CN208421196U - 一种用于测试设备的纹波有效值测量装置 - Google Patents

一种用于测试设备的纹波有效值测量装置 Download PDF

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张显禄
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Abstract

本实用新型公开并提供了一种用于测试设备的纹波有效值测量装置,它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS‑DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机及电源,所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端,所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS‑DC模块,所述高精度RMS‑DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块,所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机,所述电源分别连接所述高精度RMS‑DC模块、所述MCU模块。本实用新型采用了RMS‑DC IC AD8436芯片和18 Bit的AD4003芯片,是一种用于测试设备的宽范围高精度电流测量装置,集成度高,成本低,效率高,能够在测试设备中广泛使用。

Description

一种用于测试设备的纹波有效值测量装置
技术领域
本实用新型涉及电子设备测试行业、教学实验平台。
背景技术
电源在出厂时都需要做出货测试检查检验,而纹波有效值是比较关键的一项参数,所以纹波有效值测试方案及装置有较大的市场;传统纹波有效值是使用示波器来测量的,然后通过通信接口把数据上传给上位机软件,这种传统解决方案及装置均存在如下缺点:
A、集成度低:示波器体积大,无法集成到小型测试设备中;
B、成本高:示波器功能强大但是性价比很低,成本高;
C、效率低:测试时间长,一次测量需要耗时2秒。
因而十分需要解决现有方案的缺点,研发设计一种集成度高,成本低,效率高,能够在测试设备中广泛使用的纹波有效值测试方案及装置。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种集成度高,成本低,效率高,能够在测试设备中广泛使用的纹波有效值测试装置。
本实用新型所采用的技术方案是:一种用于测试设备的纹波有效值测量装置,它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机及电源,所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端,所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块,所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块,所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机,所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。
所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。
所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。
本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机、电源,所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端,所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块,所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块,所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机,所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。所以本实用新型集成度高,成本低,效率高,能够在测试设备中广泛使用,是一种用于测试设备的纹波有效值测量装置。
附图说明
图1是本实用新型电路原理结构方框示意图;
图2是本实用新型高精度RMS-DC模块电路原理示意图;
图3是本实用新型MCU模块电路原理示意图。
具体实施方式
如图1至图3所示,本实用新型它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容、高精度RMS-DC模块、缓冲器、MCU模块、EEPROM存储器、上位机、电源,所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容的一端,所述隔直流电容的另一端连接所述高精度RMS-DC模块,所述高精度RMS-DC模块串联所述缓冲器后连接所述MCU模块,所述MCU模块分别连接所述EEPROM存储器和上位机,所述电源分别连接所述高精度RMS-DC模块、所述MCU模块。
所述高精度RMS-DC模块包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。
所述MCU模块包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。
本实施例中具体流程如下:
1、多路待测信号经过继电器(选择开关)来选择测试哪一路信号的纹波有效值;
2、经过隔直流电容,信号经过RMS-DC转换芯片,把RMS转换成直流电压,同时放大10倍;
3、转换并放大后的纹波有效值经过电压跟随器后再送到MCU模块的ADC测量;
4、MCU模块读回来的有效值和标准示波器进行对比,计算出校准系数,然后存储到EEPROM;
5、MCU将ADC测量结果加上存储在EEPROM中的校准系数,把计算后的数据通过串口发送给上位机。
被测纹波经过C78电容,直流信号被隔离,只有交流信号能通过高精度RMS-DC ICAD8436 完成RMS到DC的转换。为了提高小信号的测量精度,我们设置C77电容为10uF,这样AD8436可以将转换后的电压放大10倍,最后再送到ADC模块完成采集。为了提高纹波测量精度,MCU采用18 Bit 的AD4003芯片,一次测量只需要0.2秒。

Claims (3)

1.一种用于测试设备的纹波有效值测量装置,其特征在于:它包括多路待测信号选择开关、隔直流电容(1)、高精度RMS-DC模块(2)、缓冲器(3)、MCU模块(4)、 EEPROM存储器(5)、上位机及电源(6),所述待测信号通过所述选择开关连接所述隔直流电容(1)的一端,所述隔直流电容(1)的另一端连接所述高精度RMS-DC模块(2),所述高精度RMS-DC模块(2)串联所述缓冲器(3)后连接所述MCU模块(4),所述MCU模块(4)分别连接所述EEPROM存储器(5)和上位机,所述电源(6)分别连接所述高精度RMS-DC模块(2)、所述MCU模块(4)。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试设备的纹波有效值测量装置,其特征在于:所述高精度RMS-DC模块(2)包括高精度RMS-DC IC AD8436芯片及其外围电路。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试设备的纹波有效值测量装置,其特征在于:所述MCU模块(4)包括18 Bit 的AD4003芯片及其外围电路。
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