CN104749403A - 探针模块 - Google Patents

探针模块 Download PDF

Info

Publication number
CN104749403A
CN104749403A CN201410681946.9A CN201410681946A CN104749403A CN 104749403 A CN104749403 A CN 104749403A CN 201410681946 A CN201410681946 A CN 201410681946A CN 104749403 A CN104749403 A CN 104749403A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electrically connected
circuit board
printed circuit
probe
probe module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201410681946.9A
Other languages
English (en)
Inventor
顾伟正
魏豪
邱振刚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MJC Probe Inc
Original Assignee
MJC Probe Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MJC Probe Inc filed Critical MJC Probe Inc
Publication of CN104749403A publication Critical patent/CN104749403A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06772—High frequency probes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供了一种探针模块。该探针模块包含一壳体、一印刷电路板、二探针、一共振件及一信号接头。该壳体具有一容置空间。该印刷电路板设于该容置空间中且与该壳体连接。这些探针以导体制成，且与该印刷电路板电性连接。该共振件具有一腔室及一与该腔室连通的开口；该共振件位于该容置空间中，且设于该印刷电路板上而封住该开口，并位于该印刷电路板与该壳体之间，而该腔室的内壁朝向该印刷电路板；该信号接头与该印刷电路板连接。

Description

探针模块
技术领域
本发明与电性检测器具有关；特别是指一种探针模块。
背景技术
用以检测电子产品的各精密电子元件间的电性连接是否确实的方法，是以一探针模块作为一检测装置与待测电子装置之间的测试信号与电源信号的传输媒介。
然而，为使检测的准确度增加，现有探针模块必须非常要求其外壳尺寸的精度，以避免外壳内壁的尺寸或形状的偏差造成电场效应的改变，导致检测时的信号传输受到干扰。如此一来，现有探针模块在制作以及组装时，不仅费时费工，造成效率不佳，且由于制作精度的要求，常造成组装后的探针模块，在检测时的准确性并无法达到预期。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的用于提供一种探针模块，不仅可有效地提升探针模块组装时的效率，同时能提升检测时的准确性。
为了达成上述目的，本发明所提供探针模块包含有一壳体、一印刷电路板、至少二探针、一共振件以及一信号接头。其中，该壳体具有一容置空间、以及与该容置空间连通且位于相反两侧的一第一穿孔以及一第二穿孔。该印刷电路板，设于该容置空间中，并具有一基板、以及布设于该基板上的一信号线路以及至少一接地线路，且该基板与该壳体连接。这些探针以导体制成，焊设于该基板上，并自该第一穿孔伸出至该壳体外，且其中一探针与该信号线路电性连接，而另外一探针与该接地线路电性连接。该共振件具有一腔室以及一与该腔室连通的开口；该共振件位于该容置空间中，且设于该印刷电路板上而封住该开口，并位于该印刷电路板与该壳体之间，而该腔室的内壁朝向该基板；该信号接头与该印刷电路板连接，且自该第二开口伸出至该壳体外；该信号接头具有一信号传导部以及一接地传导部，该信号传导部与该信号线路电性连接，而该接地传导部则与该接地线路电性连接。
借此，通过上述的结构设计，通过该共振件的设置，便能有效地稳定电场效应，不仅可有效地提升探针模块组装时的效率，同时能提升检测时的准确性。
附图说明
图1为本发明优选实施的探针模块的立体图。
图2为本发明优选实施的探针模块的分解图。
图3为立体图，揭示探针组与共振件设于印刷电路板。
图4为立体图，揭示印刷电路板设于下壳上。
【符号说明】
10 印刷电路板；
12 基板；
14 信号线路；
16 接地线路；
20 探针组；
21 接地针；
22 信号针；
30 共振件；
32 腔室；
40 信号接头；
42 信号传导部；
44 接地传导部；
46 绝缘垫圈；
50 壳体；
52 上壳；
521 第一开口；
522 第二开口；
54 下壳；
541 承台；
542 接板。
具体实施方式
为能更清楚地说明本发明，现举优选实施例并配合附图详细说明如后，请参图1至图2所示，本发明优选实施例的探针模块，用以在一检测装置(图未示)以及一待测物(图未示)之间传递电信号，且包含有一印刷电路板10、一探针组20、一共振件30、一信号接头40以及一壳体50。其中：
该印刷电路板10具有一呈长矩形的基板12、一信号线路14以及二接地线路16。该信号线路14与该二接地线路16布设于该基板12上，且该信号线路14位于该二接地线路16之间。
请参阅图3，在本实施例中，该探针组20包含有三根以导体制成的探针，且分别为二接地针21以及一信号针22，用以供一端与该待测物上对应的接点接抵。另外，各该接地针21的体积大于该信号针22的体积，且该二接地针11另一端对称地焊设于该基板12上，且分别与该二接地线路16电性连接。该信号针22另一端同样焊设于该基板12上，并位于该二接地针21之间，且与该信号线路14电性连接。
该共振件30具有一两端呈开放状的腔室32、以及一位于该腔室32两端之间且与该腔室32连通的开口。另外，在本实施例中，该共振件30以金属材质制成，并呈长条状，且该腔室32内壁的剖面形状呈半圆形，但该腔室32内壁的剖面形状并不以此为限，在其它实施例中，该腔室32内壁的剖面形状也可呈其它形态的圆弧状。另外，该共振件30设于该印刷电路板10上，且其相反两侧分别焊设于该二接地线路14上，而与该二接地电性连接，且使该腔室32的内壁朝向该基板12，并使该开口被该印刷电路板10封住。
该信号接头40与该印刷电路板10连接，且具有以导体制成的一信号传导部42以及一接地传导部44，该信号传导部42与该信号线路16电性连接，而该接地传导部44则与该接地线路14电性连接。在本实施例中，该信号传导部42为一金属柱。该接地传导部44为一金属套环，环绕该信号传导部42设置。另外，该信号传导部42与该接地传导部44之间还设有一绝缘垫圈46，以隔绝两者间的信号相互影响，进而避免该信号传导部42与该接地传导部44之间产生干扰或短路的疑虑。
该壳体50包含有一上壳52以及一下壳54，该上壳于相反的两端分别具有一第一开口521与一第二开口522。该下壳54则具有一承台541以及连接于该承台541一侧的接板542。因此，请参阅图4，当该探针组20与该共振件30以及该信号接头40固定于该印刷电路板10上后，便可将该印刷电路板10与该信号接头40利用螺栓锁固于该下壳54的承台541上。而后，便可将该上壳52锁设于该承台541，且利用该上壳52遮蔽设于该承台541上的印刷电路板10以及该共振件30，而使该共振件30位于该上壳52与该印刷电路板10之间。而组装完成后，该探针组20将自该第一开口521伸出至该壳体50外，而该信号接头40则自该第二开口522伸出至该壳体50外。
如此一来，当检测人员欲检测时，便可将该接板542锁固于该检测装置的探测手臂上，并将该信号接头40与该检测装置的同轴电缆连接。而后，进行电性检测时，便可利用该检测装置的探测手臂移动该探针模块至该待测物上，并使该探针组20接抵于该待侧物的待测部位，进而通过该探针组20、该印刷电路板10与该信号接头40达到在该检测装置以及该待测物之间传递电信号的目的。
另外，通过该共振件30内壁呈半圆形(或圆弧状)的设计，便能有效地降低组装位置有些微偏差时，对该探针模块的电场效应的影响，且通过该共振件30的设置，还可提供该信号线路14及该二接地线路16类似金属屏蔽的效果，不仅能有效地稳定该探针模块所产生的电场效应，更能有效地隔绝外部信号的干扰。
如此一来，通过上述的结构设计，本发明的探针模块便能有效地达到稳定电场效应的效果，同时能有效地提升探针模块组装时的效率，更能提升确保检测时的准确性。
而必须说明的是，以上所述仅为本发明优选可行实施例而已，但凡应用本发明说明书及权利要求所做的等效结构或电路变化，理应包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种探针模块，其特征在于，包括：
壳体，具有一容置空间、以及与该容置空间连通且位于相反两侧的一第一穿孔以及一第二穿孔；
印刷电路板，设于该容置空间中，并具有一基板、以及布设于该基板上的一信号线路以及至少一接地线路，且该基板与该壳体连接；
至少二探针，以导体制成，焊设于该基板上，并自该第一穿孔伸出至该壳体外，且其中一探针与该信号线路电性连接，而另外一探针与该接地线路电性连接；
共振件，具有一腔室以及一与该腔室连通的开口；该共振件位于该容置空间中，且设于该印刷电路板上而封住该开口，并位于该印刷电路板与该壳体之间，而该腔室的内壁朝向该基板；以及
信号接头，与该印刷电路板连接，且自该第二开口伸出至该壳体外；该信号接头具有一信号传导部以及一接地传导部，该信号传导部与该信号线路电性连接，而该接地传导部则与该接地线路电性连接。
2.根据权利要求1所述探针模块，其中该壳体包含有一下壳以及一上壳，且该印刷电路板设于该下壳上；该上壳在相反两侧上分别具有该第一开口与该第二开口，且设置于该下壳上并遮蔽该印刷电路板与该共振件。
3.根据权利要求1所述探针模块，其中该腔室内壁的剖面形状呈圆弧状。
4.根据权利要求1所述探针模块，其中该腔室内壁的剖面形状呈半圆形。
5.根据权利要求1所述探针模块，其中该共振件以金属材料制成，且与该接地线路电性连接。
6.根据权利要求1所述探针模块，其中该接地线路的数量为二，且对称地设置于该基板上，而该信号线路位于该二接地线路之间；另外，该二接地线路同时与该接地传导部电性连接，且该另外一探针与其中一接地线路电性连接。
7.根据权利要求6所述探针模块，其中这些探针的数量为三，且其中一探针与该信号线路电性连接，而另外二探针则分别与该二接地线路电性连接，且与该信号线路电性连接的该探针，位于与该二接地线路电性连接的该二探针之间。
8.根据权利要求6所述探针模块，其中该共振件以金属材料制成，且其相反的两侧分别焊设于该二接地线路上。
9.根据权利要求1所述探针模块，其中该信号接头还包含有一绝缘垫圈，且设置于该信号传导部与该接地传导部之间。
10.根据权利要求1所述探针模块，其中该共振件的腔室两端呈开放状，且该开口位于该腔室的两端之间，并与该腔室两端连通。
CN201410681946.9A 2013-12-31 2014-11-24 探针模块 Pending CN104749403A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW102149319A TWI495880B (zh) 2013-12-31 2013-12-31 Probe module
TW102149319 2013-12-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104749403A true CN104749403A (zh) 2015-07-01

Family

ID=53481389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410681946.9A Pending CN104749403A (zh) 2013-12-31 2014-11-24 探针模块

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9470716B2 (zh)
CN (1) CN104749403A (zh)
TW (1) TWI495880B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105467167A (zh) * 2015-12-10 2016-04-06 苏州世纪福智能装备股份有限公司 Esd原材料射频性能检查夹具
CN113728236A (zh) * 2019-04-26 2021-11-30 日置电机株式会社 探针装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI495880B (zh) 2013-12-31 2015-08-11 Mpi Corp Probe module
TWI586967B (zh) * 2015-10-27 2017-06-11 Mpi Corp Probe module
CN106338678A (zh) * 2016-11-07 2017-01-18 浙江工业大学 一种绝缘板自动检测装置
JP2022185454A (ja) * 2021-06-02 2022-12-14 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1337582A (zh) * 2000-05-31 2002-02-27 特克特朗尼克公司 可换式探针夹持器和测量探头
US20030094960A1 (en) * 2001-11-16 2003-05-22 Lyford J. Steve Low capacitance probe contact
US7198501B1 (en) * 2005-09-30 2007-04-03 Chou Hsuan Tsai Lateral engaging structure of an electrical connector
US20080042672A1 (en) * 2003-05-23 2008-02-21 Cascade Microtech, Inc. Probe for testing a device under test
CN101449173A (zh) * 2006-05-19 2009-06-03 特克特朗尼克公司 多通道信号获取探头
TWM358968U (en) * 2008-12-31 2009-06-11 Universal Scient Ind Co Ltd Probe device
CN101726673A (zh) * 2008-10-16 2010-06-09 旺矽科技股份有限公司 点测装置
CN202757956U (zh) * 2012-08-01 2013-02-27 旺矽科技股份有限公司 可转动的寻边器
CN202770869U (zh) * 2012-08-22 2013-03-06 旺矽科技股份有限公司 探针以及使用该探针的寻边器
CN202815031U (zh) * 2012-08-22 2013-03-20 旺矽科技股份有限公司 点测装置的寻边器
CN102981129A (zh) * 2012-12-11 2013-03-20 华为技术有限公司 电源测试工具

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3869187A (en) * 1974-03-12 1975-03-04 Sealectro Corp Quick connect/disconnect coax connector
US4697143A (en) * 1984-04-30 1987-09-29 Cascade Microtech, Inc. Wafer probe
US5061892A (en) * 1990-06-13 1991-10-29 Tektronix, Inc. Electrical test probe having integral strain relief and ground connection
JPH0737261Y2 (ja) * 1990-08-30 1995-08-23 ヒロセ電機株式会社 電気コネクタ
US5822165A (en) 1996-09-16 1998-10-13 Eaton Corporation Sequence based network protector relay with forward overcurrent protection and antipumping feature
US7102370B2 (en) * 2004-04-22 2006-09-05 Agilent Technologies, Inc. Compliant micro-browser for a hand held probe
TWI495880B (zh) 2013-12-31 2015-08-11 Mpi Corp Probe module

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1337582A (zh) * 2000-05-31 2002-02-27 特克特朗尼克公司 可换式探针夹持器和测量探头
US20030094960A1 (en) * 2001-11-16 2003-05-22 Lyford J. Steve Low capacitance probe contact
US20080042672A1 (en) * 2003-05-23 2008-02-21 Cascade Microtech, Inc. Probe for testing a device under test
US7198501B1 (en) * 2005-09-30 2007-04-03 Chou Hsuan Tsai Lateral engaging structure of an electrical connector
CN101449173A (zh) * 2006-05-19 2009-06-03 特克特朗尼克公司 多通道信号获取探头
CN101726673A (zh) * 2008-10-16 2010-06-09 旺矽科技股份有限公司 点测装置
TWM358968U (en) * 2008-12-31 2009-06-11 Universal Scient Ind Co Ltd Probe device
CN202757956U (zh) * 2012-08-01 2013-02-27 旺矽科技股份有限公司 可转动的寻边器
CN202770869U (zh) * 2012-08-22 2013-03-06 旺矽科技股份有限公司 探针以及使用该探针的寻边器
CN202815031U (zh) * 2012-08-22 2013-03-20 旺矽科技股份有限公司 点测装置的寻边器
CN102981129A (zh) * 2012-12-11 2013-03-20 华为技术有限公司 电源测试工具

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105467167A (zh) * 2015-12-10 2016-04-06 苏州世纪福智能装备股份有限公司 Esd原材料射频性能检查夹具
CN113728236A (zh) * 2019-04-26 2021-11-30 日置电机株式会社 探针装置
CN113728236B (zh) * 2019-04-26 2024-03-15 日置电机株式会社 探针装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI495880B (zh) 2015-08-11
US9470716B2 (en) 2016-10-18
US20150185253A1 (en) 2015-07-02
TW201525469A (zh) 2015-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104749403A (zh) 探针模块
CN104345186B (zh) 光电元件检测用的高频探针卡
CN204165564U (zh) 带有可移除接线盒的过程变量变送器
RU2012142178A (ru) Передатчик технологического параметра с дисплеем
JP2006173107A (ja) ピンコネクタ
TWI568095B (zh) 插頭連接器
IL172532A (en) System for communicating with electronic device within a sealed vessel
CN104714064A (zh) 探针模块
CN104714065B (zh) 探针模块
CN106841863B (zh) 射频测试座、印刷电路板及终端
JP2011106859A (ja) シールド性能評価回路、シールド性能評価方法、およびシールドケース
JP6729657B2 (ja) 接続切換装置
CN205488838U (zh) 插式连接器
TWI537566B (zh) Probe module
CN114024164A (zh) 差分信号连接器组件、差分信号连接器及其装配方法
CN206728360U (zh) 一种射频电路板及移动终端
CN104714055A (zh) 检测治具
CN107942157B (zh) 无源互调测试夹具及装置
CN215676855U (zh) 背钻深度测试模块及pcb板
CN204190124U (zh) 一种牛角转接头
US20220256723A1 (en) Housing module and field device
US10320131B2 (en) Recessed switched test connector
CN105846264B (zh) 一种转接连接器
CN105649604B (zh) 一种电极电路内置结构
CN201369406Y (zh) 加后盖的双排排针连接器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150701