CN209264773U - 一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,片式元器件具有两端电极,包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线,上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上,上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内,上、下电极探针相对布置,上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩,下电极探针固定设置在下绝缘块内,上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接,下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽,上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后,片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。本实用新型操作简便,片式元器件不易掉落,提高测试效率和准确度。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种片式元器件绝缘电阻测试的夹具。
背景技术
微波单层电容器在质量一致性检验过程中,需要对产品进行绝缘电阻的试验,此试验可以检查出产品在制造过程中是否有缺陷。在现有的测试方式中,通常采用水平式探针夹具,存在电容器的安装不方便、电容器表面金层被划伤或电容器在测试过程中掉落的缺陷,从而导致测试效率低、测试准确率低。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有技术的不足,提出一种片式元器件绝缘电阻测试的夹具,操作简便,片式元器件不易掉落,对片式元器件无损伤,能够提高测试效率和准确度。
本实用新型通过以下技术方案实现:一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,片式元器件具有两端电极,包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线,上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上,上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内,上、下电极探针相对布置,上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩,下电极探针固定设置在下绝缘块内,上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接,下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽,上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后,片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。进一步的,所述上、下电极探针均包括针管和设置在针管一端的针头,下绝缘块上设置有用于安装所述下电极探针的第一下安装孔,第一下安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔,下电极探针的针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径,所述凹槽由下电极探针针头与一段孔形成。
进一步的,所述上电极探针为弹簧探针。进一步的,所述片式元器件包括微波单层电容器。进一步的,所述下绝缘块呈“T”字型,所述上绝缘块下端设置有与“T”字上部匹配的安装槽,所述上、下屏蔽金属盖上分别设置有用于安装上、下绝缘块的第二上安装孔和第二上安装孔。
进一步的,所述上绝缘块上设置有用于安装所述上电极探针的第一上安装孔。
进一步的,所述上屏蔽金属盖上设置有让位孔,所述下屏蔽金属盖上设置有与让位孔对应的螺孔,螺栓穿过让位孔后锁紧在螺孔中,以使上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上。
本实用新型具有如下有益效果:1、测试时,将上、下电极探针分别设置在上、下绝缘块内,再分别将上、下绝缘块设置在上、下屏蔽金属盖内,片式元器件放置在凹槽内以防止片式元器件掉出,再将上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上,此时上电极探针下端向上收缩以将片式元器件下压在下电极探针上,保证片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针的良好接触,将上引线和下引线连接至绝缘电阻测试仪表即可进行测试,测试过程中,片式元器件的两端电极与上、下电极探针能够保持良好的接触,从而提高测试的准确度,测试完成后,拆开上、下屏蔽金属盖即可去除片式元器件,测试过程中对片式元器件无损伤,且操作简便,测试效率高,可重复使用,可测试的片式元器件的尺寸从0.1mm*0.1mm*0.05mm到 6mm*6mm*3mm,通用性强。
2、下安装孔的结构设置与下电极探针相适应,既能方便下电极探针的安装,又能使下电极探针与一段孔形成凹槽以放置片式元器件,既使片式元器件不易掉落,又保证良好的接触性。
3、上、下绝缘块的结构设置更加便于安装,从而提高测试效率。
附图说明
下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。
图1为本实用新型的剖视结构示意图。
图2为图1的爆炸图。
图3为图1中A部分的放大图。其中,1、片式元器件;2、上屏蔽金属盖;21、第二上安装孔;22、让位孔;3、下屏蔽金属盖;31、第二下安装孔;32、螺孔;33、螺栓;4、上绝缘块;41、第一上安装孔;42、安装槽;5、下绝缘块;51、第一下安装孔;52、一段孔;53、二段孔;6、上电极探针;7、下电极探针;8、上引线;9、下引线;101、针管;102、针头;11、凹槽。
具体实施方式
如图1至图3所示,片式元器件1具有两端电极,用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具包括上屏蔽金属盖2、下屏蔽金属盖3、上绝缘块4、下绝缘块5、上电极探针6、下电极探针7、上引线8和下引线9,上屏蔽金属盖2可盖紧在下屏蔽金属盖3 上,也可从下屏蔽金属盖3上拆除,上绝缘块4和下绝缘块5分别设置在上屏蔽金属盖2和下屏蔽金属盖3内,上电极探针6和下电极探针7相对布置,上电极探针6设置在上绝缘块4内且其下端可向上收缩,下电极探针7固定设置在下绝缘块 5内,上、下引线9分别与上电极探针6上端、下电极探针7下端连接,下电极探针7顶部与下绝缘块5之间形成有放置片式元器件1的凹槽11,上屏蔽金属盖2盖紧在下屏蔽金属盖3上后,片式元器件1的两端电极分别与上电极探针6和下电极探针7接触。在本实施例中,片式元器件1为微波单层电容器,上电极探针6为弹簧探针,下电极探针7为无伸缩性的探针。
上屏蔽金属盖2左右两端均设置有让位孔22,下屏蔽金属盖3上设置有与让位孔22对应的螺孔32,上屏蔽金属盖2通过与螺孔32匹配的螺栓33盖紧在下屏蔽金属盖3上,盖紧时,螺栓33穿过让位孔22后锁紧在螺孔32中。
上绝缘块4和下绝缘块5均由上矩形块和下矩形块构成,上绝缘块4的下矩形块长度略小于上矩形块长度,下绝缘块5的上、下矩形块呈“T”字型,上绝缘块4的下矩形块下端设置有与“T”字上部(即下绝缘块5的上矩形块)匹配的安装槽42,上屏蔽金属盖2和下屏蔽金属盖3上分别设置有用于安装上绝缘块4和下绝缘块5的第二上安装孔21和第二下安装孔31。
上电极探针6和下电极探针7均包括针管101和设置在针管101一端的针头 102,上电极探针6的针管101内设置有弹簧,以使针头102可上相收缩,其中,针头102与针管101的结构为现有技术。上绝缘块4上设置有用于安装上电极探针6 的第一上安装孔41,具体地,第一安装孔形状为矩形,且设置在上矩形块上。下绝缘块5上设置有用于安装下电极探针7的第一下安装孔51,第一下安装孔51 包括相互连通的一段孔52和二段孔53,下电极探针7的针头102直径小于一段孔 52直径且大于二段孔53直径,如此该针头102与一段孔52即可形成放置片式元器件1的凹槽11。上电极探针6和下电极探针7的针管101分别通过焊接方式固定在第一上安装孔41和第一下安装孔51的二段孔53内。
以上所述,仅为本实用新型的较佳实施例而已,故不能以此限定本实用新型实施的范围,即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰,皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。
Claims (7)
1.一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,片式元器件具有两端电极,其特征在于:包括上屏蔽金属盖、下屏蔽金属盖、上绝缘块、下绝缘块、上电极探针、下电极探针、上引线和下引线,上屏蔽金属盖可盖紧在下屏蔽金属盖上,上、下绝缘块分别设置在上、下屏蔽金属盖内,上、下电极探针相对布置,上电极探针设置在上绝缘块内且其下端可向上收缩,下电极探针固定设置在下绝缘块内,上、下引线分别与上电极探针上端、下电极探针下端连接,下电极探针顶部与下绝缘块之间形成有放置片式元器件的凹槽,上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上后,片式元器件的两端电极分别与上、下电极探针接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述上、下电极探针均包括针管和设置在针管一端的针头,下绝缘块上设置有用于安装所述下电极探针的第一下安装孔,第一下安装孔包括相互连通的一段孔和二段孔,下电极探针的针头直径小于一段孔直径且大于二段孔直径,所述凹槽由下电极探针针头与一段孔形成。
3.根据权利要求1所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述上电极探针为弹簧探针。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述片式元器件包括微波单层电容器。
5.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述下绝缘块呈“T”字型,所述上绝缘块下端设置有与“T”字上部匹配的安装槽,所述上、下屏蔽金属盖上分别设置有用于安装上、下绝缘块的第二上安装孔和第二上安装孔。
6.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述上绝缘块上设置有用于安装所述上电极探针的第一上安装孔。
7.根据权利要求1或2或3所述的一种用于片式元器件绝缘电阻测试的夹具,其特征在于:所述上屏蔽金属盖上设置有让位孔,所述下屏蔽金属盖上设置有与让位孔对应的螺孔,螺栓穿过让位孔后锁紧在螺孔中,以使上屏蔽金属盖盖紧在下屏蔽金属盖上。
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