CN206650629U - 一种mwt太阳能电池测试装置 - Google Patents

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李质磊
王波
吴仕梁
路忠林
盛雯婷
张凤鸣
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Xuzhou Guyang New Energy Technology Co., Ltd.
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Abstract

本实用新型公开了一种MWT太阳能电池测试装置,包括上测试平台和下测试平台,上测试平台上设有孔洞,所述下测试平台上设有同轴探针,当待测试的电池片被上测试平台真空吸附时,同轴探针能够穿过孔洞接触电池片上的电极点。本实用新型采用一根同轴探针代替现有技术中的两根测试探针,使得孔洞直径能够减少,有效降低了碎片掉入孔洞中的概率,提高了测试的精准度;并且使得同轴探针的直径能够大于现有技术中测试探针的直径,提高了同轴探针的质量和使用寿命;此外,本实用新型还能够保证同轴探针与电池片电极点接触的有效性,提高了测试的精准度和稳定性,降低了重测的概率。

Description

一种MWT太阳能电池测试装置
技术领域
本实用新型涉及MWT太阳能电池制备领域,特别是涉及MWT太阳能电池测试装置。
背景技术
目前MWT电池片分选过程中,先对电池片前后左右以及旋转角度进行定位,即X,Y轴以及角度校准,然后通过皮带真空,将电池片传送至测试平台,上台面上升,作为电池片的承载平台,同时产生真空吸附作用,接着下台面的测试探针上升,穿过上台面上的孔洞与电池片正负极有效接触,测量有关太阳能电池片参数。这种情况下,一个孔洞中有两个测试探针穿过,因此测试探针比较细,使用寿命比较短,加工难度比较大,在人员误操作或是台面上有碎片的时候,容易造成探针的弯曲,影响测试的精准性。严重时,测试探针与电池正负极没有接触,造成一些电性能的错误。同时,要保证两根测试探针与电池正负极接触,要求的精度高,给测试带来一定的难度。
实用新型内容
实用新型目的:本实用新型的目的是提供一种能够提高测试探针使用寿命、降低加工和测试难度、提高测试精准性的MWT太阳能电池测试装置。
技术方案:本实用新型所述的MWT太阳能电池测试装置,包括上测试平台和下测试平台,上测试平台上设有孔洞,所述下测试平台上设有多个用于穿过孔洞的同轴探针。
进一步,为了提高测试的精准度,所述同轴探针的直径小于待测试的电池片上电极点的直径。
进一步,所述孔洞的直径小于3mm。
进一步,所述同轴探针采用表面镀了金的铜质材料制成。
进一步,所述同轴探针的个数与孔洞的个数相同。
有益效果:与现有技术相比,本实用新型具有如下的有益效果:
(1)本实用新型采用一根同轴探针代替现有技术中的两根测试探针,使得孔洞直径能够减少,有效降低了碎片掉入孔洞中的概率,提高了测试的精准度;
(2)本实用新型采用一根同轴探针代替现有技术中的两根测试探针,使得同轴探针的直径能够大于现有技术中测试探针的直径,提高了同轴探针的质量和使用寿命;
(3)此外,本实用新型还能够保证同轴探针与电池片电极点接触的有效性,提高了测试的精准度和稳定性,降低了重测的概率。
附图说明
图1为本实用新型具体实施方式的测试装置与电池片的侧视图;
图2为本实用新型具体实施方式的上测试平台的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式,对本实用新型的技术方案作进一步的介绍。
本具体实施方式公开了一种MWT太阳能电池测试装置,如图1所示,包括上测试平台1和下测试平台2。上测试平台1上设有第一凹槽11和第二凹槽12,两根传送电池片的皮带分别嵌在第一凹槽11和第二凹槽12中,这样皮带就不会妨碍上测试平台1对电池片的真空吸附。上测试平台1上设有多个孔洞4,如图2所示,下测试平台2上设有多个同轴探针5,同轴探针5的个数与孔洞4的个数相同,并且同轴探针5的尺寸与孔洞4的尺寸相适配,也即同轴探针5和孔洞4配套。
测试时,皮带通过真空作用把电池片3传送到测试装置,上测试平台1上升,同时上测试平台1产生真空吸附作用,将电池片3真空吸附到上测试平台1上,随后下测试平台2上升,同轴探针5穿过上测试平台1上的孔洞4与电池片3的电极点接触,从而测出有关电池片3电性能的参数。测试完毕后,上测试平台1真空吸附释放电池片3,下测试平台2先下降到起始位置,接着上测试平台1下降,再通过皮带真空将电池片3传送至分拣。

Claims (5)

1.一种MWT太阳能电池测试装置,包括上测试平台和下测试平台,上测试平台上设有孔洞,其特征在于:所述下测试平台上设有多个用于穿过孔洞的同轴探针。
2.根据权利要求1所述的MWT太阳能电池测试装置,其特征在于:所述同轴探针的直径小于待测试的电池片上电极点的直径。
3.根据权利要求1所述的MWT太阳能电池测试装置,其特征在于:所述孔洞的直径小于3mm。
4.根据权利要求1所述的MWT太阳能电池测试装置,其特征在于:所述同轴探针采用表面镀了金的铜质材料制成。
5.根据权利要求1所述的MWT太阳能电池测试装置,其特征在于:所述同轴探针的个数与孔洞的个数相同。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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