CN214409201U - 一种用于pcb电路板测试用的射频探针 - Google Patents

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Abstract

本实用新型所公开的用于PCB电路板测试用的射频探针,包括探针颈(1)和设有内部空腔的探针管(2),所述探针颈(1)同轴且滑动连接在所述探针管(2)的内部空腔内且其端部伸出到所述探针管(2)外,所述探针管(2)内设有一与所述探针管(2)电连接的弹性部件;所述探针颈(1)与弹性部件之间设有一导电小球(3)。本实用新型所公开的用于PCB电路板测试用的射频探针,设计巧妙,连接稳定,可保证探针颈和探针管之间电性接触永不间断,可完全消除测试过程中假性开路的问题,保证测试的准确性。

Description

一种用于PCB电路板测试用的射频探针
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域,尤其涉及一种用于PCB电路板测试用的射频探针。
背景技术
射频探针是电路板测试中常用的测试工具,用于实现电路板上测试点与测试设备之间的电路连接。通常使用的射频探针,针颈和针管之间常会因结构原因出现电接触断开,从而导致假性开路的测试结果,影响测试的准确性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种用于PCB电路板测试用的射频探针。
本实用新型所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,包括探针颈(1)和设有内部空腔的探针管(2),所述探针颈(1)同轴且滑动连接在所述探针管(2)的内部空腔内且其端部伸出到所述探针管(2)外,所述探针管(2)内设有一与所述探针管(2)电连接的弹性部件;所述探针颈(1)与弹性部件之间设有一导电小球(3)。
所述弹性部件为一高效弹簧(4)。所述探针颈(1)的尾部设有一圆柱形凸块(5),所述圆柱形凸块(5)的直径大于所述探针颈(1)的直径且小于所述探针管(2)的内径;所述圆柱形凸块(5)与所述探针颈(1)同轴且一设置。所述探针管(2)的前端为环装尖齿结构。本实用新型所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,还包括一板状连接件(6);所述板状连接件(6)的中心设有第一通孔,所述探针管(2)穿设于所述第一通孔内且与所述连接件为一体结构。所述板状连接件(6)上还设有第二通孔(7)和第三通孔(8)。所述探针管(2)的外壁上设有至少一条形滑槽(9)。所述条形滑槽(9)的底部为弧形。本实用新型所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,还包括一探针管连接环(10);所述探针管连接环(10)的内径与所述探针管(2)的内径相同;所述探针管连接环(10)的外径大于所述探针管(2)的外径。所述探针管连接环(10)的外壁和内壁均设有螺纹。
本实用新型所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,设计巧妙,连接稳定,可保证探针颈和探针管之间电性接触永不间断,可完全消除测试过程中假性开路的问题,保证测试的准确性。
附图说明
图1为本实用新型实施例所述的用于PCB电路板测试用的射频探针前端结构示意图;
图2为本实用新型实施例所述的用于PCB电路板测试用的射频探针后端结构示意图;
图3为本实用新型实施例所述的用于PCB电路板测试用的射频探针局部剖视图;
图4为本实用新型实施例所述的用于PCB电路板测试用的射频探针内部结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1至图4所示,本实施例提供一种用于PCB电路板测试用的射频探针,包括探针颈1和设有内部空腔的探针管2,所述探针颈1同轴且滑动连接在所述探针管2的内部空腔内且其端部伸出到所述探针管2外,所述探针管2内设有一与所述探针管2电连接的弹性部件;所述探针颈1与弹性部件之间设有一导电小球3。本领域技术人员可以理解,由于在探针颈1与弹性部件之间设有一导电小球3,探针颈1尾部的端面、导电小球3外表面及弹性部件表面可保持永远连接,从而保证探针颈1和探针管2之间电性接触永不间断,可完全消除测试过程中假性开路的问题,保证测试的准确性。
所述弹性部件为一高效弹簧4。
所述探针颈1的尾部设有一圆柱形凸块5,所述圆柱形凸块5的直径大于所述探针颈1的直径且小于所述探针管2的内径;所述圆柱形凸块5与所述探针颈1同轴且一设置。本领域技术人员可以理解,所述圆柱形凸块5用于增加探针颈1尾端的端面面积,从而确保与导电小球3电连接更加稳固。
所述探针管2的前端为环装尖齿结构。
本实施例所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,还包括一板状连接件6;所述板状连接件6的中心设有第一通孔,所述探针管2穿设于所述第一通孔内且与所述连接件为一体结构。本领域技术人员可以理解,所述连接板用于将本实施例所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针与测试台、测试治具等设备相连接。
所述板状连接件6上还设有第二通孔7和第三通孔8。本领域技术人员可以理解,所述第二通孔7和第三通孔8为装配孔,便于使用螺钉将连接板与测试台、测试治具等设备相连接。
所述探针管2的外壁上设有至少一条形滑槽9。
所述条形滑槽9的底部为弧形。本领域技术人员可以理解,所述条形滑槽9用于在检测过程中与检测设备的条形导轨相卡合,从而将本实施例所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针稳定固定,保证测试的准确性。
本实施例所提供的用于PCB电路板测试用的射频探针,还包括一探针管连接环10;所述探针管连接环10的内径与所述探针管2的内径相同;所述探针管连接环10的外径大于所述探针管2的外径。
所述探针管连接环10的外壁和内壁均设有螺纹。本领域技术人员可以理解,所述探针管连接环10用于方便与线缆、测试仪器等实现电路连接。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,包括探针颈(1)和设有内部空腔的探针管(2),所述探针颈(1)同轴且滑动连接在所述探针管(2)的内部空腔内且其端部伸出到所述探针管(2)外,所述探针管(2)内设有一与所述探针管(2)电连接的弹性部件;所述探针颈(1)与弹性部件之间设有一导电小球(3)。
2.如权利要求1所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述弹性部件为一高效弹簧(4)。
3.如权利要求2所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述探针颈(1)的尾部设有一圆柱形凸块(5),所述圆柱形凸块(5)的直径大于所述探针颈(1)的直径且小于所述探针管(2)的内径;所述圆柱形凸块(5)与所述探针颈(1)同轴且一设置。
4.如权利要求3所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述探针管(2)的前端为环装尖齿结构。
5.如权利要求4所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,还包括一板状连接件(6);所述板状连接件(6)的中心设有第一通孔,所述探针管(2)穿设于所述第一通孔内且与所述连接件为一体结构。
6.如权利要求5所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述板状连接件(6)上还设有第二通孔(7)和第三通孔(8)。
7.如权利要求6所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述探针管(2)的外壁上设有至少一条形滑槽(9)。
8.如权利要求7所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述条形滑槽(9)的底部为弧形。
9.如权利要求8所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,还包括一探针管连接环(10);所述探针管连接环(10)的内径与所述探针管(2)的内径相同;所述探针管连接环(10)的外径大于所述探针管(2)的外径。
10.如权利要求9所述的用于PCB电路板测试用的射频探针,其特征在于,所述探针管连接环(10)的外壁和内壁均设有螺纹。
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