CN211699725U - 一种nand flash储存芯片测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽内设置有与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接有定位螺杆，所述定位螺杆的底端连接有橡胶块，所述橡胶块与所述nand flash储存芯片之间设置有定位板，所述定位螺杆带动所述橡胶块下降，所述橡胶块通过所述定位板对所述nand flash储存芯片施加向下的力，进而使得全部的引脚与所述测试触点相接触，方便相应的检测设备对所述nand flash储存芯片进行检测。

Description

一种nand flash储存芯片测试治具

技术领域

本实用新型涉及nand flash储存芯片测试设备领域，尤其涉及一种nand flash储存芯片测试治具。

背景技术

Nand flash存储器芯片是flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。目前nand flash储存芯片在加工完成或者出厂时一般需要进行检测，在对nand flash储存芯片进行检测时一般需要用到相应的治具，但现有的检测治具在定位nand flash储存芯片时，容易使得nand flash储存芯片上的所有引脚无法正常的与检测原件完全接触，进而无法对nand flash储存芯片进行检测或者影响对nand flash储存芯片的检测结果。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，能够使得nandflash储存芯片上的所有引脚与测试槽内的测试触点完全接触。

本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽的底面上设置有若干个与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接定位螺杆，所述定位螺杆的底端设置有橡胶板，并且所述橡胶板通过定位板对所述nand flash储存芯片的引脚施加向下的力，使得所述引脚与所述测试触点接触。

进一步的，所述测试槽的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的底面相对应的第一收容槽。

进一步的，所述定位板的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的顶面相对应的第二收容槽，所述第二收容槽的两端分别设置有与所述nand flash储存芯片的引脚相对应的按压凸起。

进一步的，所述定位支架的顶板上设置有导轨槽，所述导轨槽内设置有至少一个滑块，所述导轨槽的两侧壁上分别设置有滑动凸起，所述滑块的两侧壁上分别设置有与所述滑动凸起相配合的滑动凹槽，所述滑块通过所述滑动凹槽沿所述滑动凸起滑动，所述定位螺杆的底端穿过所述滑块，并与所述滑块螺纹连接。

进一步的，所述导轨槽的一端设置有开口，所述滑块从所述开口处进入或离开所述导轨槽。

进一步的，所述导轨槽内设置有两个所述滑块。

进一步的，所述测试槽的一侧设置有卡槽，所述卡槽内可拆卸的设置有标记板。

本实用新型公开的技术方案，与现有技术相比，有一效果是：

将nand flash储存芯片放在测试槽中，使得nand flash储存芯片的引脚与测试槽的底面上的测试触点相对应，此时将定位板放置在所述nand flash储存芯片的上方，转动所述定位螺杆，所述定位螺杆的底端通过橡胶板按压所述定位板，通过所述定位板对所述nand flash储存芯片施加向下的力，使得所述nand flash储存芯片上的所有引脚与测试触点贴合。

附图说明

图1为测试治具的结构示意图；

图2为测试治具的分解图；

图3为定位板的结构示意图；

图4为治具主体的分解图；

图5为治具主体的主视图；

附图标注说明

100、测试治具；10、治具主体；11、测试槽；12、测试触点；13、第一收容槽；14、定位支架；141、导轨槽；142、滑动凸起；15、定位螺杆；151、橡胶板；16、定位板；161、第二收容槽；162、按压凸起；17、滑块；171、滑动凹槽；18、卡槽；181、定位凹槽；19、标记板；191、定位凸起；20、nand flash储存芯片；21、引脚。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件时，它可以是直接连接到另一个组件，或者可能同时存在居中组件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。

还需要说明的是，本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

如图1和图2所示，本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具100，包括治具主体10，所述治具主体10上设置有用于放置nand flash储存芯片20的测试槽11，所述nand flash储存芯片20的两端分别连接有若干个引脚21，所述测试槽11的底面上设置有若干个与所述nand flash储存芯片20的引脚21相对应的测试触点12，所述测试触点12与外部的测试设备电连接，所述测试触点12与所述nand flash储存芯片20的引脚21连接，可使得测试设备对所述nand flash储存芯片20进行检测。

在本实施例中，所述治具主体10上设置有两个所述测试槽11，两个所述测试槽11中可分别放置所述nand flash储存芯片20，所述测试治具100能够同时对两个所述nandflash储存芯片20进行检测。

所述测试槽11的底面上设置有与所述nand flash储存芯片20的底面相对应的第一收容槽13。当所述nand flash储存芯片20放置在所述测试槽11中时，所述nand flash储存芯片20的底面伸进所述第一收容槽13中。

所述测试槽11的上方设置有定位支架14，所述定位支架14上设置有定位螺杆15，所述定位螺杆15的底端设置有橡胶板151，所述nand flash储存芯片20的上方设置有定位板16，所述定位板16位于所述nand flash储存芯片20和所述橡胶板151之间，所述定位螺杆15可通过所述橡胶板151按压所述定位板16，通过所述定位板16对所述nand flash储存芯片20施加一个向下的力，使得所述nand flash储存芯片20上的所有引脚21能够贴合在所述测试触点12上，能够使得检测设备对所述nand flash储存芯片20进行检测。

请继续参看图3，所述定位板16的底面上设置有与所述nand flash储存芯片20的顶面相对应的第二收容槽161，当所述定位板16放置在nand flash储存芯片20上时，所述nand flash储存芯片20的顶面伸进所述第二收容槽161中，对所述定位板16进行定位，防止橡胶板151按压在所述定位板16上时所述定位板16发生位移。所述第二收容槽161的两端分别设置有与所述nand flash储存芯片20的引脚21相对应的按压凸起162，当所述橡胶板151对所述定位板16施加向下的力时，所述按压凸起162对所述nand flash储存芯片20的引脚21施加向下的力，使得所述nand flash储存芯片20的引脚21与所述测试触点12密切接触。

如图4和图5所示，所述定位支架14的顶板上设置有导轨槽141，所述导轨槽141内设置有至少一个滑块17，所述定位螺杆15的底端穿过所述滑块17并且所述滑块17螺纹连接，当所述定位螺杆15转动时，可在竖直方向移动。所述导轨槽141的两个侧壁上分别设置有滑动凸起142，所述滑块17的两个侧壁上设置有与所述滑动凸起142相对应的滑动凹槽171，所述滑块17通过所述滑动凹槽171沿所述滑动凸起142移动，进而可以调节所述定位螺杆15的相对位置。

在本实施例中，所述导轨槽141中设置有两个所述滑块17，每个所述滑块17上分别连接有定位螺杆15，两个所述定位螺杆15分别与两个所述按压凸起162相对应，分别对两个所述按压凸起162施加力。并且两个所述滑块17可相对所述导轨槽141滑动，能够调节两个所述定位螺杆15之间的距离。

所述导轨槽141的一端设置有开口，所述滑块17可从所述开口处进入或者离开所述导轨槽141，能够控制所述导轨槽141中所述滑块17的数量。

所述测试槽11的一侧设置有卡槽18，所述卡槽18内设置有标记板19，所述卡槽18与所述标记板19可拆卸连接。所述标记板19用于标记相对应测试槽11内的所述nand flash储存芯片20的检测结果。所述标记板19可通过粘接的方式固定在所述卡槽18内，也可通过螺钉的方式设置在所述卡槽18内。在本实施例中，所述标记板19上设置有定位凸起191，所述卡槽18内设置有定位凹槽181，所述标记板19通过所述定位凸起191与所述定位凹槽181卡接，并且所述标记板19可相对所述卡槽18滑动，从所述卡槽18的一端离开所述卡槽18。

本实用新型在不脱离本实用新型的广义的精神和范围的前提下，能够设为多种实施方式和变形，上述的实施方式用于说明实用新型，但并不限定本实用新型的范围。

Claims (7)

1.一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，其特征在于，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽的底面上设置有若干个与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接定位螺杆，所述定位螺杆的底端设置有橡胶板，并且所述橡胶板通过定位板对所述nand flash储存芯片的引脚施加向下的力，使得所述引脚与所述测试触点接触。

2.如权利要求1所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述测试槽的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的底面相对应的第一收容槽。

3.如权利要求2所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述定位板的底面上设置有与所述nand flash储存芯片的顶面相对应的第二收容槽，所述第二收容槽的两端分别设置有与所述nand flash储存芯片的引脚相对应的按压凸起。

4.如权利要求3所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述定位支架的顶板上设置有导轨槽，所述导轨槽内设置有至少一个滑块，所述导轨槽的两侧壁上分别设置有滑动凸起，所述滑块的两侧壁上分别设置有与所述滑动凸起相配合的滑动凹槽，所述滑块通过所述滑动凹槽沿所述滑动凸起滑动，所述定位螺杆的底端穿过所述滑块，并与所述滑块螺纹连接。

5.如权利要求4所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述导轨槽的一端设置有开口，所述滑块从所述开口处进入或离开所述导轨槽。

6.如权利要求5所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述导轨槽内设置有两个所述滑块。

7.如权利要求1所述的一种nand flash储存芯片测试治具，其特征在于，所述测试槽的一侧设置有卡槽，所述卡槽内可拆卸的设置有标记板。

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