CN107942157B - 无源互调测试夹具及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种无源互调测试夹具,包括底座、固定支架和第一连接器和第二连接器;底座和固定支架呈绝缘结构,固定支架呈竖直且相对的固定于底座上;第一、二连接器固定于固定支架上,第一、二连接器上的第一接地导体与第二接地导体呈水平正对设置以与样品的下表面呈无应力的一体式固定连接,第一、二连接器上的第一信号导体与第二信号导体呈水平正对设置以与导体的两端呈无应力的一体式固定连接,本发明的夹具能够有效消除测试样品的接触应力,保证最佳的紧密接触,防止信号突变,从而更好、更真实的表征样品互调性能;另,本发明还公开了一种具有该无源互调测试夹具的无源互调测试装置。

Description

无源互调测试夹具及装置
技术领域
本发明涉及无线通信领域,尤其涉及一种无源互调测试夹具及装置。
背景技术
随着移动通信系统的发展,大功率发射机普遍应用,接收机的灵敏度不断提高,无源互调产生的系统干扰日益严重,干扰系统正常工作的情况时有发生。因此,无源互调成为近几年来各大天线终端中重要的性能指标要求。随着对整机互调性能要求的提高,终端开始分解其产品,从整机的各个部件去控制性能指标,以保证最终由各个部件组合的整机性能达标。其中,电子电路基材是各类天线产品必不可少的部件之一,无源互调产生的原因除了基材材料本身的因素外,还受到很多外界因素的影响,例如不牢靠的机械接触、不合理的安装力矩、虚焊和材料表面氧化及腐蚀、部件的安装不当等均影响无源互调性能。目前单独表征电子电路基材性能的手段极其缺乏,测试基材性能时往往受到很多外界因素的干扰。
因此,亟需一种在无源互调测试过程中能最大限度地排除外界因素干扰的无源互调测试装置,保证可靠的机械接触、消除接触应力等,在测试过程中真实、稳定地表征基材的互调性能。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够保证对进行无源互调测试的样品进行无应力一体式固定连接的无源互调测试夹具。
本发明的另一目的在于提供一种能确保无源互调性能测试结果真实性和准确性的无源互调测试装置,该无源互调测试装置具有对进行无源互调测试的样品进行无应力一体式固定连接的无源互调测试夹具。
为了实现上述目的,本发明提供了一种无源互调测试夹具,适于对进行无源互调测试的样品进行固定,所述样品的上表面具有沿长度方向设置的导体,包括:底座、固定支架、第一连接器及第二连接器;所述底座和所述固定支架呈绝缘结构,两所述固定支架呈竖直且相对的固定于所述底座上;所述第一连接器固定于一所述固定支架上,所述第一连接器上凸伸出第一信号导体及第一接地导体,所述第一接地导体位于所述第一信号导体下方;所述第二连接器固定于另一所述固定支架上,所述第二连接器上凸伸出第二信号导体及第二接地导体,所述第一接地导体与所述第二接地导体呈水平正对设置以与所述样品的下表面呈无应力的一体式固定连接,所述第一信号导体与所述第二信号导体呈水平正对设置以与所述导体的两端呈无应力的一体式固定连接。所述样品藉由与所述第一信号导体、所述第二信号导体、所述第一接地导体及所述第二接地导体的一体式固定连接而呈水平的横跨于两所述固定支架之间。
较佳地,所述第一接地导体和所述第二接地导体分别至少具有两个,所述第二接地导体与所述第一接地导体呈一一对应设置。
较佳地,所述导体的两端分别对应与所述第一信号导体及所述第二信号导体呈无应力的一体式焊接固定连接。
较佳地,所述样品的下表面分别对应于第一接地导体及第二接地导体呈无应力的一体式焊接固定连接。
较佳地,所述样品的上表面藉由蚀刻形成所述导体。
本发明还提供了一种无源互调测试装置,用于对样品进行无源互调测试,所述无源互调测试装置包括PIM分析仪及与所述PIM分析仪电性连接的上述无源互调测试夹具,所述PIM分析仪的两端分别与所述第一连接器及所述第二连接器电性连接。
与现有技术相比,由于本发明的无源互调测试夹具,包括:底座、固定支架、第一连接器及第二连接器;底座和固定支架呈绝缘结构,两固定支架呈竖直且相对的固定于底座上;第一连接器固定于一固定支架上,第一连接器上凸伸出第一信号导体及第一接地导体,第一接地导体位于第一信号导体下方;第二连接器固定于另一固定支架上,第二连接器上凸伸出第二信号导体及第二接地导体,第一接地导体与第二接地导体呈水平正对设置以与样品的下表面呈无应力的一体式固定连接,第一信号导体与第二信号导体呈水平正对设置以与导体的两端呈无应力的一体式固定连接。因此,样品藉由与第一信号导体、第二信号导体、第一接地导体及第二接地导体无应力的一体式固定连接而呈水平的横跨于两固定支架之间。由于样品与接地导体和信号导体之间呈无应力的一体式固定连接,有效消除在无源互调测试过程中接触应力对样品本身无源互调性能的影响;且一体式连接的方式保证了样品与接地导体和信号导体之间的最佳的紧密接触,能够最大限度防止信号突变;同时,采用呈绝缘结构的底座和固定支架,在消除应力影响的同时确保不再引入其他杂散信号,从而使得测试结果更加稳定,使表征到的样品的无源互调性能真实可靠;综上可知,由于本发明藉由样品与接地导体和信号导体之间无应力的一体式连接且采用呈绝缘结构的底座和固定支架,从而消除接触应力,保证最佳的紧密接触,防止信号突变,从而更好、更真实的表征样品的互调性能。
附图说明
图1为本发明无源互调测试装置的结构示意图。
图2为图1中无源互调测试夹具的结构示意图。
图3为图2中无源互调测试夹具的主视结构示意图。
图4为图2中无源互调测试夹具的俯视结构示意图。
图5为图2中无源互调测试夹具的左视结构示意图。
图6为图2中无源互调测试夹具的分解结构示意图。
图7为图2的另一角度的结构示意图。
具体实施方式
为了详细说明本发明的技术内容、构造特征,以下结合实施方式并配合附图作进一步说明。
如图1所示为本发明的无源互调测试装置100,该无源互调测试装置100包括无源互调测试夹具及与该无源互调测试夹具电性连接的PIM分析仪11,无源互调测试夹具具有相对设置的第一连接器3及第二连接器4,需进行无源互调性能测试的样品7呈水平无应力的一体式固定连接于第一连接器3及第二连接器4之间,由于样品7与本发明的无源互调测试夹具之间采用无应力的一体式固定连接,因此能够最大限度防止信号突变,确保了测试结果的真实性和准确性。以下结合图1-图7对本发明的无源互调测试夹具及具有该夹具的无源互调测试装置100作进一步详细的说明:
结合图1-图6所示,本发明的无源互调测试夹具包括底座1、固定支架2、第一连接器3及第二连接器4;底座1和固定支架2呈绝缘结构,两固定支架2呈竖直且相对的固定于底座1上;第一连接器3固定于一固定支架2上,第一连接器3上凸伸出第一信号导体5及第一接地导体9,第一接地导体9位于第一信号导体5下方;第二连接器4固定于另一固定支架2上,第二连接器4上凸伸出第二信号导体6及第二接地导体10;在无源互调测试装置100中对样品7的无源互调性能进行测试时,样品7的上表面具有沿长度方向设置的导体8,第一接地导体9与第二接地导体10呈水平正对设置以与样品7的下表面呈无应力的一体式固定连接,第一信号导体5与第二信号导体6呈水平正对设置以与导体8的两端呈无应力的一体式固定连接。样品7藉由与第一信号导体5、第二信号导体6、第一接地导体9及第二接地导体10的一体式固定连接而呈水平的横跨于两固定支架2之间;由于样品7与第一、二接地导体9、10和第一、二信号导体5、6之间呈无应力的一体式固定连接,有效消除在无源互调测试过程中接触应力对样品7本身无源互调性能的影响;且一体式固定连接的方式保证了样品7与第一、二接地导体9、10和第一、二信号导体5、6之间的最佳的紧密接触,能够最大限度防止信号突变;同时,采用呈绝缘结构的底座1和固定支架2,在消除应力影响的同时确保不再引入其他杂散信号,从而使得测试结果更加稳定,使表征到的样品7的无源互调性能真实可靠;从而确保了本发明无源互调测试装置100测试结果的真实性和准确性。
结合图2-图7所示,具体地,第一接地导体9和第二接地导体10分别至少具有两个,第二接地导体10与第一接地导体9呈一一对应设置;较佳地,样品7的下表面分别对应于第一接地导体9及第二接地导体10呈无应力的一体式焊接固定连接;样品7上导体8的两端分别对应与第一信号导体5及第二信号导体6呈无应力的一体式焊接固定连接。从而实现了较为紧密的接触,避免样品7接触面上接触压力对测试结果的影响,成功解决应力消除问题,进而降低外界的无源互调效应。更具体地,样品7的上表面藉由蚀刻形成导体8,导体8与第一信号导体5和第二信号导体6呈无应力的一体式焊接固定连接。
具体测试过程中的工作原理如下:请参照图1,首先将固定支架2固定在底座1上,将第一连接器3和第二连接器4固定于固定支架2上;然后安装样品7即将第一接地导体9与第二接地导体10呈水平正对设置以与样品7的下表面呈无应力的一体式固定连接,第一信号导体5与第二信号导体6呈水平正对设置以与导体8的两端呈无应力的一体式固定连接,样品7由与第一信号导体5、第二信号导体6、第一接地导体9和第二接地导体10的一体式固定连接而呈水平的横跨于两固定支架2之间;最后将PIM分析仪11的两端通过导线连接在第一连接器3和第二连接器4上;通过PIM分析仪11对安装在测试装置100上的样品7进行测试,得到样品7真实准确的互调值。另外,第一连接器3和第二连接器4固定在固定支架2上以及PIM分析仪11与第一连接器3和第二连接器4的电性连接属于公知常识,在此不再详述。
结合图1-图7所示,由于本发明的无源互调测试夹具,包括:底座1、固定支架2、第一连接器3及第二连接器4;底座1和固定支架2呈绝缘结构,两固定支架2呈竖直且相对的固定于底座1上;第一连接器3固定于一固定支架2上,第一连接器3上凸伸出第一信号导体5及第一接地导体9,第一接地导体9位于第一信号导体5下方;第二连接器4固定于另一固定支架2上,第二连接器4上凸伸出第二信号导体6及第二接地导体10,第一接地导体9与第二接地导体10呈水平正对设置以与样品7的下表面呈无应力的一体式固定连接,第一信号导体5与第二信号导体6呈水平正对设置以与导体8的两端呈无应力的一体式固定连接。因此,样品7藉由与第一信号导体5、第二信号导体6、第一接地导体9和第二接地导体10无应力的一体式固定连接而呈水平的横跨于两固定支架2之间。由于样品7与第一、二接地导体9、10和第一、二信号导体5、6之间呈无应力的一体式固定连接,有效消除在无源互调测试过程中接触应力对样品7本身无源互调性能的影响;且一体式连接的方式保证了样品7与第一、二接地导体9、10和第一、二信号导体5、6之间的最佳的紧密接触,能够最大限度防止信号突变;同时,采用呈绝缘结构的底座1和固定支架2,在消除应力影响的同时确保不再引入其他杂散信号,从而使得测试结果更加稳定,使表征到的样品7的无源互调性能真实可靠;综上可知,由于本发明藉由样品7与第一、二接地导体9、10和第一、二信号导体5、6之间无应力的一体式连接且采用呈绝缘结构的底座1和固定支架2,从而消除接触应力,保证最佳的紧密接触,防止信号突变,从而更好、更真实的表征样品7的互调性能。
另,本发明所涉及的在无源互调测试技术中的第一、二连接器3、4和PIM分析仪11的具体结构及工作原理,均为本领域普通技术人员所熟知的,在此不再作详细的说明。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实施例,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明权利要求所作的等同变化,仍属于本发明所涵盖的范围。

Claims (6)

1.一种无源互调测试夹具,适于对进行无源互调测试的样品进行固定,所述样品的上表面具有沿长度方向设置的导体,其特征在于,包括:
底座,所述底座呈绝缘结构;
固定支架,所述固定支架呈绝缘结构,两所述固定支架呈竖直且相对的固定于所述底座上;
第一连接器,所述第一连接器固定于一所述固定支架上,所述第一连接器上凸伸出第一信号导体及第一接地导体,所述第一接地导体位于所述第一信号导体下方;
第二连接器,所述第二连接器固定于另一所述固定支架上,所述第二连接器上凸伸出第二信号导体及第二接地导体,所述第一接地导体与所述第二接地导体呈水平正对设置以与所述样品的下表面呈无应力的一体式固定连接,所述第一信号导体与所述第二信号导体呈水平正对设置以与所述样品的上表面沿长度方向设置的导体的两端呈无应力的一体式固定连接。
2.如权利要求1所述的无源互调测试夹具,其特征在于,所述第一接地导体和所述第二接地导体分别至少具有两个,所述第二接地导体与所述第一接地导体呈一一对应设置。
3.如权利要求1所述的无源互调测试夹具,其特征在于,所述样品的上表面沿长度方向设置的导体的两端分别对应与所述第一信号导体及所述第二信号导体呈无应力的一体式焊接固定连接。
4.如权利要求1所述的无源互调测试夹具,其特征在于,所述样品的下表面分别对应于所述第一接地导体及所述第二接地导体呈无应力的一体式焊接固定连接。
5.如权利要求1所述的无源互调测试夹具,其特征在于,所述样品的上表面藉由蚀刻形成所述沿长度方向设置的导体。
6.一种无源互调测试装置,用于对样品进行无源互调测试,所述无源互调测试装置包括PIM分析仪及与所述PIM分析仪电性连接的无源互调测试夹具,其特征在于,所述无源互调测试夹具如权利要求1-5中任一项所述,所述PIM分析仪的两端分别与所述第一连接器及所述第二连接器电性连接。
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