CN219017250U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试装置，涉及测试领域。所述测试装置用于NM卡的测试，所述测试装置包括底座基板、多个承载板和多个测试座，所述底座基板上设有多个通信插口；所述承载板上设有通信接口和第一指示灯，所述通信接口与所述通信插口连接；以及多个测试座分别设置在多个所述承载板上，所述测试座上设有容纳槽，所述容纳槽内设有触发开关；其中，所述NM卡安装到测试座上的容纳槽时，所述NM卡与触发开关接触以控制第一指示灯亮起；本申请的测试装置，能够检测存储卡是否安装恰当，减少了存储卡测试结果的外界因素干扰，一定程度上提高了存储卡测试结果的准确性。

Description

测试装置

技术领域

本申请涉及测试领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

存储卡是用于智能设备上的独立存储介质，例如，智能手机、数码相机、便携式电脑等，一般为卡片的形态。存储卡在插入到智能设备上投入使用前，需要对存储卡进行兼容性测试，例如，信息识别、读取、热插拔等。

目前的测试方法采用电脑主机进行测试，并且，一次只能测试单个存储卡，且在对存储卡进行测试时，很有可能因为安装存储卡不恰当而导致存储卡的测试结果不通过，让明明是合格的存储卡划分到不合格的存储卡的数量，使得存储卡的生产良率降低而导致增加了存储卡生产的时间成本和人工成本。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种测试装置，能够检测存储卡是否安装恰当，减少了存储卡测试结果的外界因素干扰，一定程度上提高了存储卡测试结果的准确性。

本申请公开了一种测试装置，用于NM卡的测试，所述测试装置包括底座基板、多个承载板和多个测试座，所述底座基板上设有多个通信插口；所述承载板上设有通信接口和第一指示灯，所述通信接口与所述通信插口连接；以及多个测试座分别设置在多个所述承载板上，所述测试座上设有容纳槽，所述容纳槽内设有触发开关；其中，所述NM卡安装到测试座上的容纳槽时，所述NM卡与触发开关接触以控制第一指示灯亮起。

可选的，所述容纳槽上设有第一供电端口、第一接地端和金属探针，所述第一供电端口和所述第一接地端通过金属探针连接，所述第一供电端口与所述第一指示灯连接；所述NM卡上设有第一金属片和第二金属片，所述第一金属片包括第二供电端口，所述第二金属片包括第二接地端；其中，当所述NM卡安装到容纳槽时，所述第一金属片与所述金属探针和所述第二供电端口连接，所述第二金属片与所述第一接地端、所述金属探针以及所述触发开关连接，以使所述触发开关与所述第一接地端、第一供电端口和第一指示灯连接。

可选的，所述NM卡上还设有第三金属片，所述第三金属片包括第一数据接口，所述承载板上设有第二指示灯，所述第二指示灯一端与所述第一金属片连接，另一端与所述第三金属片连接；其中，当所述NM卡安装在测试座上进行测试时，所述第二指示灯根据第一数据接口输出的信号进行点亮。

可选的，所述测试装置还包括控制模块，所述控制模块与多个所述测试座连接，所述控制模块通过测试座输入控制信号以控制安装在容纳槽内的NM卡进行测试。

可选的，所述NM卡上还设有第四金属片，所述第四金属片包括第一时钟信号接口，所述承载板上还设有晶体振荡器，所述晶体振荡器与所述第四金属片连接，所述晶体振荡器用于给所述NM卡提供时钟信号。

可选的，所述第一指示灯和所述第二指示灯设置在所述承载板的边缘位置，所述测试座设置在所述承载板的中心位置。

可选的，多个所述承载板之间的间隔小于等于1毫米，多个所述承载板之间相互紧贴。

可选的，所述底座基板上设有总通信接口，所述底座基板通过总通信接口与外部设备进行连接，以记录所述NM卡测试时的测试数据。

可选的，一个所述底座基板上设有四十个所述承载板，一个所述承载板上设有两个测试座。

可选的，所述测试座为绝缘材料制成。

本申请的测试装置通过在测试座上设置触发开关，触发开关用于控制承载板上的第一指示灯，当NM卡正确放入到测试座内的时候，NM卡会与测试座的触发开关接触以控制第一指示灯亮起，避免了因待测试的NM卡安装不恰当而导致NM卡的测试结果不通过，减少了NM卡测试结果的外界因素干扰，一定程度上提高了NM卡测试结果的准确性。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请的一实施例的一种测试装置的结构示意图；

图2是本申请的一实施例的一种测试装置的另一角度的结构示意图；

图3是本申请的一实施例的一种测试装置的爆炸示意图；

图4是本申请的一实施例的承载板的结构示意图；

图5是本申请的一实施例的NM卡的结构示意图；

图6是本申请的一实施例的一种测试装置的电路示意图。

其中，100、测试装置；110、底座基板；111、通信插口；112、总通信接口；120、承载板；121、通信接口；122、第一指示灯；123、第二指示灯；124、晶体振荡器；130、测试座；131、容纳槽；132、触发开关；133、第一供电端口；134、第一接地端；135、金属探针；200、NM卡；210、第一金属片；220、第二金属片；230、第三金属片；240、第四金属片。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明，需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

需要说明的是，所述存储卡采用EMMC协议，即存储卡为EMMC协议的存储卡，下面以EMMC协议的存储卡为例进行说明，例如，NM卡(微型存储卡，Nano Memory Card)。

如图1至图4所示，作为本申请的第一实施例，公开了一种测试装置100，所述测试装置100用于NM卡200的测试，所述测试装置100包括底座基板110、多个承载板120和多个测试座130，所述底座基板110上设有多个通信插口111，所述承载板120上设有通信接口121和第一指示灯122，所述通信接口121与所述通信插口111连接，多个所述测试座130分别设置在多个所述承载板120上，所述测试座130上设有容纳槽131，所述容纳槽131内设有触发开关132，所述NM卡200安装到测试座130上的容纳槽131时，所述NM卡200与触发开关132接触以控制第一指示灯122亮起。

本申请的测试装置100在使用的时候，将NM卡200安装到测试装置100的测试座130上，当NM卡200正确安装到测试装置100的测试座130上的容纳槽131时，所述NM卡200会与触发开关132接触，从而使得测试装置100上的第一指示灯122被点亮，工作人员可以通过观察承载板120上的第一指示灯122以得知待测试的NM卡200是否正确安装到测试座130上，以便于进行NM卡200的下一步测试，减少NM卡200测试结果的误判几率；总的来说，本申请的测试装置100通过在测试座130上设置触发开关132，触发开关132用于控制承载板120上的第一指示灯122，当NM卡200正确放入到测试座130内的时候，NM卡200会与测试座130的触发开关132接触以控制第一指示灯122亮起，避免了因待测试的NM卡200安装不恰当而导致NM卡200的测试结果不通过，减少了NM卡200测试结果的外界因素干扰，一定程度上提高了NM卡200测试结果的准确性；在本实施例中，所述测试座130为绝缘材料制成，以避免在进行NM卡200测试的时候影响NM卡200的测试结果；所述触发开关132为使能角CD。

进一步的，如图5和图6所示，所述容纳槽131上设有第一供电端口133、第一接地端134和金属探针135，所述第一供电端口133和所述第一接地端134通过金属探针135连接，所述第一供电端口133与所述第一指示灯122连接；所述NM卡200上设有第一金属片210和第二金属片220，所述第一金属片210包括第二供电端口，所述第二金属片220包括第二接地端；当所述NM卡200安装到容纳槽131时，所述第一金属片210与所述金属探针135和所述第二供电端口连接，所述第二金属片220与所述第一接地端134、所述金属探针135以及所述触发开关132连接，以使所述触发开关132与所述第一接地端134、第一供电端口133和第一指示灯122连接；这样，当NM卡200安装到测试座130上的容纳槽131内时，NM卡200上的第一金属片210会与测试座130上的第二供电端口和金属探针135连接，第二金属片220会与第一接地端134、金属探针135和触发开关132连接，触发开关132可以通过金属探针135、第一金属片210和第二金属片220与容纳槽131上的第一供电端口133和第一接地端134连接，为所述第一指示灯122提供电量，从而点亮第一指示灯122，这样，测试人员安装NM卡200的时候，就能够通过观察对应该容纳槽131的第一指示灯122是否亮起来得知NM卡200是否正确安装，从而避免了因待测试的NM卡200安装不恰当而导致NM卡200的测试结果不通过，减少了NM卡200测试结果的外界因素干扰，提高了该测试装置100的测试结果的准确性。在本实施例中，一个所述底座基板110上设有四十个所述承载板120，一个所述承载板120上设有两个测试座130，以便于在一次测试中能够同时对多个NM卡200进行测试，当然，所述底座基板110上承载板120的数量，以及承载板120上测试座130的数量也可以由设计人员根据实际情况进行选择设计，此处不做限定作用。

如图2和图5所示，所述NM卡200上还设有第三金属片230，所述第三金属片230包括第一数据接口，所述承载板120上设有第二指示灯123，所述第二指示灯123一端与所述第一金属片210连接，另一端与所述第三金属片230连接，当所述NM卡200安装在测试座130上进行测试时，所述第二指示灯123根据第一数据接口输出的信号进行点亮；在本实施例中，所述第三金属片230为NM卡200上的EMMC-DAT0接口，当NM卡200在运行测试程序时，NM卡200的EMMC-DAT0接口会输出高电平和低电平的信号，而第二指示灯123接收到EMMC-DAT0接口输出的信号以及第一金属片210的第二供电端口的信号时，第二指示灯123会随着EMMC-DAT0的高电平和低电平信号进行点亮，从而提示测试人员此时NM卡200正在进行测试，其中，所述NM卡200的测试可以是FT1测试、FT2测试、FT3测试或FT4测试中的任意一种，此处不做限定作用。

进一步的，为了便于控制该测试装置100对放置在内的NM卡200进行测试，本实施例中的所述测试装置100还包括控制模块，所述控制模块与多个所述测试座130连接，所述控制模块通过测试座130输入控制信号以控制安装在容纳槽131内的NM卡200进行测试；在使用该测试装置100时，首先测试人员先将NM卡200安装到测试装置100上的容纳槽131，测试人员通过观察第一指示灯122来判断NM卡200是否安装正确，以决定是否进行下一步的测试工作，当NM卡200正确安装在容纳槽131内后，测试人员使用控制模块，控制模块通过测试座130输入控制信号来控制安装完成的NM卡200进行测试工作，以实现控制NM卡200进行测试；其中，所述控制模块可以是计算机或掌上电脑等控制设备来进行控制，控制模块仅需实现能够发送测试开始信号和测试结束信号至测试座130即可，此处对控制模块不做限定作用。

进一步的，所述NM卡200上还设有第四金属片240，所述第四金属片240包括第一时钟信号接口，所述承载板120上还设有晶体振荡器124，所述晶体振荡器124与所述第四金属片240连接，所述晶体振荡器124用于给所述NM卡200提供时钟信号，在本实施例中，所述第一时钟信号接口为NM卡200上的EMMC-CLK接口，主要是用于输入CLK时钟信号至NM卡200内部的，而输入至第四金属片240的CLK时钟信号由承载板120上的晶体振荡器124提供；当NM卡200正确安装到测试座130后，测试人员控制NM卡200开始进行测试工作，位于承载板120上的晶体振荡器124提供CLK时钟信号至NM卡200的第四金属片240上，NM卡200接收CLK时钟信号后，根据CLK时钟信号使NM卡200上的EMMC-DAT0接口输出高电平和低电平的信号，而第二指示灯123接收到EMMC-DAT0接口输出的信号以及第一金属片210的第二供电端口的信号时，第二指示灯123会随着EMMC-DAT0的高电平和低电平信号进行点亮，从而提示测试人员此时NM卡200正在进行测试。

如图2所示，所述第一指示灯122和所述第二指示灯123设置在所述承载板120的边缘位置，以使得所述第一指示灯122和所述第二指示灯123在进行工作时不容易被承载板120上的其他部件进行遮挡，且所述第一指示灯122和第二指示灯123与测试座130为间隔设置，所述测试座130设置在所述承载板120的中心位置，以使得测试座130内的NM卡200在进行测试工作时，NM卡200产生的热量不会影响到相邻的测试座130内的NM卡200，且测试座130设置在承载板120的中心位置，也为安装NM卡200提供了较大的操作空间，便于安装NM卡200；其中，在本实施例中，多个所述承载板120之间的间隔小于等于一毫米，多个所述承载板120之间相互紧贴，以使得所述测试装置100能够最大程度地利用底座基板110上的空间，需要说明的是，所述底座基板110上的通信插口111之间的间距与所述承载板120之间的间距有关，设计底座基板110上的通信插口111的间距越大，承载板120之间的间距越大。

其中，如图1至图3所示，所述底座基板110上设有总通信接口112，所述底座基板110通过总通信接口112与外部设备进行连接，以记录所述NM卡200测试时的测试数据；在本实施例中，多个所述测试装置100可以通过底座基板110上的总通信接口112进行连接，以进行组合，使得在对NM卡200进行测试的时候，能够同时控制多个测试装置100一同进行测试，以同时对多个NM卡200进行测试，满足大量NM卡200测试的需求，测试人员仅需将每个测试装置100上的承载板120上的测试座130安装好NM卡200后，将多个测试装置100通过总通信接口112进行连接，使用外部设备进行控制NM卡200开始测试即可，且也可以使用外部设备对NM卡200测试时的测试数据进行记录，以便于了解每个进行测试的NM卡200的测试情况。

需要说明的是，本申请的实用新型构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下，以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试装置，用于NM卡的测试，其特征在于，包括：

底座基板，所述底座基板上设有多个通信插口；

多个承载板，所述承载板上设有通信接口和第一指示灯，所述通信接口与所述通信插口连接；以及

多个测试座，分别设置在多个所述承载板上，所述测试座上设有容纳槽，所述容纳槽内设有触发开关；

其中，所述NM卡安装到测试座上的容纳槽时，所述NM卡与触发开关接触以控制第一指示灯亮起。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述容纳槽上设有第一供电端口、第一接地端和金属探针，所述第一供电端口和所述第一接地端通过金属探针连接，所述第一供电端口与所述第一指示灯连接；

所述NM卡上设有第一金属片和第二金属片，所述第一金属片包括第二供电端口，所述第二金属片包括第二接地端；

其中，当所述NM卡安装到容纳槽时，所述第一金属片与所述金属探针和所述第二供电端口连接，所述第二金属片与所述第一接地端、所述金属探针以及所述触发开关连接，以使所述触发开关与所述第一接地端、第一供电端口和第一指示灯连接。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述NM卡上还设有第三金属片，所述第三金属片包括第一数据接口，所述承载板上设有第二指示灯，所述第二指示灯一端与所述第一金属片连接，另一端与所述第三金属片连接；

其中，当所述NM卡安装在测试座上进行测试时，所述第二指示灯根据第一数据接口输出的信号进行点亮。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，还包括控制模块，所述控制模块与多个所述测试座连接，所述控制模块通过测试座输入控制信号以控制安装在容纳槽内的NM卡进行测试。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述NM卡上还设有第四金属片，所述第四金属片包括第一时钟信号接口，所述承载板上还设有晶体振荡器，所述晶体振荡器与所述第四金属片连接，所述晶体振荡器用于给所述NM卡提供时钟信号。

6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一指示灯和所述第二指示灯设置在所述承载板的边缘位置，所述测试座设置在所述承载板的中心位置。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，多个所述承载板之间的间隔小于等于1毫米，多个所述承载板之间相互紧贴。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述底座基板上设有总通信接口，所述底座基板通过总通信接口与外部设备进行连接，以记录所述NM卡测试时的测试数据。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，一个所述底座基板上设有四十个所述承载板，一个所述承载板上设有两个测试座。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试座为绝缘材料制成。

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