应设置。
5.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述微带电路镀金处理。
6.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述接地板的材质为铜。
7.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述高频连接器与接地板通过螺钉连接。
8.根据权利要求1所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述接地板靠近PCB板的一侧设有凸出于所述PCB板的辅助块,所述辅助块上设有弧形面,所述弧形面对应的直径与环形器/隔离器的外径相等。
9.根据权利要求8所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述辅助块与所述接地板一体成型或可拆卸连接。
10.根据权利要求8所述的环形器/隔离器测试工装,其特征在于:所述PCB板上设有用于对所述辅助块进行避位的避空槽。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201721531911.2U CN207636708U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
PCT/CN2018/103593 WO2019095792A1 (zh) | 2017-11-15 | 2018-08-31 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201721531911.2U CN207636708U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN207636708U true CN207636708U (zh) | 2018-07-20 |
Family
ID=62857326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201721531911.2U Active CN207636708U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN207636708U (zh) |
WO (1) | WO2019095792A1 (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019095792A1 (zh) * | 2017-11-15 | 2019-05-23 | 深圳市华扬通信技术有限公司 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
CN110954718A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-03 | 天通瑞宏科技有限公司 | 一种smd环行器的测试方法 |
CN112924780A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-08 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
CN114113696A (zh) * | 2021-10-21 | 2022-03-01 | 北京无线电测量研究所 | 一种测试装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI800098B (zh) * | 2021-11-15 | 2023-04-21 | 貿聯國際股份有限公司 | 測試板 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201117776Y (zh) * | 2007-08-27 | 2008-09-17 | 武汉虹信通信技术有限责任公司 | 增益可调射频衰减器 |
CN204740269U (zh) * | 2015-06-10 | 2015-11-04 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 一种微带隔离器测试夹具 |
CN205353140U (zh) * | 2016-01-26 | 2016-06-29 | 中国振华集团云科电子有限公司 | 微带环形器测试夹具 |
CN105633521B (zh) * | 2016-02-25 | 2019-02-15 | 电子科技大学 | 一种基于介电可调薄膜的微波铁氧体环形器 |
CN207636708U (zh) * | 2017-11-15 | 2018-07-20 | 深圳市华扬通信技术有限公司 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
-
2017
- 2017-11-15 CN CN201721531911.2U patent/CN207636708U/zh active Active
-
2018
- 2018-08-31 WO PCT/CN2018/103593 patent/WO2019095792A1/zh active Application Filing
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019095792A1 (zh) * | 2017-11-15 | 2019-05-23 | 深圳市华扬通信技术有限公司 | 一种环形器/隔离器测试工装 |
CN110954718A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-03 | 天通瑞宏科技有限公司 | 一种smd环行器的测试方法 |
CN112924780A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-08 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
CN112924780B (zh) * | 2021-01-26 | 2023-08-04 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
CN114113696A (zh) * | 2021-10-21 | 2022-03-01 | 北京无线电测量研究所 | 一种测试装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019095792A1 (zh) | 2019-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN207636708U (zh) | 一种环形器/隔离器测试工装 | |
CN204989229U (zh) | 一种芯片测试夹具及测试系统 | |
CN108735678B (zh) | 一种量子裸芯片立体封装结构及其封装方法 | |
CN107247163A (zh) | 一种集成电路元件测试插座及测试平台 | |
CN203705493U (zh) | 一种测试纹波的示波器探头 | |
CN111707929A (zh) | 一种pga封装微波测试夹具 | |
CN203616347U (zh) | 电子元件测试治具 | |
CN110954718B (zh) | 一种smd环行器的测试方法 | |
CN208782077U (zh) | 一种芯片测试座 | |
CN203909240U (zh) | 一种基于pcb射频信号的检测装置 | |
CN106405362B (zh) | 一种雪崩二极管低频参数测试装置 | |
CN204560009U (zh) | 印制电路板测点引出转接板 | |
CN108448279A (zh) | 一种s型连接器及应用该连接器的芯片测试座 | |
CN109669118A (zh) | 一种可调节微波电路测试夹具 | |
CN205720552U (zh) | 一种避免损伤pcb板的复合测试治具 | |
CN205015372U (zh) | 片式组件弹性测试工装 | |
CN109061245B (zh) | 一种测试pcb板阻抗射频探针 | |
CN204255990U (zh) | 一种超小型封装霍尔开关元器件测试座 | |
CN203365488U (zh) | 探针式连接器检测装置 | |
CN209446617U (zh) | 一种天线滤波器一体化测试工装 | |
CN209167403U (zh) | 一种万用表端子排专用接线头 | |
CN104267229A (zh) | 一种微电容测试连接装置 | |
CN206563793U (zh) | 兼容多sma探头的pcb板封装 | |
CN214409201U (zh) | 一种用于pcb电路板测试用的射频探针 | |
CN215180333U (zh) | 一种电流注入探头校准夹具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |