CN203929811U - 一种测试夹具 - Google Patents

一种测试夹具 Download PDF

Info

Publication number
CN203929811U
CN203929811U CN201420255891.0U CN201420255891U CN203929811U CN 203929811 U CN203929811 U CN 203929811U CN 201420255891 U CN201420255891 U CN 201420255891U CN 203929811 U CN203929811 U CN 203929811U
Authority
CN
China
Prior art keywords
test fixture
standard component
calibrating device
rectangular channel
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CN201420255891.0U
Other languages
English (en)
Inventor
叶进发
胡亚楠
郑志原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujian Torch Electron Technology Co ltd
China Academy of Launch Vehicle Technology CALT
Original Assignee
FUJIAN TORCH ELECTRON TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FUJIAN TORCH ELECTRON TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical FUJIAN TORCH ELECTRON TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201420255891.0U priority Critical patent/CN203929811U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN203929811U publication Critical patent/CN203929811U/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本实用新型公开一种测试夹具,用于夹持矢量网络分析仪的标准件,包括底座,底座上设有放置标准件的凹槽,凹槽内设有安装标准件的安装孔;凹槽的中轴位置处开设有矩形槽,矩形槽的一端部设置挡板,另一端部设置接头。上述标准件也可以是测试件基片。本实用新型采用上述结构,提供一种测试夹具,减少测试校准件时候的人工误差,从而达到修正矢量网络分析仪的系统误差的目的。另外,该测试夹具的底座材料为黄铜,表面镀金处理,有助于熔锡焊接共面波导软基片,提高校准件与测试件的微波性能。

Description

一种测试夹具
技术领域
本实用新型涉及矢量网络分析仪,具体涉及用于该矢量网络分析仪的测试夹具。
背景技术
目前的矢量网络分析仪,是新一代微波毫米波测量技术及射频功率器件的表征平台。矢量网络分析仪既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值,又能测相位,即通过激励—响应测试来建立线性网络的传输与阻抗,矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。矢量网络分析仪功能很多,被称为“仪器之王”,是射频微波领域的万用表,主要测试微波网络的S参数。在微波频段,因为采用了波的概念,所以微波网络常用S参数表示。双口网络都可以用4个S参数(S11、S12、S21、S22)来表示其端口特性。S参量表达的是功率波,可以用入射功率波和反射功率波的方式来定义网络的输入、输出关系。S参数类似于反射和传输特性。在测量、建模和设计多元件的复杂系统中,器件的S参数特性起着关键的作用。矢量网络分析仪能方便快捷地测量出被测器件的四个S参数。
矢量网络分析仪采用校准和矢量误差修正提高测量精度,基于校准件的电子校准应用日趋广泛。矢量网络分析仪的附件包括各种校准件,在日常测试时必须先进行校准。校准的目的即是修正矢量网络分析仪的系统误差。掌握矢量网络分析仪的误差修正原理和操作方法,有助于操作者更好地使用矢量网络分析仪,取得真实可靠的测试结果。目前对测试校准件一般均是采用手持,这样给测量带来了一定的误差。
实用新型内容
因此,针对上述的问题,本实用新型提出一种用于矢量网络分析仪的测试夹具,也就是为校准件提供一个载台,从而避免手持而产生的误差。
为了解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是,一种测试夹具,用于夹持矢量网络分析仪的标准件,包括底座,底座上设有放置标准件的凹槽,凹槽内设有安装标准件的安装孔;凹槽的中轴位置处开设有矩形槽,矩形槽的一端部设置挡板,另一端部设置接头。上述标准件也可以是测试件基片。
进一步的,所述接头是SMA(Sub-Miniature-A,无线电天线接口)接头。
进一步的,所述底座是黄铜底座。进一步的,所述底座的表面镀金,有助于熔锡焊接共面波导的标准件,提高校准件的微波性能。镀金厚度0.002mm左右。
进一步的,所述矩形槽的宽度为2.5mm-4mm,优选的该矩形槽的宽度为3.5mm,保证标准件放置凹槽内时,矩形槽的宽度大于标准件的中心条带和缝隙的宽度之和,并不影响标准件的测试。
其中,所述标准件是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。标准件又称校准件,其技术指标已知,并且是可表征的。常用的校准标准有开路器、短路器、固定匹配负载、滑动匹配负载和精密空气线等,每一套标准件至少包含三个性能差别很大且相对独立的标准。美国Aglient公司根据不同测试精度将标准件分成三个级别,即经济级校准件,主要有开路器、短路器和固定匹配负载;标准级校准件,主要有开路器、短路器和滑动匹配负载;精密级校准件,主要有开路器、短路器、低频固定负载和精密空气线。每一个标准都有严格的数学定义,标准件的数学定义放在磁盘或磁带中供矢量网络分析仪调用。
本实用新型采用上述结构,提供一种测试夹具,减少测试校准件时候的人工误差,从而达到修正矢量网络分析仪的系统误差的目的。另外,该测试夹具的底座(或称载台)材料为黄铜,表面镀金处理,有助于熔锡焊接共面波导软基片,提高校准件与测试件的微波性能。
附图说明
图1为本实用新型的测试夹具的立体示意图;
图2为本实用新型的测试夹具的主视图;
图3为本实用新型的测试夹具的左视图;
图4为本实用新型的测试夹具的右视图;
图5为本实用新型的测试夹具的俯视图;
图6为本实用新型的测试夹具的仰视图;
图7a为本实用新型的开路校准件的俯视图;
图7b为本实用新型的开路校准件的仰视图;
图8为本实用新型的开路校准件与测试夹具配合的示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
本实用新型所采用的技术方案是,一种测试夹具,用于夹持矢量网络分析仪的标准件,参见图1-图8,其包括底座10,底座10上设有放置标准件20的凹槽11,凹槽11内设有安装标准件20的安装孔12;凹槽11的中轴位置处开设有矩形槽13,矩形槽13的一端部设置挡板14,另一端部设置接头15。
其中,所述接头15是SMA(Sub-Miniature-A,无线电天线接口)接头15,例如型号为D550P0204F01的接头,其性能为:频率范围DC-27GHz;VSWR:DC-18GHz是为1.1,18GHz-27GHz时为1.15。所述底座10是黄铜底座10。所述底座10的表面镀金,有助于熔锡焊接共面波导软基片,提高校准件与测试件的微波性能。
另外,所述矩形槽13的宽度为2.5mm-4mm,本实施例中,参见图2,该矩形槽13的宽度为3.5mm,保证标准件20放置凹槽11内时,矩形槽13的宽度大于标准件的中心条带和缝隙的宽度之和,并不影响标准件的测试。
其中,标准件20可以是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。本实施例以开路校准件为例来说明该测试夹具的应用。图7a和图7b分别为开路校准件的俯视图和仰视图。其共面波导基板材料是聚四氟乙烯玻璃布基板,双面板,介电常数:2.65,厚度:0.5mm,铜箔厚度:0.035mm。共面波导物理尺寸:中心条带宽度:W1=1.36mm,缝隙宽度:S1=1mm,长度:L1=30mm。开路校准件与测试件基片加工如图7a和图7b所示,上下面为镜像对称,单位为mm,Φ1为金属化孔,上下金属面都做镀金处理,镀金厚度0.002mm。
将该开路校准件放置于测试夹具上,其安装后的示意图如图8所示。其采用匹配校准件安装的匹配负载为日本YDS公司的表贴匹配负载HPT1608-50,工作频率0-15GHz,承受功率最大值2.5W,电压驻波比如下表所示。
频率(GHz) 0-3 3.1-5 5.1-7.5 7.6-10 10.1-12.5 12.6-15
VSWR 1.2 1.2 1.3 1.3 1.4 1.5
因此,超过该频率范围的测试,如进行矢网端口的匹配负载校准,用户需连接矢网自带的匹配负载,而不是该匹配负载校准件。也可以采用高精度50Ω微波薄膜电阻作为匹配负载,以扩展该匹配负载校准件的工作频率范围到20GHz以上。
直通校准件校准之后,直接焊接接地电容后变成测试件,这样可提高ESR测试精度。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种测试夹具,用于夹持矢量网络分析仪的标准件,其特征在于:包括底座,底座上设有放置标准件的凹槽,凹槽内设有安装标准件的安装孔;凹槽的中轴位置处开设有矩形槽,矩形槽的一端部设置挡板,另一端部设置接头。
2.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于:所述接头是SMA接头。
3.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于:所述底座是黄铜底座。
4.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于:所述底座的表面镀金。
5.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于:所述矩形槽的宽度为2.5mm - 4mm。
6.根据权利要求5所述的测试夹具,其特征在于:所述该矩形槽的宽度为3.5mm。
7.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于:所述标准件是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。
CN201420255891.0U 2014-05-19 2014-05-19 一种测试夹具 Expired - Lifetime CN203929811U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420255891.0U CN203929811U (zh) 2014-05-19 2014-05-19 一种测试夹具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420255891.0U CN203929811U (zh) 2014-05-19 2014-05-19 一种测试夹具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN203929811U true CN203929811U (zh) 2014-11-05

Family

ID=51825609

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201420255891.0U Expired - Lifetime CN203929811U (zh) 2014-05-19 2014-05-19 一种测试夹具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN203929811U (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105004893A (zh) * 2015-08-04 2015-10-28 中国电子科技集团公司第十三研究所 一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具
CN105988022A (zh) * 2014-12-30 2016-10-05 乐荣工业股份有限公司 测试治具及其操作方法
CN107942157A (zh) * 2017-10-31 2018-04-20 广东生益科技股份有限公司 无源互调测试夹具及装置
CN109738785A (zh) * 2018-12-24 2019-05-10 贵州航天计量测试技术研究所 一种用于微波芯片测试校准的装置及方法
CN111398693A (zh) * 2020-04-28 2020-07-10 江苏神州半导体科技有限公司 一种基于s参数网络分析仪测量真空电容esr和q值的方法
CN113406485A (zh) * 2021-08-19 2021-09-17 深圳飞骧科技股份有限公司 芯片测试夹具及芯片测试夹具组合
CN114113691A (zh) * 2021-11-24 2022-03-01 电子科技大学 一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具
CN115014941A (zh) * 2022-06-02 2022-09-06 广东嘉元科技股份有限公司 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105988022A (zh) * 2014-12-30 2016-10-05 乐荣工业股份有限公司 测试治具及其操作方法
CN105004893A (zh) * 2015-08-04 2015-10-28 中国电子科技集团公司第十三研究所 一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具
CN107942157A (zh) * 2017-10-31 2018-04-20 广东生益科技股份有限公司 无源互调测试夹具及装置
CN107942157B (zh) * 2017-10-31 2020-06-16 广东生益科技股份有限公司 无源互调测试夹具及装置
CN109738785A (zh) * 2018-12-24 2019-05-10 贵州航天计量测试技术研究所 一种用于微波芯片测试校准的装置及方法
CN111398693A (zh) * 2020-04-28 2020-07-10 江苏神州半导体科技有限公司 一种基于s参数网络分析仪测量真空电容esr和q值的方法
CN113406485A (zh) * 2021-08-19 2021-09-17 深圳飞骧科技股份有限公司 芯片测试夹具及芯片测试夹具组合
CN114113691A (zh) * 2021-11-24 2022-03-01 电子科技大学 一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具
CN115014941A (zh) * 2022-06-02 2022-09-06 广东嘉元科技股份有限公司 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备
CN115014941B (zh) * 2022-06-02 2023-01-06 广东嘉元科技股份有限公司 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN203929811U (zh) 一种测试夹具
EP1506428A1 (en) Method for calibrating and de-embedding, set of devices for de-embedding and vector network analyzer
US20230170927A1 (en) Adaptive antenna tuning system
CN105548771A (zh) Ltcc滤波器测试板以及测试夹具
Zhu et al. Impedance measurement for balanced UHF RFID tag antennas
CN103809100B (zh) 晶圆自动测试系统
Umar et al. Bondwire model and compensation network for 60 GHz chip-to-PCB interconnects
CN103795482B (zh) 一种天线传输性能调试方法
CN204740269U (zh) 一种微带隔离器测试夹具
US20140292364A1 (en) Semiconductor chip probe and the conducted eme measurement apparatus with the semiconductor chip probe
Li et al. A new technique for high frequency characterization of capacitors
CN107850625B (zh) 一种射频检测装置
Hsieh et al. An equation-based hybrid method for predicting radiated susceptibility responses of RF/microwave circuits
McGibney et al. An overview of electrical characterization techniques and theory for IC packages and interconnects
Shinde et al. Investigation of interference in a mobile phone from a DC-to-DC converter
WO2017049903A1 (zh) 一种晶体管仿真系统及方法
Sorensen et al. Design of TEM transmission line for probe calibration up to 40 GHz
Cai et al. Impedance measurement of RFID tag antenna based on different methods
Lu et al. A new on-wafer multiline thru-reflect-line (TRL) calibration standard design
JP4743208B2 (ja) 電子部品の電気特性測定方法
CN213068912U (zh) 一种放大器测试装置
JP3912429B2 (ja) 電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法
CN114362841B (zh) 一种无源互调测试治具与无源互调测试系统
Musolino Measurement of IC-conducted emissions by employing a backward-wave directional coupler
CN103200767A (zh) 一种既适于rf测试又适于同轴线焊接的端口

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: CHINA ACADEMY OF LAUNCH VEHICLE TECHNOLOGY

Effective date: 20150105

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Ye Jinfa

Inventor after: Liu Peizhong

Inventor after: Hu Yanan

Inventor after: Zheng Zhiyuan

Inventor after: Shen Jianbo

Inventor after: Liu Taijiang

Inventor before: Ye Jinfa

Inventor before: Hu Yanan

Inventor before: Zheng Zhiyuan

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: INVENTOR; FROM: YE JINFA HU YANAN ZHENG ZHIYUAN TO: YE JINFA LIU PEIZHONG HU YANAN ZHENG ZHIYUAN SHEN JIANBO LIU TAIJIANG

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20150105

Address after: 362000 Fujian city of Quanzhou province high tech Industrial Park, South Park Road No. 4 purple

Patentee after: FUJIAN TORCH ELECTRON TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Patentee after: CHINA ACADEMY OF LAUNCH VEHICLE TECHNOLOGY

Address before: 362000 Fujian city of Quanzhou province high tech Industrial Park, South Park Road No. 4 purple

Patentee before: FUJIAN TORCH ELECTRON TECHNOLOGY Co.,Ltd.

CX01 Expiry of patent term
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20141105