TW201522979A - 探針模組(一) - Google Patents
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Abstract
一種探針模組,包括一印刷電路板、二探針、一定位件及一訊號接頭。其中,該印刷電路板上佈設有一訊號線路與一接地線路。該等探針以導體製成且焊設於該基板上,其中一探針與該訊號線路電連接,另外一探針與該接地線路電連接。該定位件係以絕緣材料製成,設該等探針上且位於該基板上方。該訊號接頭與該印刷電路板連接,且具有一訊號傳導部以及一接地傳導部,該訊號傳導部與該訊號線路電性連接,而該接地傳導部則與該接地線路電性連接。
Description
本發明係與電性檢測之設備有關;特別是指一種探針模組。
按,用以檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實的方法,是以一探針模組作為一檢測裝置與待測電子裝置之間的測試訊號與電源訊號之傳輸介面。
然而,習用探針模組於組裝後,其探針常因為多次與待測電子裝置抵觸而產生偏移,除造成量測對位的精準度下降外,亦會造成電氣特性的改變,進而導致檢測結果不夠準確,而容易有測試誤判的情形產生。
是以,如何有效防止探針在多次檢測後發生之位移,實為現今業者苦思改良之方向。
有鑑於此,本發明之目的用於提供一種探針模組,具有較佳地穩定度,而不易產生位移的現象。
緣以達成上述目的,本發明所提供探針模組用以於一檢測裝置以及一待測物之間傳遞電訊號,且包括一印刷電路板、至少二探針、一定位件以及一訊號接頭。其中,該印刷電路板具有一基板、一訊號線路以及一接地線路,且該訊號線路與該接地線路佈設於該基板上。該等探針以導體製成,且一端用以與該待測物接抵;該等探針另一端係焊設
於該基板上,且其中一探針與該訊號線路電性連接,另外一探針與該接地線路電性連接。該定位件係以絕緣材料製成,且設該等探針上,且位於該基板上方,而使該等探針位於該基板與該定位件之間。該訊號接頭,用以供與該檢測裝置電性連接,且與該印刷電路板連接;另外,該訊號接頭具有一訊號傳導部以及一接地傳導部,該訊號傳導部與該訊號線路電性連接,而該接地傳導部則與該接地線路電性連接。
藉此,透過上述之設計,便可有效地增加該探針模組之探針的穩定度,而不易有位置偏移的現象產生。
10‧‧‧印刷電路板
12‧‧‧基板
14‧‧‧訊號線路
16‧‧‧接地線路
20‧‧‧探針組
21‧‧‧接地針
22‧‧‧訊號針
30‧‧‧定位件
40‧‧‧訊號接頭
42‧‧‧訊號傳導部
44‧‧‧接地傳導部
46‧‧‧絕緣墊圈
50‧‧‧殼體
52‧‧‧上殼
521‧‧‧第一開口
522‧‧‧第二開口
54‧‧‧下殼
541‧‧‧承台
542‧‧‧接板
圖1係本發明較佳實施例之探針模組之立體圖。
圖2係本發明較佳實施例之探針模組之分解圖。
圖3為一立體圖,揭示探針組設於印刷電路板上。
圖4係一立體圖,揭示定位件設於探針組上。
圖5係一立體圖,揭示印刷電路板設於下殼上。
圖6係一剖視圖,揭示上殼設於下殼上且壓抵定位件。
為能更清楚地說明本發明,茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1與圖2所示,本發明一較佳實施例之探針模組用以於一檢測裝置(圖未示)以及一待測物(圖未示)之間傳遞電訊號,且包含有一印刷電路板10、一探針組20、一定位件30、一訊號接頭40以及一殼體50。其中:該印刷電路板10具有一呈長矩形之基板12、
一訊號線路14以及二接地線路16。該訊號線路14與該二接地線路16係佈設於該基板12上,且該訊號線路14位於該二接地線路16之間。
請參閱圖3,於本實施例中,該探針組20包含有三根以導體製成之探針,且分別為二接地針21以及一訊號針22,用以供一端與該待測物上對應之接點接抵。另外,各該接地針21之體積大於該訊號針22之體積,且該二接地針11另一端係對稱地銲設於該基板12上,且分別與該二接地線路16電性連接。該訊號針22另一端同樣銲設於該基板12上,並位於該二接地針21之間,且與該訊號線路14電性連接。
請參閱圖4,該定位件30於本實施例中係以絕緣之環氧樹脂製成,用以在該探針組20設置於該基板上後利用絕緣黏膠固定設於該探針組20上,且位於該印刷電路板10上方,而使該該探針組20位於該印刷電路板10與該定位件30之間,且該定位件10之部分部位則凸伸於該等探針21、22之間。如此一來,透過上述之設計,當該探針組20設置於該印刷電路板10上之後,亦可依電性需求對該等探針21、22之位置進行微調,再利用將該定位件30黏設於該探針組20上方,而達到固定該等探針21、22之位置的目的,並可同時達到加強該等探針21、22之間的電氣隔離的效果。當然,在實際實施上,該定位件30亦可選用其他絕緣材料,且該定位件30即使部分部位不凸伸至該等探針21、22之間,亦可達到固定該等該探針21、22位置之目的。
該訊號接頭40與該印刷電路板10連接,且具有以導體製成之一訊號傳導部42以及一接地傳導部44,該訊號傳導部42與該訊號線路16電性連接,而該接地傳導部44則與該接地線路14電性連接。於本實施例中,該訊號傳
導部42為一金屬柱。該接地傳導部44為一金屬套環,環繞該訊號傳導部42設置。另外,該訊號傳導部42與該接地傳導部44之間更設有一絕緣墊圈46,以隔絕兩者間之訊號相互影響,進而避免該訊號傳導部42與該接地傳導部44之間產生干擾或短路之疑慮。
該殼體50包含有一上殼52以及一下殼54,該上殼於相反之兩端分別具有一第一開口521與一第二開口522。該下殼54則具有一承台541以及對稱地連接於該承台541同一側之二接板542。是以,請參閱圖5,當該探針組20與該定位件30以及該訊號接頭40固定於該印刷電路板10上後,便可將該印刷電路板10與該訊號接頭40利用螺栓鎖固於該下殼54的承台541上。而後,便可將該上殼52鎖設於該承台541,且利用該上殼52遮蔽設於該承台541上之印刷電路板10,並使該定位件30如圖6所示位於該上殼52與該探針組20之間,而可大幅增加該探針組20與該上殼52間的電氣隔離度。組裝完成後,該探針組20將自該第一開口521伸出至該殼體50外,而該訊號接頭40則自該第二開口522伸出至該殼體50外。
當檢測人員欲檢測時,便可將該二接板542鎖固於該檢測裝置之探測手臂上,並將該訊號接頭40與該檢測裝置之同軸電纜連接。而後,進行電性檢測時,便可利用該檢測裝置之探測手臂移動該探針模組至該待測物上,並使該探針組20接抵於該待側物之待測部位,進而透過該探針組20、該印刷電路板10與該訊號接頭40達到於該檢測裝置以及該待測物之間傳遞電訊號之目的,且透過該定位件30之設計,更能有效地達到固定該探針組20位置之目的,而能有效地提升該探針組20的穩定度,使得該探針模組多次使用後,其該探針組20仍不會有位置偏移的現象發生。
另外,以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已,舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化,理應包含在本發明之專利範圍內。
10‧‧‧印刷電路板
12‧‧‧基板
14‧‧‧訊號線路
16‧‧‧接地線路
20‧‧‧探針組
30‧‧‧定位件
40‧‧‧訊號接頭
42‧‧‧訊號傳導部
44‧‧‧接地傳導部
46‧‧‧絕緣墊圈
52‧‧‧上殼
521‧‧‧第一開口
522‧‧‧第二開口
54‧‧‧下殼
541‧‧‧承台
542‧‧‧接板
Claims (8)
- 一種探針模組,用以於一檢測裝置以及一待測物之間傳遞電訊號,且包括:一印刷電路板,具有一基板、一訊號線路以及至少一接地線路,且該訊號線路與該接地線路佈設於該基板上;至少二探針,以導體製成,且一端用以與該待測物接抵;該等探針另一端係焊設於該基板上,且其中一探針與該訊號線路電性連接,另外一探針與該接地線路電性連接;一定位件,係以絕緣材料製成,且設該等探針上,且位於該基板上方,而使該等探針位於該基板與該定位件之間;以及一訊號接頭,用以供與該檢測裝置電性連接,且與該印刷電路板連接;另外,該訊號接頭具有一訊號傳導部以及一接地傳導部,該訊號傳導部與該訊號線路電性連接,而該接地傳導部則與該接地線路電性連接。
- 如請求項1所述探針模組,更包含有一殼體,且該殼體具有一容置空間、以及與該容置空間連通且位於相反兩側之一第一開口以及一第二開口;該印刷電路板與該定位件位於該容置空間中,該等探針自該第一開口伸出至該殼體外,而該訊號接頭則自該第二開口伸出至該殼體外。
- 如請求項2所述探針模組,其中該殼體包含有一下殼以及一上殼,且該印刷電路板係設於該下殼上;該上殼於相反兩側上分別具有該第一開口與該第二開口,且設置於該下殼上並遮蔽該印刷電路板。
- 如請求項3所述探針模組,其中該下殼之內側面係壓設於該定位件上,使該定位件位於該等探針與該上殼之間。
- 如請求項1所述探針模組,其中該定位件之部分部位係凸伸至該等探針之間。
- 如請求項1所述探針模組,其中該訊號接頭更包含有一絕緣墊圈,且設置於該訊號傳導部與該接地傳導部之間。
- 如請求項1所述探針模組,其中其中該印刷電路板之至少一接地線路為二接地線路,且對稱地設置於該基板上,且該二接地線路與該接地傳導部電性連接,而該另外一探針係與其中一接地線路電性連接;另外,該訊號線路係位於該二接地線路之間。
- 如請求項7所述探針模組,其中該至少二探針為三探針,其中一探針與該訊號線路電性連接,而另外二探針則與該接地線路電性連接,且與該號線路電性連接之該探針,係位於與該接地線路電性連接之該二探針之間。
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Cited By (1)
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