CN220933136U - 一种基于主板测试的点测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于主板测试的点测试系统，涉及集成电路测试技术领域；所述点测试系统包括PCB板和测试工具，所述PCB板上设置有测试点；所述测试工具包括顶部圆环、支撑柱和底座；所述支撑柱固定在顶部圆环的外壁与底座的上表面之间；所述底座的下表面固定在测试点处。本实用新型的有益效果：提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试技术领域，更具体的说，涉及一种基于主板测试的点测试系统。
背景技术
PCB板上的测试点是为了方便测试、调试和故障排除而设计的。这些测试点通常是一个小的裸漏圆形铜区域，用于连接示波器、万用表等仪器仪表的探头插针进行点触测试。
然而，在实际测试中，需要同时进行多项操作，包括点触测试点、调节仪器设备和记录图形数据。单人操作时会面临一些困难，特别是要同时点触两个或更多的测试点时更加不方便。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种基于主板测试的点测试系统，解决了当前单人操作的不便，从而提高了测试效率。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于主板测试的点测试系统，其改进之处在于，所述点测试系统包括PCB板和测试工具，所述PCB板上设置有测试点；
所述测试工具包括顶部圆环、支撑柱和底座；所述支撑柱固定在顶部圆环的外壁与底座的上表面之间；所述底座的下表面固定在测试点处。
在上述结构中，所述支撑柱与底座所呈角度在45°-90°之间。
在上述结构中，所述顶部圆环的切面直径与支撑柱的切面直径相同。
在上述结构中，所述底座的直径大于支撑柱的切面直径。
在上述结构中，所述底座的直径小于测试点的直径。
在上述结构中，所述顶部圆环上设置有第一通孔，所述第一通孔位于顶部圆环与支撑柱的连接处。
在上述结构中，所述底座上设置有第二通孔，所述第二通孔位于底座与支撑柱的连接处。
在上述结构中，所述支撑柱的轴向设置有通槽，所述通槽连通于第一通孔和第二通孔之间。
本实用新型的有益效果是：本方案将底座焊接在测试点或者其他需要测试的位置，能够使用仪器仪表带挂钩的夹具轻松固定测试探头插针在顶部圆环上，极大地改善了点触测试的不便，从而提高了测试的效率。
附图说明
图1为本实用新型的一种基于主板测试的点测试系统的整体结构示意图一；
图2为本实用新型的一种基于主板测试的点测试系统的整体结构示意图二。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
实施例1：
参照图1所示，本实用新型揭示了一种基于主板测试的点测试系统，所述点测试系统包括PCB板1和测试工具，所述PCB板1上设置有测试点2；所述测试工具包括顶部圆环3、支撑柱4和底座5；所述支撑柱4固定在顶部圆环3的外壁与底座5的上表面之间；所述底座5的下表面固定在测试点2处；所述支撑柱4与底座5所呈角度为90°；所述顶部圆环3的切面直径与支撑柱4的切面直径相同；所述底座5的直径大于支撑柱4的切面直径；所述底座5的直径小于测试点2的直径。
本实施例中，当测试人员要对PCB板1上的测试点2进行测试时，需用连接示波器、万用表等仪器仪表的探头插针进行点触测试，具体操作步骤为：先将测试工具用电烙铁焊接在测试点处，再将用测试仪器仪表探头挂钩夹具固定在顶部圆环3并调节探头位置至测试点2处对测试点2进行测试，待测试好后，取走探头挂钩夹具，用电烙铁取下测试工具；极大地改善了点触测试的不便，从而提高了测试的效率。此外，当需要对多个测试点2同时进行测试时，可在PCB板1上焊接多个测试工具，并将多个测试仪器仪表探头挂钩夹具固定在顶部圆环3，并将测试探头调节至测试点2位置同时进行测试，从而进一步的提高了测试的效率。
实施例2：
参照图2所示，本实用新型揭示了一种基于主板测试的点测试系统，所述点测试系统包括PCB板1和测试工具，所述PCB板1上设置有测试点2；所述测试工具包括顶部圆环3、支撑柱4和底座5；所述支撑柱4固定在顶部圆环3的外壁与底座5的上表面之间；所述底座5的下表面固定在测试点2处；所述支撑柱4与底座5所呈角度为45°；所述顶部圆环3的切面直径与支撑柱4的切面直径相同；所述底座5的直径大于支撑柱4的切面直径；所述底座5的直径小于测试点2的直径。
本实施例中，当测试人员要对PCB板1上的测试点2进行测试时，需用连接示波器、万用表等仪器仪表的探头插针进行点触测试，具体操作步骤为：先将测试工具用电烙铁焊接在测试点2处，再将用测试仪器仪表探头挂钩夹具固定在顶部圆环3并调节探头位置至测试点处对测试点2进行测试，待测试好后，取走探头挂钩夹具，用电烙铁取下测试工具；其中，当测试点2垂直上方有电子元件6遮挡时，本实施例将支撑柱4与底座5的所呈角度调节至45°，便于测试工具的安装，以极大地改善了点触测试的不便，从而提高了测试的效率。此外，当需要对多个测试点2同时进行测试时，可在PCB板1上焊接多个测试工具，并将多个测试仪器仪表探头挂钩夹具固定在顶部圆环3，并将测试探头调节至测试点2位置同时进行测试，从而进一步的提高了测试的效率。
实施例3：
本实用新型揭示了一种基于主板测试的点测试系统，所述点测试系统包括PCB板和测试工具，所述PCB板上设置有测试点；所述测试工具包括顶部圆环、支撑柱和底座；所述支撑柱固定在顶部圆环的外壁与底座的上表面之间；所述底座的下表面固定在测试点处；所述支撑柱与底座所呈角度为90°；所述顶部圆环的切面直径与支撑柱的切面直径相同；所述底座的直径大于支撑柱的切面直径；所述底座的直径小于测试点的直径；所述顶部圆环上设置有第一通孔，所述第一通孔位于顶部圆环与支撑柱的连接处；所述底座上设置有第二通孔，所述第二通孔位于底座与支撑柱的连接处；所述支撑柱的轴向设置有通槽，所述通槽连通于第一通孔和第二通孔之间。
本实施例中，当测试人员要对PCB板上的测试点进行测试时，需用连接示波器、万用表等仪器仪表的探头插针进行点触测试，具体操作步骤为：先将测试工具用电烙铁焊接在测试点处，再将测试仪器仪表探头插设于第一通孔中，其中，第一通孔连通于第二通孔，使测试仪器仪表探头位于测试点正上方，测试仪器仪表探头对测试点进行测试，待测试好后，取走探头，用电烙铁取下测试工具；极大地改善了点触测试的不便，从而提高了测试的效率。此外，当需要对多个测试点同时进行测试时，可在PCB板上焊接多个测试工具，并将多个测试仪器仪表探头插设于多个测试工具的第一通孔中，多个测试仪器仪表探头对测试点同时进行测试，从而进一步的提高了测试的效率。
实施例4：
本实用新型揭示了一种基于主板测试的点测试系统，所述点测试系统包括PCB板和测试工具，所述PCB板上设置有测试点；所述测试工具包括顶部圆环、支撑柱和底座；所述支撑柱固定在顶部圆环的外壁与底座的上表面之间；所述底座的下表面固定在测试点处；所述支撑柱与底座所呈角度为45°；所述顶部圆环的切面直径与支撑柱的切面直径相同；所述底座的直径大于支撑柱的切面直径；所述底座的直径小于测试点的直径；所述顶部圆环上设置有第一通孔，所述第一通孔位于顶部圆环与支撑柱的连接处；所述底座上设置有第二通孔，所述第二通孔位于底座与支撑柱的连接处；所述支撑柱的轴向设置有通槽，所述通槽连通于第一通孔和第二通孔之间。
本实施例中，当测试人员要对PCB板上的测试点进行测试时，需用连接示波器、万用表等仪器仪表的探头插针进行点触测试，具体操作步骤为：先将测试工具用电烙铁焊接在测试点处，再将测试仪器仪表探头插设于第一通孔中，其中，第一通孔连通于第二通孔，使测试仪器仪表探头位于测试点正上方，测试仪器仪表探头对测试点进行测试，待测试好后，取走探头，用电烙铁取下测试工具；其中，当测试点垂直上方有电子元件遮挡时，本实施例将支撑柱与底座的所呈角度调节至45°，便于测试工具的安装，以极大地改善了点触测试的不便，从而提高了测试的效率。此外，当需要对多个测试点同时进行测试时，可在PCB板上焊接多个测试工具，并将多个测试仪器仪表探头插设于多个测试工具的第一通孔中，多个测试仪器仪表探头对测试点同时进行测试，从而进一步的提高了测试的效率。
以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (8)
1.一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述点测试系统包括PCB板和测试工具，所述PCB板上设置有测试点；
所述测试工具包括顶部圆环、支撑柱和底座；所述支撑柱固定在顶部圆环的外壁与底座的上表面之间；所述底座的下表面固定在测试点处。
2.根据权利要求1所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述支撑柱与底座所呈角度在45°-90°之间。
3.根据权利要求1所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述顶部圆环的切面直径与支撑柱的切面直径相同。
4.根据权利要求3所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述底座的直径大于支撑柱的切面直径。
5.根据权利要求4所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述底座的直径小于测试点的直径。
6.根据权利要求1所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述顶部圆环上设置有第一通孔，所述第一通孔位于顶部圆环与支撑柱的连接处。
7.根据权利要求6所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述底座上设置有第二通孔，所述第二通孔位于底座与支撑柱的连接处。
8.根据权利要求7所述的一种基于主板测试的点测试系统，其特征在于，所述支撑柱的轴向设置有通槽，所述通槽连通于第一通孔和第二通孔之间。
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