TWI495880B - Probe module - Google Patents

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TWI495880B TW102149319A TW102149319A TWI495880B TW I495880 B TWI495880 B TW I495880B TW 102149319 A TW102149319 A TW 102149319A TW 102149319 A TW102149319 A TW 102149319A TW I495880 B TWI495880 B TW I495880B
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06772High frequency probes

Description

探針模組
本發明係與電性檢測器具有關;特別是指一種探針模組。
按,用以檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實的方法,是以一探針模組作為一檢測裝置與待測電子裝置之間的測試訊號與電源訊號之傳輸介面。
然而,為使檢測之準確度增加,習用探針模組必須非常要求其外殼尺寸的精度,以避免外殼內壁之尺寸或形狀之偏差造成電場效應之改變,導致檢測時之訊號傳輸受到干擾。如此一來,習用探針模組於製作以及組裝時,不僅費時費工,造成效率不佳,且由於製作精度之要求,常造成組裝後之探針模組,於檢測時的準確性並無法達到預期。
有鑑於此,本發明之目的用於提供一種探針模組,不僅可有效地提升探針模組組裝時的效率,同時能提升確保檢測時的準確性。
緣以達成上述目的,本發明所提供探針模組包含有一殼體、一印刷電路板、至少二探針、一共振件以及一訊號接頭。其中,該殼體具有一容置空間、以及與該容置空間連通且位於相反兩側之一第一開口以及一第二開口。該印刷電路板,設於該容置空間中,並具有一基板、以及佈設於 該基板上之一訊號線路以及至少一接地線路,且該基板與該殼體連接。該等探針以導體製成,焊設於該基板上,並自該第一開口伸出至該殼體外,且其中一探針與該訊號線路電性連接,而另外一探針與該接地線路電性連接。該共振件具有一腔室以及一與該腔室連通之開口;該共振件位於該容置空間中,且設於該印刷電路板上而封住該開口,並位於該印刷電路板與該殼體之間,而該腔室之內壁朝向該基板;該訊號接頭與該印刷電路板連接,且自該第二開口伸出至該殼體外;該訊號接頭具有一訊號傳導部以及一接地傳導部,該訊號傳導部與該訊號線路電性連接,而該接地傳導部則與該接地線路電性連接。
藉此,透過上述之結構設計,透過該共振件之設置,便能有效地穩定電場效應,不僅可有效地提升探針模組組裝時的效率,同時能提升確保檢測時的準確性。
10‧‧‧印刷電路板
12‧‧‧基板
14‧‧‧訊號線路
16‧‧‧接地線路
20‧‧‧探針組
21‧‧‧接地針
22‧‧‧訊號針
30‧‧‧共振件
32‧‧‧腔室
40‧‧‧訊號接頭
42‧‧‧訊號傳導部
44‧‧‧接地傳導部
46‧‧‧絕緣墊圈
50‧‧‧殼體
52‧‧‧上殼
521‧‧‧第一開口
522‧‧‧第二開口
54‧‧‧下殼
541‧‧‧承台
542‧‧‧接板
圖1係本發明較佳實施之探針模組的立體圖。
圖2係本發明較佳實施之探針模組的分解圖。
圖3為立體圖,揭示探針組與共振件設於印刷電路板。
圖4係立體圖,揭示印刷電路板設於下殼上。
為能更清楚地說明本發明,茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後,請參圖1至圖2所示,本發明較佳實施例之探針模組,用以於一檢測裝置(圖未示)以及一待測 物(圖未示)之間傳遞電訊號,且包含有一印刷電路板10、一探針組20、一共振件30、一訊號接頭40以及一殼體50。其中:該印刷電路板10具有一呈長矩形之基板12、一訊號線路14以及二接地線路16。該訊號線路14與該二接地線路16係佈設於該基板12上,且該訊號線路14位於該二接地線路16之間。
請參閱圖3,於本實施例中,該探針組20包含有三根以導體製成之探針,且分別為二接地針21以及一訊號針22,用以供一端與該待測物上對應之接點接抵。另外,各該接地針21之體積大於該訊號針22之體積,且該二接地針11另一端係對稱地銲設於該基板12上,且分別與該二接地線路16電性連接。該訊號針22另一端同樣銲設於該基板12上,並位於該二接地針21之間,且與該訊號線路14電性連接。
該共振件30具有一兩端呈開放狀之腔室32、以及一位於該腔室32兩端之間且與該腔室32連通之開口。另外,於本實施例中,該共振件30係以金屬材質製成,並呈長條狀,且該腔室32內壁之剖面形狀係呈半圓形,但該腔室32內壁之剖面形狀並不以此為限,在其它實施清況中,該腔室32內壁之剖面形狀亦可呈其它形態的圓弧狀。另外,該共振件30係設於該印刷電路板10上,且其相反兩側分別焊設於該二接地線路14上,而與該二接地電性連接,且使該腔室32之內壁朝向該基板12,並使該開口被該印刷電路板10封住。
該訊號接頭40與該印刷電路板10連接,且具有以導體製成之一訊號傳導部42以及一接地傳導部44,該訊號傳導部42與該訊號線路16電性連接,而該接地傳導部 44則與該接地線路14電性連接。於本實施例中,該訊號傳導部42為一金屬柱。該接地傳導部44為一金屬套環,環繞該訊號傳導部42設置。另外,該訊號傳導部42與該接地傳導部44之間更設有一絕緣墊圈46,以隔絕兩者間之訊號相互影響,進而避免該訊號傳導部42與該接地傳導部44之間產生干擾或短路之疑慮。
該殼體50包含有一上殼52以及一下殼54,該 上殼於相反之兩端分別具有一第一開口521與一第二開口522。該下殼54則具有一承台541以及連接於該承台541一側之接板542。是以,請參閱圖4,當該探針組20與該共振件30以及該訊號接頭40固定於該印刷電路板10上後,便可將該印刷電路板10與該訊號接頭40利用螺栓鎖固於該下殼54的承台541上。而後,便可將該上殼52鎖設於該承台541,且利用該上殼52遮蔽設於該承台541上之印刷電路板10以及該共振件30,而使該共振件30位於該上殼52與該印刷電路板10之間。而組裝完成後,該探針組20將自該第一開口521伸出至該殼體50外,而該訊號接頭40則自該第二開口522伸出至該殼體50外。
如此一來,當檢測人員欲檢測時,便可將該接 板542鎖固於該檢測裝置之探測手臂上,並將該訊號接頭40與該檢測裝置之同軸電纜連接。而後,進行電性檢測時,便可利用該檢測裝置之探測手臂移動該探針模組至該待測物上,並使該探針組20接抵於該待側物之待測部位,進而透過該探針組20、該印刷電路板10與該訊號接頭40達到於該檢測裝置以及該待測物之間傳遞電訊號之目的。
另外,透過該共振件30內壁呈半圓形(或圓弧 狀)之設計,便能有效地降低組裝位置有些微偏差時,對該探針模組之電場效應的影響,且透過該共振件30之設置, 更可提供該訊號線路14及該二接地線路16類似金屬遮罩的效果,不僅能有效地穩定該探針模組所產生之電場效應,更能有效地隔絕外部訊號之干擾。
如此一來,透過上述之結構設計,本發明之探針模組便能有效地達到穩定電場效應之效果,同時能有效地提升探針模組組裝時的效率,更能提升確保檢測時的準確性。
而必須說明的是,以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已,舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效結構或電路變化,理應包含在本發明之專利範圍內。
10‧‧‧印刷電路板
12‧‧‧基板
14‧‧‧訊號線路
16‧‧‧接地線路
20‧‧‧探針組
30‧‧‧共振件
32‧‧‧腔室
40‧‧‧訊號接頭
42‧‧‧訊號傳導部
44‧‧‧接地傳導部
46‧‧‧絕緣墊圈
52‧‧‧上殼
521‧‧‧第一開口
522‧‧‧第二開口
54‧‧‧下殼
541‧‧‧承台
542‧‧‧接板

Claims (10)

  1. 一種探針模組,包括:一殼體,具有一容置空間、以及與該容置空間連通且位於相反兩側之一第一開口以及一第二開口;一印刷電路板,設於該容置空間中,並具有一基板、以及佈設於該基板上之一訊號線路以及至少一接地線路,且該基板與該殼體連接;至少二探針,以導體製成,焊設於該基板上,並自該第一開口伸出至該殼體外,且其中一探針與該訊號線路電性連接,而另外一探針與該接地線路電性連接;一共振件,具有一腔室以及一與該腔室連通之開口;該共振件位於該容置空間中,且設於該印刷電路板上而封住該開口,並位於該印刷電路板與該殼體之間,而該腔室之內壁朝向該基板;以及一訊號接頭,與該印刷電路板連接,且自該第二開口伸出至該殼體外;該訊號接頭具有一訊號傳導部以及一接地傳導部,該訊號傳導部與該訊號線路電性連接,而該接地傳導部則與該接地線路電性連接。
  2. 如請求項1所述探針模組,其中該殼體包含有一下殼以及一上殼,且該印刷電路板係設於該下殼上;該上殼於相反兩側上分別具有該第一開口與該第二開口,且設置於該下殼上並遮蔽該印刷電路板與該共振件。
  3. 如請求項1所述探針模組,其中該腔室內壁之剖面形狀係呈圓弧狀。
  4. 如請求項1所述探針模組,其中該腔室內壁之剖面形狀係呈半圓形。
  5. 如請求項1所述探針模組,其中該共振件係以金屬材料製成,且與該接地線路電性連接。
  6. 如請求項1所述探針模組,其中該接地線路之數量為二,且對稱地設置於該基板上,而該訊號線路係位於該二接地線路之間;另外,該二接地線路同時與該接地傳導部電性連接,且該另外一探針係與其中一接地線路電性連接。
  7. 如請求項6所述探針模組,其中該等探針之數量為三,且其中一探針與該訊號線路電性連接,而另外二探針則分別與該二接地線路電性連接,且與該訊號線路電性連接之該探針,係位於與該二接地線路電性連接的該二探針之間。
  8. 如請求項6所述探針模組,其中該共振件係以金屬材料製成,且其相反之兩側分別焊設於該二接地線路上。
  9. 如請求項1所述探針模組,其中該訊號接頭更包含有一絕緣墊圈,且設置於該訊號傳導部與該接地傳導部之間。
  10. 如請求項1所述探針模組,其中該共振件之腔室兩端係呈開放狀,且該開口係位於該腔室的兩端之間,並與該腔室兩端連通。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI495880B (zh) 2013-12-31 2015-08-11 Mpi Corp Probe module
TWI586967B (zh) * 2015-10-27 2017-06-11 Mpi Corp Probe module
CN105467167A (zh) * 2015-12-10 2016-04-06 苏州世纪福智能装备股份有限公司 Esd原材料射频性能检查夹具
CN106338678A (zh) * 2016-11-07 2017-01-18 浙江工业大学 一种绝缘板自动检测装置
JP7387285B2 (ja) * 2019-04-26 2023-11-28 日置電機株式会社 プローブ装置
JP2022185454A (ja) * 2021-06-02 2022-12-14 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3869187A (en) * 1974-03-12 1975-03-04 Sealectro Corp Quick connect/disconnect coax connector
US5061892A (en) * 1990-06-13 1991-10-29 Tektronix, Inc. Electrical test probe having integral strain relief and ground connection
JPH0449487U (zh) * 1990-08-30 1992-04-27
CN1177226C (zh) * 2000-05-31 2004-11-24 特克特朗尼克公司 可换式探针夹持器和测量探头
TWM358968U (en) * 2008-12-31 2009-06-11 Universal Scient Ind Co Ltd Probe device

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4697143A (en) * 1984-04-30 1987-09-29 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe
US5822165A (en) 1996-09-16 1998-10-13 Eaton Corporation Sequence based network protector relay with forward overcurrent protection and antipumping feature
US6636054B2 (en) * 2001-11-16 2003-10-21 Tektronix, Inc. Low capacitance probe contact
US7057404B2 (en) * 2003-05-23 2006-06-06 Sharp Laboratories Of America, Inc. Shielded probe for testing a device under test
US7102370B2 (en) * 2004-04-22 2006-09-05 Agilent Technologies, Inc. Compliant micro-browser for a hand held probe
TW200713714A (en) * 2005-09-30 2007-04-01 Top Yang Technology Entpr Co Lateral buckle structure of electrical connector
US7521634B2 (en) * 2006-05-19 2009-04-21 Tektronix, Inc. Multi-Channel signal acquisition probe
CN101726673B (zh) * 2008-10-16 2012-12-05 旺矽科技股份有限公司 点测装置
CN202757956U (zh) * 2012-08-01 2013-02-27 旺矽科技股份有限公司 可转动的寻边器
CN202815031U (zh) * 2012-08-22 2013-03-20 旺矽科技股份有限公司 点测装置的寻边器
CN202770869U (zh) * 2012-08-22 2013-03-06 旺矽科技股份有限公司 探针以及使用该探针的寻边器
CN102981129B (zh) * 2012-12-11 2015-01-21 华为技术有限公司 电源测试工具
TWI495880B (zh) 2013-12-31 2015-08-11 Mpi Corp Probe module

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3869187A (en) * 1974-03-12 1975-03-04 Sealectro Corp Quick connect/disconnect coax connector
US5061892A (en) * 1990-06-13 1991-10-29 Tektronix, Inc. Electrical test probe having integral strain relief and ground connection
JPH0449487U (zh) * 1990-08-30 1992-04-27
CN1177226C (zh) * 2000-05-31 2004-11-24 特克特朗尼克公司 可换式探针夹持器和测量探头
TWM358968U (en) * 2008-12-31 2009-06-11 Universal Scient Ind Co Ltd Probe device

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Publication number Publication date
US9470716B2 (en) 2016-10-18
US20150185253A1 (en) 2015-07-02
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TW201525469A (zh) 2015-07-01

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