CN206270455U - 一种功率半导体模块测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种功率半导体模块测试治具，其包括上压板、过孔板、支撑板及保护板；上压板的中部设置有上压柱一，被测样品放置在过孔板的中部，上压柱一的下表面抵靠在被测样品的上表面上；上压板和过孔板的四周通过上压柱二连接；支撑板的四周设置有导向柱，导向柱穿过过孔板，过孔板可沿导向柱上下移动，过孔板和支撑板之间设置有若干根弹簧；支撑板上设置有若干根测试探针，过孔板上与测试探针的对应位置设置有通孔；保护板通过连接立柱与支撑板连接。本申请的测试治具具有测试效率高，测试准确度高，测试安全性高的特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种功率半导体模块测试治具。
背景技术
功率半导体模块(IGBT模块，SiC MOSFET模块等)在生产线封装完成后，都要进行电参数的测试，以确定模块的相关电参数是否合格。测试模块的电性能除了需要专门的测试仪器设备之外，还需要设备与模块之间的测试治具部分。测试部分设计的好与坏，直接关系到功率半导体模块的参数测试精度以及测试安全性问题。
现有技术中，有些厂家采用直接手工接线方式进行测试，造成测试效率低，测试准确度不够。采用测试工装的厂家，功率测试线和采样线未分开；这样会使得功率信号影响到测试信号，进而影响测试的准确度。
实用新型内容
针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种功率半导体模块测试治具，其具有测试效率高，测试准确度高，测试安全性高的特点。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种功率半导体模块测试治具，所述测试治具包括上压板、过孔板、支撑板及保护板；其中，所述上压板的中部设置有上压柱一，被测样品放置在所述过孔板的中部，所述上压柱一的下表面抵靠在被测样品的上表面上；所述上压板和过孔板的四周通过上压柱二连接；所述支撑板的四周设置有导向柱，所述导向柱穿过所述过孔板，过孔板可沿所述导向柱上下移动，所述过孔板和支撑板之间设置有若干根弹簧；所述支撑板上设置有若干根测试探针，所述过孔板上与所述测试探针的对应位置设置有通孔；所述保护板通过连接立柱与所述支撑板连接。
进一步，所述过孔板上设置有定位柱，被测样品通过所述定位柱固定在所述过孔板上。
进一步，所述过孔板和支撑板之间设置有四根弹簧，四根弹簧沿二者的四角分布设置或设置在二者之间的所述导向柱上。
本实用新型具有以下有益技术效果：
本申请的测试治具具有测试效率高，测试准确度高，测试安全性高的特点。
附图说明
图1为本申请的测试治具的结构示意图。
具体实施方式
下面，参考附图，对本实用新型进行更全面的说明，附图中示出了本实用新型的示例性实施例。然而，本实用新型可以体现为多种不同形式，并不应理解为局限于这里叙述的示例性实施例。而是，提供这些实施例，从而使本实用新型全面和完整，并将本实用新型的范围完全地传达给本领域的普通技术人员。
如图1所示，本实用新型提供了一种功率半导体模块测试治具，该测试治具包括上压板1、过孔板2、支撑板3及保护板4；其中，上压板1的中部设置有上压柱一5，被测样品6放置在过孔板2的中部，上压柱一5的下表面抵靠在被测样品6的上表面上；上压板1和过孔板2的四周通过上压柱二7连接；支撑板3的四周设置有导向柱8，导向柱8穿过过孔板2，过孔板2可沿导向柱8上下移动，过孔板2和支撑板3之间设置有若干根弹簧9；支撑板3上设置有若干根测试探针10，过孔板2上与测试探针10的对应位置设置有通孔(图中未示出)；保护板4通过连接立柱11与支撑板3连接。
过孔板2上设置有定位柱12，被测样品6通过定位柱12固定在过孔板2上。过孔板2和支撑板3之间设置有四根弹簧9，四根弹簧9沿二者的四角分布设置或设置在二者之间的导向柱8上。在该实施例中，四根弹簧9设置在导向柱8上。
本申请的测试治具的使用过程为：
当“上压板1”受到外来向下的压力时，“上压柱一5”会将被测样品6向下压，“上压柱二”会将过孔板2向下压，同时跟随“导向柱8”一起往下走，使得被测样品6的金属电极端子压在“测试探针10”上，由于“测试探针10”是有运动行程的，受力后会收缩，这样电极端子和“测试探针”之间就进行了很好的电气接触。“测试探针”的另一端是焊接有测试线，并同专用的测试仪器相连，然后进行测试信号发送测试。
上面所述只是为了说明本实用新型，应该理解为本实用新型并不局限于以上实施例，符合本实用新型思想的各种变通形式均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种功率半导体模块测试治具，其特征在于，所述测试治具包括上压板、过孔板、支撑板及保护板；其中，所述上压板的中部设置有上压柱一，被测样品放置在所述过孔板的中部，所述上压柱一的下表面抵靠在被测样品的上表面上；所述上压板和过孔板的四周通过上压柱二连接；所述支撑板的四周设置有导向柱，所述导向柱穿过所述过孔板，过孔板可沿所述导向柱上下移动，所述过孔板和支撑板之间设置有若干根弹簧；所述支撑板上设置有若干根测试探针，所述过孔板上与所述测试探针的对应位置设置有通孔；所述保护板通过连接立柱与所述支撑板连接。
2.根据权利要求1所述的功率半导体模块测试治具，其特征在于，所述过孔板上设置有定位柱，被测样品通过所述定位柱固定在所述过孔板上。
3.根据权利要求1所述的功率半导体模块测试治具，其特征在于，所述过孔板和支撑板之间设置有四根弹簧，四根弹簧沿二者的四角分布设置或设置在二者之间的所述导向柱上。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108298191A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-07-20 | 高泽燕 | 一种保护测试针的测试治具 |
| CN108672311A (zh) * | 2018-05-09 | 2018-10-19 | 信丰达诚科技有限公司 | 一种电线路板生产用的成品自动测试装置 |
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